CN202693634U

CN202693634U - 探针及探针装置

Info

Publication number: CN202693634U
Application number: CN 201220329196
Authority: CN
Inventors: 吴俊杰
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2012-07-09
Filing date: 2012-07-09
Publication date: 2013-01-23
Anticipated expiration: 2022-07-09

Abstract

本实用新型公开了一种探针及探针装置，该探针装置是设置于一测试座的一探针孔中用以电连接一待测接点及一收讯接点，该探针装置包括一壳体、二个分别设置于壳体内上半部与下半部且可上下移动的探针，及一可压缩形变地设置于壳体内且二端分别连接各探针的弹性元件，特别是探针具有朝相反方向垂直延伸的第一、二接触部，第一接触部呈偏心设置，借此能缩短相邻探针之间的针距，进而适用于更多接脚变化的封装元件。

Description

探针及探针装置

技术领域

本实用新型是有关于一种探针，特别是指一种能缩短针距的探针及探针装置。

背景技术

参阅图1，传统的测试用探针1是可置换地设置于一测试座100的一探针孔200中，用以电连接一待测接点300及一收讯接点400。

该测试用探针1是以导电材料制成，并包括一穿设于该探针孔200的壳体件11、一上接触件12、一下接触件13，及一弹性元件14。

该壳体件11具有一中空的底壁111、一由该底壁111的外周缘向上延伸的围绕壁112、一由该围绕壁112的顶端径向向内延伸的中空的顶壁113，及一由该底壁111与围绕壁112及顶壁113所界定的穿孔114。

该上接触件12是可上下移动地设置于该壳体件11的穿孔114上半部，并具有一可移动地抵靠该顶壁113的底面的抵靠部121、一由该抵靠部121向下延伸的连接部122，及一由该抵靠部121向上延伸并穿过该顶壁113而可接触该待测接点300的接触部123。

该下接触件13是可上下移动地设置于该壳体件11的穿孔114下半部，并具有一可移动地抵靠该底壁111的顶面的抵靠部131、一由该抵靠部131向上延伸的连接部132，及一由该抵靠部132向下延伸并穿过该底壁111而可接触该收讯接点400的接触部133。

该弹性元件14是压缩弹簧，是可压缩形变地设置于该壳体件11的穿孔114内，该弹性元件14二端分别连接该上接触件12的连接部122及该下接触件13的连接部132，并用于根据该待测接点300及该收讯接点400的间距缓冲调变该上、下接触件12、13的距离。

参阅图1、2，实际使用时，该测试座100上是设置有多数个测试用探针1，相邻两测试用探针1中心轴线之间相距一个长度L，但是随着集成电路产业的发达与工艺进步的情况，在同一单位面积上所能形成的待测接点300或收讯接点400的数量亦进一步提高。换言之，该测试座100上的探针1数量(PIN COUNT)也会被要求进一步提高，而增加探针1数量的手段就是将测试用探针1的结构微小化，在单位面积中增加设置的数量。但是，探针1的微小化终有其极限，也愈来愈无法满足目前日益增加待测接点300或收讯接点400产品的集成电路封装元件。

再者，现在有部分集成电路产品要求测试时必须在同一个待测接点300或收讯接点400上(例如Kelvin Test)，同时以两根测试用探针1作连接接触，在探针1的结构微小化有限的前提下，现有的测试用探针1难以满足此一要求，确实有其改善的必要。

实用新型内容

因此，本实用新型的主要目的，在于提供一种采偏心设计而能缩短相邻针距的探针及增加探针设置数量，进而能适用于更多不同接脚数变化的封装元件的探针装置。

为达到上述目的，本实用新型提供一种探针，其材质为导电材质，其包括有：一座体，定义有一中心轴线；一第一接触部，由该座体顶面朝远离该座体方向垂直延伸，该第一接触部定义有一中心线，且该第一接触部的中心线不与该中心轴线重叠；一第二接触部，由该座体底面朝远离该座体方向垂直延伸。

所述第二接触部的中心线与所述中心轴线重叠。

另一方面，本实用新型提供一种探针装置，是设置于一测试座的一探针孔中用以电连接一待测接点及一收讯接点，该探针装置包括：一壳体，是穿设于该探针孔中，该壳体内部形成有一容置空间，且该壳体的二相反端分别设有能使该容置空间与外界相通的通孔；二探针，各探针均具有一座体、一由该座体一表面朝远离该座体方向垂直延伸的第一接触部，及一由该座体另一相反表面朝远离该座体方向垂直延伸的第二接触部，至少一个探针的第一接触部是呈偏心设置，各该探针是能上下移动地分别设置于该壳体的容置空间上半部与下半部，位于该容置空间上半部的该探针的第一接触部并通过相对应的该通孔而凸伸出该测试座顶面而接触该待测接点，位于该容置空间下半部的该探针的第一接触部则是通过相对应的该通孔而凸伸出该测试座底面并接触该收讯接点；及一弹性元件，能压缩形变地设置于该壳体的容置空间内，且二端分别连接各该探针。

