CN1808545B - 自发光装置、粘滞现象校正方法、装置 - Google Patents

自发光装置、粘滞现象校正方法、装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种自发光装置，其中可以在使用自发光装置的同时准确地校正不同像素之间的恶化量差以校正粘滞现象。在自发光装置中，首先利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差。然后，利用参考像素的恶化率导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的校正目标像素的校正用恶化率。其后，将所导出的校正用恶化率转换为对应的灰度值，然后以转换后的灰度值驱动校正目标像素发光。

Description

自发光装置、粘滞现象校正方法、装置
技术领域
本发明涉及在自发光装置中出现的粘滞现象的校正方法、粘滞现象校正装置、结合了粘滞现象校正装置的自发光装置和用于使得结合在自发光装置中的计算机执行粘滞校正处理的程序。
背景技术
平板显示单元已广泛用在各种产品中，如计算机显示单元、便携式终端单元、电视机等等。目前，尽管频繁使用液晶显示面板，但是有限视角和低响应速度的问题仍然存在。
另一方面，由自发光元件形成的有机EL显示单元可以克服上述视角和响应速度的问题，并且可以获得消除了背光、高亮度和高对比度的厚度减小形式。因此，有机EL显示单元被认为是替代液晶显示单元的下一代显示装置。
附带地，公知的一点是，包括有机EL元件在内的自发光元件具有随着其发光量和光发射时长而恶化的特性。
同时，要显示在显示单元上的影像本质上是不均匀的。因此，自发光元件的恶化可能在局部发生。例如，在时间显示区域(固定显示区域)中的自发光元件的恶化比其他显示区域(动态影像显示区域)中的自发光元件的恶化要出现得更快。
已经发生恶化的自发光元件的亮度比其他显示区域中的自发光元件的亮度相对较低。通常，上述现象被称为“粘滞(sticking)”。下文中，自发光元件的局部恶化被称为“粘滞”。
下面探讨作为应对粘滞现象的改进措施的各种方法。在下面的文献中公开了某些这样的方法。
1.日本专利早期公开No.2003-228329(下文中称为专利文献1)公开了一种方法，其中送往形成显示面板的多个像素的输入数据对于其中每个像素进行积分，并且从输入数据的最大值中减去像素的积分值以设定像素的校正量。另外，专利文献1公开了一种方法，其中当显示面板处于非使用状态时，驱动每个像素在一段时间内发射具有固定亮度的光，该时间段正比于校正量的大小而增加，从而使像素的显示特性均匀。
2.日本专利早期公开No.2003-295827(下文中称为专利文献2)公开了一种方法，其中只有在显示静态图像并且通过积分显示数据和最大亮度之间的差△Y和显示静态图像的时间段T而获得的积分量△Y×T被设为校正数据时，才存储显示数据和显示时间段。专利文献2还公开了一种方法，其中只有在盖子闭合的状态中或者在装置的非使用状态中才执行校正显示以校正粘滞现象。
3.日本专利早期公开No.2000-132139(下文中称为专利文献3)公开了一种方法，其中对于每个像素积分输入数据，并且利用校正表将所计算的积分值转换为校正值。另外，专利文献3公开了一种方法，其中以计算的校正值来校正到每个像素的输入数据，以减弱粘滞现象的视觉效果。
4.日本专利早期公开No.2001-175221(下文中称为专利文献4)公开了一种方法，其中从像素中检测亮度恶化最严重的像素，并且确定校正值使得其他像素的亮度数据相对于被检测像素减小。另外，专利文献4公开了一种方法，其中以计算的校正值来校正像素的亮度数据，以减弱粘滞现象的视觉效果。
