CN201749652U - 具有修补检测结构的显示装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种具有修补检测结构的显示装置，其包括一基板、一画素阵列、一第一短路杆、以及一第一修补线，画素阵列设置于基板上，并且画素阵列包括多条资料线与多条栅极。第一短路杆设置于基板上，用以检测多条栅极线，并且第一短路杆具有一第一短路线段，第一修补线设置于基板上，用以修补至少一资料线，并且第一短路线段电性连接至第一修补线。此外，本实用新型提供另一种具有修补检测结构的显示装置，其中第一短路杆具有一第一短路线段，而第一修补线具有一第一修补线段，并且第一修补线段与第一短路线段彼此重迭。本实用新型可解决已知技术中修补线空间不足与电阻值过大的问题。

Description

具有修补检测结构的显示装置

技术领域

本实用新型关于一种具有修补检测结构的显示装置，尤指将第一短路杆的第一短路线段电性连接至第一修补线，或者将第一修补线的第一修补线段与第一短路杆的第一短路线段彼此重迭的一种具有修补检测结构的显示装置。

背景技术

请参考图1，图1为已知技术中具有修补检测结构的显示装置的示意图。如图1所示，具有修补检测结构的显示装置包括一基板100、一画素阵列PA、一第一短路杆(shorting bar)SB1、一第二短路杆SB2、一第一修补线(repair line)RL1、一第二修补线RL2、一栅极驱动晶片30、以及一源极驱动晶片40。画素阵列PA包括多条资料线DL与多条栅极线GL，栅极驱动晶片30电性连接多条栅极线GL，用以提供栅极信号，而源极驱动晶片40电性连接多条资料线DL，用以提供源极信号。

为了维持显示装置的品质，显示装置在制程的中皆须经过检测，以排除具有缺陷的产品。如图1所示，第一短路杆SB1电性连接至测试垫G0与奇数条栅极线GL，第二短路杆SB2电性连接至测试垫GE与偶数条栅极线GL。换言之，显示装置需要第一短路杆SB1与第二短路杆SB2来检测多条栅极线GL。此外，碍于制作时基板100表面的高低起伏、热处理、蚀刻制程等影响，资料线DL很容易发生断线，进而导致断路的现象。为了避免显示装置的操作受到少部份断线的影响，需要于基板100上设置多条修补线，如图1的第一修补线RL1与第二修补线RL2。再者，当显示装置的面积扩大并提高解析度时，需要制作数量更多的资料线，且线宽变得更窄，则制程困难度的提高更容易导致断线现象。因此，一般需要更多条的修补线。然而，由于第一短路杆SB1、第二短路杆SB2、第一修补线RL1第二修补线RL2、以及其他未绘示的修补线等各走线皆设置于画素阵列PA的周围，在周围空间有限的情况下，将限制修补线的设置数目，且各走线的宽度亦将受限，使各走线的电阻值无法有效的降低，不利于检测与修补工作的进行。据此，已知技术具有修补线空间不足与电阻值过大的问题。

实用新型内容

本实用新型目的之一在于提供一种具有修补检测结构的显示装置，以解决已知技术中修补线空间不足与电阻值过大的问题。

本实用新型的一较佳实施例提供一种具有修补检测结构的显示装置，其包括一基板、一画素阵列、一第一短路杆、以及一第一修补线。画素阵列设置于基板上，并且画素阵列包括多条资料线与多条栅极。第一短路杆设置于基板上，其中第一短路杆连接多条栅极线，用以检测多条栅极线，并且第一短路杆具有一第一短路线段。第一修补线设置于基板上，用以修补至少一资料线，并且第一短路杆的第一短路线段电性连接至第一修补线。

本实用新型的另一较佳实施例提供一种显示装置的修补结构，其包括一基板、一画素阵列、一第一短路杆、一第一修补线、以及一绝缘层。画素阵列设置于基板上，且画素阵列包括多条资料线与多条栅极线。第一短路杆设置于基板上，并且连接多条栅极线，用以检测多条栅极线，其中第一短路杆具有一第一短路线段，且第一短路线段沿一第一方向设置。第一修补线设置于基板上，用以修补至少一资料线，其中第一修补线具有一第一修补线段，沿第一方向设置，并且第一修补线段与第一短路线段彼此重迭。另外，绝缘层设置于第一修补线段与第一短路线段之间。

