CN202330684U - 一种用于vxi总线数字测试***的校准模块 - Google Patents
一种用于vxi总线数字测试***的校准模块 Download PDFInfo
- Publication number
- CN202330684U CN202330684U CN2011204445538U CN201120444553U CN202330684U CN 202330684 U CN202330684 U CN 202330684U CN 2011204445538 U CN2011204445538 U CN 2011204445538U CN 201120444553 U CN201120444553 U CN 201120444553U CN 202330684 U CN202330684 U CN 202330684U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- calibration module
- calibration
- main controller
- matrix
- vxi
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试***的校准模块,包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵和精密电阻矩阵。其中,主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接配置存储器和继电器矩阵;配置存储器连接在主控制器和继电器矩阵之间,用于存储校准、自检和计量的配置程序;继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接精密电阻矩阵。本校准模块可以与各种VXI总线数字测试***相互配合,自动完成相关数字测试***的校准、自检和计量工作,校准精度高,操作方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种集成电路测试***的校准模块,尤其涉及一种用于VXI总线数字测试***的校准模块,属于集成电路测试技术领域。
背景技术
VXI总线(VXI bus)是VME bus Extensions for Instrumentation的缩写。它是继IEEE488总线之后,为适应测量仪器从分立的台式和机架式结构发展为更紧凑的模块式结构的需要,而推出的一种新的总线标准。
VXI总线***是一种计算机控制的功能***,一般由主机箱、若干器件、资源管理器和主控制器组成。组成VXI总线***的基本逻辑单元称为“器件”。一般来说,一个器件占据一块VXI模块,也允许在一块模块上实现多个器件或者一个器件占据多块模块。当若干个用于集成电路测试的VXI模块基于VXI总线进行搭建时,就组成了VXI总线数字测试***。这些VXI模块一般包括PMU(精密测量单元)模块、通道模块、电源模块、图形模块等。
对于一个集成电路测试***来说,为了保证测试***能够正常稳定地运行,测试精度能够保证在规定指标之内,相应的校准、自检、计量技术是必不可少的。在《航空计测技术》2002年第4期上,高占宝等人发表了论文《VXI总线仪器自动计量校准***的研究》。该论文阐述了进行VXI总线仪器校准的必要性和特殊性,分析比较了几种VXI总线仪器校准方案,组建了一套自动校准***,论述了校准软件的结构及软件误差的控制措施,最后展望了VXI总线仪器校准的发展方向。但是,以该论文为代表的现有技术中并未涉及用于VXI总线数字测试***的校准方案。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于VXI总线数字测试***的校准模块。该模块可以用于各种VXI总线数字测试***的校准、自检和计量。
为实现上述的目的,本实用新型采用下述的技术方案:
一种用于VXI总线数字测试***的校准模块,其特征在于:
所述校准模块包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵和精密电阻矩阵;其中,
所述主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接所述配置存储器和所述继电器矩阵;
所述配置存储器连接在所述主控制器和所述继电器矩阵之间,用于存储校准、自检和计量的配置程序;
所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接所述精密电阻矩阵。
其中较优地,所述校准模块中包括转接卡座。
其中较优地,所述校准模块中包括JTAG接口,所述JTAG接口连接所述主控制器。
本实用新型所提供的校准模块可以与各种VXI总线数字测试***相互配合,自动完成相关数字测试***的校准、自检和计量工作,校准精度高,操作方便。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。
图1是本实用新型所提供的校准模块的原理示意图;
图2是本校准模块中,主控制器的连接示意图;
图3是本校准模块中,CPLD的配置示意图;
图4是本校准模块中,光继电器矩阵的示意图;
图5是本校准模块中,普通继电器矩阵的示意图;
图6是本校准模块中,精密电阻矩阵的配置示意图。
具体实施方式
本实用新型所提供的校准模块主要针对VXI总线数字测试***,因此各个功能单元都是由VXI总线驱动的,主控制器和继电器矩阵的控制信号都来源于VXI总线,所配套的校准软件的底层驱动也是针对VXI总线编写的。
如图1所示,该校准模块由主控制器、配置存储器、继电器矩阵、精密电阻矩阵和转接卡座组成。其中,主控制器一方面连接集成电路测试仪,从中获取集成电路测试仪的资源;另一方面分别连接配置存储器和继电器矩阵,以便对它们进行控制。配置存储器连接在主控制器和继电器矩阵之间,用于存储校准、自检和计量的配置程序。在程序运行时,配置存储器可以向主控制器提供校准、自检和计量的配置程序。该配置存储器可以是E2PROM或者FLASH(非易失性存储器)等。转接卡座用于实现本校准模块与集成电路测试仪等的连接,其具体实现是本领域普通技术人员都能掌握的常规技术,在此就不赘述了。
