CN1889802A - 检测修复*** - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种检测修复***，用以检测、修复一有机发光装置。其中，检测修复***于侦测缺陷位置时，将有机发光装置的待检测区域施加一偏压，并利用一电流侦测器，如红外光(IR)电流侦测器，侦测出电流分布异常的缺陷位置；且利用一能量束产生器来产生一能量束，能量束用以将缺陷位置隔绝。

Description

检测修复***

技术领域

本发明涉及一种检测修复***，特别是一种用以检测修复一有机发光装置的缺陷的检测修复***。

背景技术

信息通讯产业已成为现今的主流产业，特别是可携带式的各种通讯显示产品更是发展的重点。而由于平面显示器是人与信息之间的沟通界面，因此其发展显得特别重要。目前应用在平面显示器的技术包括有电浆显示器(Plasma Display Panel，PDP)、液晶显示器(LiquidCrystal Display，LCD)、无机电激发光显示器(InorganicElectroluminescence Display，ELD)、发光二极管(Light Emitting Diode，LED)显示器、真空萤光显示器(Vacuum Fluorescence Display，VFD)、场致发射显示器(Field Emission Display，FED)以及电变色显示器(Electro-Chromic Display)等等。

相较于其它平面显示器，有机发光面板或有机发光元件(以下总称为有机发光装置)以其自发光、无视角、省电、制程简易、低成本、操作温度广泛、高应答速度以及全彩化等等的优点，使其具有极大的潜力，因此可望成为下一代平面显示器的主流。

有机发光装置是一种利用有机官能性材料(organic functionalmaterials)的自发光的特性来达到显示效果的产品，其可依照有机官能性材料的分子量不同分为小分子有机发光装置(small molecule OLED，SM-OLED)与高分子有机发光装置(polymer light-emitting device，PLED)两大类。其发光结构由一对电极以及至少一位于电极之间的有机官能层所构成。当电流通过二电极间，电子和电洞会在有机官能层内再结合而产生激子，使有机官能层依照其材料特性，而产生不同颜色的放光机制。

在制造有机发光装置时，若有些许微粒附着于待镀膜的基板的表面时，将会使得镀膜后所形成的有机发光装置的画素表面产生膜层堆栈异常，甚至造成有机发光装置的画素的二电极间的短路现象，造成装置整体的亮度变差而使得有机发光装置的品质及可靠度受影响，因此，为确保产品品质，有机发光装置的检测及修复为不可忽视的重要课题。

为解决上述问题，业者通常会利用一具有光学显微镜的检测机台以及一具有能量束产生器的修复机台来进行有机发光装置的检测及修复。

承上所述，现有的检测方式利用一具有光学显微镜的检测机台以扫描的方式检视一有机发光装置的画素是否存在缺陷并将所检视出的缺陷所在位置作定位。之后再将有缺陷的有机发光装置移至具有能量束产生器的修复机台作缺陷修复，其修复原理是利用能量束产生器将所侦测到的缺陷以能量束照射，以便将缺陷作一非接触式的隔绝。

就上述检测、修复方式而言，其利用光学显微镜一一观察有机发光装置的画素的放大影像，并由此观察出缺陷的所在位置；然而，此种观察方式不但耗费人力与时间，而且容易因人为疏失而无法确实检测出所有的缺陷。另外，当检测出有机发光装置的画素存在缺陷后，必须再将有机发光装置自测试机台移至修复机台，以便进行修复动作；然而，在实际作业上，当有机发光装置自测试机台移至修复机台上后，并无法实时针对有机发光装置的缺陷作修复动作，而是必须重新将缺陷位置再作一次搜寻、定位后，始能启动针对所侦测到的缺陷位置逐一修复。

此外，虽然附着于待镀膜的基板表面的微粒会造成镀膜后的有机发光装置产生膜层堆栈异常，甚至造成有机发光装置的画素的二电极间的短路现象，但是，当微粒颗粒极小时，即使有机发光装置产生膜层堆栈些微异常，仍不会造成有机发光装置的画素的二电极间的短路，此类缺陷在实际利用上可忽略之，不须作修复。然而现有的检测方式中，是利用光学显微镜以扫描的方式检视有机发光装置的缺陷，此方法并无法判断所检视的缺陷是否将造成二电极间的短路，因此在修复阶段时必须将所有检测出的缺陷一一修复，换言之，若以现有技术将所有存在的缺陷皆经过一一扫描、定位、再扫描、再定位、修复的步骤，则将造成制程上成本的耗费。