本实用新型的具有修补检测结构的显示装置，可利用第一短路杆的第一短路线段电性连接至第一修补线，达到合并第一修补线与第一短路杆的效果，进而减少走线的数目。或者，本实用新型的具有修补检测结构的显示装置可利用第一修补线的第一修补线段与第一短路杆的第一短路线段彼此重迭，使第一修补线段与第一短路线段共用基板的同一区域，以有效利用基板上的面积。

附图说明

图1为已知技术中具有修补检测结构的显示装置的示意图。

图2为本实用新型第一较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置的示意图。

图3为本实用新型第二较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置的示意图。

图4与图5为本实用新型第三较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置的示意图。

图6至图8为本实用新型第四较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置的示意图。

图9与图10为本实用新型第五较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置的示意图。

图中

100、200    基板    PA    画素阵列

DL         资料线              GL         栅极线

SB1        第一短路杆          SB2        第二短路杆

RL1        第一修补线          RL2        第二修补线

30         栅极驱动晶片        40         源极驱动晶片

50         修补线分支          GO、GE     试垫

201        第一周边区          202        第二周边区

11         第一短路杆          12         第二短路杆

21         第一修补线          22         第二修补线

111        第一短路线段        121        第二短路线段

211        第一修补线段        221        第二修补线段

D1         第一方向            60         绝缘层

300        具有修补检测结构的

           显示装置

具体实施方式

在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属领域中具有通常知识者应可理解，制作商可能会用不同的名词来称呼同样的元件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区别元件的方式，而是以元件在功能上的差异来作为区别的基准。在通篇说明书及权利要求书当中所提及的「包括」为一开放式的用语，故应解释成「包括但不限定于」。此外，「电性连接」一词在此包含任何直接及间接的电性连接手段。因此，文中所描述一第一装置电性连接于一第二装置，则代表该第一装置可直接连接于该第二装置，或者该第一装置可经由通过其他装置或连接手段间接地连接至该第二装置。此外，需注意的是图式仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。

请参考图2，图2为本实用新型第一较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置300的示意图。如图2所示，具有修补检测结构的显示装置300至少包括一基板200、一画素阵列PA、一第一短路杆11、以及一第一修补线21。画素阵列PA设置于基板200上，且画素阵列PA包括多条资料线DL与多条栅极线GL。为简化说明，图示中仅绘示部份的资料线DL与栅极线GL，而未绘示对应的画素。在本较佳实施例中，多条资料线DL大体上垂直于多条栅极线GL，并且另外于基板200上设置至少一栅极驱动晶片30与至少一源极驱动晶片40。其中，栅极驱动晶片30电性连接多条栅极线GL，用以提供栅极信号，而源极驱动晶片40电性连接多条资料线DL，用以提供源极信号。此外，在画素阵列PA***的基板200上定义有一第一周边区201与一第二周边区202，第一周边区201平行于多条栅极线GL，而第二周边区202平行多条资料线DL。更明确地说，第一周边区201设置于画素阵列PA相对于源极驱动晶片40的另一侧(反S侧)，而第二周边区202设置于画素阵列PA相对于栅极驱动晶片30的另一侧(反G侧)。

再者，第一短路杆11设置于基板200上，其中第一短路杆11连接多条栅极线GL，用以检测多条栅极线GL，并且第一短路杆11具有一第一短路线段111。在本较佳实施例中，第一短路杆11电性连接至测试垫GO，用以检测奇数条的栅极线GL，但不以此为限。第一修补线21设置于基板200上，其中第一修补线21用以修补至少一断线的资料线DL。此外，第一短路杆11的第一短路线段111电性连接至第一修补线21。在第一较佳实施例中，第一短路线段111设置于第一周边区201与第二周边区202内，但本实用新型并不以此为限。例如，第一短路线段111可以仅设置于第一周边区201内，并电性连接至第一修补线21。换言之，第一短路线段111可以设置于第一周边区201内，亦可另外设置于第二周边区202内。

