CN112667971B

CN112667971B - 电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质

Info

Publication number: CN112667971B
Application number: CN202110282207.2A
Authority: CN
Inventors: 赵阳; 钟锋浩
Original assignee: Hangzhou Changchuan Technology Co Ltd
Current assignee: Hangzhou Changchuan Technology Co Ltd
Priority date: 2021-03-16
Filing date: 2021-03-16
Publication date: 2021-06-01
Anticipated expiration: 2041-03-16
Also published as: CN112667971A

Abstract

本申请涉及一种电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，该电平误差校正方法包括：获取初始校正集合；基于所述初始校正集合获取线性回归方程；基于所述初始校正集合以及所述线性回归方程获取误差值；将所述误差值与预设误差值进行比对；若所述误差值小于所述预设误差值，则基于所述线性回归方程对待校准预设电平进行校正；若所述误差值大于所述预设误差值，则转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤。上述电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质，通过将误差值与预设误差值进行比对，并基于比对结果重新确定范围较小的校正集合，迭代确定不同范围的线性回归方程，提高了校正精度。

Description

电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

本申请涉及数字测试技术领域，特别是涉及一种电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

为了提高数字测试通道集成度，传统数字板卡的设计思路如下：数字测试的功能通过FPGA和专用PE（Pin electronic）芯片实现，再辅以***的电源，ADDA芯片等，就可以实现数字测试的功能。因此数字测试板卡的输出精度，一方面取决于PE芯片的自身DAC分辨率和精度，一方面也取决于数字测试板卡的电路设计，包括PE芯片供电电源的选型和设计，ADDA相关电路和PCB的设计。

受限于专用PE芯片和ADDA芯片的分辨率和精度，数字测试板卡需要通过校准算法来提高通道的稳定性和精度。大部分校准算法都是通过计算出每个通道的Gain和Offset，逼近硬件的精度极限，但总体校正精度较差。

目前针对相关技术中数字测试***电平校正精度较差的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质，以至少解决相关技术中数字测试***电平校正精度较差的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种电平误差校正方法，包括：

获取初始校正集合，所述初始校正集合包括预设电平以及对应的实际输出电平；

基于所述初始校正集合获取线性回归方程；

基于所述初始校正集合以及所述线性回归方程获取误差值；

将所述误差值与预设误差值进行比对；

若所述误差值小于所述预设误差值，则基于所述线性回归方程对待校准预设电平进行校正；

若所述误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于所述预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，所述第一校正集合归属于所述初始校正集合，并以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤。

在其中一些实施例中，所述基于所述初始校正集合获取线性回归方程包括：

建立预设电平与理论输出电平的理想线性回归模型；

基于所述实际输出电平以及理论输出电平对所述理想线性回归模型进行求解，得到线性回归参数；

基于所述线性回归参数以及理想线性回归模型得到所述线性回归方程。

在其中一些实施例中，所述将所述误差值与预设误差值进行比对还包括：

将所述初始校正集合基于预设电平的大小进行排序，所述实际输出电平与对应的所述预设电平绑定，形成数值对；

基于所述排序的结果，以所述预设电平为最小值的数值对为起点，依次选取所述初始校正集合中预设数量的数值对作为第一集合，所述初始校正集合中除第一集合外的数值对为第二集合；

以所述第一集合中所述预设电平最大的数值对为起点，将所述第一集合中的数值对对应的误差值依次与预设误差值进行比对；

以所述第二集合中所述预设电平最小的数值对为起点，将所述第二集合中的数值对对应的误差值依次与预设误差值进行比对。

在其中一些实施例中，所述若所述误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于所述预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合还包括：

若所述数值对的误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的数值对作为偏差数值对；

若所述偏差数值对属于所述第一集合，则选取所述第一集合中所述预设电平小于所述偏差数值对的预设电平的数值对作为第一校正集合；

若所述偏差数值对属于所述第二集合，则选取所述第二集合中所述预设电平大于所述偏差数值对的预设电平的数值对作为第一校正集合。

在其中一些实施例中，所述以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤包括：

将所述第一校正集合作为初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤进行迭代，直至所述初始校正集合中的所有误差值均小于预设误差值。

