CN1881010B - 显示装置和错位检查方法 - Google Patents

显示装置和错位检查方法 Download PDF

Info

Publication number
CN1881010B
CN1881010B CN200610092264XA CN200610092264A CN1881010B CN 1881010 B CN1881010 B CN 1881010B CN 200610092264X A CN200610092264X A CN 200610092264XA CN 200610092264 A CN200610092264 A CN 200610092264A CN 1881010 B CN1881010 B CN 1881010B
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
wiring
dislocation
judgement
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN200610092264XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN1881010A (zh
Inventor
竹中雄一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Display Inc
Panasonic Intellectual Property Corp of America
Original Assignee
Hitachi Displays Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Displays Ltd filed Critical Hitachi Displays Ltd
Publication of CN1881010A publication Critical patent/CN1881010A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1881010B publication Critical patent/CN1881010B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/36Assembling printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/361Assembling flexible printed circuits with other printed circuits
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426Layout of electrodes and connections
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • H05K1/0268Marks, test patterns or identification means for electrical inspection or testing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09654Shape and layout details of conductors covering at least two types of conductors provided for in H05K2201/09218 - H05K2201/095
    • H05K2201/09781Dummy conductors, i.e. not used for normal transport of current; Dummy electrodes of components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/163Monitoring a manufacturing process
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/166Alignment or registration; Control of registration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供一种可容易检查挠性基板与端子之间的连接的显示装置,该显示装置包括在端子部设有多条布线作为第1布线的显示板、和设有多条布线作为第2布线的膜状基板,上述显示板,具有与上述端子部相邻、宽度比上述端子宽且除去了一部分的判断端子;在上述膜状基板上,具有与上述第2布线相邻而形成的第3布线和第4布线;上述第3布线与上述判断端子相对;上述第4布线与上述判断端子的上述除去的部分相对。

