CN1931110B - 用于牙科技术对象的形状检测的方法及执行该方法的设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于牙科技术对象(10)的无接触三维形状检测的方法和设备,其中为了确定该对象的要测量的表面点的空间坐标,利用至少两个矩阵照相机(32,34)测量透射到该对象上的光带以便确定坐标系的两个位置坐标(Z、Y坐标),并通过检测可围绕旋转轴(20)旋转的测量台(22)上所设置的对象的位置来确定第三空间坐标(X坐标)。为了能够以简单的方式实现牙科技术对象的无接触形状检测,建议:矩阵照相机是具有第一、第二和第三像素的彩色矩阵照相机,由矩阵照相机拍摄基本上对于一种类型的像素(第一像素)来说特有的波长范围内的光,并且分析其它类型的像素(第二和第三像素)中的至少一种的值,以便确定两个第一位置坐标(Y和Z坐标)。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于牙科技术对象、例如阳模或者该阳模的一段的无接触三维形状检测的方法,其中为了确定对象的要测量的表面点的空间坐标,利用至少两个矩阵照相机来测量投射到该对象上的光带,以便确定坐标系的两个位置坐标(Z、Y坐标),并通过检测在可围绕旋转轴旋转的测量台上所设置的对象的位置来确定第三空间坐标(X坐标)。此外,本发明涉及一种用于牙科技术对象、例如阳性模型或者该阳性模型的一段的无接触三维形状检测的设备,该设备具有拍摄牙科技术对象的可围绕旋转轴旋转的测量台、用于将光线投影到牙科技术对象上的例如激光装置的光产生装置、两个对准光线的矩阵照相机、以及分析矩阵照相机的信号以便确定光线的坐标的分析单元。
背景技术
在开始时提到的类型的方法可从DE-A-43 01 538中得知。在此,根据一个实施例,在牙科技术对象被设置在旋转台上的情况下借助两个形成一个锐角的CCD矩阵照相机根据三角测量原理来确定高度值(Z轴)。垂直于Z轴延伸的Y坐标的值通过被投射到牙科技术对象上的带光来获得。第三空间坐标(X坐标)由旋转台提供。为产生带光,使用二极管激光器、坐标光学***和圆柱透镜装置。为此获取控制信号。
测量已表明,制造要放置或放入到牙科技术对象或该牙科技术对象的一段上的假牙所需要的数据不够精确并且没有以所需要的速度被确定。此外其原因是通过旋转台的位置规定的空间坐标的不够精确的或者与极大的开销相关联的确定。
一种用于牙科技术对象的三维测量的方法可以从DE-A-101 33 568中得知。为此,该对象在所规定的定向上被夹紧在保持装置中,被照射并且所反射的辐射被分析,其中该对象相对于辐射源平移并且旋转移动,以便进行测量。
发明内容
本发明所基于的任务在于,这样改进开始时提到的类型的方法和设备,使得能够以简单的方式实现牙科技术对象的无接触形状检测,其中用于确定空间坐标的构造开销应被保持为很小,然而应极其精确地并以高的速度进行形状检测。
为了解决该任务,本发明基本上规定,矩阵照相机是具有第一、第二和第三像素的彩色矩阵照相机,由矩阵照相机拍摄基本上对于一种类型的像素(第一像素)来说特有的波长范围内的光,并且分析其它类型的像素(第二和第三像素)中的至少一种类型的像素的值,以便确定两个第一位置坐标(Y和Z坐标)。
特别是规定,给矩阵照相机施加具有对于作为第一像素的红色像素来说特有的优选地在大约635nm的波长范围内的辐射的光。在此,应给矩阵照相机施加导致过载、亦即曝光过度的照射强度。通过这种措施,不仅激励对于入射的辐射特别敏感的像素(第一像素),而且也激励另外的像素、亦即在施加的辐射的为红色像素设计的波长区域的情况下为绿色和蓝色像素,以便然后分析这些像素中的至少一种、优选地用绿色激励的像素。由此,获得入射到该牙科技术对象上的线、例如激光线的位置精确的检测,从而获得高的分辨率。另外可以设置滤光器,以便消除激光中的固有的干扰光。