在其中一些实施例中，所述以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤之前还包括：

若所述偏差数值对属于所述第一集合，则将所述第一集合中所述预设电平大于所述偏差数值对的预设电平的数值对与对应的线性回归方程进行绑定，得到第一校正数据；

若所述偏差数值对属于所述第二集合，则将所述第二集合中所述预设电平小于所述偏差数值对的预设电平的数值对与对应的线性回归方程进行绑定，得到第二校正数据。

在其中一些实施例中，所述若所述误差值小于所述预设误差值，则基于所述线性回归方程对待校准预设电平进行校正包括：

将所述第一校正数据存储到第一存储区，将所述第二校正数据存储到第二存储区；

获取待校准预设电平，将所述待校准预设电平分别与所述第一校正数据与第二校正数据的预设电平进行比对，获取对应的线性校正方程；

基于所述线性校正方程对所述待校准预设电平进行校正，得到校正电平；

将所述校正电平发送给电平输出芯片。

第二方面，本申请实施例提供了一种电平误差校正装置，包括：

集合获取模块，用于获取初始校正集合，所述初始校正集合包括预设电平以及实际输出电平；

线性回归方程确定模块，用于基于所述初始校正集合获取线性回归方程；

误差值获取模块，用于基于所述初始校正集合以及所述线性回归方程获取误差值；

比对模块，用于将所述误差值与预设误差值进行比对；

校正模块，用于若所述误差值小于所述预设误差值，则基于所述线性回归方程对待校准预设电平进行校正；

迭代模块，用于若所述误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于所述预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，所述第一校正集合归属于所述初始校正集合，并以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤。

第三方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的电平误差校正方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的电平误差校正方法。

相比于相关技术，本申请实施例提供的电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取初始校正集合，所述初始校正集合包括预设电平以及对应的实际输出电平；基于所述初始校正集合获取线性回归方程；基于所述初始校正集合以及所述线性回归方程获取误差值；将所述误差值与预设误差值进行比对；若所述误差值小于所述预设误差值，则基于所述线性回归方程对待校准预设电平进行校正；若所述误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于所述预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，所述第一校正集合归属于所述初始校正集合，并以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤的方式，通过将误差值与预设误差值进行比对，并基于比对结果重新确定范围较小的校正集合，迭代确定不同范围的线性回归方程，提高了校正精度，解决了相关技术中数字测试***电平校正精度较差的问题。

本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本发明一实施例的电平误差校正方法的数字测试板卡的设计框图；

图2为传统数字测试***的电平误差校正方法的流程示意图；

图3为传统数字测试***的电平输出的流程示意图；

图4为本发明一实施例的电平误差校正方法的流程示意图；

图5为本发明另一实施例的电平误差校正方法的流程示意图；

图6为本发明一实施例的电平误差校正装置的结构框图；

图7为本发明一实施例的计算机设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行描述和说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请提供的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本申请应用于其他类似情景。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本申请揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本申请公开的内容不充分。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域普通技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例在不冲突的情况下，可以与其它实施例相结合。

除非另作定义，本申请所涉及的技术术语或者科学术语应当为本申请所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请所涉及的“一”、“一个”、“一种”、“该”等类似词语并不表示数量限制，可表示单数或复数。本申请所涉及的术语“包括”、“包含”、“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含；例如包含了一系列步骤或模块（单元）的过程、方法、***、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可以还包括没有列出的步骤或单元，或可以还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。本申请所涉及的“连接”、“相连”、“耦接”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电气的连接，不管是直接的还是间接的。本申请所涉及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。本申请所涉及的术语“第一”、“第二”、“第三”等仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序。

请参阅图1，图1为本发明一实施例的电平误差校正方法的数字测试板卡的设计框图。数字测试板卡主要包括主从FPGA和PE芯片模块，及其***的电源。主机FPGA负责与***总线通信，并且负责从机FPGA的电源、PE芯片电源的控制和监控，同时主机FPGA控制校准模块对PE芯片的电平进行校准。从机FPGA主要实现数字测试的逻辑控制功能，将信号传给PE芯片实现输出。PE芯片可以实现对驱动高低电平，比较高低电平，PMU功能的电压电流等设置，这些都属于电平校准的范围。

