CN203133172U - 多路阻值自动化测量*** - Google Patents

多路阻值自动化测量*** Download PDF

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CN203133172U CN 201320057206 CN201320057206U CN203133172U CN 203133172 U CN203133172 U CN 203133172U CN 201320057206 CN201320057206 CN 201320057206 CN 201320057206 U CN201320057206 U CN 201320057206U CN 203133172 U CN203133172 U CN 203133172U
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曹岚
张海燕
朱宪亮
夏王
季鹏
庄腹蓉
陆华杰
龚海梅
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Shanghai Institute of Technical Physics of CAS
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Shanghai Institute of Technical Physics of CAS
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Abstract

本专利公开了一种多路阻值自动化测量***。其包括老化电源、多路电子开关阵列、数据采集器、限流电阻、电路保护单元及计算机。其中多路电子开关阵列是一个多路单刀双闸开关阵列，其可根据多路红外器件中的任意一路元器件的测试要求，断开该路元器件与老化电源连接，将其接通至数据采集器，以完成元器件的试验状态与测试状态的自动切换；同时使用数据采集器对切换过来的元器件进行阻值测量，实现阻值自动测试的目的。通过计算机发送向数据采集器的RS232接口方式命令的方式，将测量数据转移至计算机进行存储；此***实现了对多路元器件自动阻值测试和自动数据存储，提高了元器件老化数据采集的速率、准确度、数据量。

Description

多路阻值自动化测量***
技术领域
本专利涉及一种全自动多路阻值测量***，具体指一种多路阻值自动化测量***。
背景技术
传统红外探测器组件老化试验中，光敏元阻值测试需先断开电源及其限流电阻，而后通过真空容器引出的连线定期手动测出,这样大大增加了电阻测试的不准确性和不方便性，同时测出的数据需要人工录入数据，试验过程中容易产生错误，积累的数据量极为有限，数据处理速度慢，不能进行实时处理。
发明内容
基于上述研究多路红外探测器阻值测试的困难，本专利公开了一种高可靠度的全自动多路阻值测量***，其包括电路保护单元、多路电子开关阵列及数据采集器、限流电阻、老化电源及计算机，其特征在于多路元器件老化试验和测量自动切换、电阻测量过程自动化、采集获得数据计算机存储、高可靠度。
其中：
所述的多路电子开关阵列是一个多路单刀双闸开关阵列，它由多片SPDT芯片ADG1634组成，任一开关的通断由开关阵列内置的单片机控制，同时开关阵列通过数据采集器的数字量输入输出DIO与数据采集器通信；
所述的数据采集器为fluke 2620A，其有RS232数据通信接口和数字量输入输出接口D0~D7；
所述的电路保护单元是由保险丝、滤波电容以及三种浪涌抑制器件组成，其中，采用的三种浪涌抑制器件分别为气体放电管、抑制二极管TVS及压敏电阻；
所述的老化电源采用大华15V恒压电源；
所述的计算机中装有Labview软件；
老化电源作为整个老化试验元器件的供电电源，老化电源后接有电路保护单元，电路保护单元后接的电路被分成64个支路，每个支路均包含接着一个限流电阻X、一个SPDT开关和一个被测元器件，其中，限流电阻X根据每个支路的被测元器件不同，阻值也不同，其阻值范围为4~10KΩ；SPDT开关为多路开关阵列的一个支路形式，SPDT开关一端A_X接限流电阻X，另一端B_X接数据采集器的输入端，SPDT开关的公共端C_X接待测元器件的非公共端1~64；待测元器件的公共端D接数据采集器的输出端、非公共端1~64分别接到SPDT开关的公共端C_X。
当64路待测元器件中的任意一个元器件有测试要求时，计算机通过RS232接口通信将数据采集器DIO中的D0为置低，以表示有元器件等待测试；多路电子开关阵列读到置低信号后，开关阵列切换该路元器件对应的SPDT开关状态，SPDT的闸刀从A_X触点切换到B_X触点，即断开该路元器件与老化电源连接，将其接通至数据采集器，完成元器件的试验状态与测试状态的自动切换；同时计算机通过RS232接口向数据采集器发送测试命令，对切换过来的元器件进行阻值测量，实现阻值自动测试的目的；计算机发送向数据采集器的RS232接口方式命令的方式，将测量数据转移至计算机进行存储；最后计算机置低数据采集器的DIO中的D1位，向多路开关阵列发送测试完毕信号；多路电子开关阵列读取D1置低信号，切换开关，将该路元器件与老化电源连接，元器件返回老化试验状态。
本专利的最大优点是：可靠度高，可确保流过器件的电流变化小于0.1mA,，确保元器件不会在试验过程和测试过程中受到损伤，可自动化实现64路元器件同时试验而独立测试，自动数据存储，可大大提高元器件老化数据采集的速率、准确度、数据量。
附图说明
图1为本专利的电路原理图。
图2本专利工作流程图。
具体实施方式
下面结合附图，对本专利的具体实施方式作进一步的详细说明：
将5路待测元器件按照原理图1接线，即将5路元器件一端分别接到开关阵列接头C_1~C_5，另一端接到公共端D，D接到数据采集器的输出端；老化电源采用北京大华无线电仪器厂的DH1718E-5型双路跟踪稳压电源，当计算机上点击开始测试按钮时，***运行的步骤如图2：
1、选定需要测试的元器件回路编号形成待测队列，计算机向多路电子开关阵列发送测试开始命令。
2、多路电子开关阵列切换回路编号最小的单刀双闸开关，将该路元器件连接至数据采集器，同时向数据采集器发送开关就位信号。
3、计算机从数据采集器上读取多路电子开关阵列发出的开关就位信号，若读取到开关就位信号，计算机则向数据采集器发送数据采集命令，并等待数据采集器的回馈信息；
4、计算机接受到数据采集器返回有效数据，将返回的有效数据进行存储，并向多路电子开关阵列发送数据采集完毕信号，从待测队列中清除编号最小的元器件。
5、重复步骤2~4，对所有待测的元器件进行测试。
6、当所有待测的元器件测试完毕，计算机向多路电子开关阵列发送测试完毕信号。
7、多路电子开关阵列收到计算机发送的测试完毕信号后，多路电子开关阵列将所有完成测试元器件所在回路的单刀双闸开关进行切换，以将所有的元器件连接至老化电源上，让元器件继续进行老化。