所述座体定义有一中心轴线，所述第二接触部的中心线与该中心轴线重叠，而该第一接触部的中心线不与该中心轴线重叠。

所述壳体具有一顶壁、一由该顶壁外周缘向下延伸的围绕壁，及一由该围绕壁底端向下并向内收合的收合壁，所述容置空间是由该顶壁、该围绕壁及该收合壁共同界定而成，该顶壁及该收合壁是分别与该待测接点、该收讯接点相对应，各该通孔是分别由该顶壁及该收合壁界定而成。

位于所述容置空间上半部的该探针的第二接触部具有一连接所述座体的延伸段及一形成于该延伸段端缘处的头部，另外，所述壳体具有一围绕壁、一由该围绕壁底端向下并向内收合的收合壁，及一自该围绕壁顶端且朝所述延伸段收合且与该延伸段接触的夹持壁，该夹持壁及该收合壁是分别与该待测接点、该收讯接点相对应，各该通孔是分别由该顶壁及该收合壁界定而成。

所述弹性元件是一压缩弹簧。

位于所述容置空间下半部的该探针的第二接触部形成有一供位于该容置空间上半部的探针的第二接触部伸置的长形槽道。

本实用新型的功效在于借由至少一个探针的第一接触部采用偏心设置，以缩短相邻探针的针距，进而能增加探针设置数量，并适用于更多不同接脚数变化的封装元件。

附图说明

图1是一剖视图，说明一传统的测试用探针设置于一测试座的一探针孔，且尚未电连接一待测接点及一收讯接点时的状态；

图2是一剖视图，说明图1的传统的测试用探针的二端分别接触该待测接点及该收讯接点时的状态；

图3是一平面图，说明本实用新型探针及探针装置的第一较佳实施例，图中显示探针的形态；

图4是一剖视图，说明该第一较佳实施例的探针装置设置于该测试座的探针孔且尚未电连接该待测接点及该收讯接点时的状态；

图5是一剖视图，辅助说明图4的二探针的第一接触部分别接触该待测接点及该收讯接点时的状态；

图6是一剖视图，说明本实用新型探针及探针装置的第二较佳实施例，显示测试座上的待测接点与收讯接点是一对一设置，且此时探针装置是设置于该测试座的探针孔且尚未电连接相对应的待测接点及收讯接点；

图7是一剖视图，辅助说明第二实施例的探针装置也能应用于测试座的二待测接点与一收讯接点相对应的情形；

图8是一剖视图，说明本实用新型的第三较佳实施例，显示测试座上的待测接点与收讯接点是采一对二设置，其中下端探针的第一接触部与第二接触部均位于座体的中心轴在线；及

图9是一剖视图，说明本实用新型的第四较佳实施例，显示测试座上的待测接点与收讯接点是采一对二设置，其中下端探针的第二接触部形成有一可供上端探针的第二接触部伸置的长形槽道。

附图标记说明

3．．．探针装置

31．．．探针

311．．．座体

312．．．第一接触部

313．．．第二接触部

314．．．延伸段

315．．．头部

316．．．长形槽道

32．．．壳体

321．．．顶壁

322．．．围绕壁

323．．．收合壁

324．．．容置空间

325、326．．．通孔

327．．．夹持壁

33．．．弹性元件

4．．．测试座

41．．．探针孔

42．．．收讯接点

43．．．待测接点

L1．．．中心轴线

L2．．．中心线

W．．．间距。

具体实施方式

有关本实用新型的前述及其它技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图的四个较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。

在本实用新型被详细描述之前，要注意的是，在以下的说明内容中，类似的元件是以相同的编号来表示。

如图3所示，是本实用新型探针31的第一较佳实施例，该探针31是由导电材质所制成，其包括有一呈矩形的座体311、一由该座体311顶面朝远离该座体311方向垂直延伸的第一接触部312，及一由该座体311底面朝远离该座体311方向垂直延伸的第二接触部313，且该第二接触部313与该第一接触部312不在同一直在线，即该座体311定义有一中心轴线L1，该第一、二接触部312、313均定义有一中心线L2(图中仅显示第一接触部312的中心轴线)，且该第一接触部312的中心线L2不与该中心轴线L1重叠，该第二接触部313的中心线(图未示)则与该中心轴线L1重叠。