Description

显示装置和错位检查方法
技术领域
本发明涉及显示装置和错位(位置偏移)检查方法,尤其涉及适用于具有液晶显示板和驱动用的驱动IC的显示装置的有效方法。
背景技术
以往,在显示装置中存在具有液晶显示板的显示装置(以下,称为液晶显示装置)。
上述液晶显示板,例如是在玻璃基板等透明基板上设置了图像显示用布线的2块基板之间封入了液晶材料的显示板。此时,上述2块基板中的一块基板,例如以阵列状设有对上述液晶材料施加电压的TFT等元件,在另一块基板设有滤色片(colour filter)等。
在组装上述液晶显示装置时,例如在上述液晶显示板的周围配置印刷电路板。然后,通过将上述印刷电路板的布线和上述显示板的布线与形成在薄膜封装(TCP)或芯片封装(COF)等的挠性基板上的布线连接,从而与驱动用的驱动IC电连接。
在上述挠性基板的布线与上述印刷电路板的布线的连接方法、和挠性基板的布线与上述液晶显示板的布线的连接方法中,公知有使用各向异性导电膜(ACF)来进行连接的方法。
近年来,对于上述液晶显示板而言,其大型化和高精细化逐渐发展。为此,逐渐要求液晶显示板的端子间距缩小,在电连接液晶显示板的布线和上述挠性基板的布线时有较高的对位精度。
为此,容易产生由错位(位置偏移)导致的连接不良(开路不良)或短路不良。
因此,需要对错位进行全数检查,并要求该检查容易化。
关于这样的错位检查,提出了这样的方法,即:预先在上述液晶显示板侧设置检查用端子,预先在上述驱动IC侧设置检查用导线,在连接布线后,检查上述检查用端子和上述检查用导线之间的导通,判断是否产生由错位导致的连接不良(例如,参照专利文献1)。
专利文献1:日本特开平9-5381号公报
发明内容
记载于上述专利文献1等的以往的检查方法,是检查上述布线的配置了连接端部的方向、换言之是仅检查由布线宽度方向的错位导致的连接不良的检查方法。
然而,当连接上述液晶显示板的布线和上述驱动IC的布线时,不仅会产生向上述布线宽度方向的错位,而且会产生向各种方向的错位。在连接上述布线时,例如产生了向与上述布线宽度垂直的方向的错位时,有可能产生例如由连接面积的增加或减少所导致的导通不良,但在上述以往的检查方法中,存在无法判断是否产生这种不良的问题。
此外,上述液晶显示板的布线,在通常情况下,其连接用的端子区域的前端朝相邻的布线侧弯折.为此,产生了向与上述布线宽度垂直的方向的错位的情况下,当偏移量较大时,还有可能出现这样的情况,即:在上述驱动IC的与上述布线宽度垂直的方向的延长线上,与上述液晶显示板的预定布线相连的布线与上述驱动IC的布线导通,导致短路.然而,在上述以往的检查方法中,也无法判断是否产生这种不良.
为此,例如在记载于上述专利文献1的检查方法中,即使是应用了判断是否由错位导致产生连接不良的方法的情况下,在进行上述液晶显示板的动作检查时,有时也进行产生了上述连接不良或短路不良的液晶显示板的动作检查,出现上述液晶显示板的动作检查的作业效率有时将下降这样的问题。
此外,在连接上述印刷电路板的布线和上述挠性基板的布线时,不必达到连接上述液晶显示板的布线和上述挠性基板的布线时那样的要求,但也要求位置精度较高。而且,在连接时有时会产生错位。
本发明的目的在于,提供一种可容易判断在连接液晶显示板的布线和挠性基板的布线时由错位导致的连接不良或短路不良的技术。
本发明的另一目的在于,提供一种可容易在判断连接印刷电路板的布线和挠性基板的布线时由错位导致的连接不良或短路不良的技术。
本发明的另一目的在于,提供一种可提高液晶显示板的动作检查的作业效率的技术。
本发明的上述及其他目的和新的特征,将通过本说明书的记述和附图而得到明确。
在本申请中公开的发明的概略如下。
(1)一种显示装置,包括:在基板表面设有图像显示用的多条布线(以下称为“第1布线”)的显示板、在膜状的绝缘基板表面设有多条布线(以下称为“第2布线”)的膜状基板、设有通过上述第2布线而与上述第1布线电连接的布线的印刷电路板,上述显示板设有判断电连接上述第1布线和上述第2布线时的错位的导电性判断端子,上述膜状基板设有与上述判断端子电连接的判断电位供给布线、和与上述判断电位供给布线相邻的、且与上述各第1布线、上述判断端子电绝缘的错位检测布线,上述显示板的判断端子具有判断上述错位检测布线和上述判断电位供给布线的配置方向的错位、和与上述配置方向正交的方向的错位的判断部。
(2)在上述方案(1)中,上述膜状基板的上述错位检测布线,在与上述显示板平面上重叠的区域内具有局部布线宽度变宽了的区域,上述显示板的判断端子的上述判断部,是在平面上包围上述错位检测布线的上述布线宽度变宽了的区域的不连续的环形。
(3)在上述方案(1)或(2)中,上述显示板的判断端子与上述各第1布线相互电独立。
(4)在上述方案(1)或(2)中,上述显示板的判断端子设于上述各第1布线的任一条的端部。
(5)在上述方案(1)至(4)的任一项中,上述膜状基板的上述判断电位供给布线和上述错位检测布线与设于上述印刷电路板的布线电连接。
(6)在上述方案(5)中,具有多个上述膜状基板,设于上述印刷电路板的布线中的、与上述各膜状基板的上述判断电位供给布线或上述错位检测布线电连接的布线是共用布线。
(7)在上述方案(1)至(6)的任一项中,在上述膜状基板上安装有半导体芯片。
(8)一种显示装置,包括:在基板表面设有图像显示用的多条布线(以下称为“第1布线”)的显示板、在膜状的绝缘基板表面设有多条布线(以下称为“第2布线”)的膜状基板、设有通过上述第2布线而与上述第1布线电连接的布线(以下称为“第3布线”)的印刷电路板,上述膜状基板设有判断电连接上述第3布线和上述第2布线时的错位的导电性判断端子,上述印刷电路板设有与上述判断端子电连接的判断电位供给布线、和与上述第3布线、上述判断电位供给布线电绝缘的错位检测端子,上述膜状基板的判断端子具有判断上述错位检测端子和上述判断电位供给布线的配置方向的错位、和与上述配置方向正交的方向的错位的判断部。
(9)在上述方案(8)中,上述膜状基板的判断端子的上述判断部,是在平面上包围上述错位检测端子的环形,上述印刷电路板在绝缘基板的表面和内部具有至少2层的布线层,上述错位检测端子通过设于上述绝缘基板内部的布线层,与设于上述判断部的外部区域的布线电连接。
(10)在上述方案(8)或(9)中,上述印刷电路板的判断电位供给布线与上述各第3布线相互电独立。
(11)在上述方案(8)或(9)中,上述印刷电路板的判断电位供给布线与上述各第3布线的任一条共用。
(12)在上述方案(8)至(11)的任一项中,具有多个上述膜状基板,设于上述印刷电路板的布线中的、与上述各膜状基板的上述判断电位供给布线或上述错位检测端子电连接的布线是共用布线。
(13)在上述方案(8)至(11)的任一项中,在上述第2布线的与上述第3布线的连接部、或上述膜状基板的判断端子的与上述印刷电路板的判断电位供给布线的连接部设有台阶状的切口。
(14)在上述方案(13)中,上述台阶状切口设于上述第2布线或上述判断端子的相对的两边。
(15)在上述方案(8)至(14)的任一项中,上述显示板设有判断电连接上述第1布线和上述第2布线时的错位的导电性判断端子,上述膜状基板设有与上述判断端子电连接的判断电位供给布线、和与上述判断电位供给布线相邻的、且与上述各第1布线、上述判断端子电绝缘的错位检测布线,上述显示板的判断端子具有判断上述错位检测布线和上述判断电位供给布线的配置方向的错位、和与上述配置方向正交的方向的错位的判断部。
(16)在上述方案(15)中,上述膜状基板的上述错位检测布线,在与上述显示板平面上重叠的区域内具有局部布线宽度变宽了的区域,上述显示板的判断端子的上述判断部,是在平面上包围上述错位检测布线的上述布线宽度变宽了的区域的不连续的环形。
(17)在上述方案(15)或(16)中,上述显示板的判断端子与上述各第1布线相互电独立。
(18)在上述方案(15)或(16)中,上述显示板的判断端子设于上述各第1布线的任一条的端部。
(19)在上述方案(15)至(18)的任一项中,上述膜状基板的判断端子设于上述膜状基板的判断电位供给布线的端部。
(20)在上述方案(15)至(19)的任一项中,上述印刷电路板,在上述绝缘基板的表面与上述印刷电路板的错位检测端子电连接,且设有设置在上述膜状基板的判断端子的上述判断部的外部区域上的导体端子,上述膜状基板的错位检测布线与上述印刷电路板的上述导体端子电连接.
(21)在上述方案(6)至(17)的任一项中,在上述膜状基板上安装有半导体芯片。
(22)在上述方案(1)至(21)的任一项中,上述显示板是液晶显示板。
(23)一种错位检查方法,检查电连接设于显示板的多条布线(以下称为“第1布线”)和设于膜状基板表面的多条布线(以下称为“第2布线”)时的、上述第1布线与上述第2布线的错位,在上述膜状基板设置判断电位供给布线和错位检测布线这两个电独立的布线,在上述显示板设有与上述判断电位供给布线电连接、具有判断部的导电性判断端子,该判断部判断上述错位检测端子和上述判断电位供给布线的配置方向的错位、和与上述配置方向正交的方向的错位,在电连接上述第1布线和上述第2布线后,进行上述膜状基板的判断电位供给布线与上述错位检测布线之间的导通检查。
(24)一种错位检查方法,检查电连接设于印刷电路板的多条布线(以下称为“第3布线”)与设于膜状基板表面的多条布线(以下称为“第2布线”)时的、上述第3布线与上述第2布线的错位,在上述印刷电路板设置判断电位供给布线和错位检测端子这两个电独立的布线端子,在上述膜状基板表面设有具有判断部的导电性判断布线或判断端子,该判断部判断上述错位检测端子和上述判断电位供给布线的配置方向的错位、和与上述配置方向正交的方向的错位,在电连接第3布线和上述第2布线后,进行上述膜状基板的判断电位供给布线与上述错位检测布线之间的导通检查。
此外,在上述方案(1)至(24)中,提取出特别重要的部分简洁地总结如下。