5.日本专利早期公开No.2002-169509(下文中称为专利文献5)公开了一种方法，其中在显示静态图像时抑制整个面板的亮度，或者在面板处于待机模式时向光发射元件施加反向偏置，以抑制光发射元件的电极之间积累的不必要电荷，从而降低显示特性的恶化速度，以抑制粘滞现象的出现。
6.日本专利早期公开No.2000-356981(下文中称为专利文献6)公开了一种校正方法，其中积累面板发光的时间段，并且响应于所积累的时间段抑制整个面板的亮度。该校正方法通过抑制光发射特性的恶化速率，实现了粘滞现象的减弱。
7.日本专利早期公开No.2003-308041(下文中称为专利文献7)公开了一种校正方法，其中在屏幕上确定运动图像区域和静态图像区域，并且只抑制静态图像区域中的亮度以延迟静态图像区域中粘滞现象的出现。
8.日本专利早期公开No.2003-274315(下文中称为专利文献8)公开了一种校正方法，其中整个屏幕以某一周期以像素为单位进行移位，以便在粘滞部分的轮廓处发生遮蔽效应，从而使粘滞现象更加不显著。
发明内容
包括上述校正技术在内的现有校正技术通常可归类为以下四类：
1.使粘滞现象本身变得不那么显著的方法；
2.整体抑制亮度以降低粘滞现象的发生速度的方法；
3.提升恶化像素的灰度数据或者降低未恶化像素的灰度数据，以使像素的亮度特性均匀从而使粘滞现象不可见的方法；以及
4.在不使用显示面板时执行校正显示的方法，在校正显示中，分散的累积发光量之间的差由输入数据来补正。
附带地，上述方法1和2没有从根本上解决粘滞现象的发生起因，并且存在着粘滞现象很快被察觉的问题。
同时，方法3还增大了自发光元件之间的恶化量差，并且有加速校正的极限时间和由于总亮度下降而导致寿命缩短的问题。
另外，方法4不保证在实际使用时，总是可以确保获得足够用于校正的未使用状态，导致出现可以执行校正但不能完全执行的可能性。另外，方法4有另一个问题：即使当显示面板不处于使用状态时，粘滞校正也消耗功率。
此外，根据方法4，根据这样的假设，即在光发射特性的恶化和显示灰度之间满足正比关系，来调整灰度值的积分量。然而，这一假设在实际中被证明是不完全正确的。例如，已经有报道称高灰度值(高亮度)一侧上的一个梯级有时比低恶化值(低亮度)一侧上的一个梯级加速恶化速率的量更多。因此，方法4有这样的问题，即灰度值的积分值的调整并不总是导致光发射特性的恶化的均匀化。
考虑到上述的技术问题，本发明的发明人提出了以下的技术措施。
具体而言，根据本发明，提供了一种用于在自发光装置处于使用状态时校正自发光装置的粘滞现象的粘滞现象校正方法，在所述自发光装置中多个自发光元件以矩阵形式排列，该方法包括以下步骤：利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差；利用参考像素的恶化率导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的校正目标像素的校正用恶化率；将所导出的校正用恶化率转换为对应的灰度值；以及以转换后的灰度值驱动校正目标像素发光。
恶化率是通过将发光量的下降转换为每单位时间段的值而获得的值。恶化率是从实际测得的光发射特性的值确定的。例如，恶化率被给定为这样一个值，该值是通过将在具有各个灰度值的光发射持续某一时间段时实际测得的亮度的下降量转换为每单位时间段的值而获得的。
同时，自发光装置可以是有机EL(电致荧光)面板、PDP(等离子体显示面板)、CRT(阴极射线管)、FED(场发射显示)面板、LED(发光二极管)面板和投影仪中的任何一种。
在粘滞现象校正方法中，校正目标像素和参考像素各自的灰度值被转换为恶化值以计算像素之间的恶化量差。换句话说，作为反映像素的实际光发射特性的参数的恶化率被用来计算恶化量差。因此，可以准确地确定在第二光发射时间段内为消除第一光发射时间段内出现的恶化量差所必需的恶化率(即灰度值)。