图2是主控制器的连接示意图。该主控制器由微控制器(MCU)和CPLD(或者FPGA)组成,其中微控制器用于控制配置存储器和集成电路测试仪的资源,CPLD(或者FPGA)用于实现对继电器矩阵的控制。
图3是本校准模块中,CPLD(复杂可编程逻辑器件)的配置示意图。该CPLD包括通过逻辑元件连接的第一跟随器、译码器和第二跟随器,其中第一跟随器的输出端连接译码器的输入端,译码器的输出端连接第二跟随器的输入端。
图4为光继电器矩阵的示意图,图5为普通继电器矩阵的示意图。这两种继电器的作用是一样的,主要区别在于光继电器体积小,寿命长但价格贵。继电器矩阵一方面与集成电路测试仪直接进行连接,另一方面连接精密电阻矩阵。该继电器矩阵由主控制器进行控制,可以根据不同的配置需要把集成电路测试仪的相关资源连接到精密电阻矩阵上,完成相关资源的校准、自检和计量。该继电器矩阵可以完成VXI总线数字测试***的HPMU、BPMU、PPMU、管脚电路、驱动比较电平、程控负载等资源的校准、自检和计量等操作。
如图6所示,精密电阻矩阵中采用定制的万级精度的电阻,以保证校准和计量的精度,阻值包括1MΩ、100KΩ、10KΩ、1KΩ、100Ω和10Ω。
本校准模块中还设有JTAG接口。JTAG是一种国际标准测试协议,与IEEE 1149.1兼容。该JTAG接口连接主控制器,用于完成对主控制器的相关配置。JTAG接口还可用于实现ISP(In-System Programmable在线编程),对待测试器件进行编程。
本校准模块在进行校准时,主控制器通过继电器矩阵将集成电路测试仪的相关资源连接到精密电阻矩阵上。由于精密电阻矩阵中是定制的高精度电阻,可以作为相关资源的校准、自检和计量基准。换句话说,可以通过精密电阻矩阵获得相关测试过程的标准值。另一方面,集成电路测试***所涉及的电压和电流值都应该是线性的,也就是说应该符合公式y=ax+b,通过这个公式我们可以建立一个校准系数列表,每个校准系数包括一个零点a和斜率b。其中的零点a和斜率b可以根据相关测试过程的标准值与实测值之间的差推算而出。该校准系数列表保存在配置存储器中,可以作为后续测试过程的结果校准基础使用。
上面对本实用新型所提供的VXI总线数字测试***校准模块进行了详细的说明。对本领域的一般技术人员而言,在不背离本实用新型实质精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动,都将构成对本实用新型专利权的侵犯,将承担相应的法律责任。
Claims (5)
1.一种用于VXI总线数字测试***的校准模块,其特征在于:
所述校准模块包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵和精密电阻矩阵;其中,
所述主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接所述配置存储器和所述继电器矩阵;
所述配置存储器连接在所述主控制器和所述继电器矩阵之间,用于存储校准、自检和计量的配置程序;
所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接所述精密电阻矩阵。
2.如权利要求1所述的校准模块,其特征在于:
所述校准模块中包括转接卡座。
3.如权利要求1所述的校准模块,其特征在于:
所述校准模块中包括JTAG接口,所述JTAG接口连接所述主控制器。
4.如权利要求1所述的校准模块,其特征在于:
所述主控制器由微控制器和可编程逻辑器件组成,所述可编程逻辑器件为CPLD或者FPGA。
5.如权利要求1所述的校准模块,其特征在于:
所述配置存储器为E2PROM或者FLASH。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011204445538U CN202330684U (zh) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 一种用于vxi总线数字测试***的校准模块 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011204445538U CN202330684U (zh) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 一种用于vxi总线数字测试***的校准模块 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN202330684U true CN202330684U (zh) | 2012-07-11 |
Family
ID=46442660
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2011204445538U Expired - Fee Related CN202330684U (zh) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 一种用于vxi总线数字测试***的校准模块 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN202330684U (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103697928A (zh) * | 2013-12-25 | 2014-04-02 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种仪器校准方法及装置 |
CN105911451A (zh) * | 2016-04-05 | 2016-08-31 | 硅谷数模半导体(北京)有限公司 | 芯片测试方法及装置 |
CN108051767A (zh) * | 2018-01-04 | 2018-05-18 | 南京国睿安泰信科技股份有限公司 | 一种用于集成电路测试仪的自动诊断*** |