(25)一种显示装置,包括在端子部设有多条布线作为第1布线的显示板、和设有多条布线作为第2布线的膜状基板,上述显示板,具有与上述端子部相邻、宽度比上述端子宽且除去了一部分的判断端子;在上述膜状基板,具有与上述第2布线相邻而形成的第3布线和第4布线;上述第3布线与上述判断端子相对;上述第4布线与上述判断端子的上述除去部分相对。
(26)在上述方案(25)中,在上述第4布线超过上述判断端子的除去部分而偏移了的情况下,能够通过上述第3布线与上述第4布线变为相同的电位,来检测出错位。
(27)在上述方案(25)或(26)中,能够根据上述判断端子的除去形状,判断上述多条第1布线并排设置方向的偏移、和与该方向正交的方向的偏移这两种偏移。
(28)在上述方案(25)至(27)中,上述第3布线和上述第4布线与设置在印刷电路板上的布线电连接。
本发明的显示装置,如上述方案(1)那样,在上述显示板设有判断端子,在上述膜状基板设有判断电位供给布线和错位检测布线,上述判断端子与上述判断电位供给布线电连接。若是这样的结构,则在组装上述显示装置的工序中,在电连接上述显示板的第1布线和上述膜状基板的第2布线后,检查上述判断电位供给布线和上述错位检测布线之间是否导通,从而能够容易地判断上述第1布线和上述第2布线的错位。为此,可以在电连接了上述第1布线和第2布线之后,立即检查上述第1布线和第2布线的连接不良或短路不良,可在发生了上述各不良时,作为不良品除去以进行校正。
此外,上述显示板的判断端子,如上述方案(1)那样,是具有判断上述错位检测布线和上述判断电位供给布线的配置方向的错位、及与上述配置方向正交的方向的错位的判断部的形状,则与例如上述专利文献1中所述的仅检查上述膜状基板的错位检测布线和判断电位供给布线的配置方向的错位相比,提高了对上述第1布线和上述第2布线的连接不良或短路不良的检查精度.其结果,在进行上述显示板的动作检查时,能够仅检查未产生上述各不良的显示板,使上述显示板的动作检查的作业效率提高.
并且,此时,如上述方案(2)那样,优选在上述膜状基板的上述错位检测布线设置布线宽度变宽了的区域,使上述显示板的判断端子的上述判断部为在平面上包围上述错位检测布线的上述布线宽度变宽了的区域的不连续的环形。如此,例如能够相对于与上述膜状基板的错位检测布线和判断电位供给布线的配置方向正交的方向、换言之上述各布线的延伸方向的错位,判断上述错位检测布线的延长线方向的错位和其相反方向的错位。此外,通过做成不连续的环形,不仅能够检测上述膜状基板的错位检测布线与判断电位供给布线的配置方向的错位、和与上述配置方向正交的方向的错位,还能够在同时产生向各方向的错位时检测其错位。为此,能进一步提高对上述第1布线和上述第2布线的连接不良或短路不良的检查精度,使上述显示板的动作检查的作业效率进一步提高。
并且,此时,上述显示板的判断端子可以如上述方案(3)那样为与上述各第1布线电独立的端子,也可以如上述方案(4)那样设于上述各第1布线的任一端部。
此外,优选的是,上述膜状基板的判断电位供给布线和错位检测布线,如上述方案(5)那样与设于上述印刷电路板的布线电连接。设于上述膜状基板的判断电位供给布线和错位检测布线的布线宽度是非常细的。此外,在上述膜状基板上密集地配置有上述第2布线。为此,难以在上述膜状基板上设置供导通检查用探针接触的焊盘。另一方面,上述印刷电路板也是密集地形成有布线的区域,但与上述膜状基板相比,容易设置供导通检查用探针接触的焊盘。
此外,由于上述显示装置通常具有多个上述膜状基板,因此在如上述方案(5)那样时,优选如上述方案(6)那样使与上述各膜状基板的上述判断电位供给布线或上述错位检测布线电连接的布线为共用布线。在如上述方案(6)那样时,例如将与上述各膜状基板的错位检测布线电相连接的布线取为共用布线,对与上述各膜状基板的判断电位供给布线相连接的布线依次供给判断电位,从而能够对每一上述膜状基板进行错位判断。此外,如上述方案(6)那样使某一布线为共用布线时,能够减少设于上述印刷电路板的上述检查焊盘的数量,并容易牵绕(引き回し、draw around)布线。
此外,在上述显示装置中,上述膜状基板是驱动设于上述显示板的显示控制元件的驱动IC的一个部件,通常,如上述方案(7)那样在上述膜状基板安装有具有驱动控制电路的半导体芯片。
另外,在组装上述显示装置时,不仅有电连接上述显示板的第1布线与上述膜状基板的第2布线的工序,还有连接上述膜状基板的第2布线与上述印刷电路板的第3布线的工序.为此,优选在电连接了上述膜状基板的第2布线与上述印刷电路板的第3布线时,也与电连接上述第1布线与上述第2布线时同样能进行错位的检查(判断).此时,上述显示装置,例如上述方案(8)那样,优选在上述膜状基板设有判断端子,在上述印刷电路板设有判断电位供给布线和错位检测布线,电连接上述判断端子与上述判断电位供给布线.若是这样的结构,则在组装上述显示装置的工序中,在电连接上述印刷电路板的第3布线和上述膜状基板的第2布线后,检查上述印刷电路板的判断电位供给布线和错位检测布线之间是否导通,从而能够容易判断上述第3布线和上述第2布线的错位.为此,能够在电连接了上述第3布线和第2布线后,立即检查上述第3布线和第2布线的连接不良或短路不良,能够在发生了上述各不良时,作为不良品除去以进行校正.
并且,此时,如上述方案(9)那样,优选上述膜状基板的判断端子的上述判断部为在平面上包围上述错位检测端子的环形。上述印刷电路板通常在绝缘基板的表面和内部具有至少2层的布线层。为此,只要使上述错位检测端子通过设于上述绝缘基板内部的布线层,与设于上述判断部的外部区域的布线电连接,即可使上述膜状基板的判断端子做成为封闭的环状。如此即可检测所有方向的错位,提高了上述第3布线和上述第2布线的连接不良或短路不良的检查精度。其结果,在进行上述显示板的动作检查时,能够仅检查没有产生上述各不良的显示板,能够提高上述显示板的动作检查的作业效率。
并且,此时,上述印刷电路板的判断电位供给布线可以如上述方案(10)那样为与上述各第3布线电独立的端子,也可以如上述方案(11)那样设于上述各第3布线的任一条。
此外,如上所述,上述显示装置通常具有多个上述膜状基板。为此,例如在如上述方案(8)那样时,优选如上述方案(12)那样使与上述印刷电路板的上述判断电位供给布线或上述错位检测端子电连接的布线为共用布线。在如上述方案(12)那样时,例如使上述错位检测端子为共用布线,对与上述各膜状基板的判断端子连接的判断电位供给布线依次供给判断电位,从而可对每一上述膜状基板进行错位判断。此外,如上述方案(12)那样使一条布线为共用布线,能够减少设于上述印刷电路板的上述检查盘的数量,并容易牵绕布线。
此外,例如上述方案(13)和方案(14)那样,可以在上述膜状基板的第2布线或判断端子设置台阶状的切口。如此,例如通过用上述台阶状切口看到的上述第3布线的端部位置,能够简易地检查上述第3布线和第2布线有无错位、所偏移的方向等。为此,例如在上述印刷电路板不设置上述错位检测端子时,也能简易地检查并判断是否产生了由上述错位导致的连接不良或短路不良。
此外,在组装上述显示装置时,例如通常是电连接上述印刷电路板的第3布线与上述膜状基板的第2布线后,再电连接上述膜状基板的第2布线与上述显示板的第1布线。为此,在如上述方案(8)那样结构的显示装置中,例如方案(15)那样,优选的是能够检查并判断是否有由电连接上述第1布线和上述第2布线时的错位导致的上述第1布线和第2布线的连接不良或短路不良的结构。由于上述方案(15)与上述方案(1)是相同的结构,因此,立即检查并判断是否产生了由错位导致的上述第1布线和上述第2布线的连接不良或短路不良。此外,由于上述方案(15)是以方案(8)为前提的结构,所以在进行上述显示板的动作检查时,可仅检查上述第3布线与第2布线、及上述第1布线与第2布线之间正常连接的显示板,使上述动作检查的作业效率提高。
此外,上述方案(16)与上述方案(2)是相同的结构。为此,通过以上述方案(15)为前提应用上述方案(16)的结构,可得到与以上述方案(1)为前提应用了上述方案(2)时相同的效果。并且,此时,上述显示板的判断端子可以如上述方案(17)那样为与上述各第1布线电独立的端子,也可以如上述方案(18)那样设于上述各第1布线的任一端部。
此外,例如,如上述方案(15)那样,除了检查上述印刷电路板的第3布线与上述膜状基板的第2布线的错位之外、也可检查上述膜状基板的第2布线与上述显示板的第1布线的错位,在做成这种结构的情况下,优选的是如上述方案(19)那样,上述膜状基板的判断端子设于上述膜状基板的判断电位供给布线的端部.如此,则可在上述膜状基板的第2布线与上述显示板的第1布线的错位检查中,也利用上述印刷电路板的第3布线与上述膜状基板的第2布线的错位检查中所使用的上述印刷电路板的判断电位供给布线.
并且,此时更优选的是如上述方案(20)那样,在与上述印刷电路板的错位检测端子电连接的导体端子连接上述膜状基板的错位检测布线。如此,则可在上述膜状基板的第2布线与上述显示板的第1布线的错位检查中,也利用上述印刷电路板的第3布线与上述膜状基板的第2布线的错位检查中所使用的上述印刷电路板的错位检测布线。
此外,在上述显示装置中,上述膜状基板是驱动设于上述显示板的显示控制元件的驱动IC的一个部件,通常,如上述方案(21)那样在上述膜状基板安装有具有驱动控制电路的半导体芯片。
此外,上述显示装置的显示板,例如,如上述方案(22)那样是液晶显示板。另外,上述显示板并不限于上述液晶显示板,只要是在电连接上述第1布线和上述膜状基板的第2布线的各种显示装置中使用的显示板,则可以是任何显示板。
此外,组装如上述方案(1)至(7)、上述方案(15)至(22)那样结构的显示装置时的、上述显示板的第1布线与上述膜状基板的第2布线的错位,例如用上述方案(23)那样的检查方法检查即可。
此外,组装如上述方案(8)至(22)那样结构的显示装置时的、上述印刷电路板的第3布线与上述膜状基板的第2布线的错位,例如用上述方案(24)那样的检查方法检查即可。
上述方案(1)至(24)是本发明的具体构成例,在这些构成例中,提取出本发明的最重要的结构,简洁地总结,则可表述为上述方案(25)至(28)。另外,在上述方案(25)至(28)中,上述第3布线和上述第4布线分别相当于上述方案(1)至(24)中的上述膜状基板的判断电位供给布线和错位检测布线。
