CN202083751U - 一种组合式全电波暗室 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种组合式全电波暗室，于铺设有第一吸波材料的地面上配置有一测试转桌，在第一屏蔽墙上开设有多个框口，其中，多对第一导轨与多个框口对应，沿第一屏蔽墙朝着与其垂直的方向延伸；多个推拉模组与多个框口对应，每一推拉模组通过相应的第一导轨推进或拉出于所述暗室，其中每一推拉模组上架设有一测试天线，每一测试天线与测试转桌保持一预设距离，且各预设距离不同。采用本实用新型，每一推拉模组通过相应的第一导轨推进或拉出于组合式全电波暗室，并且每一推拉模组上架设的测试天线与组合式全电波暗室的地面上配置的测试转桌保持不同的预设距离，从而在同一全电波暗室中无需挪动地面上的吸波材料即可完成不同的测试项目。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种组合式全电波暗室。
背景技术
在EMC(Electro Magnetic Compatibility，电磁兼容)测试实验中，往往要求待测设备或***在其电磁环境中符合一定的测试条件，并且不会给环境中的任何其他设备造成无法容忍的电磁干扰。为了满足上述需要，技术人员设计出一种全电波暗室，该全电波暗室是铺设有吸波材料的封闭式屏蔽室，其中的吸波材料用来降低屏蔽室的内表面的电波反射。
现有技术中，全电波暗室包括一扇门，供测试人员进出和搬运测试设备，诸如测试平台和天线元件等预先放入该全电波暗室内。但是，全电波暗室中经常需要做不同的电磁测试项目，比如，RF周检测项目、Throughout项目、RS测试和UFA场地均匀性检验等。一般来说，上述每项测试都对全电波暗室内的测试平台与天线元件之间的间隔距离有着明确的要求，例如，RF周检测要求测试平台的正中心距该天线元件的前端3米，而Throughput要求测试平台的正中心距该天线元件的前端1米，以及RS测试要求测试平台的前边沿距该天线元件的前端3米，因而进行不同的测试项目时，需要移动天线架和调整天线的高度，以符合各自的测试距离要求。
图1A示出现有技术中的全电波暗室的外部轮廓示意图，以及图1B示出图1A中的全电波暗室的内部测试示意图。参照图1A，该全电波暗室包括一进出门104、两个转接板100和102。如前所述，进口门104用于测试人员进出和搬运测试设备，诸如测试平台和天线元件等预先放入该全电波暗室内，此外，当采用如下方式，即通过挪动暗室内部的地面所铺设的吸波材料来配合移动天线元件时，在每次测试前均需要重新对全电波暗室内的场地均匀性进行校验，这也需要测试人员进入暗室内进行人工处理。另外，转接板100和102分别位于全电波暗室的屏蔽墙，该屏蔽墙由吸波材料和/或屏蔽材料构成。
从图1A可以看出，转接板100和102各自设置于屏蔽墙的不同位置处，这是由于，移动天线和调整天线架以便使暗室内的测试平台与天线元件间保持一预设的间隔距离(诸如1米或3米)时，来自天线架的信号线到转接板100的长度不同于该信号线到转接板102的长度，为了减少信号在电缆上的损耗并节约连接线成本，一般将天线架的信号线电性连接至相对较近的转接板100或102。然而，如上所述，由于全电波暗室的地面铺设有吸波材料，为了合理地调整天线和天线架的位置，首先必须挪动对应位置的吸波材料，为天线和天线架的挪动腾出一定的空间，这势必是造成整个暗室内的场地均匀性发生变化，影响电磁测试的测试效率。
进一步结合图1B，不同的测试项目对应于测试转桌106与天线元件108之间的预设距离，并且在全电波暗室的地面铺设有吸波材料110，用于吸收该全电波暗室内的电波反射。例如，RF周检测要求测试平台的正中心距该天线元件的前端为3米，而Throughput要求测试平台的正中心距该天线元件的前端为1米，以及RS测试要求测试平台的前边沿距该天线元件的前端为3米，并且UFA场地均匀性校验，当用到16点场强法时，要求测试转桌前边沿距离天线元件前端的长度为3米。上述测试项目均需要调整天线元件的架设位置，因而会频繁地对全电波暗室内进行场地均匀性校验，降低测试效率。
