CN1940530A - 光学测定装置和图像形成装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性。所述光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束。其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。

Description

光学测定装置和图像形成装置

本发明基于并要求2005年9月26日提交的申请号为2005-277143的日本在先专利申请的优先权，其全部内容通过引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及一种光学测定装置，其对由使用电子照相技术等的例如复印机或打印机的图像形成装置所形成或打印的图像的颜色等进行光学测定。

背景技术

将JP-B-2518822、JP-A-2001-343287和JP-A-10-175330参照为相关技术。

一般来说，大部分光学测定装置是接触型的，即在光学测定装置和待测物体(测定对象)接触的时候，对颜色进行测定。举例来说，象X-Rite 938(产品名称)或GretagMacbeth公司的SpectroLino(产品名称)这种目前在工作中用得最多的便携式测定装置，也是手动接触型。因而，难以高速操作或自动化。此外，光学测定装置的实例包括自动颜色测定装置，举例来说，例如，GretagMacbeth公司的SpectroScan，其中，将便携机和XY平台进行组合。然而，在这些装置中，移动测定点需要该测定装置的水平运动和用于接触试样的该测定装置的垂直运动，以致于阻碍了高速测定。并且，接触型光学测定装置具有这样的问题，即：因为该装置与试样接触，所以接触面可能受到损坏，或者测定对象受到局限。

相反，因为只需要测定头和试样台的水平运动，所以非接触型光学测定装置适合于高速和自动地进行颜色测定。

然而，非接触型光学测定装置具有这样的问题，即：到测定面的距离容易发生改变，距离变化可能影响测定值。特别是对打印材料进行测定时，打印纸的浮动的影响会变得显著。因而，已经考虑到将纸吸附到试样台上。将纸吸附到试样台上的吸附方法的主要类型包括静电吸附法和真空吸引法，该静电吸附法是以静电的方式将纸吸附到试样台上，该真空吸引法是通过空气对纸进行吸引。

根据这样的常规概念，即把颜色作为物理量，当把纸吸附到试样台上时，为了使来自于背面的反射光近乎于零，将测定时的衬背设为黑色。因而，使具有吸附功能的试样台的表面成为黑色已经成为典型的情况。

然而，现时的观点是，优选地测定与人的感觉接近的颜色，并且在与这样的条件(即，对真实的打印材料进行观察)接近的条件下取得的测定值，即，在多张纸重叠的条件下取得的测定值正变得越来越重要。因此，在最近的行业标准等中的趋势是：在将同样类型的多张纸叠放在试样下面这样的条件下来进行测定。因此，存在的问题在于：难以通过上述吸附方法将纸吸附到试样台上，需要另外的应对措施。

已经提出了用以解决上述问题的几项技术，举例来说，包括JP-B-2518822、JP-A-2001-343287和JP-A-10-175330。

如图12中所示，根据JP-B-2518822的非接触发射率测定装置包括光源111和测定装置114，该光源对在物体110上的照射区域b进行照射，该测定装置对从在物体110上的测定面m反射的光束进行检测。测定面m小于照射区域b，物体为可动物体，其相对于光学***具有可变的距离。光源111布置在聚光透镜112的焦点上，该聚光透镜用于产生平行光通量。根据光源111的广度，物体110上的照射强度仅在照射区的中心区域的内部不依赖于距离。此外，测定装置114的光学部件114a具有限制面114a和透镜113，该透镜布置在限制面114a和物体110之间。从而，固定测定面m的大小，并且这样确定测定面m的大小和位置，使得对于物体110相对于测定装置114在预定区间内的全部距离变化，该测定面总位于中心区域。

此外，根据JP-A No.2001-343287的光学测定装置定位于这样的光学测定装置，即，将光束照射到测定对象，通过聚光透镜会聚来自于该测定对象的反射光束，以及通过由受光元件对光量进行检测，对该对象的特性进行测定，该受光元件设在该聚光透镜的焦点旁边。该光学测定装置还包括：设在聚光透镜旁边，以便包括至少透射区的一部分的元件，该透射区沿与该聚光透镜的光轴交叉的方向，位于该聚光透镜的周围；以及禁止区，该禁止区至少设置在包括该元件的光轴侧表面的部分区域上，并且抑制反射。