以下,对于本发明,参照附图并详细说明实施方式(实施例)。
另外,在用于说明实施例的附图中,对具有相同功能的部件标以相同的附图标记,省略对其反复的说明。
附图说明
图1是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,是表示液晶显示板、膜状基板及印刷电路板被连接的状态的俯视图。
图2是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,是图1的A-A’剖视图。
图3是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,是说明液晶显示板、膜状基板及印刷电路板的连接方法的分解图。
图4是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,是液晶显示板和膜状基板的连接部的放大俯视图。
图5是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,是图4的B-B’剖视图.
图6是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,是图4的C-C’剖视图。
图7是用于说明本实施例1的显示装置的错位的检查方法的示意图,是表示产生了布线的沿布线宽度方向错位时的俯视图。
图8是用于说明本实施例1的显示装置的错位的检查方法的示意图,是图7的D-D’剖视图。
图9是用于说明本实施例1的显示装置的错位的检查方法的示意图,是表示产生了布线的沿延伸方向错位时的俯视图。
图10是用于说明本实施例1的显示装置的错位的检查方法的示意图,是图9的E-E’剖视图。
图11是用于说明本实施例1的显示装置中的显示板判断端子与膜状基板错位检测布线的关系的示意图,是定义上述判断端子和上述错位检测布线的平面上位置关系的俯视图。
图12是用于说明本实施例1的显示装置中的显示板判断端子与膜状基板错位检测布线的关系的示意图,是表示用于布线连接的ACF的连接特性曲线的一例的图。
图13是用于说明本实施例1的显示装置的变型例的示意图,是表示显示板的判断端子和膜状基板的错位检测布线的形状的变型例的图。
图14是表示本发明的实施例2的显示装置的概略结构的示意图,是表示膜状基板和印刷电路板的连接部的结构例的放大俯视图。
图15是表示本发明的实施例2的显示装置的概略结构的示意图,是图14的F-F’剖视图。
图16是表示本发明的实施例3的显示装置的概略结构的示意图,是表示设于膜状基板的判断电位供给布线的、与上述印刷电路板布线的连接部的结构例的示意图。
图17是用于说明本实施例3的显示装置的错位检查、判断方法的示意图,是表示正确连接的第2布线和第3布线的平面上位置关系的俯视图。
图18是用于说明本实施例3的显示装置的错位检查、判断方法的示意图,是表示产生错位的第2布线和第3布线的平面上位置关系的俯视图。
具体实施方式
在本发明的显示装置中,在显示板上,至少设置判断端子,该判断端子用于判断设置于上述显示板的第1布线的配置方向和与上述配置方向正交的方向这2个方向上的错位。通过这样设置,容易检查、判断由电连接上述显示板的第1布线和设于驱动用驱动IC等膜状基板上的第2布线时的错位导致的连接不良或短路不良,并提高检查精度。
此外,用与检查、判断上述第1布线和上述第2布线的连接不良或短路不良的方法同样的方法,容易检查、判断由连接上述膜状基板的第2布线和设于印刷电路板的第3布线时的错位导致的连接不良或短路不良,并提高检查精度。
此外,在连接了上述第1布线和第2布线后,立即进行上述第1布线和第2布线的连接不良或短路不良的检查、判断;在连接了上述第2布线和第3布线后,立即进行上述第2布线和第3布线的连接不良或短路不良的检查、判断,从而提高上述显示板的动作检查的作业效率.
【实施例1】
图1至图6是表示本发明的实施例1的显示装置的概略结构的示意图,图1是表示液晶显示板、膜状基板及印刷电路板被连接的状态的俯视图。图2是图1的A-A’剖视图。图3是说明液晶显示板、膜状基板及印刷电路板的连接方法的分解图。图4是液晶显示板和膜状基板的连接部的放大俯视图。图5是图4的B-B’剖视图。图6是图4的C-C’剖视图。
在图1至图6中,1为液晶显示板,101为第1基板,101A为第1布线,101B为判断端子,102为第2基板,103为密封材料,104为液晶材料,2为膜状基板,201为绝缘基板,202A为第2布线,202B为判断电位供给布线,202C为错位检测布线,3为印刷电路板,301为绝缘基板,302A为第3布线,302B为判断电位供给布线,302C为错位检测布线,4为半导体芯片,5为连接导体,6为ACF,P1为判断电位输入焊盘,P2为判断焊盘。
本实施例1的显示装置,例如图1所示,具有显示板1和膜状基板2、印刷电路板3。
上述显示板1例如是液晶显示板。如图2所示,在作为由玻璃基板等透明基板的第1基板101及第2基板102、以及密封材料所包围出的空间封入液晶材料104。此外,上述显示板1,例如图2及图3所示,在上述第1基板101的表面设有第1布线101A及判断端子101B。上述第1布线101A例如是形成对上述液晶材料104施加电压的TFT等元件的布线等、用上述显示板1显示图像时所需要的布线,上述判断端子101B是用于检查错位而设置的端子(布线)。
另外,使用上述液晶显示板作为上述显示板1时,上述显示板1的结构中,除上述判断端子101B以外的结构,可以与以往的通常的液晶显示板的结构相同。为此,关于可以是与上述以往的通常的液晶显示板同样结构的部分,省略其详细说明。此外,关于上述判断端子101B的结构等,在后面叙述。
上述膜状基板2,例如图2及图3所示,在膜状的绝缘基板201的表面设有第2布线202A、判断电位供给布线202B、错位检测布线202C。上述膜状基板2是在安装了液晶驱动用的驱动IC等的、称为TCP(薄膜封装Tape Carrier Package)或COF(薄膜上芯片Chip OnFilm)的半导体装置(封装)中所使用的布线基板(中间层interposer)。此时,如图2所示,上述第2布线202A,通过连接导体5与半导体芯片4的外部电极(未图示)电连接。此外,如图2至图5所示,上述第2布线202A,与上述显示板1的第1布线101A电连接。上述第2布线202A和上述第1布线101A,例如图2及图5所示,通过使用ACF(Anisotropic conductive Film;各向异性导电性膜)6的非接触导通而电连接。此外,上述第2布线202A和上述第1布线101A,也可以取代使用上述ACF6,而采用金或焊锡等接合材料接合而电连接。
此外,设于上述膜状基板2的上述判断电位供给布线202B及上述错位检测布线202C,是用于利用设于上述显示板1的上述判断端子101B,检查电连接上述第1布线101A和上述第2布线202A时错位的布线.另外,在本实施例1中,如图3所示,上述判断电位供给布线202B及上述错位检测布线202C,是不与上述半导体芯片4的外部电极电连接的布线,是为上述错位检查而设置的布线.此外,上述判断电位供给布线202B,被预先用与上述第2布线202A和上述第1布线101A同样的方法电连接,例如图4和图5所示,通过使用了上述ACF6的非接触导通被电连接.
另外,如图4至图6所示,上述错位检测布线202C,不与上述显示板1的第1布线101A和判断端子101B电连接。此时,例如图4所示,上述判断端子101B,具有通过上述错位检测布线202C的延长方向(+y方向)、在平面上包围上述错位检测布线202C的端部的形状的判断部。
此外,例如图2和图3所示,上述印刷电路板3在绝缘基板301的表面设有第3布线302A、与判断电位输入焊盘P 1电连接的布线302B、与判断焊盘P2电连接的错位检测布线302C。上述第3布线302A是与上述膜状基板2的第2布线202A电连接的布线,是使上述显示板1显示图像时所需要的布线。此外,与上述判断电位输入焊盘P1电连接的判断电位供给布线302B,是与上述膜状基板2的判断电位供给布线202B电连接的布线。此外,与上述判断焊盘P2电连接的错位检测布线302C,是与膜状基板2的错位检测布线202C电连接的布线。例如图2所示,设于上述印刷电路板3的各布线302A、302B、302C分别与设于上述膜状基板2的各布线202A、202B、202C,通过使用了上述ACF6的非接触导通被电连接。此外,上述印刷电路板3的各布线302A、302B、302C与上述膜状基板2的各布线202A、202B、202C,也可以取代使用上述ACF6,使用金或焊锡等接合材料接合而电连接。
此外,上述印刷电路板3,在上述绝缘基板301的表面及内部有至少2层的布线层,上述第3布线302A、与判断电位输入焊盘P 1电连接的判断电位供给布线302B、与判断焊盘P2电连接的错位检测布线302C,根据需要经由上述绝缘基板301的内部布线层,引出到上述绝缘基板301表面的预定位置。
图7至图10是用于说明本实施例1的显示装置的错位的检查方法的示意图,图7是表示产生了布线沿布线宽度方向错位时的俯视图,图8是图7的D-D’剖视图,图9是表示产生了沿布线延伸方向错位时的俯视图,图10是图9的E-E’剖视图。
在本实施例1的显示装置中,上述显示板1的第1布线101A和上述膜状基板2的第2布线202A的连接部,例如图4所示那样,上述第1布线101A和上述第2布线202A正确连接着。此时,上述显示板1的判断端子101B与上述膜状基板2的判断电位供给布线202B电连接,但与上述错位检测布线202C电绝缘。为此,例如图4所示,检查上述判断电位供给布线202B与上述错位检测布线202C之间是否导通时为不导通。结果,判断为未产生错位或在允许范围内。