然后使牙科技术对象在测量台或者旋转台上围绕旋转轴旋转,其中优选1°的步进角。其他的角度同样是可能的。在拍摄了各个光截面后,把相应的图像变换到旋转轴上,以便然后把变换后的图像组合成数字形式的要成像的对象的图像。
步进角也可以通过在恒定的旋转速度的情况下以固定的帧频拍摄对象来实现。该措施等价于使测量台旋转确定的步进角。
为了执行变换,事先以各个角度位置拍摄已知尺寸的标杆或销钉,其中旋转轴与该销钉或标杆的长轴重合。
换句话说,将销钉或标杆的图像用于把牙科技术对象的各个光截面的测量结果变换到旋转轴上。
基于事先进行的校准来确定光截面的坐标,这在下面还将说明。
根据自身有创造性的建议规定,两个优选是CMOS矩阵照相机的矩阵照相机相对于测量台所位于的平面对称地被定位,其中这些照相机附加地相对于平面的、并被设置在上述平面内的且在中心由该平面穿过的校准体被定位,使得照相机图像相同。
根据另一个自身有创造性的建议,这样调整芯片表面的钝角、亦即照相机的矩阵与光轴形成的角度,使得校准体的表面被清晰地成像。
然而由于矩阵的倾斜位置,拍摄失真的图像。然后借助适当的软件进行修正。例如如果圆位于校准体的要成像的侧面上,则在芯片表面上变形的圆被成像,借助软件将该变形的圆换算成圆,以便补偿该成像误差。以这种方式给每一像素分配唯一的坐标。然后把如此得到的校准数据作为分析光截面的基础。
为了校准光线(例如激光线),同样可以使用本身硬的平面校准体,其中激光线与板平行且在校准体的朝向照相机的边缘的中心入射。应这样使激光线自身成扇形,使得边缘光线形成在10°和30°之间的、优选地20°的角。换句话说,光线穿过旋转台或者测量台的旋转轴,此外该旋转轴位于由成扇形的测量光线张开的平面内。
如果以这种方式校准了由照相机(优选地CMOS矩阵照相机)和光辐射源组成的测量头,则该测量头可以被装入。
通过前面说明的措施总共执行照相机图像的修正以及光线相对于旋转轴的调整。然后以光切法工作,其中测量台的旋转轴应穿过牙科技术对象的要测量的区域。
如果不仅要测量牙科技术对象的空间有限的区域、例如末端,而且要测量较大的区域,则需要将牙科技术对象在旋转台上多次移置,以便使测量台的旋转轴穿过要测量的部分区域。为了能够使取决于牙科技术对象的位置的各个测量、亦即在相应位置所测量的云点相连接,对象的相应位置和旋转轴之间的关系必须是已知的。
因此,本发明的另一个自身有创造性的建议规定,在测量台的上方设置另一个照相机(基准照相机),该照相机的光轴沿测量台的旋转轴被定位,并且给测量台或者接收对象的并且被设置在测量台上的保持装置配备基准,借助该基准使设置在测量台上彼此偏离的位置中的牙科技术对象的图像相关、亦即位置精确地组合。
当旋转轴的标记被叠合到由照相机拍摄的图像中时,该照相机还可以被用于牙科技术对象或者要测量的对象段相对于旋转轴的定位。该标记优选地可以具有十字形状。
为了能够实现对牙科技术对象的充分照明,规定,由优选地由发光二极管组成的发光环围绕基准照相机的物镜,通过该发光环以所需要的规模照射对象。
因此,基准和基准照相机被用于以简单的方式确定牙科技术对象相对于测量台的旋转轴并且因此相对于矩阵照相机的相对位置,并因此确定分别所检测的测量点的空间坐标。为此使用位于这样的元件上、优选地位于可固定在旋转台上的保持装置上,其中要测量的牙科技术对象直接以该元件为出发点。在旋转台旋转时基准围绕旋转轴的中点作圆形运动。通过检测基准相对于基准照相机的相对移动和旋转,可以实现牙科技术对象的相应位置的高精度的位置确定,使得能够紧接着以简单的方式使测量值、即云点与牙科技术对象的光学显示相链接。