CN112667971A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-04-16 | 杭州长川科技股份有限公司 | 电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN115328006A (zh) * | 2022-10-13 | 2022-11-11 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种信号控制电路 |
-
2011
- 2011-11-10 CN CN2011204445538U patent/CN202330684U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103697928A (zh) * | 2013-12-25 | 2014-04-02 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种仪器校准方法及装置 |
CN103697928B (zh) * | 2013-12-25 | 2016-05-11 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种仪器校准方法及装置 |
CN105911451A (zh) * | 2016-04-05 | 2016-08-31 | 硅谷数模半导体(北京)有限公司 | 芯片测试方法及装置 |
CN108051767A (zh) * | 2018-01-04 | 2018-05-18 | 南京国睿安泰信科技股份有限公司 | 一种用于集成电路测试仪的自动诊断*** |
CN108051767B (zh) * | 2018-01-04 | 2019-07-19 | 南京国睿安泰信科技股份有限公司 | 一种用于集成电路测试仪的自动诊断方法 |
CN112667971A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-04-16 | 杭州长川科技股份有限公司 | 电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN112667971B (zh) * | 2021-03-16 | 2021-06-01 | 杭州长川科技股份有限公司 | 电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN115328006A (zh) * | 2022-10-13 | 2022-11-11 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种信号控制电路 |
CN115328006B (zh) * | 2022-10-13 | 2023-01-20 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种信号控制电路 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN202330684U (zh) | 一种用于vxi总线数字测试***的校准模块 | |
CN204595599U (zh) | 基于CANoe的汽车电子控制器通用测试平台 | |
JP5132713B2 (ja) | ハイブリッド駆動システム又はそのシステムの部分コンポーネントを試験するための方法及び試験台 | |
CN110187299B (zh) | 一种航空保障装备电学参数通用校准*** | |
CN109143033B (zh) | 一种整星接口自动化测试*** | |
CN101750564A (zh) | 一种多芯电缆测试仪 | |
CN104572382A (zh) | I2c总线测试治具 | |
CN105929278A (zh) | 一种变流模块高压测试***及方法 | |
CN203422426U (zh) | 一种民航客机机载计算机的通用综合自动测试*** | |
CN103091550B (zh) | 一种宽电压与大电流同步隔离采样直流功率计 | |
CN106933215B (zh) | 一种基于pxi总线的遥测***外接口通用等效器 | |
CN202339398U (zh) | 一种用于vxi总线数字测试***的老化模块 | |
CN115079076A (zh) | 一种元器件老化设备计量装置、方法、终端及存储介质 | |
CN106329912A (zh) | 一种辅助电源电路 | |
CN211426637U (zh) | 一种管脚内阻测量装置 | |
CN202929136U (zh) | 一种用于vxi总线数字测试***的故障诊断模块 | |
CN102445651B (zh) | 一种用于测试电路板上触摸屏功能电路的装置 | |
CN114884511A (zh) | 一种通用的模数转换器测试装置 | |
CN203324326U (zh) | Usb负载测试装置 | |
CN209624707U (zh) | 一种ict测试仪*** | |
CN113589046A (zh) | 一种应用于航空机电产品的高精度电阻信号采集电路 | |
EP3112885B1 (en) | Devices and methods for testing integrated circuits | |
US20040263216A1 (en) | Integrated circuit having a voltage monitoring circuit and a method for monitoring an internal burn-in voltage | |
CN116859894B (zh) | 基于多代理技术的直升机内部电子调节器的自动测试方法 | |
CN217980578U (zh) | 一种铂热电阻模拟板卡及模拟测试装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120711 Termination date: 20201110 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |