CN1979686A - 内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种内嵌非易失存储器(NVM)的***集成芯片(SOC)的安全测试方法，通过一个测试模式检测判断逻辑检测内嵌NVM特定地址上的数据来实现测试模式的切换，该内嵌NVM特定地址在用户模式下不可访问，当测试完成时，对内嵌NVM特定地址写入指定的模式设置数据，芯片的测试模式逻辑电路检测到该数据后，则立即将芯片切换到用户模式下，切断内部模块的测试通路，使芯片进入普通用户模式，从而实现内部电路模块的访问禁止。为实现芯片测试模式的可重新进入，本发明还通过一个专用微处理指令将NVM内的模式设置数据擦除，同时擦除NVM的全部数据，以保护数据安全。
Description
技术领域
本发明涉及一种集成电路测试方法，特别涉及一种***集成芯片的安全测试方法。
背景技术
***集成芯片(SOC)产品的晶片(Wafer)级测试往往涉及到内部逻辑功能模块、模拟IP模块及存储器的测试，基于电路设计知识产权的保护及数据安全的考虑，在测试完成之后需要将测试通路切断，从而使得普通用户只能使用用户模式下的功能，而不能直接访问SOC内部的电路模块和特定存储区的数据信息，这样的测试称为安全测试。
通过改变物理连接实现芯片安全测试是当前比较常用的设计技术，主要有两种方法，一种是熔丝切断，另一种是划片槽切断。
熔丝切断技术是在芯片内通过电阻熔丝的通断来实现测试模式和用户模式的切换，在芯片制造完成后，熔丝电阻的连通状态使电路进入测试模式，该状态下可以实现芯片内部模块的测试。当测试完成之后，通过加电压使熔丝熔断，芯片进入用户模式，该状态下只能使用芯片的普通功能，不能对测试模式下的一些功能进行操作，从而实现芯片的安全测试及应用。
划片槽切断技术是利用划片槽的空间放置决定测试模式/用户模式的焊盘(Pad)。在Wafer测试中，可以通过探针将控制信号加到该Pad上，从而控制芯片进入测试模式进行内部模块的测试，当测试完成后将Wafer切割封装时，划片槽上的Pad被破坏，芯片内部的上拉/下拉电阻将电平固定，使芯片进入用户模式，禁止测试访问。
上述通过改变物理连接实现芯片安全测试方案存在以下问题：物理改变的方法是破坏性方法，改变之后就无法重新进入测试模式，应用不灵活；用户可能通过物理修复的方法来实现测试模式的再进入，并获取电路数据信息，安全性不高。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种基于电学方法的、可保证数据安全并可重新进入测试模式的内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法。
为解决上述技术问题，本发明内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法利用了一个测试模式检测逻辑，该逻辑基于内嵌NVM特定地址的数据的判断来实现测试模式的切换，该地址在用户模式下不可访问。当测试完成时，对内嵌NVM特定地址写入指定的数据信息，芯片的测试模式逻辑电路检测到该数据后，则立即将芯片切换到用户模式下，切断内部模块的测试通路，使芯片进入普通用户模式，从而实现内部电路模块的访问禁止。为实现芯片测试模式的可重新进入，本发明还通过一个专用MCU指令将NVM内的模式设置数据擦除，同时擦除NVM的全部数据，以保护数据安全。
本发明在测试模式下可以实现芯片内部模块的访问测试，而在普通用户模式下只能使用芯片的外部功能，内部模块直接访问被禁止，测试模式和用户模式之间的切换得到了安全可靠的控制，可实现SOC芯片的安全测试；同时通过电学方法实现安全测试控制，相比于物理方式安全性更高；可安全灵活地在测试模式和用户模式下反复切换，并在切换时销毁芯片保存的敏感数据，确保了数据安全。
附图说明
附图是本发明的控制原理图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。
SOC芯片中嵌入的NVM，如闪存(Flash)、电可擦可编程只读存储器(EEPROM)等，其数据具有下电保持的特性，本发明利用这一特性进行测试模式和用户模式之间的切换。
参看附图，本发明设置一个测试模式检测控制逻辑，该逻辑基于内嵌NVM特定地址的数据的判断来实现测试模式的切换，该地址在用户模式下不可访问。在芯片制造完成的初始态下，由于NVM特定地址的数据为非指定的数据，芯片处于测试模式态，可以直接通过芯片管脚实现内部模块的测试。当测试完成时，对NVM特定存储地址写入指定的模式设置数据信息，芯片的测试模式检测控制逻辑检测到该数据后，立即将芯片切换到用户模式下，切断内部模块的测试通路，使芯片进入普通用户模式，从而实现内部电路模块的访问禁止。
本发明还设置了模式再进入控制逻辑，该逻辑电路通过一个专用微控制器(MCU)指令可将NVM内的模式设置数据擦除，这时可重新进入芯片测试模式。MCU指令在模式切换的同时，可擦除NVM的全部数据，即将SOC内保存的敏感信息销毁以保护数据安全。
本发明提供的方法利用了NVM数据非挥发性的特点，实现了对内嵌NVM的SOC的安全测试，该方法简单，可靠，应用灵活。
Claims (4)
1、一种内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法，在测试模式和用户模式之间切换，其特征是，采用一个测试模式检测控制逻辑，通过对在用户模式下不能被访问的内嵌非易失存储器特定地址保存的数据的判断来进行所述测试模式和所述用户模式之间的切换。
2、根据权利要求1所述的内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法，其特征是，测试完成时，对所述内嵌非易失存储器特定地址写入指定数据信息。
3、根据权利要求2所述的内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法，其特征是，所述测试模式检测控制逻辑在所述内嵌非易失存储器特定地址如检测不到所述指定数据信息，则将芯片切换到所述测试模式；所述测试模式检测控制逻辑在所述内嵌非易失存储器特定地址如检测到所述指定数据信息，则立即将芯片切换到用户模式，切断内部模块的测试通路。
4、根据权利要求1所述的内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法，其特征是，采用一个模式再进入控制逻辑，发出个微处理指令擦除内嵌非易失存储器内数据。
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| CN 200510111178 CN1979686A (zh) | 2005-12-06 | 2005-12-06 | 内嵌非易失存储器的***集成芯片的安全测试方法 |
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