此外，根据JP-A No.10-175330的光学测定方法使用光源、透镜和光电转换元件，对其进行布置，以便使彼此的相对位置不变。该方法包括：将来自于光源的光束照射到测定对象，经由透镜通过光电转换元件接收来自于该测定对象的反射光，以及根据该光电转换元件的受光输出来对该测定对象的特性进行测定。该方法还包括：在透镜的光电转换元件侧的焦面上，设定如下特定区域，即，其为来自于测定对象的、穿过该透镜的反射光的任意部分；经由该透镜通过该光电转换元件只接收来自于测定对象的、在与该特定区域相对应的角度范围内反射的全部光；以及把由该光电转换元件接收的总光量作为该光电转换元件的输出。

然而，相关技术具有下列问题。具体地，如图12中所示，在根据JP-B-2518822的非接触型发射率测定装置中，尽管通过使照射光成为穿过点光源111和聚光透镜112的平行光束，测定面的照射强度一般保持不变，从而使得该装置不会受到距离变化的影响。然而，由于理想的点光源111并不存在，所以就不能避免距离变化的影响。此外，该装置采用这样的结构，其中，将照射光照射到较宽的范围上，并且由受光透镜113和受光纤维114的端部114a对测定面的测定区m进行限定。然而，由于照射范围b宽，从测定面到受光透镜113的距离长，来自于测定区m外部的反射光120可能作为杂散光而入射进来，从而产生误差。特别是，当测定区块(measuring patch)m的周围是白色时，杂散光的强度变强，这会有问题。

此外，即便在JP-A No.2001-343287或JP-A No.10-175330中公开的光学测定装置中，尽管在JP-A No.2001-343287公开的技术中提供了对杂散光进行吸收的光吸收元件，该技术也具有这样的问题，即，比较容易受到来自于测定区块周围的杂散光的影响。

如图13中所示，为了消除杂散光的影响，如下结构是有效的，即，在测定面204旁设置光阑。在该图中，经由照射透镜201和202，将来自于未示出的光源的光束照射到测定对象203的测定面204上，并经由受光透镜206，通过未示出的光电转换元件接收来自于测定对象203的反射光205。然而，如果从光阑面到测定面204的距离H发生改变，设置在测定面204上的光阑的阴影面积也会发生改变。因此，如图14中所示，测定面204的亮度会显著地改变，这样会出现测定误差。

发明内容

鉴于以上情况做出本发明，本发明提供一种光学测定装置，其中，即使当从光源到测定对象的距离发生改变时，受光区也能够保持不变，因此能够避免距离变化的影响；并且能够防止从测定区的外面引入杂散光而导致误差，因此能够提高测定精度。

根据本发明的一个方案，提供一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性。所述光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束。其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。

根据本发明的另一个方案，提供一种在记录介质上形成图像的图像形成装置，包括：图像载体，其承载静电潜像；显影部分，其对所述图像载体上的潜像进行显影以形成色调剂图像；转印部分，其将所述色调剂图像转印到所述记录介质上；定影部分，其对转印到所述记录介质上的所述色调剂图像进行定影；以及光学测定部分，其以非接触状态对图像的光学特性进行测定，所述图像包括定影在所述记录介质上的所述色调剂图像。所述光学测定部分包括：光源，其对包括所述色调剂图像的图像表面进行照射；受光器，其接收从所述图像表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述图像表面上的照射光束和从所述图像表面反射的反射光束。所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述图像表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述图像表面上确定这样的区域：即，对从所述图像表面反射并且入射到所述受光器上的光束进行测定的区域。

凭借根据以上各方案的所述光学测定装置和所述图像形成装置，即使当从光源到测定对象的距离发生改变时，受光区也能够总是保持不变，因此能够避免距离变化的影响；并且能够防止从测定区的外面引入杂散光而导致误差，因此能够提高测定精度。

附图说明

图1为横截面结构示意图，示出了根据本发明的第一示范性实施例的一种光学测定装置；

图2为结构图，示出了作为图像形成装置的高速打印机，根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置适用于该图像形成装置；