请参阅图2及图3，图2为传统数字测试***的电平误差校正方法的流程示意图，图3为传统数字测试***的电平输出的流程示意图。其中，PC软件通过电平控制模块设置数字测试板卡的每个通道的输出电平。当处于校准模式时，数字板卡上的校准模块可以通过ADC测试通道输出，将数据发送回PC软件数据采集模块，根据测试得到的数据和校准算法进行校准，将计算出的校准值写入从机上的校准数据存储模块。当处于通道输出模式时，从机FPGA根据校准数据计算出每个通道设置值，发送给PE芯片，进行输出。

通过对数字电平进行大量测试，发现了电平的线性度较差，在线性校准算法中很难将结果校准回来，总体校正精度较差。

请参阅图4，图4为本发明一实施例的电平误差校正方法的流程示意图。

在本实施例中，电平误差校正方法包括：

S401，获取初始校正集合，初始校正集合包括预设电平以及对应的实际输出电平。

示例性地，预设电平为用户设置的输出电平，实际输出电平为采集得到的真实输出电平。可以理解的，初始校正集合包括多组预设电平以及对应的实际输出电平。

S402，基于初始校正集合获取线性回归方程。

示例性地，假定预设电平以及校正后的输出电平符合线性回归方程，则以预设电平以及校正输出电平作为自变量，建立包含未知数的线性回归方程，将实际输出电平与校正输出电平的误差设为最小，求解未知数，得到线性回归方程。

S403，基于初始校正集合以及线性回归方程获取误差值。

示例性地，基于预设电平以及线性回归方程获取校正输出电平，基于校正输出电平以及实际输出电平获取误差值。

S404，将误差值与预设误差值进行比对。

可以理解的，预设误差值，即用户设定的，对误差值的要求的阈值，若误差值小于预设误差值，则满足用户要求；若误差值大于预设误差值，则不满足用户要求。

S405，若误差值小于预设误差值，则基于线性回归方程对待校准预设电平进行校正。

可以理解的，若误差值小于预设误差值，说明基于线性回归方程校正得到的实际输出电平的误差值满足用户要求，因此保留对应的线性回归方程，以对对应范围的预设电平进行校正，得到校正电平，使基于校正电平输出的实际输出电平满足预设误差值的要求。

S406，若误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，第一校正集合归属于初始校正集合，并以第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤。

示例性地，若误差值大于预设误差值，说明基于线性回归方程校正得到的实际输出电平的误差值不满足用户要求，该线性回归方程不满足要求，因此需要重新确定线性回归方程。可以理解的，基于误差值对应的预设电平以及实际输出电平重新确定校正集合，该校正集合是初始校正集合的子集，基于更小范围的校正集合重新确定线性回归方程，以提高线性回归方程的准确度，减小实际输出电平与预设电平之间的误差，以满足用户对误差值的要求。

上述电平误差校正方法，通过获取初始校正集合，初始校正集合包括预设电平以及对应的实际输出电平；基于初始校正集合获取线性回归方程；基于初始校正集合以及线性回归方程获取误差值；将误差值与预设误差值进行比对；若误差值小于预设误差值，则基于线性回归方程对待校准预设电平进行校正；若误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，第一校正集合归属于初始校正集合，并以第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤的方式，通过将误差值与预设误差值进行比对，并基于比对结果重新确定范围较小的校正集合，迭代确定不同范围的线性回归方程，提高了校正精度，解决了相关技术中数字测试***电平校正精度较差的问题。