另外，利用该粘滞现象校正方法，可以在自发光装置处于使用状态的同时进行校正处理。因此，可以有效防止无用的功耗。
本发明的上述和其他的目的、特征和优点将从下面结合附图的详细描述和所附权利要求中变清楚，在附图中，相似的部分或元件以相似的标号指代。
附图说明
图1图示了粘滞现象的校正原理；
图2示出了保存灰度值和恶化率之间的配合关系的表的示例；
图3的流程图图示了粘滞现象的校正处理示例；
图4的框图示出了粘滞现象校正装置的示例；
图5的框图示出了粘滞现象校正装置的另一个示例；以及
图6示出了自发光装置的配置示例。
具体实施方式
下面描述了采用根据本发明的技术方法的粘滞校正技术的实施例。
应当注意，本技术领域中公知的技术适用于未在本说明书或附图中具体公开的任何项。
A.粘滞现象的研究
“粘滞现象”是这样一种现象，即具有这样一种初始特性(即如果以相同的驱动条件驱动则发射具有相等亮度的光)的两个像素即使在以相同的驱动条件驱动时，也发射具有不同亮度的光。
自发光器件具有其各自的寿命，并且具有这样一种光发射特性：随着恶化的进行，即使在施加相同的驱动条件时，也会逐渐失去初始的亮度。换句话说，自发光器件具有屏幕逐渐变暗的光发射特性。
这种光发射特性在目前状况下是无法避免的现象。具体而言，已经知道自发光器件的光发射特性沿恶化方向均匀前进，并且目前还没有证实光发射特性恢复的现象。
附带地，如果在任何条件下像素的恶化相对于时间都均匀前进，则在相同的驱动条件下不会出现光发射亮度的差异。换句话说，像素仅仅变暗相等的量，并且不会在视觉上观察到粘滞状况。
近来已经有报道称，像素的恶化速率不是均匀的，而是响应于光发射亮度和光发射时的环境因素(例如，发热温度)复杂地变化。另外，已经报道了这样一种现象，即在某一时间段内恶化以不同速率进行的像素即使在施加以相同的驱动条件时，也会发射具有不同亮度的光。换句话说，已经报道了视觉上观察到粘滞现象。
B.校正方法的研究
通常，光发射器件的寿命基于光发射亮度的下降来确定。因此，本发明的发明人提出了一种利用被称为恶化率的代表亮度下降率的参数来评估恶化量的方法。
具体而言，灰度值被转换为恶化率，恶化率给出了计算在某一时间段内出现的恶化量的恶化速率。然后，确定校正值以消除以这种方式计算出的像素恶化量之间的差异。
应当注意，恶化率是这样一个参数：其反映了光发射亮度的下降，并且准确反映了自发光器件实际发生的光发射特性的恶化。
粘滞现象的校正是通过在指定的时间段内消除两个像素之间在某一时间段内出现的恶化量差来实现的。下面的两种方法可用于校正。
(1)消除两个任意点之间的恶化量差的方法
这种情况下，两点中的一点被当作参考像素，而另一点被当作校正目标像素。在校正处理中，为参考像素设定的光发射条件和一个指定时间段被用来确定将恶化量差减小到0的光发射条件。以确定的光发射条件驱动校正目标像素来发射光。
(2)单独设定或假定参考像素，并且消除两点之间的恶化量差的方法
这种情况下，除了两个像素外，设定或假定一个参考像素，并且这两个像素被当作校正目标像素。在校正处理中，为参考像素设定的光发射条件和一个指定时间段被用来确定校正目标像素的光发射条件，利用该条件在参考像素和校正目标像素之间存在的恶化量差可以分别减小到0。以确定的光发射条件驱动校正目标像素来发射光。
应当注意，参考像素可以是组成自发光装置的实际存在的像素，也可以是虚拟的像素。例如，整个屏幕上的平均值可用作参考像素的灰度值。
另外，可以设定任何数目的参考像素。例如，可以为整个屏幕上的每种光发射颜色确定一个参考像素。这种情况下，恶化的进行速率可以在整个屏幕上更加均匀。
另外，还可以将屏幕的总面积划分为多个区域并进行管理，在每个区域中，为每种光发射颜色确定一个参考像素。例如，屏幕的总面积可以被划分并管理为静态图像区域和运动图像区域。这种情况下，恶化的进行速率可以在每个区域中更加均匀。