有鉴于此，如何设计一种组合式全电波暗室，无需通过挪动暗室内的地面上所铺设的吸波材料来调整测试平台与天线元件的相对位置，并且在同一暗室中完成不同的测试项目，是业内相关技术人员面临的一项课题。
实用新型内容
针对现有技术中的上述缺陷，本实用新型提供了一种组合式全电波暗室。
依据本实用新型的一个方面，提供了一种组合式全电波暗室，所述组合式全电波暗室的地面上铺设有第一吸波材料，且于所述铺设有第一吸波材料的地面上配置有一测试转桌，所述测试转桌上放置有待测元件，所述组合式全电波暗室的一第一屏蔽墙上开设有多个框口，该组合式全电波暗室包括多对第一导轨和多个推拉模组。其中，多对第一导轨与所述多个框口逐一对应，配置于所述铺设有第一吸波材料的地面上，沿所述第一屏蔽墙朝着与其垂直的方向延伸。多个推拉模组与所述多个框口逐一对应，每一推拉模组通过相对应的所述第一导轨推进或拉出于所述组合式全电波暗室，其中每一所述推拉模组上架设有一测试天线，每一测试天线与所述测试转桌保持一预设距离，且各预设距离不同。
优选地，每一所述推拉模组还包括一第一板体和一第二板体，其中，所述第一板体平行于所述第一屏蔽墙设置，与所述多个框口中的一个框口相对应。所述第二板体垂直连接于所述第一板体，所述第二板体上铺设有第二吸波材料，其中所述第二板体底部两侧各装设有一滑轮，并与所述多对第一导轨中的一对导轨相对应，所述推拉模组通过所述滑轮与所述多对导轨的配合推进或拉出于所述组合式全电波暗室。
在一实施例中，所述第一板体与所述第一屏蔽墙中对应的框口的上方接触区域填充有金属铜片。
在另一实施例中，所述第二吸波材料的厚度小于所述第一吸波材料的厚度，当所述推拉模组推进所述组合式全电波暗室时，所述第二吸波材料紧密结合于所述第一吸波材料，并与所述第一吸波材料的上表面平齐。
优选地，所述第一板体的外侧还具有一推拉手柄，方便将所述推拉模组推进或拉出于所述组合式全电波暗室。
优选地，所述第一板体上还装设有一转接板，所述转接板的两侧具有插接端口，且所述插接端口外漏于所述第一板体，所述测量天线及外部连接线插接于所述转接板两侧的插接端口，达成信号传输。
优选地，所述组合式全电波暗室还具有一操作门，方便测试人员进出暗室。此外，所述操作门位于所述第一屏蔽墙上。
优选地，所述框口和所述推拉模组各为2个，所述第一导轨为2对，以及所述2个推拉模组上的测试天线分别与所述测试转桌保持一第一预设距离和不同于所述第一预设距离的一第二预设距离。进一步，所述第一预设距离为3米，以及所述第二预设距离为1米。
采用本实用新型的组合式全电波暗室，设置多个推拉模组与第一屏蔽墙上开设的多个框口相对应，每一推拉模组通过相对应的第一导轨推进或拉出于所述组合式全电波暗室，并且所述每一推拉模组上架设的测试天线与所述组合式全电波暗室的地面上配置的测试转桌保持不同的预设距离，从而在同一全电波暗室中无需挪动地面上的吸波材料即可完成不同的测试项目。此外，所述第一板体上还装设有一转接板，所述转接板两侧的插接端口外漏于所述第一板体，所述测量天线及外部连接线插接于所述转接板两侧的插接端口，达成信号传输，可有效地减少连接线的长度，在节约导线成本的同时还可提高其使用寿命。
附图说明
读者在参照附图阅读了本实用新型的具体实施方式以后，将会更清楚地了解本实用新型的各个方面。其中，
图1A示出现有技术中的全电波暗室的外部轮廓示意图；
图1B示出图1A中的全电波暗室的内部测试示意图；
图2A示出依据本实用新型一优选实施例的组合式全电波暗室的外部轮廓示意图；以及
图2B示出图2A中的组合式全电波暗室的推拉模组的侧面剖视图。
具体实施方式
下面参照附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步的详细描述。本领域的普通技术人员应当理解，下文中的实施例只是对本实用新型的技术方案进行示意性说明，并且优选地介绍本实用新型的具体实施方式和本实用新型的组合式全电波暗室的结构，但本实用新型并不只局限于此。