在另一个实施例中，基于初始校正集合获取线性回归方程包括如下步骤：

步骤1，建立预设电平与理论输出电平的理想线性回归模型。

步骤2，基于实际输出电平以及理论输出电平对理想线性回归模型进行求解，得到线性回归参数。

步骤3，基于线性回归参数以及理想线性回归模型得到线性回归方程。

示例性地，首先设置期望电平X，并采集真实输出电平Y，获取一个校准测试值集合为：

首先假定测试值符合线性回归方程，则建立理想线性回归模型

，真实输出电平与校正输出电平的误差计算方式如下：

可以理解的，需要将误差尽可能减小，即使e取最小值，因此对误差进行求导，得出以下方程组：

将校准测试值集合代入方程组，可以计算出a和b的值。

在另一个实施例中，将误差值与预设误差值进行比对还包括如下步骤：

步骤1，将初始校正集合基于预设电平的大小进行排序，实际输出电平与对应的预设电平绑定，形成数值对。

步骤2，基于排序的结果，以预设电平为最小值的数值对为起点，依次选取初始校正集合中预设数量的数值对作为第一集合，初始校正集合中除第一集合外的数值对为第二集合。

步骤3，以第一集合中预设电平最大的数值对为起点，将第一集合中的数值对对应的误差值依次与预设误差值进行比对。

步骤4，以第二集合中预设电平最小的数值对为起点，将第二集合中的数值对对应的误差值依次与预设误差值进行比对。

示例性地，将实际输出电平与对应的预设电平绑定，形成数值对，并基于预设电平的大小对数值对进行排序，将排序后的数值对进行分段，分为两部分。可以理解的，只需保证每部分均有不少于3个数值对，能够用于确定线性回归方程即可。优选的，将初始校正集合中的数值对平均分为两部分。具体的，将校准测试值集合

平均分为两部分，分别为第一集合

以及第二集合

两部分，从

点和

点开始依次计算每个数值对的误差值，并分别与预设误差值进行比对。

在另一个实施例中，若误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合还包括如下步骤：

步骤1，若数值对的误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的数值对作为偏差数值对。

步骤2，若偏差数值对属于第一集合，则选取第一集合中预设电平小于偏差数值对的预设电平的数值对作为第一校正集合。

步骤3，若偏差数值对属于第二集合，则选取第二集合中预设电平大于偏差数值对的预设电平的数值对作为第一校正集合。

示例性地，从

点和

点开始依次计算每个数值对的误差值，并分别与预设误差值进行比对，因此，若偏差数值对属于第一集合，则预设电平大于偏差数值对的数值对均已进行过比对，且误差值均小于预设误差值；同理，若偏差数值对属于第二集合，则预设电平小于偏差数值对的数值对均已进行过比对，且误差值均小于预设误差值。因此，选择第一集合中预设电平小于偏差数值对的预设电平的数值对或第二集合中预设电平大于偏差数值对的预设电平的数值对作为新的校正集合，获取线性回归方程。具体的，对于预设电平小于

的数值对，例如

，若计算的误差大于预设误差，则使用测试值集合

，利用步骤S402重新计算线性回归方程，得到

。对于预设电平大于

的数值对，例如

，若计算的误差大于预设误差，则使用测试值集合

，利用步骤S402重新计算线性回归方程，得到

。

在另一个实施例中，以第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤还包括如下步骤：将第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤进行迭代，直至初始校正集合中的所有误差值均小于预设误差值。

可以理解的，当初始校正集合中的所有误差值均小于预设误差值，说明初始校正集合中每一预设电平均能在对应线性回归方程的校正下，达到用户要求，即完成校正目标。

在另一个实施例中，以第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤之前还包括如下步骤：

步骤1，若偏差数值对属于第一集合，则将第一集合中预设电平大于偏差数值对的预设电平的数值对与对应的线性回归方程进行绑定，得到第一校正数据。

步骤2，若偏差数值对属于第二集合，则将第二集合中预设电平小于偏差数值对的预设电平的数值对与对应的线性回归方程进行绑定，得到第二校正数据。

示例性地，使用

计算

集合的误差，从

向下计算，若

计算得到的误差大于预设误差，则再取子集

，利用步骤S402重新计算线性回归方程，得到

。依次重复，直到

的误差满足要求为止，最终得到一组第一校正数据

。

使用

计算

集合的误差，从

向上计算，若

计算误差大于预设误差，则再取子集

，利用步骤S402重新计算线性回归方程，得到

。依次重复，直到

的误差满足要求为止，最终得到一组第二校正数据

。

可以理解的，第一校正数据以及第二校正数据中均包含多组预设电平和线性回归方程的参数的组合，每组线性回归方程的参数对应一定范围的预设电平，即每组参数对应的线性回归方程可以对一定范围内的预设电平进行校正，使校正输出电平与预设电平的误差值小于预设误差值，即满足用户对电平精度的要求。示例性地，本实施例采用分段校正的方式，对每一个分段范围内的预设电平均设置对应的线性回归方程进行校正，校正精度更高。