在第一较佳实施中，通过设置于第一周边区201与第二周边区202内的第一短路线段111，可将已知技术中分开设置的修补线与短路杆合并，进而减少第一周边区201与第二周边区202内的走线数目。此外，本实用新型可以维持第一短路杆11与第一修补线21的功能。如图2所示，第一短路杆11由第一短路线段111，可电性连接至奇数条栅极线GL，用以检测奇数条栅极线GL，达到第一短路杆11的检测功能。再者，第一修补线21由第一短路线段111，可在第一周边区201内横跨多条资料线DL的一端，且第一修补线21通过源极驱动晶片40内的线路(图未示)，横跨多条资料线DL的另一端。当其中一资料线DL发生断线时，第一修补线21可用以提供另一个电性导通路径，发挥修补作用。

如图2所示，具有修补检测结构的显示装置300另外包括一第二短路杆12与一第二修补线22，设置于基板200上。第二修补线22用以修补至少一断线的资料线DL，而第二短路杆12具有一第二短路线段121。在本较佳实施例中，第二短路杆12电性连接至测试垫GE，用以检测偶数条的栅极线GL，但并不以此为限。再者，第二短路杆12的第二短路线段121电性连接至第二修补线22，并且第二短路线段121设置于第一周边区201内。

据此，本实用新型的第一较佳实施例由第一短路线段111与第二短路线段121的设置，可达到在第一周边区201内将第一修补线21和第二修补线22分别与第一短路杆11和第二短路杆12合并的效果，进而减少第一周边区201内的两条走线数目。同样地，本实用新型可达到于第二周边区202内将第一修补线21与第一短路杆11合并的效果，进而减少第二周边区202内的一条走线数目。再者，由于走线数目的减少，可增加在第一周边区201内和第二周边区202内的走线的宽度，进而达到降低第一修补线21和第二修补线22的电阻值的效果，以利修补工作的进行。因此，本实用新型可解决已知技术中修补线空间不足与电阻值过大的问题，且不会额外增加任何光罩制作成本。另外，本实用新型在第一周边区201中可另外设置至少一修补线分支50，其一端通过第一短路线段111与第一修补线21电性连接，而其另一端则通过第二短路线段121与第二修补线22电性连接。

本实用新型的具有修补检测结构的显示装置并不以上述的第一较佳实施例为限，而可具有其它不同的实施形式。为了简化说明并易于比较，在下文的四个较佳实施例中，对于相同元件沿用相同的符号来表示。请参考图3，图3为本实用新型第二较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置300的示意图。如图3所示，第二较佳实施例与第一较佳实施例的主要差异在于，第二短路线段121另外设置于第二周边区202内。更明确地说，第二修补线22由第一较佳实施例中的设置位置，改为设置在第二较佳实施例中邻近第二周边区202的位置，并且设置于第一周边区201内的第二短路线段121电性连接至第二修补线22。据此，本实用新型的第二较佳实施例由第一短路线段111与第二短路线段121的设置，不但可达到于第一周边区201内将第一修补线21和第二修补线22分别与第一短路杆11和第二短路杆12合并的效果，并且可达到于第二周边区202内将第一修补线21和第二修补线22分别与第一短路杆11和第二短路杆12合并的效果，进而分别减少第一周边区201内与第二周边区202内的两条走线数目。换言之，相较于第一较佳实施例，第二较佳实施例更进一步地减少第二周边区202内的走线数目。