承上所述，如何有效率地检测、修复有机发光装置的缺陷，乃是当前有机发光装置重要的课题之一。

发明内容

有鉴于上述课题，本发明的目的在于克服现有技术的不足与缺陷，提供一种可有效率地检测、修复有机发光装置的缺陷的检测修复***。

为达上述目的，本发明提供一种检测修复***，包含一显微器、一影像撷取器、一电流侦测器、一控制器以及一能量束产生器。在本发明中，显微器将一有机发光装置的待检测区域放大；影像撷取器与显微器连结，并撷取显微器所放大的区域影像；电流侦测器与显微器连结，并自显微器所放大的影像中侦测出电流分布异常的至少一缺陷位置；控制器分别与影像撷取器及电流侦测器连结，用以储存影像撷取器所撷取的放大影像及电流侦测器所侦测出的缺陷位置，且依据其所储存的放大影像以及缺陷位置资料产生一第一控制信号；能量束产生器与控制器及显微器连结，能量束产生器依据第一控制信号来产生一用以将缺陷隔绝的能量束。

另外，本发明亦提供另一种用以检测、修复一有机发光装置的检测修复***，包含一精密测距仪、一控制器、一电流侦测器、以及一能量束产生器。在本发明中，精密测距仪用以侦测有机发光装置的位置；控制器与精密测距仪连结，用以依据精密测距仪的侦测结果产生一第三控制信号，以便自动调整电流侦测器与有机发光装置的相对位置；电流侦测器侦测有机发光装置电流分布异常的至少一缺陷位置，此时控制器依据所侦测出的缺陷位置产生一第四控制信号；能量束产生器与控制器连结，并依据第四控制信号来产生一能量束于缺陷位置，以隔绝缺陷。

承上所述，因依据本发明的检测修复***于侦测缺陷位置时，先利用显微器及影像撷取器来放大并撷取有机发光装置的待检测区域影像、或是先利用精密测距仪及控制器来自动调整有机发光装置与电流侦测器的相对位置及/或距离，再将有机发光装置的待检测区域施加偏压，并利用电流侦测器侦测出电流分布异常的缺陷位置；接着利用能量束将缺陷隔绝，因此不必使用两种机台来完成检测、修复，而且可以自动定位有机发光装置，以减少人为操作可能产生的错误及人力资源的浪费；此外，利用检测电流分布异常的方式来检测出缺陷位置，可以快速且正确地定位出缺陷的所在位置。因此，依据本发明的检测修复***可以有效率地整合检测、修复有机发光装置的缺陷。

附图说明

图1为一示意图，显示依本发明较佳实施例的检测修复***的示意图；

图2为一示意图，显示如图1所示的检测修复***的示意图，其更包含一承载平台；

图3为利用本发明的检测修复***来进行检测、修复时，特定区域画素的状态示意图；

图4为一示意图，显示依本发明另一较佳实施例的检测修复***的示意图。

图中符号说明

1     检测修复***

11    显微器

12    影像撷取器

13    电流侦测器

14    控制器

15    能量束产生器

16    承载平台

161   电源供应部

163   电源端子

165   负电源端子

17    显示器

2     检测修复***

21    精密测距仪

23    电流侦测器

24    控制器

25    能量束产生器

26    承载平台

261   电源供应部

263   正电源端子

265   负电源端子

27    显示器

28    光学放大器

3     有机发光装置

31    缺陷位置

P1    影像撷取器(影像CCD)所撷取的影像

P2    电流侦测器所侦测的电流分布异常的缺陷影像

P3    经能量束进行隔绝处理后的影像

具体实施方式

以下将参照相关附图，说明依据本发明较佳实施例的检测修复***，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。在此须再次说明的是，于本实施例中所述的有机发光装置包含有机发光面板及有机发光元件。

如图1与图2所示，本发明的检测修复***1包含一显微器11、一影像撷取器12、一电流侦测器13、一控制器14、及一能量束产生器15。

显微器11用以将一有机发光装置3的待检测区域放大。影像撷取器12与显微器11连结，并撷取由显微器11所放大的区域影像(如图3所示的P1)，于本实施例中，影像撷取器12可为影像CCD。

