CN203949626U - 元件检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种元件检测装置，包括：一元件载台，该元件载台设有数个定位槽，该定位槽支撑一待测元件；一元件驱动装置，包含一基座、一驱动装置及一磁性件，该驱动装置结合于该基座，且该驱动装置连接该磁性件，用以驱动该磁性件相对一轴向方向枢转，该磁性件沿该轴向方向与其中一定位槽形成同轴；一光源模块，包含一光源，该光源具有一发光端，该发光端朝向与该磁性件形成同轴的定位槽投射光线；及一摄影模块，包含一摄影装置，该摄影装置连接一镜头，用以拍摄与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件影像；本实用新型提供的一种元件检测装置，可达到提升元件瑕疵检测准确率的功效。

Description

元件检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种元件检测装置，尤其是一种能够取得一待测元件的外周面在各个角度下的影像，据以检测该待测元件瑕疵的元件检测装置。

背景技术

诸如螺丝、螺帽、插销或铆钉等元件在工业上的应用范围相当广泛，举凡机械、制造、电子或营建等各式产业均需大量采用所述元件。近年来，归功于科技进步日新月异，自动化生产线日渐兴盛，由于在自动化生产线中一旦上述元件存在瑕疵而导致生产流程中任一步骤无法进行，将直接造成整条生产线停摆，造成业者巨额损失。因此，自动化生产与精密科技的发展连带使得业界对于所述元件的质量要求大幅提升。

为此，生产上述元件的厂商无不极力尝试提升产品通过率，试图降低产品存在瑕疵的机率。以螺丝为例，传统螺丝厂商主要仰赖人力进行产品检验，通常是透过肉眼辨识螺丝是否存在瑕疵，或者利用螺纹环规(Ring Thread Gauge)对螺丝进行抽验。然而，肉眼辨识存在人为判断误差的问题，其准确度早已不符合业界需求；而螺纹环规虽然具有较佳的准确度，但在检测过程中可能对螺纹造成损伤，容易带来无谓的损失。况且，所述人力检验方式效率不高，对于产量较大的厂商而言通常仅能对产品进行分批抽验，无法实现对每一颗生产的螺丝进行检验。

为了解决上述问题，请参照图1所示，一种习用元件检测装置9，包含一元件接承转盘91及一影像撷取模块92。该元件接承转盘91可供承置数个待测元件S，该影像撷取模块92用于拍摄该待测元件S的影像，以作为检测该待测元件S是否存在瑕疵的依据，进而取代传统人力检验方式。所述习用元件检测装置9的一实施例已揭露于***专利公告第M323343号“元件检测成像装置改良”专利案中。

请一并参照图2所示，该待测元件S的放大示意图，该待测元件S以螺丝为例，若该待测元件S存在一瑕疵部位S1，所述瑕疵部位S1可能为该待测元件S的宽度、牙距与内外牙径等规格大于公差，或者是该待测元件S是否存在缺角、牙尖扩展或牙锋宽度异常等问题。注意到，若该影像撷取模块92正对该瑕疵部位S1所在位置拍摄，由于该影像撷取模块92所拍摄为平面影像，因此有相当高的机率无法透过影像辨识而侦测到该瑕疵部位S1；况且，若该影像撷取模块92背对该瑕疵部位S1所在位置拍摄，则该影像撷取模块92将完全无法拍摄到该瑕疵部位S1。换言之，该影像撷取模块92必须与由该瑕疵部位S1所在位置的二侧拍摄，才能有效利用影像辨识侦测出该瑕疵部位S1。

虽然该影像撷取模块92可以包含数个影像捕获设备921、922以拍摄取得该待测元件S于不同角度下的影像，然而受限于空间限制，该影像撷取模块92的数量有所限制，无法确实拍摄该待测元件S的外周面于所有角度下的影像。据此，该习用元件检测装置9势必无法完整检测待测元件S外周面各个角度所可能存在的瑕疵，故即便采用该习用元件检测装置9对所生产的元件进行检验，仍然无法保证能将所有存在瑕疵的元件检出，对于产品质量而言属难以克服之隐忧。