图2A示出依据本实用新型一优选实施例的组合式全电波暗室的外部轮廓示意图，以及图2B示出图2A中的组合式全电波暗室的推拉模组的侧面剖视图。结合图2A和图2B，本实用新型的组合式全电脑暗室的地面上铺设有第一吸波材料217，并且，在铺设有该第一吸波材料217的地面上配置有一测试转桌(未示出)，以及该测试转桌上放置有待测元件(未示出)。此外，该组合式全电波暗室的一第一屏蔽墙2上开设有多个框口26，并且所述第一屏蔽墙2可由例如屏蔽材料、铁氧体、吸波泡棉以及它们的任意组合构成。
需要特别指出的是，该组合式全电波暗室还包括多对第一导轨215和多个推拉模组，如推拉模组20和推拉模组22。具体地，多对第一导轨215与所述多个框口26逐一对应，配置于所述铺设有第一吸波材料217的地面上，沿所述第一屏蔽墙2朝着与其垂直的方向延伸。以推拉模组20为例，推拉模组20与所述多个框口中的相应框口26对应，并且推拉模组20通过相对应的所述第一导轨215推进或拉出于所述组合式全电波暗室，其中推拉模组20上架设有一测试天线207，每一测试天线207与所述测试转桌保持一预设距离，且各预设距离不同。优选地，所述框口的数量和所述推拉模组的数量各为2个，所述第一导轨为2对，以及所述2个推拉模组上的测试天线分别与所述测试转桌保持一第一预设距离和不同于所述第一预设距离的一第二预设距离。进一步，例如，所述第一预设距离设置为3米，以及所述第二预设距离设置为1米，因而通过将测试天线与所述组合式全电波暗室的地面上配置的测试转桌设置为不同的预设距离，从而能够在同一组合式全电波暗室中无需挪动地面上的第一吸波材料217即可完成不同的测试项目。本领域的技术人员应当理解，虽然该优选实施例描述了组合式全电波暗室包括两个推拉模组20和22的情形，但本实用新型并不只局限于此，例如，该组合式全电波暗室还可包括单个的推拉模组，或者两个以上的推拉模组。
在一优选实施例中，所述推拉模组20还包括一第一板体201和一第二板体203。其中，所述推拉模组20的第一板体201平行于所述第一屏蔽墙2而设置，与所述多个框口中的一个框口26相对应。所述推拉模组20的第二板体203垂直连接于所述第一板体201，所述第二板体203上铺设有第二吸波材料205，其中所述第二板体203底部两侧各装设有一滑轮213，并与所述多对第一导轨中的一对导轨215相对应，所述推拉模组20通过所述滑轮213与所述一对导轨215的配合推进或拉出于所述组合式全电波暗室。在一实施例中，所述第一板体201与所述第一屏蔽墙2中对应的框口26的上方接触区域填充有金属铜片，以便推拉模组20与所述第一屏蔽墙2的上方接触区域的门缝隙对电磁测试不造成影响。在另一实施例中，所述第二吸波材料205的厚度小于所述第一吸波材料217的厚度，当所述推拉模组20推进所述组合式全电波暗室时，所述第二吸波材料205紧密结合于所述第一吸波材料217，并与所述第一吸波材料217的上表面平齐。如此一来，测试人员在每次进行不同测试项目的时候，只需将推拉模组20拉出或推进所述组合式全电波暗室，而无需挪动组合式全电波暗室内的地面上的第一吸波材料217，保证了场地均匀性不会被破坏，从而能够避免每次测试前都要花费大量时间来进行场地均匀性校验。
优选地，所述第一板体201的外侧还具有一推拉手柄209(或推拉模组22所对应的推拉手柄223)，方便将所述推拉模组20推进或拉出于所述组合式全电波暗室。
优选地，所述第一板体201上还装设有一转接板211(或推拉模组22所对应的转接板221)，所述转接板211的两侧具有插接端口(未示出)，且所述插接端口外漏于所述第一板体201，所述测量天线207及外部连接线插接于所述转接板211两侧的插接端口，达成信号传输。
优选地，所述组合式全电波暗室还具有一操作门24，方便测试人员进出暗室，以进行更换测试零部件等维护工作。例如，所述操作门24可设置与所开设的多个框口26位于同一面屏蔽墙，即，所述操作门24也位于所述第一屏蔽墙2。
采用本实用新型的组合式全电波暗室，设置多个推拉模组与第一屏蔽墙上开设的多个框口相对应，每一推拉模组通过相对应的第一导轨推进或拉出于所述组合式全电波暗室，并且所述每一推拉模组上架设的测试天线与所述组合式全电波暗室的地面上配置的测试转桌保持不同的预设距离，从而在同一全电波暗室中无需挪动地面上的吸波材料即可完成不同的测试项目。此外，所述第一板体上还装设有一转接板，所述转接板两侧的插接端口外漏于所述第一板体，所述测量天线及外部连接线插接于所述转接板两侧的插接端口，达成信号传输，可有效地减少连接线的长度，在节约导线成本的同时还可提高其使用寿命。
