CN205067654U - 一种用于检测光耦的在线测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于检测光耦的在线测试仪,包括在线测试仪本体,待检测的光耦的发光控制端和受光被控端均通过测试仪本体接通电源电路,所述的受光被控端连接有用于测量电压的第二测量机构。本实用新型在线测试仪,改善了工厂内部测试效果,提高产品质量的可靠性与一致性,在检测过程中,人的可变因素太多,产品质量会因人的可变因素的变化而变化,ICT设备有效解决了这个问题,让产品质量的可靠性一致性更强。
Description
技术领域
本实用新型涉及空调生产检测仪器领域,尤其涉及可以检测光耦受光端撇脚的ICT设备。
背景技术
ICT(In-CircuitTest)又称在线测试仪,如同一块功能强大的万用表,主要是靠测试探针接触PCB上的测试点来检测PCB的线路开路、短路,所有零件的焊接情况,其作用是检测生产PCB时所出现的装配故障,包括元器件的错装、反装、漏装等及焊接故障,如开路、短路,约占整个电路板故障85%。还可以增加选配配置,检测电路板的功能故障,例如检测输入,输出,频率,波形,逻辑等,约占整个电路板故障的15%。
ICT测试设备对于光耦的受光端撇脚一直以来是个盲点,未检测的光耦在总装整机负载后下线,会影响总装的直通率,以及电子的品质指标。分析光耦无法测量的原因是ICT对于光耦的测试使用的是测试光耦发光端的PN结来判断光耦的漏装和反装。但是光耦受光端无PN结,这样就会出现当受光端撇脚或者虚焊ICT判断不出来的情况,导致总装下线。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是实现一种能够在线检测光耦的受光端是否撇脚或虚焊的线测试仪。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:一种用于检测光耦的在线测试仪,包括在线测试仪本体,待检测的光耦的发光控制端和受光被控端均通过测试仪本体接通电源电路,所述的受光被控端连接有用于测量电压的第二测量机构。
所述的发光控制端连接有用于测量电流的第一测量机构。
所述的第一测量机构和第二测量机构为在线测试仪本体的测量机构。
所述的第一测量机构通过两个顶针分别接触发光控制端的两个引脚;所述的第二测量机构通过两个顶针接触受光被控端的两个引脚。
本实用新型在线测试仪,改善了工厂内部测试效果,提高产品质量的可靠性与一致性,在检测过程中,人的可变因素太多,产品质量会因人的可变因素的变化而变化,ICT设备有效解决了这个问题,让产品质量的可靠性一致性更强。ICT测试对光耦受光端(3、4端)撇脚测试100%测出,弥补了ICT对光耦元器件检测的全面覆盖性,彻底杜绝自错而流入下工序。光耦虚焊、撇脚、漏、反,全都能检测,总装无下线,降低制造技术难度,提升制造能力。ICT的测试报告具体到每一个不良元器件,不需要再进行技术人员由功能不良分析器件不良的过程,大大降低了生产过程中的技术需要,提升制造能力。
附图说明
下面对本实用新型说明书中每幅附图表达的内容及图中的标记作简要说明:
图1用于检测光耦的在线测试仪结构示意图;
图2为光耦检测原理图;
上述图中的标记均为:1、光耦;2、发光控制端;3、受光被控端;4、第一测量机构;5、第二测量机构。
具体实施方式
如图1、2所示,本实用新型是针对在线测试仪(ICT设备)使用结构的改进,在检测光耦1时,利用在线测试仪本体的电源电路,分别接通光耦1的发光控制端2和受光被控端3,实现发光控制端2和受光被控端3的电导通,同时受光被控端3连接有用于测量电压的第二测量机构5,通过发光控制端2电源电路的电流变化观察第二测量机构5的电压变化,则能够检测出光耦1的发光控制端2和受光被控端3的好坏,这样在品质上有效降低下线率,提高ICT试覆盖率,减少市场下线。
此外,还可以在发光控制端2连接有用于测量电流的第一测量机构4,方便观察发光控制端2电源电路的电流变化,可以用于与第二测量机构5的数据变化比对,更加准确的获得光耦1的质量优劣。第一测量机构4和第二测量机构5为在线测试仪本体的测量机构,同时第一测量机构4通过两个顶针分别接触发光控制端2的两个引脚,第二测量机构5通过两个顶针接触受光被控端3的两个引脚,方便线路连接和拆卸,提高检测效率。
上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述,显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制,只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种用于检测光耦的在线测试仪,包括在线测试仪本体,其特征在于:待检测的光耦的发光控制端和受光被控端均通过测试仪本体接通电源电路,所述的受光被控端连接有用于测量电压的第二测量机构。
2.根据权利要求1所述的用于检测光耦的在线测试仪,其特征在于:所述的发光控制端连接有用于测量电流的第一测量机构。
3.根据权利要求2所述的用于检测光耦的在线测试仪,其特征在于:所述的第一测量机构和第二测量机构为在线测试仪本体的测量机构。
4.根据权利要求3所述的用于检测光耦的在线测试仪,其特征在于:所述的第一测量机构通过两个顶针分别接触发光控制端的两个引脚;所述的第二测量机构通过两个顶针接触受光被控端的两个引脚。
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CN111239531A (zh) * | 2020-03-07 | 2020-06-05 | 上海崟燊新能源科技有限公司 | 一种光耦生产用质量测试装置 |
CN113064043A (zh) * | 2021-03-26 | 2021-07-02 | 深圳群芯微电子有限责任公司 | 一种光耦测试方法及*** |
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- 2015-10-29 CN CN201520861823.3U patent/CN205067654U/zh not_active Expired - Fee Related
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GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20160302 Termination date: 20191029 |
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