另外,在本实施例1的显示装置中,检查上述判断电位供给布线202B与上述错位检测布线202C之间是否导通时,例如图3所示那样,使检查用的探针接触设于上述印刷电路板3的判断电位输入焊盘P1和上述判断焊盘P2,并输入判断电位。此时,在多个膜状基板2的每一个上设置上述判断电位输入焊盘P1,对其按顺序输入判断电位,从而可以对每一个上述膜状基板2检查是否导通。
连接上述第1布线101A和上述第2布线202A时,例如通过光学观察等进行对位,使得上述第1布线101A和上述第2布线202A成为如图4那样正确的位置关系.然而,通过连接时的热压接等施加压力时,在上述第1布线101A和上述第2布线202A的连接部中的布线宽度方向(以下简称为“布线宽度方向”)、即图4所示的x方向,有时产生错位.此时,在上述布线宽度方向(x方向)的错位大时,例如图7和图8所示,上述膜状基板2的错位检测布线202C与上述显示板1的判断端子101B的判断部重叠.在该状态下检查上述判断电位供给布线202B与上述错位检测布线202C之间是否导通时,在上述错位检测布线202C和上述判断端子101B之间导通.结果,判断为产生了超出允许范围的错位.
此外,连接上述第1布线101A和上述第2布线202A时,不仅产生如图7和图8所示的布线的布线宽度方向(x方向)错位,例如图9和图10所示,有时也产生与上述布线宽度方向正交的y方向(以下称为“延伸方向”)的错位。此时,上述布线的延伸方向(y方向)错位大时,例如图9和图10所示,上述膜状基板2的错位检测布线202C与上述显示板1的判断端子101B的判断部重叠。在该状态下检查上述判断电位供给布线202B和上述错位检测布线202C之间是否导通时,在上述错位检测布线202C和上述判断端子101B之间导通。结果,判断为产生了超出允许范围的错位。
此外,在本实施例1的显示装置中,要检查上述判断电位供给布线202B与上述错位检测布线202C是否导通时,例如图3所示那样,使检查用的探针接触设于上述印刷电路板3的判断电位输入焊盘P1和上述判断焊盘P2,并输入判断电位。此时,在多个膜状基板2的每一个上设置上述判断电位输入焊盘P1,对其按顺序输入判断电位,从而可以对每一个上述膜状基板2检查是否导通。
这样,在本实施例1的显示装置中,连接上述显示板1的第1布线101A与上述膜状基板2的第2布线202A后,可容易马上检查、判断是否产生由错位导致的连接不良或短路不良。为此,在产生了上述连接不良或短路不良时,可当场除去、校正。结果,要检查上述显示板1的显示动作时,可以仅检查上述第1布线101A与上述第2布线202A正确连接的显示板1,提高显示动作检查的作业效率。
图11和图12是用于说明本实施例1的显示装置中的显示板判断端子与膜状基板错位检测布线的关系的示意图,图11是定义上述判断端子和上述错位检测布线的平面上位置关系的俯视图,图12是表示用于布线连接的ACF6的连接特性曲线的一例的图。
在本实施例1的显示装置中,根据上述判断电位供给布线202B与上述错位检测布线202C之间是否导通,判断在上述显示板1的第1布线101A和上述膜状基板2的第2布线202A间,是否产生由错位导致的连接不良或短路不良。为此,例如图11所示,在以正确位置关系连接着的状态下的上述错位检测布线202C和上述判断端子101B的判断部在平面上的距离为Δx、Δy设定如何,将改变判断结果的精度。因此,简单说明上述错位检测布线202C和上述判断端子101B的判断部在平面上的距离为Δx、Δy的设定方法的一例。
首先,例如关于连接上述第1布线101A和上述第2布线202A后的连接电阻,如图12所示,根据在各第1布线101A和上述第2布线202A的连接部所要求的连接电阻值中的最小值RL、和用于连接上述第1布线101A和上述第2布线202A的上述ACF6的连接特性,确定最小连接面积Smin。并且,求出上述各布线101A、201A的尺寸和上述最小连接面积Smin、x方向及y方向的最小连接长度Mx、My。
然后,根据例如图12所示的上述ACF6的连接特性,求出上述第1布线101A和第2布线201A的最小导体间隙G。
并且,使上述错位检测布线202C与上述判断端子101B在x方向的距离Δx为上述x方向的最小连接长度Mx和最小导体间隙G中较小一方的值.此外,使上述错位检测布线202C与上述判断端子101B在y方向的距离Δy为上述y方向的最小连接长度My.除上述最小连接长度Mx、My及最小导体间隙G之外,在上述布线的设计上还有约束时,也考虑该约束,使上述最小连接长度Mx、My及最小导体间隙G中的最小值(尺寸)为上述错位检测布线202C与上述判断端子101B的判断部在平面上的距离Δx、Δy.通过这样设定,可以使在上述第1布线101A和上述第2布线201A之间产生连接不良或短路不良的条件,反映为上述判断电位供给布线202B和上述错位检测布线202C之间是否导通,可进行高精度的检查、判断.
图13是用于说明本实施例1的显示装置的变型例的示意图,是表示显示板的判断端子和膜状基板的错位检测布线的形状的变型例的图。
在本实施例1的显示装置中,例如图4所示,通过使设于上述显示板1的判断端子101B的判断部为平面上包围设于上述膜状基板2的错位检测布线202C的前端部分的形状,从而不仅能容易检测上述第1布线101A及上述第2布线202A的连接部的布线宽度方向(x方向)的错位,也能容易检测与上述布线宽度方向正交的布线延伸方向(y方向)的错位。
然而,上述判断端子101B的判断部为图4所示的形状时,上述布线的延伸方向的错位,仅能检测其从预定位置向+y方向的错位。
因此,优选的是,例如图13所示,扩大上述错位检测布线202C前端部的布线宽度,并使上述判断端子101B的判断部为包围上述错位检测布线202C布线宽度扩大后的区域的不连续环形。并且此时,设置成上述环形的开口部分的距离小于上述错位检测布线202C扩大了布线宽度后的区域的布线宽度。这样,也可检测从预定位置向-y方向的错位,提高检查由错位导致的连接不良的检查精度。此外,在图13所示的例子中,上述错位检测布线202C的扩大了布线宽度后的区域为矩形,上述判断端子101B的判断部也是具有角部的环形,但不限于此,例如也可以使上述错位检测布线202C的扩大了布线宽度后的区域为圆形,并将上述判断端子101B的判断部做成与上述错位检测布线202C的圆形区域同心的环形。
如上所述,根据本实施例1的显示装置,连接上述显示板1的第1布线101A和上述膜状基板2的第2布线202A后,可马上检查上述第1布线101A和上述第2布线202A是否有错位、容易判断是否产生连接不良或短路不良。
此外,通过使上述显示板1的判断端子101B的判断部为包围上述膜状基板2的错位检测端子202C前端的形状,从而可检查是否有所有方向的错位,而不仅是上述第1布线101A和上述第2布线202A的连接部的布线宽度方向。
此外,在本实施例1的显示装置中,可在连接上述显示板1的第1布线101A和上述膜状基板2的第2布线202A后,马上进行上述检查和判断。为此,在判断为产生了连接不良或短路不良时,可当场进行校正。结果,要检查上述显示板1的显示动作时,可以仅检查没有发生上述连接不良或短路不良的显示板,可提高上述显示动作的检查作业效率。
此外,使上述膜状基板2的判断电位供给布线202B及错位检测布线202C与上述印刷电路板3的布线连接,从而可提高检查上述第1布线101A和上述第2布线201A是否错位的作业效率.并且此时,由于有多个上述膜状基板2,所以使上述印刷电路板3的与判断电位供给布线202B连接的布线、或与上述错位检测布线202C连接的布线为共用布线,从而可容易进行上述印刷电路板3的布线的牵绕(drawaround),并且可对每一上述膜状基板2检查、判断其有无错位.
此外,在本实施例1中,使上述显示板1的判断端子101B成为与上述第1布线101A电独立的、用于检查错位的端子,但并不限于此,也可在上述第1布线101A的端部设置与上述判断端子101B的判断部同样形状的判断部。这时,上述膜状基板2的判断电位供给布线202B,将成为与具有上述判断部的第1布线101A电连接的第2布线202A。
【实施例2】
图14和图15是表示本发明的实施例2的显示装置的概略结构的示意图,图14是表示膜状基板和印刷电路板的连接部的结构例的放大俯视图,图15是图14的F-F’剖视图。
实施例1的显示装置,可容易进行电连接上述显示板1的第1布线101A和上述膜状基板2的第2布线202A时有无错位的检查、判断,结果,可提高检查上述显示板1的显示动作时的作业效率。然而,上述膜状基板2的第2布线202A,如在上述实施例1中说明的那样,也与上述印刷电路板3的第3布线302A电连接。为此,在连接上述第2布线202A与上述第3布线302A时也可能产生由错位导致的连接不良或短路不良。因此,在本实施例2中,以在上述实施例1中说明的结构为前提,说明可容易检查连接上述第2布线202A与上述第3布线302A时的有无错位的显示装置的结构例。
另外,由于在本实施例2的显示装置中的、上述显示板1及上述膜状基板2、及上述印刷电路板3的基本结构与上述实施例1的显示装置相同,因此省略其详细说明。
在本实施例2的显示装置中,如图14及图15所示,设于上述膜状基板2的上述判断电位供给布线202B,与设于上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B电连接。此时,上述膜状基板2的判断电位供给布线202B,在与上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B的连接部具有环状的判断部。并且此时,在上述印刷电路板3的表面、且在上述环状的判断部内部区域,设有与上述膜状基板2的判断电位供给布线202B电绝缘的错位检测端子P3。例如图15所示,上述错位检测端子P3经由内部布线302D,与设于上述印刷电路板3的上述判断焊盘P2电连接。
此外,上述膜状基板2的各布线202A、202B、202C分别与上述印刷电路板3的各布线302A、302B、302C通过例如使用ACF6的非接触导通而电连接。上述膜状基板2的各布线202A、202B、202C与上述印刷电路板3的各布线302A、302B、302C,也可不限于上述使用ACF6的连接,也可利用例如金或焊锡等接合材料而被接合。