电流侦测器13与显微器11连结，并自显微器11所放大的影像中侦测出电流分布异常的缺陷位置(如图3所示的P2)。控制器14分别与影像撷取器12及电流侦测器13连结，其用以储存影像撷取器12所撷取的放大影像及电流侦测器13所侦测出的缺陷位置，且依据其所储存的放大影像以及缺陷位置资料产生一第一控制信号。于本实施例中，控制器14可为计算机，电流侦测器13可为红外光(IR)电流侦测器，其可以正确地侦测出有机发光装置3的待检测区域中的电流分布，以便进一步检测出此区域中电流分布异常的位置。

能量束产生器15与控制器14连结，且与显微器11连结，其依据第一控制信号来产生一用以将缺陷隔绝的能量束，能量束经由显微器11射出(未示于图中)。如此即可将一有机发光装置的待检测区域中的缺陷修复(如图3所示的P3)。

又，如图2所示，依据本发明较佳实施例的检测修复***1更包含一承载平台16，有机发光装置3设置于承载平台16上。承载平台16上设有一电源供应部161，如图2所示，电源供应部161分别具有一正电源端子163及一负电源端子165，当电流侦测器13欲侦测是否有电流分布异常时，有机发光装置3由电源供应部161提供一偏压，例如为负向偏压或是微量正向偏压，此一偏压将会使短路缺陷处出现电流分布异常。此时，控制器14更依据其所储存的放大影像以及缺陷位置资料产生一第二控制信号，使承载平台16与能量束产生器15相对移动，有机发光装置3的缺陷位置与能量束产生器15对正，并使得能量束作用于缺陷位置。于本实施例中，承载平台16可为三轴移动定位平台。

另外，依据本发明较佳实施例的检测修复***更可包含一显示器17，其与控制器14连结，用以显示控制器14所输出的画面。

此外，请参照图4所示，依据本发明另一较佳实施例的检测修复***2包含一精密测距仪21、一电流侦测器23、一控制器24、一能量束产生器25、一光学放大器28、以及一承载平台26。

精密测距仪21用以自动侦测一有机发光装置3的位置；电流侦测器23透过光学放大器28侦测有机发光装置3电流分布异常的至少一缺陷位置31(如图3所示的P2)；控制器24分别与精密测距仪21、电流侦测器23、光学放大器28及能量束产生器25连结，控制器24依据精密测距仪21的侦测结果产生一第三控制信号，以便自动定位有机发光装置3与电流侦测器23。在本实施例中，精密测距仪21可为一激光定焦器，其发出一侦测信号(如激光束)以便判断出有机发光装置3与电流侦测器23之间的距离。其中，控制器24可以为一计算机，本实施例所示的检测修复***2更包含一显示器27，其与控制器24连结，用以显示控制器24所输出的画面。另外，能量束产生器25所产生的能量束可以为特定波长的激光(例如波长532nm的激光)、辐射束、电子束或是具有高能量的光束，足以对缺陷进行隔绝的功能。

承上所述，精密测距仪21为侦测距离的一种仪器，其功能在于作为辅助修正有机发光装置3与电流侦测器23(或光学放大器28)的距离的依据，可以利用激光、红外线、超音波作为侦测距离的信号，且其信号可以通过光学放大器28或不经由光学放大器28，而本实施例的精密测距仪21可以相对为激光测距仪、红外线测距仪或超音波测距仪。

再者，光学放大器28为一光学机构，用途在于将影像放大，以作为缺陷影像侦测与传导能量束隔绝缺陷之用，其中可包含不同倍率的光学放大镜组或CCD光耦合元件，本发明中所提及的能量束产生器25所产生的能量束，可以通过此一光学放大器28对缺陷位置作定位以达到隔绝的效果。需注意的是，能量束产生器25所产生的能量束的直径大小亦可先受控制，以便不经由光学放大器28、直接将能量束作用于缺陷位置，以隔绝缺陷。

承上所述，承载平台26承载有机发光装置3，而且承载平台26接收第三控制信号，以便依据第三控制信号来相对移动有机发光装置3及电流侦测器23(或光学放大器28)。在本实施例中，承载平台26可以单独移动有机发光装置3或移动电流侦测器23(或光学放大器28)，或是同时移动有机发光装置3及电流侦测器23(或光学放大器28)，以便调整有机发光装置3及电流侦测器23(或光学放大器28)之间的距离；在本实施例中，承载平台26可为一三轴移动定位平台。除此之外，亦可以于光学放大器28上加装另一三轴移动控制机构以达成调整有机发光装置3及光学放大器28之间的距离，进而能够控制电流侦测器23所侦测的缺陷位置与光学放大器28的对正动作。