另外，还可以将任意选定的两个或更多像素中的一个确定为参考像素。这种情况下，恶化的进行速率可以在任意像素的范围内更加均匀。
C.校正条件的导出
在本实施例中，平板显示面板被用作自发光器件。
图1图示了粘滞现象的校正原理，即，在出现之后消除粘滞现象之前的过程。应当注意，在图1中，两个像素(参考像素和校正目标像素)可假定具有相同的初始条件。
参考图1，像素1被确定为校正目标像素，另一个像素2被确定为参考像素。顺便说一句，从那些发射相同颜色的光的像素中选择其间具有最小距离的像素作为像素1和2。这里的发光颜色可以是三原色红、蓝和绿中的任何一种。自然，在使用白色光源时，发光颜色是白色。
图1图示了在像素以下面的光发射条件下发射光时恶化量的变化。
<光发射时间段t1>
像素1：发射具有固定灰度值a的光
像素2：发射具有另一个固定灰度值b(≠a)的光
<光发射时间段t2>
像素1：发射具有另一个固定灰度值c(校正动作)的光
像素2：发射具有另一个固定灰度值d(≠c)的光
在图1的过程中，在光发射时间段t1结束的时刻，在像素1的恶化量R(α1)和像素2的恶化量R(α2)之间发现有恶化量差Y。换句话说，出现了粘滞现象。
这里，在光发射时间段t1内出现的每个像素的恶化量表示为这样一个值，该值是通过将受像素的发光亮度或发热温度影响(例如，流经有机EL器件的电流量)的恶化率(每单位时间段的恶化率)乘上光发射时间段t1来获得的。
因此，像素1的恶化量R(α1)表示为α1×t1。这里，α1是从灰度值a导出的恶化率，灰度值a提供了光发射时间段t1内的发光亮度。
类似地，像素2的恶化量R(α2)表示为α2×t1。这里，α2是从灰度值b导出的恶化率，灰度值b提供了光发射时间段t1内的发光亮度。
结果，在光发射时间段t1内出现的两个像素之间的恶化量差Y可以表示为R(α1)-R(α2)。换句话说，恶化量差Y可以表示为Y＝R(α1)-R(α2)＝(α1-α2)×t1。应当注意，α1-α2对应于粘滞率。
这里，描述了光发射时间段t2。应当注意，像素1在光发射时间段t2内新出现的恶化量表示为R(β1)，像素2的恶化量表示为R(β2)。这里，β1是从灰度值c导出的恶化率，灰度值c提供了像素1在光发射时间段t2内的发光亮度。同时，β2是从另一个灰度值d导出的恶化率，灰度值d提供了像素2在光发射时间段t2内的发光亮度。
这种情况下，在光发射时间段t2内新出现的像素1的恶化量R(β1)表示为R(β1)＝β1×t2。
同时，在光发射时间段t2内新出现的像素2的恶化量R(β2)表示为R(β2)＝β2×t2。
因此，在光发射时间段t2内出现的像素1和像素2之间的恶化量差H表示为R(β2)-R(β1)。换句话说，恶化量差H可以表示为H＝R(β2)-R(β1)＝(β2-β1)×t2。应当注意，β2-β1对应于校正率。
这里，如果满足Y＝H，则像素1和像素2之间的灰度量差可以完全返回到0。换句话说，如果在经过光发射时间段t2后向像素1和像素2施加相同的驱动条件，则可以创造出两个像素发射具有相等亮度的光的状态。
在本实施例中，像素2是参考像素。因此，可以从条件表达式Y＝H中，根据表达式β1＝β2-(α1-α2)×t1/t2计算出消除光发射时间段t2内的恶化量差所必需的像素1的恶化率β1。
应当注意，自发光器件是基于灰度值驱动的。因此，满足消除恶化量差的条件的恶化率β1和β2应当在被转换回灰度值后再施加到自发光器件。
D.灰度值-恶化率转换表
如上所述，校正处理需要从灰度值导出恶化率的处理和从恶化值导出灰度值的另一种处理。
这里，描述了一种使用转换表的方法作为实现转换处理的方法示例。
图2示出了转换表的示例。表信息基于灰度值和恶化率之间的对应关系设定，这种对应关系是通过提前进行的实验获取的。
本发明的发明人提出了下面的技术作为确定表信息的实验的示例。