然后可以根据旋转台的角度位置、由基准照相机所检测的基准、以及矩阵照相机相对于旋转轴的位置来确定每一测量点的空间坐标。
保持装置自身特别是可旋转的、可倾斜的并且优选地可进行高度调整,并且可在所选择的相对于基准照相机的方向上被锁定,其中这样进行定位,使得要测量的要装备假牙的对象段由旋转轴穿过。
特别是规定,要测量的要装备假牙的对象这样相对于旋转轴被定位,使得要制作的假牙的***或者去除方向与旋转轴并且因此与基准照相机的光轴平行或者大体平行地延伸。
当牙科技术对象用光来照射或者由矩阵照相机来检测激励红色像素的波长范围内的光时,产生具有高分辨率的特别好的测量结果、亦即测量线、例如激光线的坐标的精确测量。在此这样设计照射强度,使得虽然就红色像素而言产生过载、亦即曝光过度,但是由此也激励其他的像素,并且优选地分析这些像素中的绿色像素,以便确定测量线的坐标。
一种开始时提到的类型的设备的特征在于,矩阵照相机是彩色矩阵照相机,其中给矩阵照相机施加对于第一种类型的像素来说特有的波长范围内的光,并且可分析与第一种类型的像素不同的第二种类型的像素的电荷值,以便测量光线。
独立于此,通过使用两个矩阵照相机引入检测段的可能性,在这些段中被反射的激光线对于照相机之一来说是不可见的。在同时由两个矩阵照相机观察的段中产生提高的测量精度。
在本发明的要强调的改进方案中规定,在测量台的上方设置基准照相机,该基准照相机用于检测在测量台或者设置在该测量台上的保持装置上存在的基准。在此特别是在保持装置上设置牙科技术对象,以便以简单的方式相对于测量台的旋转轴移动。在此,保持装置可以被构造为可旋转、可倾斜、并且高度可调整。
矩阵照相机特别是CMOS彩色矩阵照相机,其中优选地分析来自绿色像素的信号。
两个矩阵照相机的光轴相对于彼此以60°到90°的角度γ、特别是80°的角度γ延伸,其中每一矩阵照相机的光轴应与垂线形成角度α1、α2,其中30°≤α1,α2≤60°,其中特别是α1=α2。
关于光带、亦即投射到对象上的光线、例如激光线,为此所使用的单元应该包括至少一个例如二极管激光器的激光器和光学器件。成扇形的光线应该形成角度β,其中10°≤β≤30°。在此,光线的中心光线特别是沿CMOS照相机的光轴的角等分线、亦即在由光轴张开的平面内延伸。中心光线与垂线形成等于α1或α2的角度δ。
本发明的其他的细节、优点和特征不仅从权利要求、可从这些权利要求中得知的特征(本身和/或以组合形式)而且也从后面对可从附图中得知的优选实施例的说明中得出。
附图说明
图1以正视图示出测量设备的原理图,
图2示出按照图1的、然而旋转90°的测量设备(侧视图),
图3示出对应于图1的测量设备的透视图,
图4示出按照图3的、然而旋转90°的设备,
图5示出图3的具有校准标杆的一部分,
图6示出按照图3的设备的具有校准体的一部分,以及
图7示出一个框图。
具体实施方式
可以从这些图中提取出用于牙科技术对象的无接触形状检测的设备的、各种视图和透视图、部分片段形式的原理图,其中相同的元件用相同的附图标记来表示,当元件在其图示方面彼此不同、但是包含相同的技术表述内容时,也用相同的附图标记来表示。在可从图中得知的实施例中牙科技术对象是阳模10,但是并不由此限制本发明。