这样,在上述膜状基板2的判断电位供给布线202B设置环状的判断部,在上述印刷电路板3设置错位检测端子P3,在例如电连接上述膜状基板2的各布线202A、202B、202C与上述印刷电路板3的各布线302A、302B、302C后,检查上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B与上述错位检测布线302C(错位检测端子P3)之间是否导通,从而可以检查、判断上述第2布线202A和上述第3布线302A之间是否错位。
并且此时,若用上述实施例1中说明的方法设定上述印刷电路板3的错位检测端子P3与上述膜状基板2的判断电位供给布线202B的判断部在平面上的距离,则可使在上述第2布线202A与上述第3布线302A间产生连接不良或短路不良的条件,反映为上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B与上述错位检测布线302C(错位检测端子P3)之间有无导通,可进行高精度的检查、判断。
此外,如在上述实施例1中说明的那样,通常,上述膜状基板2有多个.为此,例如图3所示,若使上述印刷电路板3的错位检测布线302C为共用布线,则可容易牵绕上述印刷电路板3的布线,可容易进行对每一上述膜状基板2的错位的检查、判断.
此外,在组装上述显示装置时,在连接上述膜状基板2的第2布线202A与上述印刷电路板3的第3布线302A后,电连接上述膜状基板2的第2布线202A与上述显示板1的第1布线101A。为此,如本实施例2那样,在上述膜状基板2的判断电位供给布线202B预先设置环状的判断部,如果电连接上述膜状基板2的判断电位供给布线202B与上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B,并电连接上述膜状基板2的错位检测布线202C与上述印刷电路板3的错位检测布线302C,则可用设于上述印刷电路板3的1组判断电位供给布线302B及错位检测布线302C,检查、判断上述第2布线202A与上述第3布线302A的错位、并检查、判断第2布线202A与上述第1布线101A的错位。
如上所说明那样,根据本实施例2的显示装置,在连接上述印刷电路板3的第3布线302A与上述膜状基板2的第2布线202A后,可马上检查上述第3布线302A与上述第2布线202A有无错位,并容易判断是否产生了连接不良或短路不良。
此外,通过在上述膜状基板2的判断电位供给布线202B设置包围上述印刷电路板3的错位检测端子P3的环状的判断部,可检查所有方向有无错位,而不仅是上述第3布线302A与上述第2布线202A的连接部的布线宽度方向。
此外,在本实施例2的显示装置中,在连接上述印刷电路板3的第3布线302A与上述膜状基板2的第2布线202A后,可马上进行上述检查、判断,并在连接上述显示板1的第1布线101A与上述膜状基板2的第2布线202A后,可马上进行上述检查、判断。为此,当在各自的连接工序中判断为产生了连接不良或短路不良时,可当场进行校正。结果,在检查上述显示板1的显示动作时,可仅检查没有产生上述连接不良或短路不良的显示板,可提高上述显示动作的检查的作业效率。
此外,通过使上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B或错位检测布线302C为共用布线,可容易牵绕上述印刷电路板3的布线,并可检查、判断每一上述膜状基板2有无错位。
此外,在本实施例2中,虽然在上述膜状基板2的判断电位供给布线202B上设置了环状的判断部,但并不限于此,也可在上述膜状基板2设置与上述判断电位供给布线202B电独立、且与上述印刷电路板3电连接的环状的判断端子。
此外,在本实施例2中,说明了通过设于上述印刷电路板3的1组判断电位供给布线302B及错位检测布线302C,来进行上述第3布线302A和第2布线202A的错位检查、及上述第1布线101A和上述第2布线202A的错位检查的结构例,但不限于此,也可在上述印刷电路板3,分别单独设置用于检查上述第3布线302A与第2布线202A的错位的判断电位供给布线及错位检测端子、和用于检查上述第2布线202A与第1布线101A的错位的判断电位供给布线及错位检测布线。
此外,在本实施例2中,例举的是以在上述实施例1中说明的结构为前提的显示装置,但不限于此,例如也可是如在实施例2中说明的那样、可仅检查、判断上述第2布线202A和上述第3布线302A的错位的结构的显示装置。
【实施例3】
图16是表示本发明的实施例3的显示装置的概略结构的示意图,是表示设于膜状基板的判断电位供给布线的、与上述印刷电路板布线的连接部的结构例的示意图.
在上述实施例2中,说明了容易检查、判断将设于上述膜状基板2的第2布线202A与上述印刷电路板3的第3布线302A电连接时的、上述第2布线202A和上述第3布线302A有无错位的显示装置的结构例。然而,用上述实施例2中说明的方法检查、判断有无错位时,需要在上述印刷电路板3设置上述错位检测端子P3。此外,上述第2布线202A与上述第3布线302A的连接部,通常比在上述实施例1中说明的上述第1布线101A与上述第2布线202A的连接部的布线宽度宽,对错位的允许范围大。为此,比较难以引起由错位导致的连接不良或短路不良。
因此,在本实施例3中,说明通过光学观察上述第2布线202A与上述第3布线302A的位置关系,来取代上述实施例2那样的导通检查,从而简易地检查、判断有无错位的方法。
在本实施例3中,说明的是以上述实施例1及实施例2中说明的结构为前提,可简易地检查、判断连接上述第2布线202A和上述第3布线302A时有无错位的显示装置的结构例。
另外,本实施例3的显示装置中,上述显示板1、上述膜状基板2、以及上述印刷电路板3的基本结构与上述实施例1及实施例2的显示装置相同,因此省略其详细说明。在本实施例3中,由于通过观察布线的连接部来检查、判断错位,所以优选的是,上述印刷电路板3的第3布线302A和上述膜状基板2的第2布线202A,使用例如金或焊锡等接合材料电连接。
如图16所示,在本实施例3的显示装置中,设于上述膜状基板2的判断电位供给布线202B中设置台阶状的切口SL。此时,如图16所示,上述切口SL在沿上述判断电位供给布线202B的延伸方向(y方向)相对的两边各设置1个。并且此时,上述切口SL的x方向及y方向的阶长(阶差)是预定的值即可。此外,将上述台阶状的切口SL的阶数,基于上述阶级的值,做成不能到达相对的端部的阶数。此外,上述2个切口SL在基板平面内成点对称地设置。
此外,在上述膜状基板2的判断电位供给布线202B中,也可以设有例如图16所示的上述环状的判断部。
图17和图18是用于说明本实施例3的显示装置的错位检查、判断方法的示意图,图17是表示正确连接的第2布线和第3布线的平面上位置关系的俯视图,图18是表示产生了错位的第2布线和第3布线的平面上位置关系的俯视图。
组装本实施例3的显示装置时,与上述实施例1及实施例2的显示装置同样,例如,首先电连接上述印刷电路板3的第3布线302A与上述膜状基板2的第2布线202A。此时,若上述第3布线302A与上述第2布线202A正确连接,则例如图17所示,沿上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B的沿延伸方向(y方向)的端面,与沿上述膜状基板2的判断电位供给布线202B的沿延伸方向(y方向)的端面在平面上重叠。
然而,由于在电连接上述第2布线202A与上述第3布线302A时载荷,有时产生例如布线宽度方向(x方向)的错位.此时,上述膜状基板2的判断电位供给布线202B与上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B的连接部,成为例如图18所示那样.因此,通过光学观察等确定上述膜状基板2的判断电位供给布线202B与上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B的连接部产生了错位时,检查沿上述印刷电路板3的第3布线302A的沿延伸方向(y方向)的端面通过了设于上述膜状基板2的判断电位供给布线202B的上述台阶状的切口SL的哪个部分.此时,若上述台阶状的切口SL的阶级(阶差)已知,则可基于沿上述印刷电路板3的第3布线302A的沿延伸方向(y方向)的端面通过的位置,简易地检查在哪个方向偏移了多少.
此外,用这种方法简易地检查、判断错位时,如上述实施例2那样,由于可不进行输入判断电位的导通检查,所以提高错位检查的作业效率。
此外,在本实施例3的结构下,只要用接合材料电连接上述膜状基板2的第2布线202A与上述印刷电路板3的第3布线302A,即可进行如上述那样简易的检查、判断。然而,例如上述实施例1或实施例2所说明那样,用上述ACF6电连接时,不能进行上述那样的简易的检查、判断。为此,用上述ACF6电连接上述第2布线202A与上述第3布线302A时,优选进行上述实施例2中说明的那样的检查。
如上所述,根据本实施例3的显示装置,通过在上述膜状基板2的判断电位供给布线202B的与上述印刷电路板3的判断电位供给布线302B的连接部设置台阶状的切口SL,从而可简易地检查、判断连接了上述第2布线202A与上述第3布线302A时有无错位。
此外,在本实施例3中,例举的是以上述实施例1及实施例2中说明的结构为前提的显示装置,但不限于此,也可以是例如本实施例3中说明的那样、仅简易地检查、判断连接了上述第2布线202A与上述第3布线302A时有无错位的结构的显示装置。
以上,基于上述实施例具体说明了本发明,但本发明不限于上述实施例,在不脱离其主旨的范围内,当然可以进行各种变更。
例如,在上述实施例1至实施例3中,作为上述显示板1例举了液晶显示板,但不限于上述液晶显示板,只要是在基板上设有图像显示用的布线的显示板,都可通过做成上述实施例1至实施例3那样的结构而取得同样的效果。