例如，对于所有灰度值重复这样的处理，即实际测量在自发光器件以某一固定灰度值保持点亮某一固定时间段时实际测得的亮度相对于最大灰度值的初始亮度(例如，在8位的情况下是255)的减小量，即亮度减小率。
应当注意，在灰度数目很大时，可以使用这样一种方法，其中对合适的灰度值采样，并且从采样结果中导出用于计算的相关表达式。
图2代表灰度值和恶化率之间的对应关系。例如，对应于灰度值“n”的恶化率表示为“Xn”。应当注意，由于图2的表对应于8位，所以n给定为范围从0到255内的值。
图2还代表恶化率和恶化量之间的转换关系。在发光时间段是“t”时，对应于恶化率“Xn”的恶化量“Rn”给定为“Xn×t”。在光发射时间段t1和t2固定时，如果登记与光发射时间段t1和t2的值相对应的值，则可以省略用于转换的算术运算处理。
应当注意，转换表可用于基于灰度值读出恶化率，也可相反地基于恶化率读出灰度值。
E.粘滞现象的校正处理
图3图示了用于校正在某一光发射时间段t1内出现的恶化量差(粘滞现象)的处理动作的示例。
首先，关于发射具有不同亮度值的光的像素1和像素2，检测输入灰度值和光发射时间段t1(步骤S1)。
然后，利用图2所示的转换表导出与像素1和像素2的各自的输入灰度值相对应的恶化值。换句话说，导出像素1的恶化值α1和像素2的恶化值α2(步骤S2)。
在获得恶化值α1和α2后，乘上光发射时间段t1以计算光发射时间段t1内像素1的恶化量R(α1)，并且计算光发射时间段t1内像素2的恶化量R(α2)(步骤S3)。
然后，计算恶化量之间的差，即R(α1)-R(α2)。换句话说，计算在两个像素1和2之间出现的恶化量差Y，即，计算粘滞量(步骤S4)。
其后，光发射时间段t2被确定为校正时间段。光发射时间段t2可被设为任意值。然而，预先条件是光发射时间段t2满足条件表达式“β1＝β2-(α1-α2)×t1/t2”(步骤S5)，这一条件表达式用在后续步骤(步骤S7)的处理中。应当注意，光发射时间段t2可设为等于光发射时间段t1。这种情况下，可以简化条件表达式。
然后，从给出像素2在光发射时间段t2内的发光亮度的灰度值d中，导出对应的恶化率β2(步骤S6)。自然，图2中所示的转换表被用于恶化率β2的导出。
经过上述处理，决定了用于计算校正值所需的所有值(恶化率α1、α2和β2以及光发射时间段t1和t2)。
其后，使用校正条件表达式来确定用于消除恶化量差的恶化率β1(步骤S7)。具体而言，使用β1＝β2-(α1-α2)×t1/t2来计算恶化率β1。
最终确定的恶化率β1被转换为相应的灰度值c(步骤S8)。灰度值c利用转换表导出。
结果，像素1在光发射时间段t2内发射具有灰度值c的光，像素2在光发射时间段t2内发射具有灰度值d的光(步骤S9)。
换句话说，作为粘滞现象的校正处理的结果，像素1的灰度值被替代以灰度值c，灰度值c不同于校正前的灰度值。
通过上述的校正处理，确实消除了在光发射时间段t1内出现的相同颜色像素之间的恶化差。
F.粘滞现象校正装置的示例
a.示例1
图4示出了由硬件实现的粘滞现象校正装置的示例。本示例对应于这样一种情形，其中从灰度值到恶化率的转换处理和从恶化率到灰度值的转换处理利用算术运算实现。
这种情况下，粘滞现象校正装置1可以由恶化量差算术运算部件3、校正恶化率计算部件5和灰度值校正部件7组成。
恶化量差算术运算部件3是计算在光发射时间段t1内出现在像素1和像素2之间的恶化量差Y的处理设备。具体而言，恶化量差算术运算部件3使用与对应于像素的灰度值a和b相对应的恶化率α1和α2来计算恶化量差Y(＝(α1-α2)×t1)。应当注意，对应于灰度值的恶化率是由算术运算处理确定的。
校正恶化率计算部件5是导出消除光发射时间段t2内的计算的恶化量差Y所必需的用于校正处理的恶化率β1的处理设备，光发射时间段t2是相对于像素2的恶化率β1(＝β2-(α1-α2)×t1/t2)的校正时间段。