图3为横截面结构图，示出了根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置；

图4为结构图，示出了根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置的光阑；

图5为透视结构图，示出了根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置的光阑；

图6为说明了根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置的效果的简图；

图7为曲线图，说明了根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置的效果；

图8为结构图，示出了根据本发明的第二示范性实施例的光学测定装置适用的图像形成装置；

图9为横截面结构示意图，示出了根据本发明的第二示范性实施例的光学测定装置；

图10为横截面结构示意图，示出了根据本发明的第二示范性实施例的光学测定装置的变型；

图11为说明测定颜色方法的简图；

图12为说明了作为相关技术的光学测定装置的效果的简图；

图13为结构图，示出了作为相关技术的另一种光学测定装置；以及

图14为曲线图，示出了图13中所示的光学测定装置和测定对象之间的距离H与亮度之间的相互关系。

具体实施方式

以下，将根据附图对本发明的实施例进行说明。

[第一示范性实施例]

图2为简图，示出了作为一种图像形成装置的高速打印机，根据本发明的第一示范性实施例的光学测定装置适用于该图像形成装置。

如图2中所示，高速打印机1能够以高速在作为记录介质的连续纸上打印图像，该连续纸为一连串长幅连续打印纸，并且每一页由折叠部分(孔眼)来分割。高速打印机1的打印机主体2包括位于右侧的图像形成部分3、位于中心侧的定影部分4和位于左侧的排纸部分5。在打印机主体2的图像形成部分3中，将作为图像载体的感光鼓6可转动地布置，这样该感光鼓就能够沿着由箭头所指的方向以高速转动。将感光鼓6的直径设为约240mm大小。感光鼓6由导电圆柱体构成，该导电圆柱体涂有感光层，该感光层由光导电性材料制成，例如OPC(有机光导体)或非晶形的硅或硒等等。在感光鼓6的顶部和斜右侧，布置两个一次充电器7和8，其由负电补偿元件(scorotron)制成，该负电补偿元件以预定电位均匀地给感光鼓6的表面充电。此外，在感光鼓6的右侧，在由一对一次充电器7和8以预定电位均匀地充电的感光鼓6的表面上，布置LED打印头9，其中，该打印头装备有LED阵列，该LED阵列作为图像曝光部分，用于根据图像信息来曝光图像。通过LED打印头9，对感光鼓6的表面进行图像曝光处理，并在感光鼓6的表面上形成根据图像信息的静电潜像。

由显影装置10对在感光鼓6的表面上形成的静电潜像进行显影，该显影装置布置在感光鼓6的斜右侧到下侧的下面，并形成由粉状色调剂制成的色调剂图像。在显影装置10上布置三个显影辊11，这样能够以高速对在感光鼓6上形成的静电潜像进行显影，以便与以高速转动的感光鼓6相对应。应该注意到，显影装置10可采用单组分显影方式或双组分显影方式。

此外，将作为转印部分的由电晕管构成的转印充电器13布置在感光鼓6的斜左侧的下方，该转印部分将在感光鼓6上形成的色调剂图像转印至作为记录介质的长幅连续打印纸12。由转印充电器13给在感光鼓6上形成的色调剂图像充电，然后将其顺次转印至长幅连续打印纸12。

从供纸部分14供给作为记录介质的长幅连续打印纸12，该供纸部分布置在打印机主体2的图像形成部分3的下端的内侧。长幅连续打印纸12为一连串长幅连续打印纸，并且每一页由折叠部分(孔眼)来分割。如该图中所示，将长幅连续打印纸12的集合15以折叠状态放置在供纸部分14中。

根据用户的需要，长幅连续打印纸12可以是各种类型的纸，例如普通纸、比普通纸薄的纸、厚纸、通过在普通纸或厚纸的表面上进行涂布而制成的涂布纸或用如黄色等预定颜色着色的纸。也就是说，可以制备七种、八种或更多种类型的纸作为长幅连续打印纸12。

如图2中所示，由在这里未示出的传送部分，将已经由转印充电器13将色调剂图像从感光鼓6转印至的长幅连续打印纸12传送至定影部分4。由闪光定影装置16将未定影的色调剂图像定影在长幅连续打印纸12上，该闪光定影装置安装在定影部分4中。在此期间，尽管长幅连续打印纸12是连续传送的，也可以对其进行这样的配置，即，在闪光定影装置16的上游提供容纳部分，该容纳部分用于暂时容纳长幅连续打印纸12。在间歇传送长幅连续打印纸12的时刻之间，闪光定影装置16在长幅连续打印纸12上进行定影处理。