请参考图4与图5，图4与图5为本实用新型第三较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置300的示意图，其中图5为沿着图4的A-A’线的剖面结构示意图。第三较佳实施例与前两个较佳实施例的主要差异在于，第三较佳实施例的第一修补线21和第二修补线22并未分别与第一短路线段111和第二短路线段121电性连接，而是利用重迭设置的方式来解决已知技术中空间不足的问题。如图4所示，第一修补线21具有一第一修补线段211，沿一第一方向D1设置。如图4与图5所示，第一短路杆11具有一第一短路线段111，而第一短路线段111亦沿第一方向D1设置，并且第一修补线段211与第一短路线段111于第一周边区201内彼此重迭，故第一短路线段111于图4中被第一修补线段211覆盖，而需通过图5的剖面结构示意图来绘示。另外，如图5所示，一绝缘层60设置于第一修补线段211与第一短路线段111之间，用以电性隔绝第一修补线段211与第一短路线段111。

同理可知，如图4与图5所示，第二修补线22亦可具有沿第一方向D1设置的一第二修补线段221，第二短路杆12具有一第二短路线段121，而第二短路线段121亦沿第一方向D1设置，并且第二修补线段221与第二短路线段121在第一周边区201内彼此重迭。再者，绝缘层60设置于第二修补线段221与第二短路线段121之间，用以电性隔绝第二修补线段221与第二短路线段121。

据此，本实用新型的第三较佳实施例由将第一修补线段211与第一短路线段111于第一周边区201内彼此重迭设置，可使第一修补线段211与第一短路线段111共用基板200的同一区域，以有效利用基板200上的面积。同样地，由将第二修补线段221与第二短路线段121在第一周边区201内彼此重迭设置，可使第二修补线段221与第二短路线段121共用基板200的同一区域，以有效利用基板200上的面积。再者，由于基板200的面积的有效利用，可增加在第一周边区201内的走线的宽度，进而达到降低第一修补线21和第二修补线22的电阻值的效果，以利修补工作的进行。因此，本实用新型可解决已知技术中修补线空间不足与电阻值过大的问题，且不会额外增加任何光罩制作成本。

请参考图6至图8，图6至图8为本实用新型第四较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置300的示意图，其中沿着图6的A-A’线的剖面结构示意图如图7所绘示，而沿着图6的B-B’线与C-C’线的各剖面结构示意图皆如图8所绘示。第四较佳实施例与第三较佳实施例的主要差异在于，第四较佳实施例的第一修补线段211与第一短路线段111另外于第二周边区202内彼此重迭。如图6与图8所示，第一修补线段211与第一短路线段111彼此重迭，且绝缘层60设置于第一修补线段211与第一短路线段111之间，用以电性隔绝第一修补线段211与第一短路线段111。其中，如沿着图6的B-B’线的剖面结构示意图(图8)所示，第一修补线段211与第一短路线段111于第二周边区202内彼此重迭，并且如沿着图6的C-C’线的剖面结构示意图(图8)所示，第一修补线段211与第一短路线段111于第二周边区202与源极驱动晶片40之间的区域内彼此重迭。另外，如图6与图7所示，第四较佳实施例于第一周边区201内的设置方式大体上相同于第三较佳实施例。据此，本实用新型的第四较佳实施例，不但于第一周边区201内将第一修补线段211与第一短路线段111彼此重迭设置，并且于第二周边区202内将第一修补线段211与第一短路线段111彼此重迭设置。换言之，相较于第三较佳实施例，第四较佳实施例有效地利用基板200的第二周边区202内的面积。

请参考图9与图10，图9与图10为本实用新型第五较佳实施例的具有修补检测结构的显示装置300的示意图，其中沿着图9的A-A’线、B-B’线、与C-C’线的各剖面结构示意图皆如图10所绘示。如图9与图10所示，第五较佳实施例与第四较佳实施例的主要差异在于，第五较佳实施例的第二修补线段221与第二短路线段121另外于第二周边区202内彼此重迭。其中，第二短路线段121被第二修补线段221覆盖而未标示于图9中。再者，如沿着图9的C-C’线的剖面结构示意图(图10)所示，第二修补线段221与第二短路线段121另外于第二周边区202与源极驱动晶片40之间的区域内彼此重迭。据此，本实用新型的第五较佳实施例不但于第二周边区202内将第一修补线段211与第一短路线段111彼此重迭设置，并且在第二周边区202内将第二修补线段221与第二短路线段121彼此重迭设置。换言之，相较于第四较佳实施例，第五较佳实施例更进一步地有效利用基板200的第二周边区202内的面积。