如图4所示，上述探针31是应用于一双动形态的探针装置3中，该探针装置3还包括一壳体32，及一弹性元件33，在本实施例中，所述探针31是以图3的形态应用做说明。在此特别说明的是，所谓“双动形态”，是指探针装置3位于上端及下端的探针31均为可动伸缩的形态。

该壳体32是由导电材质所制成，其具有一顶壁321、一由该顶壁321外周缘向下延伸的围绕壁322、一由该围绕壁322底端向下并向内收合的收合壁323，及一由该顶壁321、该围绕壁322及该收合壁323共同界定而成的容置空间324，顶壁321与收合壁323上分别形成有一通孔325、326。另外，该弹性元件33是以一压缩弹簧为例做说明，且设置于壳体32的容置空间324内。

上述二探针31的第二接触部313分别与弹性元件33的两端相连接而设置于该壳体32的容置空间324的上半部与下半部，位于该容置空间324上半部的探针31的第一接触部312并通过位于壳体32顶壁321上的相对应通孔325而凸伸出该壳体32外，而位于该容置空间324下半部的该探针31的第一接触部312则是通过相对应的通孔326而凸伸出该壳体32外。

特别说明的是，依据本实用新型的实际量测结果显示，借由探针31的第一接触部312是呈偏心设置，因此两两相邻探针31之间的间距W可由原先非偏心设计的间距0.5mm缩短至0.15～0.2mm，让两相邻探针31可以用于接触同一收讯接点42或同一待测接点43。

参阅图4、5，在使用上，探针装置3是安装于一适用于Kelvin Test的测试座4。所谓Kelvin Test是一种半导体测试工艺，其特点在于同一待测接点43或同一收讯接点42会同时有二探针41接触，其中一探针41是用于传递信号，另一探针41则是用于检测信号。该测试座4上设有多数个探针孔41，每一探针孔41可供容纳一探针装置3，探针装置3安装于探针孔41内部后，其二个探针31的第一接触部312分别进一步凸伸出该测试座4的顶面与底面。该测试座4的下方设置有多数个收讯接点42，上方则设置有多数个待测接点43，为便于说明，图4、5中仅各显示一个收讯接点42及一个待测接点43，各收讯接点42及各待测接点43分别与各探针装置3的位置对应设置。

当该待测接点43及该收讯接点42分别接触该二探针31的第一接触部312时，该待测接点43、该二探针31、该壳体32及该收讯接点42形成一信息传递的电通路，完成探针测试程序。另借由各探针31的第一接触部312是呈偏心设置，使得相邻两探针31之间的间距W能有效缩短，因而能增加探针装置3的设置数量，以适用于更多不同接脚数量变化的封装元件。

参阅图6、7，为本实用新型的第二较佳实施例，其大致与该第一较佳实施例类似，不同的地方是在于探针装置3为单动形态(即仅有一端探针为可动伸缩的形态)。位于该容置空间324上半部的探针31的第二接触部313具有一连接该座体311的延伸段314及一形成于该延伸段314端缘处的头部315，而位于该容置空间324下半部的探针31则仍可维持与第一实施例相同的形态，但不以此为限，位于该容置空间324下半部的探针31也可采与位于该容置空间324上半部的探针31相同的形态。另外，壳体32也具有一围绕壁322及一收合壁323，该围绕壁322顶端并进一步形成朝位于该容置空间324上半部的所述探针31第二接触部313的延伸段314收合的夹持壁327，夹持壁327并与该延伸段314接触。

借此在使用上，任两相邻的探针装置3的上端探针31的第一接触部312可同时接触同一待测接点43，且下端探针31的第一接触部312则可同时接触同一收讯接点42，该待测接点43与该收讯接点42之间仍可经由二探针31及壳体32而形成一电通路，此时弹性元件33是提供所述探针31受到该收讯接点42触抵时的弹性缓冲作用，进而也能达到增加探针装置3的设置数量，以适用于更多不同接脚数变化的封装元件等与第一较佳实施例相同的功效。

此外，测试座4上的待测接点43或收讯接点42的设置位置会根据实际封装元件的接脚数量而有不同变化，如前述实施例都是一待测接点43对应一收讯接点42，而图7所示，即是二待测接点43对应一收讯接点42。在图7所示的使用情形下，任两相邻的探针装置3的上端探针31的第一接触部312可分别接触任二相邻的待测接点43，而下端探针31的第一接触部312则仍可接触于同一收讯接点42，各该待测接点43与该收讯接点42之间仍可经由该探针31及壳体32而形成一电通路，进而完成测试作业，并达成与第一实施例相同的功效。