此外，在闪光定影装置16的下游提供光学测定装置，该光学测定装置对在长幅连续打印纸12上形成的图像进行光学测定。

另外，通过传送辊17将长幅连续打印纸12以折叠状态排出到设置在排纸部分5中的排纸托盘18上，在该长幅连续打印纸上，由闪光定影装置16将未定影的色调剂图像定影。

在完成色调剂图像的转印之后，用清洁装置19的清洁刮板20除去感光鼓6的表面上的残留色调剂。然后，用除电器21使剩余电荷放电，该静电消除器包括电晕管，并用清洁毛刷22对纸或色调剂粉末进行清洁。这样就使感光鼓6为下一个图像形成过程做好准备。

在图2中，参考标号23表示闪光控制单元，其用于对闪光定影装置16的闪光灯24的发光(发光频率)进行控制，稍后将对该闪光灯进行说明。

如图1中所示，根据本实施例的光学测定装置30包括测定装置本体31，该测定装置本体具有近乎于半多边形形状的横截面。测定装置本体31具有：顶壁32；左右倾斜壁33和34，其从顶壁32的两端以45°角倾斜地延伸；以及左右垂直壁35和36，其从左右倾斜壁33和34的下端延伸，这些均由金属或合成树脂等等制成。

在JIS Z8722中规定了一种测定颜色的方法。如图11所示，在如本发明中的光学测定装置30中，采用JIS Z8722中的5.3.1中的a(45-n)这一条件，其中，以入射角i＝45±2°对照射光进行测定，并以反射角r＝0±10°对反射光进行测定。

如图1和3中所示，在测定装置本体31的左右倾斜壁33和34上布置第一照射透镜39和第二照射透镜40，该第一照射透镜和该第二照射透镜用于以45°斜角对测定对象37的测定面38进行照射。对第一和第二照射透镜39和40进行配置，以便由光纤42和43引导来自于光源41的光束，该光源由对测定对象进行照射的LED或白光灯构成。如图3中所示，将第一和第二照射透镜39和40及光纤42和43安装在圆柱形壳体44和45中。对光纤42和43的前端进行布置，以使其相对于第一和第二照射透镜39和40位于预定位置。因此，由第一和第二照射透镜39和40将从光纤42和43发射出的照射光束46和47照射在测定对象37的测定面38上，作为近乎平行的光束。

此外，如图1和3中所示，在光学测定装置本体31的顶壁32上、在测定对象37的测定面38的直接上方(沿垂直方向)，布置受光透镜49，该受光透镜用于接收来自于测定对象37的反射光48。通过光纤50，将由受光透镜49接收到的光束48引导至分光镜51，然后由分光镜51对其进行划分，以使其被受光元件521、522，…，及52n接收。举例来说，对分光镜51进行配置，以便将由受光透镜49接收、通过光纤50引导的光束48分成三个颜色，包括R(红色)、G(绿色)和B(蓝色)，或根据波长通过滤光片或棱镜(未示出)将光束48分成多个光束。然而，本发明并非局限于此，可以对光学测定装置进行配置，以将光束分成其它的颜色。此外，可以省略分光镜51，这取决于有待光学测定装置30测定的物体。

此外，如图1和3中所示，在光学测定装置本体31的底面上提供主光阑52，作为第一光调整部件，该第一光调整部件具有开口部54，该开口部对照射在测定对象37的测定面38上的照射光束46和47进行控制。如图3中所示，主光阑52由薄板形成，该薄板由如不锈钢等金属或合成树脂制成，其两个表面用黑色着色。在主光阑52中，提供开口部54以对从第一和第二照射透镜39和40照射出的照射光束46和47的照射区53进行控制。如图4中所示，照射区53具有矩形形状，例如8mm×4mm。

更具体地，如图3和4中所示，主光阑52由薄板(大约1.5mm的厚度)形成，该薄板由不锈钢制成，例如用黑色对其两个表面进行着色。将主光阑52的位于光学测定装置本体31内的部分55折弯，以使弯曲部55a接近测定对象37的测定面38，这样，部分55以大约2mm的间距D平行于光学测定装置本体31的底面。此外，如图3中所示，将主光阑52的开口部54的边缘部54a切成45°角，以使照射光束46和47的边缘尽可能清晰。