Claims (5)

1.一种显示装置,包括在端子部设有多条布线作为第1布线的显示板、和设有多条布线作为第2布线的膜状基板,其特征在于:
上述显示板,具有与上述端子部相邻、宽度比上述第2布线宽且具有除去了一部分的除去部的判断端子;
在上述膜状基板,具有与上述第2布线相邻而形成的第3布线和第4布线;
上述第4布线的前端部的布线宽度被扩大;
上述判断端子形成为包围上述除去部的不连续环状形状;
上述第3布线与上述判断端子相对;
上述第4布线与上述判断端子的上述除去部分相对,
上述除去部分包围上述第4布线的前端部,上述环状形状的开口部分的距离比上述第4布线的前端部的布线宽度小。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于:
在上述第4布线超过上述判断端子的除去部分而偏移了的情况下,能够通过上述第3布线与上述第4布线变为相同的电位,来检测出错位。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的显示装置,其特征在于:
能够根据上述判断端子的除去形状,判断上述多条第1布线并排设置的方向的偏移、和与该方向正交的方向的偏移这两种偏移。
4.根据权利要求1或权利要求2所述的显示装置,其特征在于:
上述第3布线和上述第4布线与设置在印刷电路板上的布线电连接。
5.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于:
上述第3布线和上述第4布线与设置在印刷电路板上的布线电连接。
CN200610092264XA 2005-06-17 2006-06-15 显示装置和错位检查方法 Active CN1881010B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005177439A JP2006350064A (ja) 2005-06-17 2005-06-17 表示装置および位置ずれ検査方法
JP177439/2005 2005-06-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1881010A CN1881010A (zh) 2006-12-20
CN1881010B true CN1881010B (zh) 2010-05-12