另外，承载平台26上设有一电源供应部261，电源供应部261分别具有一正电源端子263及一负电源端子265，当电流侦测器23欲侦测是否有电流分布异常时，有机发光装置3由电源供应部261提供负向偏压或微量正向偏压，此一偏压将会使形成短路的缺陷位置出现电流分布异常。此时，控制器24更依据所侦测出的缺陷位置31产生一第四控制信号及一第五控制信号，承载平台26及能量束产生器25分别依据控制器24所产生的第五控制信号及第四控制信号作动，其中承载平台26依据第五控制信号相对移动能量束产生器25(及/或光学放大器28)与有机发光装置3，以便让能量束产生器25(透过光学放大器28)对准有机发光装置3的缺陷位置31，接着能量束产生器25依据第四控制信号产生一能量束，此能量束聚焦于缺陷位置31以隔绝缺陷，如此即可将一有机发光装置的待检测区域中的缺陷修复。

承上所述，因依据本发明的检测修复***于侦测缺陷位置时，先利用显微器及影像撷取器来放大并撷取有机发光装置的待检测区域影像、或是先利用精密测距仪及控制器来自动调整有机发光装置与电流侦测器的相对位置及/或距离，再将有机发光装置的待检测区域施加偏压，并利用电流侦测器侦测出电流分布异常的缺陷位置；接着利用能量束将缺陷隔绝，因此不必使用两种机台来完成检测、修复，而且可以自动定位有机发光装置，以减少人为操作可能产生的错误及人力资源的浪费；此外，利用检测电流分布异常的方式来检测出缺陷位置，可以快速且正确地定位出缺陷的所在位置。因此，依据本发明的检测修复***可以有效率地整合检测、修复有机发光装置的缺陷。

以上所述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于权利要求书的范围中。

Claims (10)

1.一种检测修复***，其用以检测、修复一有机发光装置，其特征在于，包括：

一显微器，其用以将有机发光装置的待检测区域放大；

一影像撷取器，其与显微器连结，并撷取显微器所放大的区域影像；

一电流侦测器，其与显微器连结，并自显微器所放大的影像中侦测出电流分布异常的至少一缺陷位置；

一控制器，其分别与影像撷取器及电流侦测器连结，用以储存影像撷取器所撷取的放大影像及电流侦测器所侦测出的缺陷位置，且依据其所储存的放大影像以及缺陷位置资料产生一第一控制信号；以及

一能量束产生器，其与控制器及显微器连结，能量束产生器依据该第一控制信号来产生一用以将缺陷隔绝的能量束。

2.如权利要求1所述的检测修复***，其中，电流侦测器为一红外光电流侦测器。

3.如权利要求1所述的检测修复***，其中，控制器更依据其所储存的放大影像以及缺陷位置资料产生一第二控制信号。

4.如权利要求3所述的检测修复***，其中，更包含：

一承载平台，其设有一电源供应部，以提供一偏压至有机发光装置，承载平台承载有机发光装置并依据第二控制信号相对移动有机发光装置及能量束产生器，使缺陷位置与能量束产生器对正，并使得能量束作用于缺陷位置。

5.如权利要求4所述的检测修复***，其中，偏压为一负向偏压或一微量正向偏压。

6.如权利要求1所述的检测修复***，其中，影像撷取器为一CCD影像撷取器。

7.如权利要求1所述的检测修复***，其中，能量束为辐射束、激光束或电子束，其经由显微器射出。

8.一种检测修复***，其用以检测、修复一有机发光装置，其特征在于，包括：

一精密测距仪，其用以自动侦测有机发光装置的位置；

一控制器，其与精密测距仪连结，用以依据精密测距仪的侦测结果产生一第三控制信号；

一电流侦测器，其与控制器连结，以依据第三控制信号调整电流侦测器与有机发光装置的相对位置及/或距离，并侦测有机发光装置电流分布异常的至少一缺陷位置，控制器依据所侦测出的缺陷位置产生一第四控制信号；以及

一能量束产生器，其与控制器连结，并依据第四控制信号来产生一作用于缺陷位置的能量束，以隔绝缺陷。

9.如权利要求8所述的检测修复***，其中，更包含：

一光学放大器，其用以将有机发光装置的待检测区域放大，其中电流侦测器更与光学放大器连结，并自光学放大器所放大区域的影像中侦测出缺陷位置，能量束产生器更与光学放大器连结，以便经由光学放大器射出能量束。

10.如权利要求8所述的检测修复***，其中，精密测距仪为一激光定焦器。

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