此外，如图1、3和4中所示，在光学测定装置本体31中形成子光阑57和58，作为第二光调整部件，用于确定从测定对象37的测定面38反射的、并且入射到受光元件52上的反射光48的测定区56。子光阑57和58由薄板形成，该薄板由诸如不锈钢的金属或合成树脂制成，其两个表面用黑色着色，为了最小程度地阻挡照射光束46和47，将每个薄板厚度设得比主光阑52的厚度薄很多，例如，大约是0.1mm。提供两个子光阑57和58，以便与第一和第二照射透镜39和40相对应。

如图3和4中所示，第一和第二子光阑57和58在倾斜45°的同时，布置在与主光阑52的开口部54相对应的位置，并且平行于照射光束46和47各自的光轴59和60。

更具体地，如图5中所示，第一和第二子光阑57和58是例如通过压制等对薄板(大约0.1mm的厚度)进行弯曲而整体地形成的，该薄板由例如不锈钢制成，其两个表面用黑色着色。对第一和第二子光阑57和58进行布置，这样它们的下部57和58与主光阑52在测定面38侧的端部57a和58a，也就是与主光阑52的突起55的底面55a在同一平面上。

此外，如图4中所示，在第一和第二子光阑57和58中提供开口部60，该开口部对反射光束48进行限制，从而确定测定区56。由开口部60的端部57a和58a对在测定面38上反射的、并且入射到受光透镜49上的反射光束48的区域(测定区56)进行限制。此外，这样形成第一和第二子光阑57和58的另一端部57b和58b，使其比主光阑52的开口部54的边缘部54a和54b更向外面突出，以便遮蔽穿过主光阑52的开口54的反射光束48。测定区56由正方形形状形成，例如4mm×4mm。

在本实施例中，根据上述配置，即使当从光源到测定对象的距离发生改变时，受光区也能够保持不变，因此能够避免距离变化的影响；并且能够防止从测定区的外面引入杂散光而导致误差，从而提高测定精度。

也就是说，如图2中所示，在根据本实施例的光学测定装置30所适用的高速打印机1中，在感光鼓6上形成根据图像信息的色调剂图像，将在感光鼓6上形成的色调剂图像转印至长幅连续打印纸12上，然后由闪光定影装置16将未定影的色调剂图像定影在长幅连续打印纸12上，以形成图像。

此时，在高速打印机1中的长幅连续打印纸12上，以高速形成图像。因此，如果在长幅连续打印纸12上形成的图像中出现分辨率、灰度等方面的误差，就会产生大量的有缺陷的打印材料。

在本实施例中，以非接触状态对在长幅连续打印纸12上形成的图像进行光学测定的光学测定装置30布置在闪光定影装置16的下游。尽管非接触型光学测定装置30能够不依赖于测定对象而进行测定，但是在这样的非接触型测定装置中，由于其非接触特性，所以到测定对象37的距离可能发生改变。

然而，如图1中所示，在上述光学测定装置30中，通过光纤42和43，将从光源41发射出的光束引导至第一和第二照射透镜39和40，通过第一和第二照射透镜39和40，使从光源41发射出的光束成为近乎平行的光束46和47，以对测定对象37的测定面38进行照射。

此时，如图3和4中所示，上述光学测定装置30包括主光阑52，该主光阑在第一和第二照射透镜39和40与测定对象37的测定面38之间具有开口部54。因此，从第一和第二照射透镜39和40照射出的照射光束46和47受到主光阑52的限制(遮蔽)，并且，在测定对象37的测定面38上，以8mm×4mm的矩形形状形成的照射区53被照亮，如图4中所示。

然而，如图6中所示，在上述光学测定装置30中，如果光学测定装置30和测定对象37的测定面38之间的距离H发生改变，在测定对象37的测定面38上的照射区53就会发生改变。此外，在图6中的两条线状阴影表示第一和第二子光阑57和58的阴影。第一和第二子光阑57和58的这些阴影为窄直线形状，不会影响测定。

与此同时，如图6中所示，根据本实施例的光学测定装置30包括第一和第二子光阑57和58，该第一和第二子光阑与主光阑52分离，并且通过受光透镜49确定测定区56。第一和第二子光阑57和58对由照射光束46和47照射的、并且从测定对象37的测定面38反射的反射光48进行限制，以成为测定区56，该测定区比照射区53窄。另外，由于接收反射光48的受光透镜49直接安装在测定面38上方(沿垂直方向)，反射光48就成为近乎垂直于测定对象37的测定面38进行反射的光束。

