CN201717265U - 一种双向保护二极管芯片 - Google Patents
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Abstract
一种双向保护二极管芯片,涉及一种半导体器件的制造技术领域,在N-区的一面设置N+扩散区,在N+扩散区的另一面设置镀膜区;在N-区另一面局部设置P扩散区,在所述P扩散区内和外周分别设置N+扩散区,在所述P扩散区内的N+扩散区的另一面设置镀膜区,在所述P扩散区的表面和N-区表面及P扩散区内侧与N+扩散区的交界处分别设置PN结平面SiO2保护区。由于产品的PN结在正面,封装成品率高,背面进行减薄或研磨,可以达到多种厚度的芯片,以满足不同封装形式的要求,产品的使用范围广,符合电子产品小型化的发展趋势。采用4英寸硅片的生产,生产效率大大提高,操作方便,也降低了生产成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体器件的制造技术领域,特别是双向保护二极管的制备技术领域。
背景技术
长期以来,在半导体器件制造领域,人们在结构设计、成本降低、可靠性、提高产品的性价比等方面,作出了不懈的努力。当今双向保护二极管芯片制造中较先进的技术是采用一种P型双磨单晶片进行制备,其工艺步骤为:清洗、氧化、光刻、清洗、扩散、光刻、镀膜、光刻、测试、划片、裂片,该方法的不足之处为:为了减少碎片率,所选材料的厚度比较厚;产品在生产工艺中的扩散是在硅片两面进行,扩散深度浅,不可以进行减薄,因此该产品的封装形式,只能选择轴向封装或者厚的贴片封装,不利于小型化的需要,限制了产品使用的环境。背面存在PN结,封装成品率低,只能采用烧结的方法进行焊接,无法实现共晶焊的工艺。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种满足多种封装形式、使用范围广、质量稳定可靠的双向保护二极管芯片。
本实用新型在N-区的一面设置N+扩散区,在N+扩散区的另一面设置镀膜区;在N-区另一面局部设置P扩散区,在所述P扩散区内和外周分别设置N+扩散区,在所述P扩散区内的N+扩散区的另一面设置镀膜区,在所述P扩散区的表面和N-区表面设置PN结平面SiO2保护区,在P扩散区内侧与N+扩散区的交界处设置PN结平面SiO2保护区。
本实用新型在N-的一面局部设置P扩散区,在P扩散区内和外周设置N+扩散区,因此产品的PN结在硅片的正面,有利于硅片的贴片封装,且封装成品率高。由于在N-区的另一面设置N+扩散区,扩散结深深,进行减薄或者研磨,可以得到不同厚度的产品,进行多种形式的贴片封装,满足了用户不同线路的要求,符合当今电子产品小型化的趋势。该产品采用4英寸硅片的生产,生产效率大大提高,操作方便,也降低了生产成本。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图1中,1为N-区,2为N+扩散区、3为P扩散区、4为N+扩散区、5为N+扩散区、6为镀膜区、7为镀膜区、8、9为PN结平面SiO2保护区。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型在N-区1的一面设置N+扩散区2,在N+扩散区的另一面设置镀膜区6。
在N-区另一面局部设置P扩散区3,在P扩散区内和外周分别设置N+扩散区4、5,在P扩散区3内的N+扩散区4的另一面设置镀膜区7,在P扩散区3的表面和N-区1的表面分别设置PN结平面SiO2保护区8、9。在P扩散区3的表面、N-区1表面、P扩散区3内侧与N+的交界处分别设置PN结平面SiO2保护区8、9。
Claims (1)
1.一种双向保护二极管芯片,其特征在于在N-区的一面设置N+扩散区,在N+扩散区的另一面设置镀膜区;在N-区另一面局部设置P扩散区,在所述P扩散区内和外周分别设置N+扩散区,在所述P扩散区内的N+扩散区的另一面设置镀膜区,在所述P扩散区的表面和N-区表面设置PN结平面SiO2保护区,在P扩散区内侧与N+扩散区的交界处设置PN结平面SiO2保护区。
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CN102129972A (zh) * | 2011-02-21 | 2011-07-20 | 乐山无线电股份有限公司 | 一种低功耗深结深功率芯片扩散方法 |
CN103295897A (zh) * | 2012-03-01 | 2013-09-11 | 美丽微半导体股份有限公司 | 掘井引流式二极管元件或二极管组件及其制造方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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