有鉴于此，亟需提供一种进一步改良的元件检测装置，取得一待测元件的外周面于各个角度下的影像，据以检测该待测元件之瑕疵的元件检测装置，以提升元件瑕疵检测的准确率，确保厂商所生产元件的质量能够符合业界日渐严苛的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种元件检测装置，包括一元件载台及一元件驱动装置，利用该元件载台提供数个定位槽，各该定位槽可活动地连接一待测元件；经由该元件驱动装置的驱动装置驱动一磁性件旋转，该元件载台可以驱动一定位槽与该磁性件相互对位，以利用该磁性件吸附该待测元件并且一并带动该待测元件旋转，配合由一光源朝向该待测元件投射线性光，同时以一摄影装置连续拍摄该待测元件的线性影像，以取得该待测元件的外周面于各个角度下的线性影像，具有提升元件瑕疵检测准确率的功效。

本实用新型的另一目的在于提供一种元件检测装置，借由一支撑模块稳定支撑该待测元件，该支撑模块包含二支撑杆，该二支撑杆可以抵接该待测元件，避免该待测元件受该磁性件带动旋转的过程中产生晃动，以确保该摄影装置所拍摄线性影像的质量，具有进一步提升元件瑕疵检测准确率的功效。

 为实现上述目的，本实用新型所运用的技术手段包含有：

 一种元件检测装置，包含：一元件载台，该元件载台设有数个定位槽，该定位槽支撑一待测元件；

一元件驱动装置，包含一基座、一驱动装置及一磁性件，该驱动装置结合于该基座，且该驱动装置连接该磁性件，用以驱动该磁性件相对一轴向方向枢转，该磁性件沿该轴向方向与其中一定位槽形成同轴；

一光源模块，包含一光源，该光源具有一发光端，该发光端朝向与该磁性件形成同轴的定位槽投射光线；

及一摄影模块，包含一摄影装置，该摄影装置连接一镜头，用以拍摄与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件影像。

该元件载台驱使所述数个定位槽于垂直该轴向方向之平面上移动，使得所述数个定位槽分别沿该轴向方向与该磁性件形成同轴。

该定位槽可活动地结合该待测元件，使得该待测元件能够沿着该轴向方向于该定位槽中滑动。

该光源为线性光源，用以产生与该轴向方向平行的一线性光，并且将该线性光经由该发光端投射于与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件。

 该摄影装置为线扫描摄影机(Line-scan camera)，经由该镜头对与该磁性件形成同轴之定位槽中的待测元件拍摄，以取得与该轴向方向平行的一线性影像。

该摄影装置连续对该待测元件拍摄，以取得该待测元件的外周面于各个角度下的线性影像。

 该元件载台包含相互结合的一转轴及一承载盘，该转轴能够受一动力元件而相对该轴向方向枢转，所述数个定位槽环绕设置于该承载盘的外周缘。

  该磁性件为铷磁铁。

另设有一支撑模块，该支撑模块包含一支架、二支撑杆及一驱动部，该二支撑杆连接于该支架，并且朝向与该磁性件形成同轴之定位槽中的待测元件设置，各该支撑杆均设有一导轮，该导轮枢接结合于该支撑杆，该驱动部连接该支架，以供驱动该二支撑杆朝该待测元件接近，使该待测元件分别抵接该二导轮，或者供驱动该二支撑杆远离该待测元件，使该待测元件与该二导轮相远离。

各该支撑杆均另设有一永久磁铁，该永久磁铁与该导轮沿该轴向方向排列设置。

该元件驱动装置另包含一第一调整部，该第一调整部连接该基座，且该调整部包含一第一水平调整部及一第一垂直调整部，该第一水平调整部用于调整该基座于垂直该轴向方向之平面上的位置，该第一垂直调整部用于调整该基座于该轴向方向上的位置。