参阅图8，为本实用新型的第三较佳实施例，其大致与该第一较佳实施例类似，不同的地方是在于探针装置3的位于该容置空间324下半部的探针31的第一接触部312与第二接触部313均位于座体311的中心轴线L1(见于图3)上，如此在使用上，探针装置3的位于该容置空间324下半部任两相邻的探针31第一接触部312仍可接触于同一待测接点43，而下端探针31的第一接触部312则分别接触任二相邻的收讯接点42，各该待测接点43与该收讯接点42之间仍可经由该探针31及壳体32而形成一电通路，进而完成测试作业，并达成与第一实施例相同的功效。

参阅图9，为本实用新型的第四较佳实施例，其大致与该第三较佳实施例类似，不同的地方是在于探针装置3的位于该容置空间324下半部的探针31的第二接触部313形成有一长形槽道316，并能供位于该容置空间324上半部的探针31的第二接触部313伸置。借此在使用上，同样能达成与第三实施例相同的功效。

归纳上述，本实用新型探针31及探针装置3借由上述构造设计，使得相邻两探针31之间的间距W能有效缩短，不但能增加探针装置3的设置数量，且纵使测试座4上的待测接点43或收讯接点42的设置位置根据实际封装元件的接脚数量而有不同变化，单一或相邻探针装置3上的探针31均能与之接触，进而构成电通路以完成测试，故确实能达到本实用新型的目的。

以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不能以此限定本实用新型实施的范围，即凡是依本实用新型权利要求及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，均仍属于本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims

1.一种探针，其材质为导电材质，其特征在于，该探针包括有：

一座体，定义有一中心轴线；

一第一接触部，由该座体顶面朝远离该座体方向垂直延伸，该第一接触部定义有一中心线，且该第一接触部的中心线不与该中心轴线重叠；及

一第二接触部，由该座体底面朝远离该座体方向垂直延伸。

2.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述第二接触部的中心线与所述中心轴线重叠。

3.一种探针装置，是设置于一测试座的一探针孔中用以电连接一待测接点及一收讯接点，其特征在于，该探针装置包括：

一壳体，是穿设于该探针孔中，该壳体内部形成有一容置空间，且该壳体的二相反端分别设有能使该容置空间与外界相通的通孔；

二探针，各探针均具有一座体、一由该座体一表面朝远离该座体方向垂直延伸的第一接触部，及一由该座体另一相反表面朝远离该座体方向垂直延伸的第二接触部，至少一个探针的第一接触部是呈偏心设置，各该探针是能上下移动地分别设置于该壳体的容置空间上半部与下半部，位于该容置空间上半部的该探针的第一接触部并通过相对应的该通孔而凸伸出该测试座顶面而接触该待测接点，位于该容置空间下半部的该探针的第一接触部则是通过相对应的该通孔而凸伸出该测试座底面并接触该收讯接点；及

一弹性元件，能压缩形变地设置于该壳体的容置空间内，且二端分别连接各该探针。

4.根据权利要求3所述的探针装置，其特征在于，所述座体定义有一中心轴线，所述第二接触部的中心线与该中心轴线重叠，而该第一接触部的中心线不与该中心轴线重叠。

5.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，所述壳体具有一顶壁、一由该顶壁外周缘向下延伸的围绕壁，及一由该围绕壁底端向下并向内收合的收合壁，所述容置空间是由该顶壁、该围绕壁及该收合壁共同界定而成，该顶壁及该收合壁是分别与该待测接点、该收讯接点相对应，各该通孔是分别由该顶壁及该收合壁界定而成。

6.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，位于所述容置空间上半部的该探针的第二接触部具有一连接所述座体的延伸段及一形成于该延伸段端缘处的头部，另外，所述壳体具有一围绕壁、一由该围绕壁底端向下并向内收合的收合壁，及一自该围绕壁顶端且朝所述延伸段收合且与该延伸段接触的夹持壁，该夹持壁及该收合壁是分别与该待测接点、该收讯接点相对应，各该通孔是分别由该顶壁及该收合壁界定而成。

7.根据权利要求5或6所述的探针装置，其特征在于，所述弹性元件是一压缩弹簧。

8.根据权利要求7所述的探针装置，其特征在于，位于所述容置空间下半部的该探针的第二接触部形成有一供位于该容置空间上半部的探针的第二接触部伸置的长形槽道。