阳模10被设置在保持装置12上,保持装置12可根据箭头14和16相对于测量台或者旋转台18进行调节、倾斜并进行高度调整。旋转台18自身可围绕轴20旋转(箭头22)。在旋转台18的上方设置有基准照相机24,通过该基准照相机可检测旋转台18或者这样的区域,在该区域内阳模10利用保持装置12以所希望的位置和方向被固定在旋转台18上。
此外,从保持装置12发出构成基准的标记26,通过该标记可以检测保持装置12的位置并且因此检测阳模或者石膏模型10相对于旋转轴20的位置。标记26优选地是三个被设置在保持装置12的表面上的例如点状、圆形、盘形或者线状标志。
如图所示,基准照相机24的光轴30与旋转台18的旋转轴20重合。旋转台18逐步地、优选地以每次1°的角度旋转,由此预先给定要测量的牙科技术对象10的坐标(X坐标)。分别要检测的测量点的剩余(Y和Z)坐标通过两个CMOS矩阵彩色照相机32、34来确定,它们测量被投射到阳模10上的光线,该光线优选地来自激光单元36。该激光单元36可以包括具有准直仪光学器件和圆柱透镜装置的二极管激光器。然而就这点而言参考由被用于光切法的装置已知的构造解决方案。作为激光,优选地使用这样的激光,该激光的辐射被集中在对于激励CMOS矩阵彩色照相机32、34的红色像素来说特有的波长范围内。优选地应利用被集中在635nm范围内的辐射。
矩阵彩色照相机32、34的光轴38、40能够形成优选地γ≈80°的角度γ,其中各个光轴38、40应与在图中与基准照相机24的光轴30重合的垂线形成角度α1或者α2,其中30°≤α1,α2≤60°。特别是CMOS矩阵照相机32、34相对于轴30对称地设置。
如从图2和图4中得出,激光单元36在由矩阵彩色照相机32、34张开的平面内伸展。因此激光单元36的中间射线42与通过基准照相机24的光轴30预先给定的垂线形成角度δ,该角度对应于α1或者α2。此外,激光单元36相对于照相机38、40这样定位,使得成扇形的射线在这样的平面内延伸,在该平面内角等分线在矩阵彩色照相机32、34的光轴38、40之间延伸。
激光单元36的光线优选地形成角度为β的扇形,其中10°≤β≤30°,优选地β≈20°。
在测量时,优选地使测量台18以优选地每次1°的步长围绕轴20总共旋转360°,以便在每一位置中借助矩阵照相机32、34测量光带(在预先给定的例如360°的总角度上的测量总共是一次扫描),以便确定石膏模型10的要测量的段的各测量点的Y和Z坐标。在此,石膏模型10相对于旋转轴20并且因此相对于基准照相机24的光轴30优选地这样定位,使得光轴30穿过石膏模型的要测量的段的中点。
只要对于测量来说需要基准(标记26),这些基准就必须是可清楚识别的。为此,基准照相机24的物镜可以由优选地由二极管组成的发光环44集中围绕,通过该发光环照亮保持装置12。
为了使用在纯原理构造方面可从图1和图2或者图3和图4中得知的相应设备来测量阳模10或者要提供假牙的区域或者区段,必须说明下面的方法。
首先把要测量的对应于病人口中的情况的石膏模型10定位和固定在保持装置12(也称为模型保持器)上。以这样的方式实现定位,使得要构造的假牙的***方向平行于旋转台18的旋转轴20并且因此平行于基准照相机24的光轴30延伸。在此,旋转轴20并且因此基准照相机24的光轴30应穿过石膏模型或者阳模10的要测量的区域或者区段的中点。
必要时,可以使要测量的区域的邻近区域露出,以便避免遮蔽。
现在一直移动模型保持器12,直到要测量的模型位置的中点与旋转轴20重合。然后把模型保持器12锁定在旋转台18上。
为使定位简单,在屏幕上显示由基准照相机24拍摄的图像与叠合的坐标轴,该坐标轴的中点由旋转轴20穿过。