灰度值校正部件7是转换导出的恶化率β1以校正到相应的灰度值c中并将确定的灰度值c替代到像素1的输入灰度值中的处理设备。
在图4中，校正之前的灰度值被表示为输入灰度值，校正之后的灰度值被表示为校正后灰度值。应当注意，被设定为参考像素的像素2的输入灰度值保持不变地输出。
另外，在这种情况下，对应于恶化率的灰度值由算术运算处理确定。
b.示例2
图5示出了由硬件实现的粘滞现象校正装置的形式的另一个示例。本示例对应于这样一种情形，其中从灰度值到恶化率的转换处理和从恶化率到灰度值的转换处理利用转换表实现。
参考图5，图示的校正装置11包括恶化量转换部件13、转换表15、恶化量差计算部件17、校正值计算部件19和灰度值校正部件21。
恶化量转换部件13、转换表15和恶化量差计算部件17对应于上述的恶化量差算术运算部件3。校正值计算部件19对应于上述的校正恶化率计算部件5。另外，转换表15、校正值计算部件19和灰度值校正部件21对应于上述的灰度值校正部件7。
恶化量转换部件13是从每个像素的输入灰度值导出恶化率并计算光发射时间段t1内的恶化量R(α1)和R(α2)的处理设备。这里，恶化量R(α1)利用恶化率α1用公式R(α1)＝α1×t来计算。同时，恶化量R(α2)利用恶化率α2用公式R(α2)＝α2×t来计算。
转换表15是对应于图2的查找表。对于转换表15，使用了这样一种转换表，在输入灰度值和恶化率之一时，从表中可以读出相应的值。然而，仅用于从灰度值到恶化率的转换的表和仅用于从恶化率到灰度值的转换的另一个表可以彼此单独使用。
恶化量差计算部件17是计算两个像素之间的恶化量差Y(＝R(α1)-R(α2)＝(α1-α2)×t1)的处理设备。
校正值计算部件19是导出消除光发射时间段t2内的计算的恶化量差Y所必需的用于校正处理的恶化率β1的处理设备，光发射时间段t2是相对于像素2的恶化率β1的校正时间段。具体而言，校正值计算部件19是提供恶化率β1(＝β2-(α1-α2)×t1/t2)的处理设备。
灰度值校正部件21是以计算的恶化率β1参考转换表15来确定相应的灰度值c和执行将像素1的灰度值替代为确定的灰度值c的另一处理的处理设备。
c.结合到自发光装置中的示例
图6示出了粘滞现象校正装置被结合到自发光装置中的示例。
参考图6，自发光装置31包括容纳在壳33内的粘滞现象校正装置35和显示设备37。
粘滞现象校正装置35在其输出端接收视频信号或者接收在其内部生成的视频信号作为其输入，并执行灰度值的校正动作从而使在校正目标像素和参考像素之间不出现恶化量差。例如，使用了具有结合示例1或示例2所述的配置的电路设备。
显示设备37由显示设备和用于该显示设备的驱动电路组成。要使用的显示设备可以用有机EL(电致荧光)面板、PDP(等离子体显示面板)、FED(场发射显示)面板、LED面板或CRT来形成。
如图6所示，作为仅用于校正粘滞现象的处理设备的粘滞现象校正装置35结合在自发光装置31中。然而，在有关功能都由软件执行时，这些功能由结合在自发光装置中的计算机来实现。
G.示例效果
由于每个像素的恶化量利用恶化率来测量，其中恶化率是反映发光亮度的下降的参数，所以与现有技术相比，可以更精确地测量并校正发光特性的恶化量。具体而言，即使在发光特性的恶化不随着显示灰度成比例地变化时，也可以确实将两个像素之间的恶化量差校正到0。
另外，在光发射时间段内同时执行校正处理，并且不需要用于校正的无光发射时间段。因此，可以防止能量的浪费。
H.其他形式
a.在上述示例中，使用了如图2所示的转换表，即，定义了灰度值和恶化率之间的单一对应关系的转换表。然而，出于长期变化的考虑，可以准备考虑了时间信息因素在内的多个转换表。