Family

ID=37519265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200610092264XA Active CN1881010B (zh) 2005-06-17 2006-06-15 显示装置和错位检查方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7646464B2 (zh)
JP (1) JP2006350064A (zh)
CN (1) CN1881010B (zh)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008241748A (ja) * 2007-03-23 2008-10-09 Sharp Corp 表示パネル、液晶表示装置および駆動回路実装基板
JP5160865B2 (ja) 2007-11-19 2013-03-13 株式会社竹中工務店 磁気シールド体及び磁気シールドルーム
KR100973268B1 (ko) * 2008-03-07 2010-07-30 주식회사 하이닉스반도체 인쇄회로기판 및 그의 제조방법
JP2009282285A (ja) * 2008-05-22 2009-12-03 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置、およびその実装検査方法
CN102112914A (zh) * 2008-08-06 2011-06-29 夏普株式会社 液晶显示装置的试验方法和液晶显示装置
JP2011002502A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Hitachi Displays Ltd 表示装置
US8351009B2 (en) 2009-06-22 2013-01-08 Sharp Kabushiki Kaisha Display panel, liquid crystal display device and drive-circuit-mounted board
JP5500023B2 (ja) * 2009-12-03 2014-05-21 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学パネル、及び電子機器
JP2012226058A (ja) * 2011-04-18 2012-11-15 Japan Display East Co Ltd 表示装置
JP5203485B2 (ja) * 2011-05-02 2013-06-05 株式会社ジャパンディスプレイイースト 表示装置および位置ずれ検査方法
JP2013058428A (ja) * 2011-09-09 2013-03-28 Japan Display East Co Ltd コネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置の製造方法
KR101934439B1 (ko) * 2012-12-27 2019-03-25 엘지디스플레이 주식회사 본딩 불량 검출이 가능한 디스플레이 장치
JP6415854B2 (ja) * 2014-05-23 2018-10-31 株式会社ジャパンディスプレイ 基板ユニット及び電子機器
US10057978B2 (en) 2014-09-30 2018-08-21 Joled Inc. Display panel, method for producing display panel, and flexible printed circuit board
KR20170131802A (ko) * 2016-05-20 2017-11-30 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치, 이의 구동 방법 및 이의 제조 방법
KR102535209B1 (ko) * 2016-07-04 2023-05-22 삼성디스플레이 주식회사 인쇄회로기판 패키지 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20180093191A (ko) * 2017-02-10 2018-08-21 삼성디스플레이 주식회사 칩 온 필름 패키지, 표시 패널 및 표시 장치
CN109754732B (zh) * 2017-11-01 2021-01-22 京东方科技集团股份有限公司 基板、面板、检测装置以及对准检测方法
KR102489595B1 (ko) * 2017-12-15 2023-01-17 엘지디스플레이 주식회사 칩 온 필름 및 그를 포함하는 디스플레이 장치
KR102675031B1 (ko) * 2018-08-30 2024-06-17 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
CN111477641B (zh) * 2020-05-12 2022-09-09 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板及其制备方法、显示装置
KR20220034986A (ko) 2020-09-11 2022-03-21 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN113050317B (zh) * 2021-03-08 2022-08-05 Tcl华星光电技术有限公司 面板驱动电路和显示装置
US20230062202A1 (en) * 2021-09-02 2023-03-02 Apple Inc. Electronic Devices with Displays and Interposer Structures

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1245291A (zh) * 1998-08-12 2000-02-23 精工爱普生株式会社 液晶显示板检查用探头、液晶显示板检查装置及检查方法
US6310667B1 (en) * 1998-02-23 2001-10-30 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display device and fabrication method thereof

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05241178A (ja) * 1992-02-28 1993-09-21 Seiko Instr Inc 回路装置
JPH06250199A (ja) * 1993-02-23 1994-09-09 Sharp Corp 表示装置
TW293093B (zh) * 1994-09-08 1996-12-11 Hitachi Ltd
KR100299390B1 (ko) * 1995-06-16 2001-10-27 가나이 쓰도무 좁은액자에적합한액정표시장치
JPH095381A (ja) * 1995-06-22 1997-01-10 Sanyo Electric Co Ltd 液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法
US5982470A (en) * 1996-08-29 1999-11-09 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device having dummy electrodes with interleave ratio same on all sides
JP2001056477A (ja) * 1999-08-17 2001-02-27 Casio Comput Co Ltd 液晶表示装置及びその検査方法
JP2003195249A (ja) * 2001-12-28 2003-07-09 Optrex Corp 液晶表示素子およびその検査方法
JP3681692B2 (ja) * 2002-02-20 2005-08-10 東北パイオニア株式会社 電子機器

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6310667B1 (en) * 1998-02-23 2001-10-30 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display device and fabrication method thereof
CN1245291A (zh) * 1998-08-12 2000-02-23 精工爱普生株式会社 液晶显示板检查用探头、液晶显示板检查装置及检查方法

Also Published As

Publication number Publication date
US7646464B2 (en) 2010-01-12
US20060284821A1 (en) 2006-12-21
JP2006350064A (ja) 2006-12-28
CN1881010A (zh) 2006-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1881010B (zh) 显示装置和错位检查方法
KR101571768B1 (ko) 표시 기판, 이의 불량 리페어 방법 및 이 표시 기판을 갖는모기판
US6937004B2 (en) Test mark and electronic device incorporating the same
US7683496B2 (en) Misalignment detection devices
US8013334B2 (en) Bonding structure of circuit substrate for instant circuit inspecting
KR100324283B1 (ko) 테이프 캐리어 패키지 및 그 제조방법
CN100461984C (zh) 电路组装结构
KR20030051923A (ko) 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널
CN101414066B (zh) 液晶显示模组和液晶显示器
CN101059605B (zh) 检查显示板的装置和方法
US20070165176A1 (en) Display panel and testing method for the same
US9299280B2 (en) Substrate of electronic device, electronic device including the same, and measuring method of resistance at connection portion
US6628364B2 (en) Liquid crystal display device and fabricating method thereof
US20070235888A1 (en) Film type package and display apparatus having the same
KR101585253B1 (ko) 액정표시장치
US20040183985A1 (en) Liquid crystal display apparatus
CN102162961B (zh) 阵列基板
CN101271205B (zh) 液晶显示装置
CN113658974B (zh) 一种发光基板及其制备方法、测试方法、显示装置
KR100529563B1 (ko) 액정 표시 장치용 패널
KR20110109027A (ko) 평판 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20190012926A (ko) 구동 ic 및 이를 구비하는 표시 장치
KR19980015037A (ko) 검사용 공통 선과 공통 패드를 갖는 액정 표시(liquid crystal display;LCD) 패널과 액정 표시 패널의 검사 방법 및 액정 표시 모듈 제조 방법
CN101170096A (zh) 电子组件及其基板
CN112987358B (zh) 驱动芯片和具有该驱动芯片的显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: Chiba County, Japan

Co-patentee after: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

Patentee after: Hitachi Displays, Ltd.

Address before: Chiba County, Japan

Co-patentee before: IPS pioneer support society

Patentee before: Hitachi Displays, Ltd.

Address after: Chiba County, Japan

Co-patentee after: IPS Pioneer Support Society

Patentee after: Hitachi Displays, Ltd.

Address before: Chiba County, Japan

Patentee before: Hitachi Displays, Ltd.

C56 Change in the name or address of the patentee
CP03 Change of name, title or address

Address after: Chiba County, Japan

Co-patentee after: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

Patentee after: Hitachi Displays, Ltd.

Address before: Chiba County, Japan

Co-patentee before: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

Patentee before: Hitachi Displays, Ltd.

C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: APAN DISPLAY EAST, INC.

Free format text: FORMER NAME: HITACHI DISPLAY CO., LTD.

Owner name: JAPAN DISPLAY, INC.

Free format text: FORMER NAME: APAN DISPLAY EAST, INC.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: Chiba County, Japan

Patentee after: Japan Display East Inc.

Patentee after: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

Address before: Chiba County, Japan

Patentee before: Hitachi Displays, Ltd.

Patentee before: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

CP03 Change of name, title or address

Address after: Tokyo port xixinqiao Japan three chome 7 No. 1

Patentee after: JAPAN DISPLAY Inc.

Patentee after: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

Address before: Chiba County, Japan

Patentee before: Japan Display East Inc.

Patentee before: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Application publication date: 20061220

Assignee: BOE TECHNOLOGY GROUP Co.,Ltd.

Assignor: JAPAN DISPLAY Inc.|Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.

Contract record no.: 2013990000688

Denomination of invention: Display device and inspection method of position gap

Granted publication date: 20100512

License type: Common License

Record date: 20131016

LICC Enforcement, change and cancellation of record of contracts on the licence for exploitation of a patent or utility model
TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20231201

Address after: Tokyo, Japan

Patentee after: JAPAN DISPLAY Inc.

Patentee after: PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY CORPORATION OF AMERICA

Address before: Tokyo port xixinqiao Japan three chome 7 No. 1

Patentee before: JAPAN DISPLAY Inc.

Patentee before: Panasonic Liquid Crystal Display Co.,Ltd.