 该光源模块另包含一第二调整部，该第二调整部连接该光源，且该第二调整部包含一第二水平调整部及一第二垂直调整部，该第二水平调整部用于调整该光源于垂直该轴向方向之平面上的位置，该第二垂直调整部用于调整该光源于该轴向方向上的位置。

 该摄影模块另包含一第三调整部，该第三调整部连接该摄影装置，且该第三调整部包含一第三水平调整部及一第三垂直调整部，该第三水平调整部用于调整该摄影装置于垂直该轴向方向之平面上的位置，该第三垂直调整部用于调整该摄影装置于该轴向方向上的位置。

 本实用新型所达到的有益效果：本实用新型的元件检测装置可以取得该待测元件S的外周面于各个角度下的影像，因此能够完整检测待测元件S的外周面之各个角度所可能存在的瑕疵，具有提升元件瑕疵检测准确率的功效；再者，本实用新型的元件检测装置可以借由一支撑模块稳定支撑该待测元件，避免该待测元件受该磁性件带动旋转的过程中产生晃动，进而确保该摄影装置所拍摄的线性影像的质量，降低该待测元件被误判为瑕疵品的机率，具有进一步提升元件瑕疵检测准确率的功效。

 附图说明

图1是一种习用元件检测装置的结构示意图。

图2是一种待测元件的结构示意图。

图3是本实用新型的一实施例的结构示意图。

图4是本实用新型的一实施例置入待测元件的结构示意图。

图5是图4的侧视图。

图6是本实用新型的一实施例以磁性件吸附待测元件的动作示意图。

图7是本实用新型的一实施例的光源与摄影装置的设置方向示意图。

图8是本实用新型的一实施例切换与该磁性件相互对位的定位槽的动作示意图。

图9是本实用新型的一实施例的支撑模块结构示意图。

图10是本实用新型的一实施例置入另一种待测元件的侧视示意图。

图11是本实用新型的一实施例的支撑模块驱动支撑杆朝待测元件接近的动作示意图。

图12是本实用新型的一实施例的支撑模块驱动支撑杆远离待测元件的动作示意图。

符号说明

本实用新型所述的元件检测装置符号说明

1、元件载台；11、转轴； 12、承载盘；121、定位槽；2、元件驱动装置；21、基座；22、驱动装置；23、枢轴；       24、磁性件；25、第一调整部；251、第一水平调整部；252、第一垂直调整部；3、光源模块；31、光源；311、发光端；32、第二调整部； 321、第二水平调整部；322、第二垂直调整部；4、摄影模块；41、摄影装置；411、镜头；42、第三调整部；421、第三水平调整部；422、第三垂直调整部；5、支撑模块；51、支架；52、支撑杆；521、永久磁铁；522、导轮；53、驱动部；X、轴向方向； P、平台；S、待测元件； S’、待测元件；

习用元件检测装置符号说明

9、习用元件检测装置；91、元件接承转盘； 92、影像撷取模块；921     、影像捕获设备；       922、影像捕获设备；S、待测元件；    S1、瑕疵部位；

图3符号说明

1、组件载台；11、转轴；12、承载盘；121、定位槽；2、组件驱动装置；21、基座； 22、驱动装置；23、枢轴；     24、磁性件；25    、第一调整部；251、第一水平调整部；252、第一垂直调整部；3     、光源模块；31、光源；311、发光端；32、第二调整部；321、第二水平调整部；322   、第二垂直调整部；4、摄影模块；41、摄影装置；411                、镜头；42、第三调整部； 421、第三水平调整部；422、第三垂直调整部；5、支撑模块；51、支架； 52、支撑杆；53、驱动部；X、轴向方向；P、平台。

具体实施方式

为让本实用新型的上述及其它目的、特征及优点能更明显易懂，特列举本实用新型的较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下，以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

请参照图3所示，本实用新型一实施例的元件检测装置，包含一元件载台1、一元件驱动装置2、一光源模块3及一摄影模块4。该元件载台1、该元件驱动装置2、该光源模块3及该摄影模块4可以共同设置于一平台P上。

 该元件载台1用于承载并输送待测元件，在本实施例中，该元件载台1包含相互结合的一转轴11及一承载盘12。该转轴11可以耦接一动力元件(图未绘示)，以受该动力元件的驱动而旋转，且该动力元件较佳驱动该转轴11相对一轴向方向X枢转，该轴向方向X较佳垂直于水平面。该承载盘12的外周缘则环绕设置数个定位槽121，该定位槽121可供支撑定位待测元件，且该承载盘12的中心结合于该转轴11，因此可以随着该转轴11一并旋转，使得该定位槽121于垂直该轴向方向X之平面上移动，以输送该定位槽121中的待测元件。同时，该元件载台1除了由所述转轴11与承载盘12所构成外，亦可由其他习用输送装置(例如：输送带)取代，本实用新型并不以此为限。

 该元件驱动装置2包含一基座21、一驱动装置22、一枢轴23、一磁性件24及一第一调整部25。该驱动装置22可以结合于该基座21，该枢轴23的二端分别连接该驱动装置22与该磁性件24，该驱动装置22可以为习用马达，用以驱动该枢轴23旋转，且该驱动装置22较佳驱动该枢轴23相对该轴向方向X枢转；该磁性件24较佳为永久磁铁，且所述永久磁铁较佳由具有强磁性的永久磁铁材质(例如：铷磁铁)制成，同时，该磁性件24亦可为电磁铁等非永久磁铁。据此，当该驱动装置22驱动该枢轴23旋转时，该枢轴23将一并带动该磁性件24旋转。其中，该磁性件24与该元件载台1的其中一定位槽121相互对位，详言之，该磁性件24沿该轴向方向X与该定位槽121相互对位，使得该磁性件24与该定位槽121形成同轴。

该第一调整部25连接该基座21，用于供使用者调整该基座21的位置，进而调整设置于该基座21的驱动装置22、枢轴23与磁性件24等各个构件的位置。在本实施例中，该第一调整部25包含一第一水平调整部251及一第一垂直调整部252，该第一水平调整部251用于调整该基座21于垂直该轴向方向X之平面上的位置；该第一垂直调整部252则用于调整该基座21于该轴向方向X上的位置。

 该光源模块3包含一光源31及一第二调整部32。其中，该光源31具有一发光端311，该发光端311朝向该承载盘12的外周缘设置，且该光源31较佳为线性光源，用以产生与该轴向方向X平行的一线性光，并且将该线性光经由该发光端311朝向与该磁性件24相对位的定位槽121投射。所述线性光源可以由光源产生器(例如：发光二极管光源)、导光器(例如：光纤)以及光栅结构共同组成，本技术领域的普通技术人员能轻易理解实施。该第二调整部32连接该光源31，用于供使用者调整该光源31的位置。在本实施例中，该第二调整部32同样包含一第二水平调整部321及一第二垂直调整部322，该第二水平调整部321用于调整该光源31于垂直该轴向方向X之平面上的位置；该第二垂直调整部322则用于调整该光源31于该轴向方向X上的位置。

 该摄影模块4包含一摄影装置41及一第三调整部42。其中，该摄影装置41连接一镜头411，该镜头411朝向该承载盘12的外周缘设置，且该摄影装置41较佳为线扫描摄影机(Line-scan camera)，用以拍摄与该轴向方向X平行的一线性影像。由于该镜头411朝向该承载盘12的外周缘设置，因此该摄影装置41可以拍摄取得与该磁性件24相对位的定位槽121的线性影像。该第三调整部42连接该摄影装置41，用于供用户调整该摄影装置41的位置。在本实施例中，该第三调整部42同样包含一第三水平调整部421及一第三垂直调整部422，该第三水平调整部421用于调整该摄影装置41于垂直该轴向方向X之平面上的位置；该第三垂直调整部422则用于调整该摄影装置41于该轴向方向X上的位置。

 请参照第4及5图所示，本实用新型的实施例的元件检测装置实际使用时，可以经由一送料机构(图未绘示)依序将数个待测元件S分别置入该元件载台1之各个定位槽121当中，所述待测元件S为磁性材料(包含软磁性材料及硬磁性材料)所制成。该定位槽121可供支撑定位该待测元件S，且该定位槽121可活动地结合该待测元件S，使得该待测元件S定位于该定位槽121时，能够沿着该轴向方向X于该定位槽121中滑移。同时，该元件驱动装置2的驱动装置22经由该枢轴23以驱动该磁性件24旋转。

  请一并参照图6所示，该元件载台1之转轴11所耦接的动力元件较佳为步进马达，因此该动力元件可以驱动该承载盘12旋转至一预定位置，使得其中一定位槽12沿该轴向方向X与该磁性件24相互对位，该磁性件24与该定位槽12行程同轴，且该定位槽12支撑有一待测元件S，由于该待测元件S为磁性材料所制成，因此该磁性件24能够利用磁力吸附该待测元件S。其中，该磁性件24受该驱动装置22的驱动而旋转，因此该待测元件S为该磁性件24所吸附后，将一并受该磁性件24的带动而旋转。为了使该磁性件24的磁力足以确实吸附该待测元件S，同时避免该待测元件S受该磁性件24吸附后所产生的位移量过大，该磁性件24与该待测元件S沿该轴向方向X之间距较佳落在0.1公分~3公分之间，且所述间距可以借由该第一调整部25的第一垂直调整部252来进行调整。

  此时，该光源模块3的光源31可以经由该发光端311朝向该定位槽121中的待测元件S投射光线，且该摄影模块4的摄影装置41可以同时经由该镜头411拍摄取得该待测元件S的影像。注意到，在本实施例当中，该驱动装置22驱动该磁性件24相对该轴向方向X枢转，因此该待测元件S将随着该磁性件24相对该轴向方向X枢转；该光源31产生与该轴向方向X平行的一线性光，并经由该发光端311将该线性光投射于该待测元件S；该摄影装置41为线扫描摄影机，以对该待测元件S拍摄与该轴向方向X平行的一线性影像。据此，当该待测元件S随着该磁性件24旋转时，该摄影装置41可以连续对该待测元件S拍摄，进而取得该待测元件S的外周面于各个角度下的线性影像。详言之，该摄影装置41的拍摄频率应对应该待测元件S的旋转速度，以正确取得该待测元件S的外周面于各个角度下的线性影像，举例而言，若该摄影装置41为扫描频率(Line Rate)约等于4.8kHz的线扫描摄影机，且用户欲环绕该待测元件S的外周面取得3600张线性影像，则该待测元件S每秒应旋转0.75圈，换言之，该驱动装置22应驱动该磁性件24以45rpm的转速旋转。

  该摄影装置41拍摄取得该待测元件S的外周面于各个角度下的线性影像后，可以经由计算机或工作站***面影像，据以检测该待测元件S是否存在瑕疵。在本实施例当中，该待测元件S为一螺丝，因此由该平面影像能够有效检验该待测元件S的宽度、牙距与内外牙径等规格是否小于公差，并且侦测该待测元件S是否存在缺角、牙尖扩展或牙锋宽度异常等问题。

  更详言之，请参照图7所示，该光源31的发光端311与该摄影装置41的镜头411的设置方向示意图。该发光端311是朝向该待测元件S的一端缘投射该线性光，同时该镜头411是朝向该端缘设置以拍摄取得该待测元件S的线性影像，该待测元件S的中心朝向该端缘延伸形成一法线方向N。其中该发光端311与该端缘的联机和该法线方向N间形成一第一夹角θ₁；该镜头411与该端缘的联机和该法线方向N间形成一第二夹角θ₂，透过设计使该第一夹角θ₁等于该第二夹角θ₂时，该发光端311所投射的光线将直接反射至该镜头411，因此若该待测元件S是否存在缺角等瑕疵，将导致该摄影装置41所拍摄的线性影像于瑕疵明亮度不均或线条不连续，即可有效检测该待测元件S是否存在瑕疵。同时，对于经电镀处理或其它亮面处理的待测元件S而言，若设计使该第一夹角θ₁等于该第二夹角θ₂，将造成该摄影装置41所拍摄的线性影像过于明亮而无法辨识瑕疵部位，因此可以设计使该第一夹角θ₁不等于该第二夹角θ₂，以对该摄影装置41所拍摄的线性影像进行减光。

 换言之，该光源31的发光端311与该摄影装置41镜头411的设置方向应视该待测元件S的种类以及所欲检测的瑕疵类型而调整，据此，该光源模块3的第二调整部32必须包含该第二水平调整部321，用于调整该光源31于垂直该轴向方向X之平面上的位置，进而改变该发光端311的设置方向；同理，该摄影模块4的第三调整部42必须包含该第三水平调整部421，用于调整该摄影装置41于垂直该轴向方向X之平面上的位置，进而改变该镜头411的设置方向。

 请参照图8所示，当该摄影装置41完成拍摄该待测元件S的外周面于各个角度下的线性影像后，该转轴11所耦接的动力元件可以再次驱动该承载盘12旋转，使得该定位槽121于垂直该轴向方向X之平面上移动，由于该待测元件S定位于该定位槽121当中，因此该承载盘12旋转时将迫使该待测元件S自该磁性件24脱离，且该动力元件可以驱动该承载盘12持续旋转至另一预定位置，使得支撑有另一待测元件S的一定位槽12沿该轴向方向X与该磁性件24相互对位。借此，透过重复上述动作，该摄影装置41即可对各该定位槽12当中的待测元件S进行拍摄，以完成检测各该待测元件S是否存在瑕疵。除此之外，完成检测的待测元件S可以经由一取料机构(图未绘示)依序自该各该定位槽121当中被取出，关于上述送料机构及该取料机构均为本技术领域的普通技术人员能轻易理解熟知技术，恕不另行赘述。

另一方面，在本实施例中，该承载盘12较佳与该转轴11形成可拆分的结合。借此当用户欲对不同规格的待测元件S进行检测时，即可对应更换该承载盘12，以提供适当的定位槽121来支撑定位不同规格的待测元件S。为此，该元件驱动装置2必须设置该第一调整部25，使得该承载盘12更换后，能够借由该第一水平调整部251将该磁性件24的位置调整至与其中一定位槽121相互对位。此外，由于该对应不同规格的待测元件S的承载盘12可能需设置于不同的水平高度，因此该光源模块3的第二调整部32必须包含该第二垂直调整部322，以供调整该光源31于该轴向方向X上的位置，确保该发光端311所投射的线性光能够完整照射于该待测元件S；同理，该摄影模块4的第三调整部42必须包含该第三垂直调整部422，用于调整该摄影装置41于该轴向方向X上的位置，确保所拍摄的线性影像完整涵盖该待测元件S。

借由上述结构，本实用新型实施例的元件检测装置经由该元件驱动装置2的驱动装置22驱动该磁性件24旋转，可以利用该磁性件24吸附该待测元件S，以一并带动该待测元件S旋转，配合由该光源31朝向该待测元件S投射线性光，同时以该摄影装置41连续拍摄该待测元件S的线性影像，即可取得该待测元件S的外周面于各个角度下的线性影像，据以检测该待测元件S是否存在瑕疵。

值得注意的是，请一并参照图9和图10所示，若该定位槽121中所支撑的待测元件S’沿该轴向方向X的长度较长，当该待测元件S’受该磁性件24所吸附并带动旋转时，该待测元件S’远离该定位槽121的部份可能会产生晃动，因而造成该摄影装置41所拍摄的线性影像模糊不清，可能会导致该待测元件S’被误判为瑕疵品。据此，本实用新型实施例之元件检测装置还可以设有一支撑模块5，该支撑模块5包含一支架51、二支撑杆52及一驱动部53，该二支撑杆52结合于该支架51，并且朝向与该磁性件24相对位的定位槽121中的待测元件S’设置，且该二支撑杆52与该磁性件24分别形成于该承载盘12的两侧。各该支撑杆52均设有一永久磁铁521及一导轮522，该永久磁铁521与该导轮522可以沿该轴向方向X排列设置，且该导轮522枢接结合于该支撑杆52。该驱动部53连接该支架51，以供驱动该支架51及该二支撑杆52朝该待测元件S’接近或远离该待测元件S’。

借此，请一并参照图11所示，当该待测元件S受该磁性件24所吸附并带动旋转时，该驱动部53可以驱动该二支撑杆52朝该待测元件S’接近，使该待测元件S’分别抵接该二导轮522，进而达成稳定支撑该待测元件S’的效果。由于该导轮522的枢接结合于该支撑杆52，因此该二支撑杆52不会阻碍该待测元件S’旋转，且该二支撑杆52能够经由该永久磁铁521以吸引该待测元件S’，有效避免该待测元件S’于旋转过程中产生晃动。

同时，请参照图12所示，当该摄影装置41完成拍摄该待测元件’S的外周面于各个角度下的线性影像后，该转轴11所耦接的动力元件需驱动该承载盘12旋转，使得支撑有另一待测元件S’的一定位槽12沿该轴向方向X与该磁性件24相互对位。然而，若该待测元件S’抵接于该二支撑杆52的导轮522将导致该承载盘12无法顺畅旋转，甚至对会对该待测元件S’造成损伤。因此，该驱动部53必须驱动该二支撑杆52远离该待测元件S’，使该待测元件S’与该二支撑杆52之导轮522分离，该承载盘12方能顺利旋转。

所述驱动部53可以为压缸或马达等各式习用动力输出装置，同时，该驱动部53较佳经由一传动结构(图未绘示)与该转轴11所耦接的动力元件相结合，使得该动力元件驱动该转轴11旋转时，能够同步利用该传动结构将驱动该转轴11产生轴向枢转之动力转换为驱动该支架51产生径向位移之动力，藉此能够使该二支撑杆52之动作与该承载盘12之转动过程同步，进一步确保该承载盘12可以顺利旋转，以切换与该磁性件24相互对位之定位槽121。

 借由前面所揭示的结构特征，本实用新型实施例的元件检测装置的主要特点在于：

     利用一元件载台1提供数个定位槽121，各该定位槽121可活动地结合一待测元件S；经由一元件驱动装置2的驱动装置22驱动一磁性件24旋转，该元件载台1可以驱使支撑有待测元件S的数个定位槽12于垂直该轴向方向X之平面上移动，以分别沿该轴向方向X与该磁性件24相互对位，以利用该磁性件24吸附该待测元件S并且一并带动该待测元件S旋转；配合由一光源31朝向该待测元件S投射线性光，同时以一摄影装置41连续拍摄该待测元件S的线性影像，进而取得该待测元件S的外周面于各个角度下的线性影像。

  由此可知，相较前述习用元件检测装置9仅能利用数个影像捕获设备921、922以拍摄取得该待测元件S于不同角度下的影像，本实用新型实施例的元件检测装置可以取得该待测元件S的外周面于各个角度下的影像，据以检测该待测元件S是否存在瑕疵，因此能够完整检测待测元件S的外周面之各个角度所可能存在的瑕疵，具有提升元件瑕疵检测准确率的功效。

 再者，若该定位槽121中所支撑的待测元件S’长度较长，本实用新型实施例的元件检测装置可以借由一支撑模块5稳定支撑该待测元件S’，该支撑模块5包含二支撑杆52，且该二支撑杆52与该磁性件24分别形成于该元件载台1的两侧，该二支撑杆52可以抵接该待测元件S’，避免该待测元件S’受该磁性件24带动旋转的过程中产生晃动，以确保该摄影装置41所拍摄的线性影像的质量，降低该待测元件S’被误判为瑕疵品的机率，具有进一步提升元件瑕疵检测准确率的功效。

综上所述，本实用新型元件检测装置确可达到提升元件瑕疵检测准确率的功效。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种元件检测装置，其特征在于，包括：一元件载台，该元件载台设有数个定位槽，该定位槽支撑一待测元件；

一元件驱动装置，包含一基座、一驱动装置及一磁性件，该驱动装置结合于该基座，且该驱动装置连接该磁性件，用以驱动该磁性件相对一轴向方向枢转，该磁性件沿该轴向方向与其中一定位槽形成同轴；

一光源模块，包含一光源，该光源具有一发光端，该发光端朝向与该磁性件形成同轴的定位槽投射光线；

及一摄影模块，包含一摄影装置，该摄影装置连接一镜头，用以拍摄与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件影像。

2.根据权利要求1所述的元件检测装置，其特征是：该定位槽活动地连接该待测元件，使该待测元件能够沿着该轴向方向在该定位槽中滑动。

3.根据权利要求1所述的元件检测装置，其特征是：该光源为线性光源，用以产生与该轴向方向平行的一线性光，并且将该线性光经由该发光端投射在与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件。

4.根据权利要求1所述的元件检测装置，其特征是：该摄影装置为线扫描摄影机，经由该镜头对与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件拍摄，以取得与该轴向方向平行的一线性影像。

5.根据权利要求1所述的元件检测装置，其特征是：该元件载台包含相互结合的一转轴及一承载盘，该转轴能够受一动力元件而相对该轴向方向枢转，所述数个定位槽环绕设置于该承载盘的外周缘。

6.根据权利要求1所述的元件检测装置，其特征是：所述元件检测装置另设有一支撑模块，该支撑模块包含一支架、二支撑杆及一驱动部，该二支撑杆连接该支架，并且朝向与该磁性件形成同轴的定位槽中的待测元件设置，各该支撑杆均设有一导轮，该导轮枢接结合于该支撑杆，该驱动部连接该支架，以供驱动该二支撑杆朝该待测元件接近，使该待测元件分别抵接该二导轮，或者供驱动该二支撑杆远离该待测元件，使该待测元件与该二导轮相远离。

7.根据权利要求6所述的元件检测装置，其特征是：各该支撑杆均另设有一永久磁铁，该永久磁铁与该导轮沿该轴向方向排列设置。

8.根据权利要求1至7中的任意一项所述的元件检测装置，其特征是：该元件驱动装置另包含一第一调整部，该第一调整部连接该基座，且该第一调整部包含一第一水平调整部及一第一垂直调整部，该第一水平调整部用于调整该基座于垂直该轴向方向之平面上的位置，该第一垂直调整部用于调整该基座于该轴向方向上的位置。

9.根据权利要求1至7中的任意一项所述的元件检测装置，其特征是：该光源模块另包含一第二调整部，该第二调整部连接该光源，且该第二调整部包含一第二水平调整部及一第二垂直调整部，该第二水平调整部用于调整该光源于垂直该轴向方向之平面上的位置，该第二垂直调整部用于调整该光源于该轴向方向上的位置。

10.根据权利要求1至7中的任意一项所述的元件检测装置，其特征是：该摄影模块另包含一第三调整部，该第三调整部连接该摄影装置，且该第三调整部包含一第三水平调整部及一第三垂直调整部，该第三水平调整部用于调整该摄影装置于垂直该轴向方向之平面上的位置，该第三垂直调整部用于调整该摄影装置于该轴向方向上的位置。