然后,操作员启动扫描过程。为此首先旋转台18自动旋转到起始位置,虽然旋转台或者测量台18的每一位置基本上都可以被选择作为起始位置。为了逐步地旋转旋转台18(分别优选地旋转1°),使要测量的牙齿或者空穴位置在由激光装置或者激光单元36投射的光线或者激光线下旋转,并利用两个矩阵彩色照相机32、34获得被反射的光线的同步照片。
然后,在一次运行(优选360°;一次扫描或者单次扫描)后,按照光切法根据这些照片和例如通过步进电动机确定的相应旋转角来确定牙齿或者空穴位置的表面的Y和Z坐标。缺少的X坐标由测量台18的相应位置得出。
替代地,旋转台18能够以恒定的圆周速度旋转并以固定的帧频拍摄石膏模型10。
为了能够测量例如包括多个牙齿或者空穴位置的模型段,通常应执行多个相应的扫描过程(单次扫描过程)。
为了能够在统一的坐标系中显示较大的模型段或者甚至整个模型的整个表面,然后连接单次扫描、亦即单次测量的云点(Punktwolken)。为此,能够在模型保持器12上存在的基准标记26是有意义的,因为由此能够将石膏模型10的各个位置几何分配给测量台18的旋转轴20,因为在每次扫描时在模型保持器12上存在的基准标记26描述围绕旋转轴20的圆形轨道,该圆形轨道由基准照相机24拍摄。圆形的位置或者直径在各次测量时的变化是在测量之间进行的移动的量度。因此可以把所有单次扫描、亦即在一次运行中获得的坐标集依赖于模型保持器12的相应定位的值的数据换算到公共的坐标系中。
给矩阵照相机32、34施加基本上仅激励像素类型之一的辐射,然后分析另一类型的像素,这导致用于识别被反射的激光线的中心和边缘区域的大的可用动态范围,亦即激光线被极其精确地确定,其中辐射强度被选择为这样高,使得产生过载或者曝光过度。
为了实现高分辨率,规定:只要给矩阵施加波长范围对于激励红色像素来说特有的辐射,就仅分析CMOS矩阵彩色照相机32、34的像素中的绿色部分。代替绿色像素,也可以分析蓝色像素。
当此外考虑子像素相对于彼此的布置(例如Bayer模式)、亦即在分析红、绿或者蓝色图像时补偿子像素的相应的几何偏移时,能够更加提高坐标确定的精确性。
为了校准矩阵照相机32、34,执行相对于校准体46的定位,该校准体是平面的、优选地具有矩形形状的物体(图6),由矩阵照相机32、34之一检测该校准体的侧面中的相应侧面。在此,使用厚度小于相应矩阵照相机32、34的景深的校准体。
然后这样使矩阵照相机32、34定位,使得校准体的相应侧面的图像相同。
由于矩阵的倾斜位置,亦即通过矩阵相对于相应侧面的法线偏离90°的钝角(Scheimpflugwinkel),在校准体的侧面上存在的标记、例如圆变形。该变形通过软件来修正。然后可以给矩阵的每一像素分配一个坐标。
为了把在旋转台18的单个角度位置中拍摄的图像变换到旋转台18的旋转轴上,此外,由矩阵照相机32、34拍摄校准标杆或者销钉47的图像(图5),该校准标杆沿旋转轴20或者基准照相机24的光轴30并且以被轴20或者30穿过的方式延伸。该销钉或标杆47的相应图像被用于将测量结果、亦即在石膏模型10上成像的激光线的图像变换到旋转台轴18上。在此情况下也应考虑校准标杆47的直径。
然后利用适当的分析单元根据CMOS矩阵照相机32、34的测量结果在考虑先前说明的变换、以及旋转台18的位置、或者可通过基准26检测的要测量的牙科技术对象10的位置来计算数字值,在该数字值的基础上按CAD-CAM方法以惯常的方式制作所希望的假牙。就这点而言,参看可从EP-B-0 913 130或者WO-A-99/47065得知的实现可能性。