上文中，参照附图描述了本实用新型的具体实施方式。但是，本领域中的普通技术人员能够理解，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以对本实用新型的具体实施方式作各种变更和替换。这些变更和替换都落在本实用新型权利要求书所限定的范围内。
Claims (10)
1.一种组合式全电波暗室，所述组合式全电波暗室的地面上铺设有第一吸波材料，且于所述铺设有第一吸波材料的地面上配置有一测试转桌，所述测试转桌上放置有待测元件，所述组合式全电波暗室的一第一屏蔽墙上开设有多个框口，其特征在于，该组合式全电波暗室包括：
多对第一导轨，与所述多个框口逐一对应，配置于所述铺设有第一吸波材料的地面上，沿所述第一屏蔽墙朝着与其垂直的方向延伸；以及
多个推拉模组，与所述多个框口逐一对应，每一推拉模组通过相对应的所述第一导轨推进或拉出于所述组合式全电波暗室，其中每一所述推拉模组上架设有一测试天线，每一测试天线与所述测试转桌保持一预设距离，且各预设距离不同。
2.如权利要求1所述的组合式全电波暗室，其特征在于，每一所述推拉模组还包括：
一第一板体，平行于所述第一屏蔽墙设置，与所述多个框口中的一个框口相对应；
一第二板体，垂直连接于所述第一板体，所述第二板体上铺设有第二吸波材料，其中所述第二板体底部两侧各装设有一滑轮，并与所述多对第一导轨中的一对导轨相对应，所述推拉模组通过所述滑轮与所述多对导轨的配合推进或拉出于所述组合式全电波暗室。
3.如权利要求2所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述第一板体与所述第一屏蔽墙中对应的框口的上方接触区域填充有金属铜片。
4.如权利要求2所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述第二吸波材料的厚度小于所述第一吸波材料的厚度，当所述推拉模组推进所述组合式全电波暗室时，所述第二吸波材料紧密结合于所述第一吸波材料，并与所述第一吸波材料的上表面平齐。
5.如权利要求2所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述第一板体的外侧还具有一推拉手柄，方便将所述推拉模组推进或拉出于所述组合式全电波暗室。
6.如权利要求2所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述第一板体上还装设有一转接板，所述转接板的两侧具有插接端口，且所述插接端口外漏于所述第一板体，所述测量天线及外部连接线插接于所述转接板两侧的插接端口，达成信号传输。
7.如权利要求1所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述组合式全电波暗室还具有一操作门，方便测试人员进出暗室。
8.如权利要求7所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述操作门位于所述第一屏蔽墙上。
9.如权利要求1所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述框口和所述推拉模组各为2个，所述第一导轨为2对，以及所述2个推拉模组上的测试天线分别与所述测试转桌保持一第一预设距离和不同于所述第一预设距离的一第二预设距离。
10.如权利要求9所述的组合式全电波暗室，其特征在于，所述第一预设距离为3米，以及所述第二预设距离为1米。
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C17 | Cessation of patent right | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20111221 Termination date: 20140516 |