在另一个实施例中，若误差值小于预设误差值，则基于线性回归方程对待校准预设电平进行校正包括如下步骤：

步骤1，将第一校正数据存储到第一存储区，将第二校正数据存储到第二存储区；

步骤2，获取待校准预设电平，将待校准预设电平分别与第一校正数据与第二校正数据的预设电平进行比对，获取对应的线性校正方程；

步骤3，基于线性校正方程对待校准预设电平进行校正，得到校正电平；

步骤4，将校正电平发送给电平输出芯片。

示例性地，将校正数据分为两个部分，第一部分存储小于

的数据，第二部分存储大于

的数据。按照32bit的格式进行存储，每次取出X，a，b三个值，进行后续计算。见表1以及表2，表1为第一校正数据，表2为第二校正数据。

表1

表2

。

示例性地，若待校正预设电平为

，电平校正过程如下：

从第一校正数据中获取

，将

与

进行比对，如果

小于

，则将

继续与

比较，如果

大于

，则使用

进行校准，如果

小于

，则继续与下一预设电平进行比较，直至获取到对应的线性回归方程参数，并进行校正。

如果

大于

，则将

与

比较，如果

小于

，则使用

进行校准，如果

大于

可以理解的，每一数字通道进行并行计算，得到待校正预设电平

的修正值

，发送给PE芯片进行输出。

本实施例采用分段存储的方式将校正数据进行存储，在校正时可以分段校正，每一数字通道可以并行计算，提高了校正效率。

请参阅图5，图5为本发明另一实施例的电平误差校正方法的流程示意图。

在本实施例中，先获取初始校正集合，再对初始校正集合进行线性拟合，得到线性回归方程，再对初始校正集合进行分段，判断预设电平是否大于初始校正集合中预设电平的中位数

，若预设电平大于

，则以

为起点，向上依次计算每一数值对的误差值，并判断是否大于预设误差值，若误差值大于预设误差值，则基于误差值对应的数值对的位置，在初始校正集合中选取子集，并基于子集进行线性拟合，得到线性回归方程，继续进行误差值的判断，若误差值还大于预设误差值，则继续进行迭代，直至

往上的所有数值对的误差值均小于预设误差值，则将预设电平以及对应的线性回归方程参数作为校正数据写入存储区；若预设电平小于

，则以

为起点，向下依次计算每一数值对的误差值，并判断是否大于预设误差值，若误差值大于预设误差值，则基于误差值对应的数值对的位置，在初始校正集合中选取子集，并基于子集进行线性拟合，得到线性回归方程，继续进行误差值的判断，若误差值还大于预设误差值，则继续进行迭代，直至

往下的所有数值对的误差值均小于预设误差值，则将预设电平以及对应的线性回归方程参数作为校正数据写入存储区。

需要说明的是，在上述流程中或者附图的流程图中示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机***中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本实施例还提供了一种电平误差校正装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”、“单元”、“子单元”等可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图6是根据本申请实施例的电平误差校正装置的结构框图，如图6所示，该装置包括：

集合获取模块10，用于获取初始校正集合，初始校正集合包括预设电平以及实际输出电平。

线性回归方程确定模块20，用于基于初始校正集合获取线性回归方程。

线性回归方程确定模块20，还用于：

建立预设电平与理论输出电平的理想线性回归模型；

基于实际输出电平以及理论输出电平对理想线性回归模型进行求解，得到线性回归参数；

基于线性回归参数以及理想线性回归模型得到线性回归方程。

误差值获取模块30，用于基于初始校正集合以及线性回归方程获取误差值。

比对模块40，用于将误差值与预设误差值进行比对。

比对模块40，还用于：

将初始校正集合基于预设电平的大小进行排序，实际输出电平与对应的预设电平绑定，形成数值对；

基于排序的结果，以预设电平为最小值的数值对为起点，依次选取初始校正集合中预设数量的数值对作为第一集合，初始校正集合中除第一集合外的数值对为第二集合；

以第一集合中预设电平最大的数值对为起点，将第一集合中的数值对对应的误差值依次与预设误差值进行比对；

以第二集合中预设电平最小的数值对为起点，将第二集合中的数值对对应的误差值依次与预设误差值进行比对。

校正模块50，用于若误差值小于预设误差值，则基于线性回归方程对待校准预设电平进行校正。

校正模块50，还用于：

将第一校正数据存储到第一存储区，将第二校正数据存储到第二存储区；

获取待校准预设电平，将待校准预设电平分别与第一校正数据与第二校正数据的预设电平进行比对，获取对应的线性校正方程；

基于线性校正方程对待校准预设电平进行校正，得到校正电平；

将校正电平发送给电平输出芯片。

迭代模块60，用于若误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，第一校正集合归属于初始校正集合，并以第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤。