可从图7中得出等价于框图的图示,该图示用于说明用于牙科技术对象10的无接触三维形状检测的元件的布线。因此,无论旋转台18还是矩阵照相机32、34、基准照相机24和激光单元36都与控制和分析单元45连接,以便一方面借助矩阵照相机32、34对测量台18上所设置的并可围绕旋转轴20旋转的牙科技术对象进行测量,其中可借助基准照相机24检测接收牙科技术对象10的保持装置12的位置。通过激光单元36对牙科技术对象10施加光带。然后由分析单元45链接在考虑先前说明的校准的情况下的各个测量值,以便随后具有数字形式的牙科技术对象10的坐标,然后可基于该坐标按CAD-CAM方法制造假牙。
Claims (30)
1.一种用于牙科技术对象的无接触三维形状检测的方法,其中为了确定所述对象的要测量的表面点的空间坐标,利用至少两个矩阵照相机(32,34)来测量投射到所述对象上的光带,以便确定坐标系的两个位置坐标,并且通过检测可围绕旋转轴(20)旋转的测量台(18)上所设置的牙科技术对象的位置来确定第三空间坐标,
其特征在于,
所述矩阵照相机(32,34)是具有第一、第二和第三像素的彩色矩阵照相机,由所述矩阵照相机拍摄对于一种类型的像素来说特有的波长范围内的光,并且分析其它类型的像素中的至少一种类型的像素的值,以便确定所述两个位置坐标。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于,
所述牙科技术对象是阳模(10)或者该阳模的一段。
3.根据权利要求1的方法,其特征在于,
所述两个位置坐标是Z、Y坐标并且所述第三空间坐标是X坐标。
4.根据权利要求1的方法,其特征在于,
给所述矩阵照相机(32,34)施加对于作为第一像素的红色像素来说特有的波长范围内的辐射。
5.根据权利要求4的方法,其特征在于,
给所述矩阵照相机(32,34)施加635nm波长范围内的辐射。
6.根据权利要求1或4的方法,其特征在于,
给所述矩阵照相机(32,34)施加导致第一像素过载的照射强度。
7.根据权利要求1的方法,其特征在于,
给所述对象施加对于第一像素来说特有的波长范围内的辐射。
8.根据权利要求1的方法,其特征在于,
绿色像素作为第二或第三像素被分析。
9.根据权利要求1的方法,其特征在于,
所述矩阵照相机是CMOS照相机。
10.根据权利要求1的方法,其特征在于,
所述矩阵照相机(32,34)和/或其矩阵相对于所述测量台(18)的旋转轴(20)所位于的平面对称地被定位,并且所述矩阵照相机或者其矩阵相对于平面的校准体(46)被定位,使得图像相同,其中所述平面的校准体(46)被设置在所述平面内且在中心由所述平面穿过。
11.根据权利要求1的方法,其特征在于,
所述矩阵照相机(32,34)的矩阵相对于平面的、具有矩形形状的校准体(46)这样被定位,使得每一照相机的从相应侧面拍摄的单个图像被组合成总图像,该总图像在这些单个图像不重叠的情况下具有矩形形状,其中由所述矩阵照相机之一分别测量所述校准体(46)的一个侧面。
12.根据权利要求1的方法,其特征在于,
为了把由所述矩阵照相机(32,34)拍摄的所述对象(10)的图像变换到坐标系中,进行这些图像与标准体(47)的图像的比较,该标准体(47)由所述旋转轴(20)穿过。
13.根据权利要求12的方法,其特征在于,
使用具有圆形或者多边形横截面的销钉或标杆作为标准体(47),该销钉或标杆的长轴与所述测量台(18)的旋转轴(20)一致。
14.根据权利要求13的方法,其特征在于,
所述多边形横截面是正方形横截面。
15.根据权利要求1的方法,其特征在于,