因此，即使长幅连续打印纸12的表面，即测定对象37的测定面38，由于位置变化而上下移动，由于反射光48近乎垂直于测定对象37的测定面38而进行反射，所以反射光48的边缘受到第一和第二子光阑57和58的边缘57a和58a的限制，测定区56的大小也不会发生改变。

因此，在光学测定装置30中，即使光学测定装置30和测定对象37的测定面38之间的距离H发生改变，也可以由受光透镜49通过大小总是相等的测定区56，接收反射光48。通过光纤50，将由受光透镜49接收到的反射光48引导至分光镜51，由分光镜51对其进行划分，并由受光元件52对其进行接收。受光元件52能够将反射光48转换为电信号，并且通过使用希望的颜色***，例如Lab，对反射光48的色度或密度等等进行光学测定。

此外，能够避免距离变化的影响，并且能够防止从测定区56的外面引入杂散光而导致误差，因而能够提高测定精度。

[实验实例]

接下来，为证实本发明的效果，本发明的发明人制造了在图1和3中所示的光学测定装置30的原型装置，并进行实验以对以下情况进行测定，即，当光学测定装置30和测定对象37的测定面38之间的距离H发生改变时，由受光元件52接收到的反射光的亮度L是如何改变的。

图7为示出上述实验结果的曲线图。

从图7来看，很明显，即使当光学测定装置30和测定对象37的测定面38之间的距离H发生改变时，受光元件52接收的反射光的亮度L在99附近近乎不变。因此，大家已经知道，与现有技术中的光学测定装置相比，本发明能够减少距离变化的影响并且提高测定精度。

[第二实施例]

图8说明了本发明的第二示范性实施例，其中，与第一示范性实施例相同的组成元件用相同的参考标号来表示。在本实施例中，对光学测定装置进行配置，以对在图像载体上形成的色调剂图像和在纸上形成的图像进行测定。此外，光学测定装置是只从一侧进行照射的45/0型。

如图8中所示，对根据第二示范性实施例的图像形成装置进行配置，以便在记录介质，即切成预定尺寸的纸12上，而不是长幅连续打印纸上形成图像。此外，图像形成装置1具有光学测定装置30，该光学测定装置对在感光鼓6上、在显影装置10的下游、在作为图像载体的感光鼓6的表面上形成的色调剂图像进行光学测定。此外，图像形成装置具有光学测定装置30，该光学测定装置对在纸12上形成的图像进行光学测定。

如图9中所示，在光学测定装置30中，仅在从光学测定装置本体31倾斜45°的一侧布置光源41和照射透镜39，并且在光学测定装置本体31的上侧布置受光透镜49和受光元件52。

此外，光学测定装置30具有主光阑52和子光阑57，该主光阑通过照射透镜39确定照射区53，该子光阑只在对应于照射透镜39的一侧形成。依靠受光透镜的测定区56由子光阑57或主光阑52的边缘部54a来确定。

根据第二示范性实施例的光学测定装置30包括一个光源41和受光元件52，因此其尺寸能够得以减小。并且，能够容易地将光学测定装置30安装在具有较小直径的感光鼓6的周围。

此外，在第二示范性实施例中，在从光学测定装置本体31倾斜45°的位置布置光源，并且直接在测定对象的上方布置受光元件。然而，本发明并非局限于此。如图10中所示，也可以直接在测定对象的上方(沿垂直方向)布置光源41，并且受光元件52可以是0/45型，即，将其布置在从光学测定装置本体31倾斜45°的位置。

大家注意到，在这种情况下，子光阑57直接布置在测定对象的上方，并沿光源41的光轴与测定对象垂直。测定区56由子光阑57的下部和主光阑52的另一边缘部54a来确定。

第二示范性实施例的所有其它结构和效果与第一示范性实施例相同，将省去其说明。

如上所述，根据本发明的一个方案，一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性。所述光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束。其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。

所述第一光调整部件可以由平行于所述物体表面而设置的平板状部件形成；以及所述第一光调整部件可以具有遮蔽部分和开口部分，所述遮蔽部分遮蔽照射光束和反射光束中至少一个光束的一部分，所述开口部分使照射光束和反射光束中至少一个光束的一部分通过。