迭代模块60，还用于：

若数值对的误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的数值对作为偏差数值对；

若偏差数值对属于第一集合，则选取第一集合中预设电平小于偏差数值对的预设电平的数值对作为第一校正集合；

若偏差数值对属于第二集合，则选取第二集合中预设电平大于偏差数值对的预设电平的数值对作为第一校正集合。

迭代模块60，还用于将第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤进行迭代，直至初始校正集合中的所有误差值均小于预设误差值。

电平误差校正装置，还包括：校正数据获取模块。

校正数据获取模块，用于：

若偏差数值对属于第一集合，则将第一集合中预设电平大于偏差数值对的预设电平的数值对与对应的线性回归方程进行绑定，得到第一校正数据；

若偏差数值对属于第二集合，则将第二集合中预设电平小于偏差数值对的预设电平的数值对与对应的线性回归方程进行绑定，得到第二校正数据。

需要说明的是，上述各个模块可以是功能模块也可以是程序模块，既可以通过软件来实现，也可以通过硬件来实现。对于通过硬件来实现的模块而言，上述各个模块可以位于同一处理器中；或者上述各个模块还可以按照任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

另外，结合图1描述的本申请实施例的电平误差校正方法可以由计算机设备来实现。图7为根据本申请实施例的计算机设备的硬件结构示意图。

计算机设备可以包括处理器71以及存储有计算机程序指令的存储器72。

具体地，上述处理器71可以包括中央处理器（CPU），或者特定集成电路（Application Specific Integrated Circuit，简称为ASIC），或者可以被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。

其中，存储器72可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制，存储器72可包括硬盘驱动器（Hard Disk Drive，简称为HDD）、软盘驱动器、固态驱动器（SolidState Drive，简称为SSD）、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线（Universal SerialBus，简称为USB）驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，存储器72可包括可移除或不可移除（或固定）的介质。在合适的情况下，存储器72可在数据处理装置的内部或外部。在特定实施例中，存储器72是非易失性（Non-Volatile）存储器。在特定实施例中，存储器72包括只读存储器（Read-Only Memory，简称为ROM）和随机存取存储器（RandomAccess Memory，简称为RAM）。在合适的情况下，该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM（Programmable Read-Only Memory，简称为PROM）、可擦除PROM（Erasable ProgrammableRead-Only Memory，简称为EPROM）、电可擦除PROM（Electrically Erasable ProgrammableRead-Only Memory，简称为EEPROM）、电可改写ROM（Electrically Alterable Read-OnlyMemory，简称为EAROM）或闪存（FLASH）或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，该RAM可以是静态随机存取存储器（Static Random-Access Memory，简称为SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic Random Access Memory，简称为DRAM），其中，DRAM可以是快速页模式动态随机存取存储器（Fast Page Mode Dynamic Random Access Memory，简称为FPMDRAM）、扩展数据输出动态随机存取存储器（Extended Date Out Dynamic RandomAccess Memory，简称为EDODRAM）、同步动态随机存取内存（Synchronous Dynamic Random-Access Memory，简称SDRAM）等。

存储器72可以用来存储或者缓存需要处理和/或通信使用的各种数据文件，以及处理器71所执行的可能的计算机程序指令。

处理器71通过读取并执行存储器72中存储的计算机程序指令，以实现上述实施例中的任意一种电平误差校正方法。

在其中一些实施例中，计算机设备还可包括通信接口73和总线70。其中，如图7所示，处理器71、存储器72、通信接口73通过总线70连接并完成相互间的通信。

通信接口73用于实现本申请实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。通信接口73还可以实现与其他部件例如：外接设备、图像/数据采集设备、数据库、外部存储以及图像/数据处理工作站等之间进行数据通信。