b.在上述示例中，光发射时间段t1和t2各自具有任意值。然而，它们也可以各自以场为单位或以帧为单位而设定。应当注意，光发射时间段t1和光发射时间段t2可以彼此相等。这种情况下，恶化率β1可以只用加法和减法来实现。
c.在上述示例中，单位帧的灰度值和恶化值之间的对应关系被存储为转换表。然而，也可以存储对应于多个帧的灰度值的集成值和恶化值之间的对应关系。这在光发射时间段t1和t2中的每一个在多个帧范围上设定时是有效的。
d.在上述示例中，可以使用光发射时间段t1内的平均灰度值来计算恶化量差Y，而使用光发射时间段t2内的平均恶化率来计算恶化量差H。这种情况下，可以导出在光发射时间段t1内出现在两个像素之间的平均恶化量差和平均恶化率β1，利用该平均恶化率β1消除了光发射时间段t2内参考像素出现的平均恶化量。
e.在上述示例中，在装置处于使用状态的同时校正了粘滞现象。然而，也可以在装置不处于使用状态时校正粘滞现象。
f.在上述示例中，结合了单个转换表15。然而，在恶化率和灰度值随时间变化时，可以根据时间的变化准备多个不同的转换表。这种情况下，优选地准备用于测量光发射的时长的定时器。
如果要参考的转换表从初始状态开始响应于光发射的时长而变化，则即使在恶化率和灰度值之间的关系变化时，也可以计算出准确的恶化量和准确的恶化量差。
g.上述示例可以在本发明的精神和范围内以各种方式进行修改。同样，也可以根据本说明书和/或附图公开的内容进行各种修改和应用。
本发明包含的主题与2005年1月21日向日本专利局提交的日本专利申请JP2005-014830有关，这里通过引用并入其全部内容。

Claims (10)

1.一种用于在自发光装置处于使用状态时校正所述自发光装置的粘滞现象的粘滞现象校正方法，在所述自发光装置中多个自发光元件以矩阵形式排列，所述方法包括以下步骤：
利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差，其中所述恶化率代表在某一时间段内出现的恶化量的恶化速率，并且所述恶化量差代表像素恶化量之间的差异；
利用所述参考像素的恶化率，为所述校正目标像素导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的用于校正的恶化率；
将所导出的用于校正的恶化率转换为对应的灰度值；以及
以转换后的灰度值驱动所述校正目标像素发光，
其中对应于每个灰度值的恶化率被给定为这样一个值，该值是通过将在根据灰度值的光发射持续某一时间段时实际测得的亮度的减小量转换为单位时间的值而计算得出的。
2.如权利要求1所述的粘滞现象校正方法，其中自发光元件中对应于所述校正目标像素的那一个元件和自发光元件中对应于所述参考像素的另一个元件满足初始条件，该初始条件是这些自发光元件在相同的驱动条件下发出亮度彼此相等的光。
3.如权利要求1所述的粘滞现象校正方法，其中所述参考像素是针对所述自发光元件中发射具有相同颜色光的多个元件中的每一个设定的。
4.如权利要求1所述的粘滞现象校正方法，其中所述参考像素是为了计算校正量而虚拟设定的像素。
5.如权利要求1所述的粘滞现象校正方法，其中，考虑已过去的时间信息而给出所述恶化率和所述灰度值之间的对应关系。
6.如权利要求1所述的粘滞现象校正方法，其中，某一校正目标像素和所述参考像素之间在第一光发射时间段t1内出现的恶化量差Y被计算为Y＝(α1-α2)×t1，其中α1是所述校正目标像素在第一光发射时间段内的恶化率，α2是所述参考像素在第一光发射时间段内的恶化率，然后，在第二光发射时间段t2内消除所述恶化量差Y所必需的所述校正目标像素的恶化率β1被计算为β1＝β2-Y/t2，其中β2是所述参考像素在所述第二光发射时间段内的恶化率。
7.一种自发光装置，其中多个自发光元件以矩阵形式置于衬底上，所述装置包括：