综上所述，本实用新型的具有修补检测结构的显示装置，可利用第一短路杆的第一短路线段电性连接至第一修补线，达到合并第一修补线与第一短路杆的效果，进而减少走线的数目。再者，第一短路线段可以设置于第一周边区内，亦可另外设置于第二周边区内。或者，本实用新型的具有修补检测结构的显示装置可利用第一修补线的第一修补线段与第一短路杆的第一短路线段彼此重迭，使第一修补线段与第一短路线段共用基板的同一区域，以有效利用基板上的面积。同样地，第一修补线段与第一短路线段可以于第一周边区内彼此重迭，亦可另外于第二周边区内彼此重迭。此外，由于走线数目的减少，可增加第一修补线和第二修补线的宽度，进而达到降低第一修补线和第二修补线的电阻值的效果，以利修补工作的进行。因此，本实用新型可解决已知技术中修补线空间不足与电阻值过大的问题，且不会额外增加任何光罩制作成本。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，凡依本实用新型权利要求范围所做的均等变化与修饰，皆应属本实用新型的涵盖范围。

Claims (10)

1.一种具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：包括：

一基板；

一画素阵列，设置于所述基板上，该画素阵列包括多条资料线与多条栅极线；

一第一短路杆，设置于所述基板上，其中该第一短路杆连接所述栅极线，用以检测所述栅极线，且该第一短路杆具有一第一短路线段；以及

一第一修补线，设置于所述基板上，用以修补至少一资料线，并且所述第一短路杆的第一短路线段电性连接至该第一修补线。

2.如权利要求1所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：在所述画素阵列***的基板上定义有一第一周边区与一第二周边区，该第一周边区平行于所述栅极线，而该第二周边区平行所述资料线，并且所述第一短路线段设置于所述第一周边区内。

3.如权利要求2所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：所述第一短路线段另外设置于所述第二周边区内。

4.如权利要求2所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：另包括一第二短路杆与一第二修补线，设置于所述基板上，其中该第二短路杆具有一第二短路线段，而该第二短路杆的第二短路线段电性连接至该第二修补线，并且所述第二短路线段设置于所述第一周边区内。

5.如权利要求4所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：所述第二短路线段另外设置于所述第二周边区内。

6.一种具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：包括：

一基板；

一画素阵列，设置于所述基板上，该画素阵列包括多条资料线与多条栅极线；

一第一短路杆，设置于所述基板上，该第一短路杆连接所述栅极线，用以检测所述栅极线，其中该第一短路杆具有一第一短路线段，且该第一短路线段沿一第一方向设置；

一第一修补线，设置于所述基板上，用以修补至少一所述资料线，其中该第一修补线具有一第一修补线段，该第一修补线段沿所述第一方向设置，并且该第一修补线段与所述第一短路线段彼此重迭；以及一绝缘层，设置于所述第一修补线段与第一短路线段之间。

7.如权利要求6所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：所述画素阵列***的所述基板上定义有一第一周边区与一第二周边区，所述第一周边区平行于所述栅极线，而该第二周边区且平行所述资料线，并且所述第一修补线段与第一短路线段于所述第一周边区内彼此重迭。

8.如权利要求7所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：所述第一修补线段与第一短路线段另外于所述第二周边区内彼此重迭。

9.如权利要求7所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：另包括一第二短路杆与一第二修补线，设置于所述基板上，其中所述第二短路杆具有一第二短路线段，所述第一短路线段沿所述第一方向设置，而所述第二修补线具有一第二修补线段，该第二修补线段沿所述第一方向设置，并且该第二修补线段与所述第二短路线段于所述第一周边区内彼此重迭。

10.如权利要求9所述的具有修补检测结构的显示装置，其特征在于：所述第二修补线段与第二短路线段另外于所述第二周边区内彼此重迭。

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