第二光调整部件可以由薄平板状部件形成，所述薄平板状部件大致与来自于所述光源的照射光束的光轴平行地设置。

所述光学测定装置还可以具有多个光源；以及多个第二光调整部件，其数量与所述多个光源的数量相同。每个所述第二光调整部件由薄平板状部件形成，所述薄平板状部件大致与来自于每个所述光源的照射光束的光轴平行地设置。

所述第二光调整部件在物体表面侧的端部可以位于与所述第一光调整部件在物体表面侧的位置大致相同的位置。

所述光学测定装置可以对所述物体表面的光密度和反射率中的至少一个进行测定。

所述受光器可以包括分光器和受光元件。

根据本发明的另一个方案，一种在记录介质上形成图像的图像形成装置，包括：图像载体，其承载静电潜像；显影部分，其对所述图像载体上的潜像进行显影以形成色调剂图像；转印部分，其将所述色调剂图像转印到所述记录介质上；定影部分，其对转印到所述记录介质上的所述色调剂图像进行定影；以及光学测定部分，其以非接触状态对图像的光学特性进行测定，所述图像包括定影在所述记录介质上的所述色调剂图像。所述光学测定部分包括：光源，其对包括所述色调剂图像的图像表面进行照射；受光器，其接收从所述图像表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述图像表面上的照射光束和从所述图像表面反射的反射光束。所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述图像表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述图像表面上确定这样的区域：即，对从所述图像表面反射并且入射到所述受光器上的光束进行测定的区域。

为了说明和描述的目的，给出本发明实施例的上述描述。其意图并不是穷举或将本发明限定为所披露的明确形式。显而易见，本领域的技术人员能作出许多变形和改变。选择并描述这些实施例是为了更好地说明本发明的原理及其实际应用，从而使得本领域的其他技术人员能理解本发明的各种实施例，并且能利用适合于预期的特殊用途的各种变形。其意图是由下列的权利要求和它们的等同替代来限定本

发明的范围。

Claims (8)

1.一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性，所述光学测定装置包括：

光源，其对物体表面进行照射；

受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及

光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束，

其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。

2.根据权利要求1所述的光学测定装置，

其中，所述第一光调整部件由平行于所述物体表面而设置的平板状部件形成；以及

所述第一光调整部件具有遮蔽部分和开口部分，所述遮蔽部分遮蔽照射光束和反射光束中至少一个光束的一部分，所述开口部分使照射光束和反射光束中至少一个光束的一部分通过。

3.根据权利要求1所述的光学测定装置，

其中，所述第二光调整部件由薄平板状部件形成，所述薄平板状部件大致与来自于所述光源的照射光束的光轴平行地设置。

4.根据权利要求1所述的光学测定装置，还包括：

多个光源；以及

多个第二光调整部件，其数量与所述多个光源的数量相同，

其中，每个所述第二光调整部件由薄平板状部件形成，所述薄平板状部件大致与来自于每个所述光源的照射光束的光轴平行地设置。

5.根据权利要求1所述的光学测定装置，

其中，所述第二光调整部件在物体表面侧的端部位于与所述第一光调整部件在物体表面侧的位置大致相同的位置。

6.根据权利要求1所述的光学测定装置，

其中，所述光学测定装置对所述物体表面的光密度和反射率中的至少一个进行测定。

7.根据权利要求1所述的光学测定装置，

其中，所述受光器包括分光器和受光元件。

8.一种在记录介质上形成图像的图像形成装置，包括：

图像载体，其承载静电潜像；

显影部分，其对所述图像载体上的潜像进行显影以形成色调剂图像；

转印部分，其将所述色调剂图像转印到所述记录介质上；

定影部分，其对转印到所述记录介质上的所述色调剂图像进行定影；以及

光学测定部分，其以非接触状态对图像的光学特性进行测定，所述图像包括定影在所述记录介质上的所述色调剂图像，

其中，所述光学测定部分包括：

光源，其对包括所述色调剂图像的图像表面进行照射；

受光器，其接收从所述图像表面反射的光束；以及

光调整部件，其调整照射到所述图像表面上的照射光束和从所述图像表面反射的反射光束，

其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述图像表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述图像表面上确定这样的区域：即，对从所述图像表面反射并且入射到所述受光器上的光束进行测定的区域。

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