在所述测量台(18)的上方设置基准照相机(24),该基准照相机的光轴(30)沿所述测量台(18)的旋转轴(20)被定位,并且给所述测量台或者接收所述对象(10)的并被设置在所述测量台上的保持装置(12)配备基准(26),借助该基准,所述对象在所述测量台上被设置的位置相对于彼此被确定。
16.根据权利要求1的方法,其特征在于,
所述矩阵照相机(32,34)这样相对于彼此被定位,使得它们的光轴(38,40)以角度γ相交,其中60°≤γ≤90°。
17.根据权利要求15的方法,其特征在于,
具有所述基准(26)的并且保持所述牙科技术对象(10)的保持装置(12)被固定在所述测量台(18)上,并且根据所述测量台的旋转位置确定第三空间坐标。
18.一种用于牙科技术对象(10)的无接触三维形状检测的设备,该设备具有拍摄所述牙科技术对象的可围绕旋转轴(20)旋转的测量台(18)、用于使光线投影到所述牙科技术对象上的光产生装置、两个对准光线的矩阵照相机(32,34)、以及分析所述矩阵照相机的信号以便确定光线的坐标的分析单元(45),
其特征在于,
所述矩阵照相机(32,34)是彩色照相机,其中给所述矩阵照相机施加对于第一种类型的像素来说特有的波长范围内的光,并且可分析与第一种类型的像素不同的第二种类型的像素的电荷值,以便测量光线。
19.根据权利要求18的设备,其特征在于,
所述牙科技术对象是阳模或者该阳模的一段。
20.根据权利要求18的设备,其特征在于,
所述光产生装置是激光装置。
21.根据权利要求18的设备,其特征在于,
在所述测量台(18)的上方设置用于检测至少一个基准(26)的基准照相机(24),该基准被分配给所述牙科技术对象(10)在所述测量台上的位置。
22.根据权利要求18的设备,其特征在于,
所述牙科技术对象(10)被放置在可设置在所述测量台(18)上的保持装置(12)上,该保持装置具有要由所述基准照相机(24)检测的基准(26)。
23.根据权利要求22的设备,其特征在于,
所述保持装置(12)被构造成相对于所述测量台(18)可调整和/或可倾斜。
24.根据权利要求18的设备,其特征在于,
所述矩阵照相机(32,34)是CMOS彩色矩阵照相机。
25.根据权利要求18的设备,其特征在于,
两个矩阵照相机(32,34)的光轴(38,40)以角度γ相交,其中60°≤γ≤90°。
26.根据权利要求25的设备,其特征在于,
在所述测量台(18)的上方设置有基准照相机(24),该基准照相机(24)的光轴(30)与所述测量台(18)的旋转轴(20)重合,所述矩阵照相机(32,34)的光轴(38,40)与垂线形成角度α1、α2,其中30°≤α1,α2≤60°,该垂线与所述基准照相机的光轴重合。
27.根据权利要求18的设备,其特征在于,
所述光产生装置的张角β在10°≤β≤30°的范围内。
28.根据权利要求27的设备,其特征在于,所述张角β≈20°。
29.根据权利要求21的设备,其特征在于,
所述基准照相机(24)具有集中围绕其光学器件的对准所述测量台(18)的照明环(44)。
30.根据权利要求18的设备,其特征在于,
所述矩阵照相机的矩阵相对于其与光轴形成的钝角这样被定位,使得分别从平面校准体(46)的一个侧面拍摄的相应图像被均匀地清晰地成像,其中该校准体相对于所述测量台(18)的旋转轴(20)这样被定位,使得所述旋转轴在所述校准体之内延伸,并且所述校准体具有等于或小于相应矩阵照相机(32,34)的景深的厚度。
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