总线70包括硬件、软件或两者，将计算机设备的部件彼此耦接在一起。总线70包括但不限于以下至少之一：数据总线（Data Bus）、地址总线（Address Bus）、控制总线（Control Bus）、扩展总线（Expansion Bus）、局部总线（Local Bus）。举例来说而非限制，总线70可包括图形加速接口（Accelerated Graphics Port，简称为AGP）或其他图形总线、增强工业标准架构（Extended Industry Standard Architecture，简称为EISA）总线、前端总线（Front Side Bus，简称为FSB）、超传输（Hyper Transport，简称为HT）互连、工业标准架构（Industry Standard Architecture，简称为ISA）总线、无线带宽（InfiniBand）互连、低引脚数（Low Pin Count，简称为LPC）总线、存储器总线、微信道架构（Micro ChannelArchitecture，简称为MCA）总线、***组件互连（Peripheral Component Interconnect，简称为PCI）总线、PCI-Express（PCI-X）总线、串行高级技术附件（Serial AdvancedTechnology Attachment，简称为SATA）总线、视频电子标准协会局部（Video ElectronicsStandards Association Local Bus，简称为VLB）总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，总线70可包括一个或多个总线。尽管本申请实施例描述和示出了特定的总线，但本申请考虑任何合适的总线或互连。

该计算机设备可以基于获取到的计算机程序指令，执行本申请实施例中的电平误差校正方法，从而实现结合图1描述的电平误差校正方法。

另外，结合上述实施例中的电平误差校正方法，本申请实施例可提供一种计算机可读存储介质来实现。该计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令；该计算机程序指令被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种电平误差校正方法。

上述电平误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取初始校正集合，初始校正集合包括预设电平以及对应的实际输出电平；基于初始校正集合获取线性回归方程；基于初始校正集合以及线性回归方程获取误差值；将误差值与预设误差值进行比对；若误差值小于预设误差值，则基于线性回归方程对待校准预设电平进行校正；若误差值大于预设误差值，则获取误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，第一校正集合归属于初始校正集合，并以第一校正集合作为初始校正集合，转至基于初始校正集合获取线性回归方程的步骤的方式，通过将误差值与预设误差值进行比对，并基于比对结果重新确定范围较小的校正集合，迭代确定不同范围的线性回归方程，提高了校正精度，解决了相关技术中数字测试***电平校正精度较差的问题。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种电平误差校正方法，其特征在于，包括：

基于所述初始校正集合获取线性回归方程；

基于所述初始校正集合以及所述线性回归方程获取误差值；

将所述误差值与预设误差值进行比对；

若所述误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于所述预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合，所述第一校正集合归属于所述初始校正集合，并以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤；

所述基于所述初始校正集合获取线性回归方程包括：

建立预设电平与理论输出电平的理想线性回归模型；

2.根据权利要求1所述的电平误差校正方法，其特征在于，所述将所述误差值与预设误差值进行比对还包括：

3.根据权利要求2所述的电平误差校正方法，其特征在于，所述若所述误差值大于所述预设误差值，则获取所述误差值对应的预设电平以及实际输出电平，基于所述预设电平以及实际输出电平获取第一校正集合还包括：

4.根据权利要求3所述的电平误差校正方法，其特征在于，所述以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤包括：

5.根据权利要求3所述的电平误差校正方法，其特征在于，所述以所述第一校正集合作为所述初始校正集合，转至基于所述初始校正集合获取线性回归方程的步骤之前还包括：

6.根据权利要求5所述的电平误差校正方法，其特征在于，所述若所述误差值小于所述预设误差值，则基于所述线性回归方程对待校准预设电平进行校正包括：

将所述校正电平发送给电平输出芯片。

7.一种电平误差校正装置，其特征在于，包括：

所述基于所述初始校正集合获取线性回归方程包括：

建立预设电平与理论输出电平的理想线性回归模型；

基于所述线性回归参数以及理想线性回归模型得到所述线性回归方程；

比对模块，用于将所述误差值与预设误差值进行比对；

8.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6中任一项所述的电平误差校正方法。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的电平误差校正方法。