Claims (1)

1.一种多路阻值自动化测量***，包括电路保护单元、多路电子开关阵列及数据采集器、限流电阻、老化电源及计算机，其特征在于：
所述的多路电子开关阵列是一个多路单刀双闸开关阵列，它由多片SPDT芯片ADG1634组成，任一开关的通断由开关阵列内置的单片机控制，同时开关阵列通过数据采集器的数字量输入输出DIO与数据采集器通信；
所述的数据采集器为fluke 2620A，其有RS232数据通信接口和数字量输入输出接口D0~D7；
所述的电路保护单元是由保险丝、滤波电容以及三种浪涌抑制器件组成，其中，采用的三种浪涌抑制器件分别为气体放电管、抑制二极管TVS及压敏电阻；
所述的老化电源采用大华15V恒压电源；
所述的计算机中装有Labview软件；
老化电源作为整个老化试验元器件的供电电源，老化电源后接有电路保护单元，电路保护单元后接的电路被分成64个支路，每个支路均包含接着一个限流电阻X、一个SPDT开关和一个被测元器件，其中，限流电阻X根据每个支路的被测元器件不同，阻值也不同，其阻值范围为4~10KΩ；SPDT开关为多路开关阵列的一个支路形式，SPDT开关一端A_X接限流电阻X，另一端B_X接数据采集器的输入端，SPDT开关的公共端C_X接待测元器件的非公共端1~64；待测元器件的公共端D接数据采集器的输出端、非公共端1~64分别接到SPDT开关的公共端C_X。
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Cited By (5)

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