恶化量差算术运算部件，用于利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差，其中所述恶化率代表在某一时间段内出现的恶化量的恶化速率，并且所述恶化量差代表像素恶化量之间的差异；
校正恶化率计算部件，用于利用所述参考像素的恶化率，为所述校正目标像素导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的用于校正的恶化率；以及
灰度值校正部件，用于将所导出的用于校正的恶化率转换为对应的灰度值，并以转换后的灰度值驱动所述校正目标像素发光，
其中对应于每个灰度值的恶化率被给定为这样一个值，该值是通过将在根据灰度值的光发射持续某一时间段时实际测得的亮度的减小量转换为单位时间的值而计算得出的。
8.一种自发光装置，其中多个自发光元件以矩阵形式置于衬底上，所述装置包括：
转换表，用于保存所述自发光元件的灰度值和恶化率之间的配合关系；
恶化量差算术运算部件，用于利用所述转换表将像素的灰度值转换为恶化率，并计算每个校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差，其中所述恶化率代表在某一时间段内出现的恶化量的恶化速率，并且所述恶化量差代表像素恶化量之间的差异；
校正恶化率计算部件，用于利用所述参考像素的恶化率，为所述校正目标像素导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的用于校正的恶化率；以及
灰度值校正部件，用于利用所述转换表将所导出的用于校正的恶化率转换为对应的灰度值，并以转换后的灰度值驱动所述校正目标像素发光，
其中对应于每个灰度值的恶化率被给定为这样一个值，该值是通过将在根据灰度值的光发射持续某一时间段时实际测得的亮度的减小量转换为单位时间的值而计算得出的。
9.一种自发光装置，其中多个自发光元件以矩阵形式置于衬底上，所述装置包括：
第一算术运算部件，用于通过算术运算处理将像素的灰度值转换为恶化率；
恶化量差算术运算部件，用于利用所述转换处理获得的恶化率来计算每个校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差，其中所述恶化率代表在某一时间段内出现的恶化量的恶化速率，并且所述恶化量差代表像素恶化量之间的差异；
校正恶化率计算部件，用于利用所述参考像素的恶化率，导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的所述校正目标像素的恶化率；
第二算术运算部件，用于通过算术运算处理将所导出的所述校正目标像素的恶化率转换为灰度值；以及
灰度值校正部件，用于以所述转换处理确定的灰度值驱动所述校正目标像素发光，
其中对应于每个灰度值的恶化率被给定为这样一个值，该值是通过将在根据灰度值的光发射持续某一时间段时实际测得的亮度的减小量转换为单位时间的值而计算得出的。
10.一种用于自发光装置的粘滞现象校正装置，在所述自发光装置中，多个自发光元件以矩阵形式置于衬底上，所述粘滞现象校正装置包括：
恶化量差算术运算部件，用于利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差，其中所述恶化率代表在某一时间段内出现的恶化量的恶化速率，并且所述恶化量差代表像素恶化量之间的差异；
校正恶化率计算部件，用于利用所述参考像素的恶化率，为所述校正目标像素导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的用于校正的恶化率；以及
灰度值校正部件，用于将所导出的用于校正的恶化率转换为对应的灰度值，并以转换后的灰度值驱动所述校正目标像素发光，
其中对应于每个灰度值的恶化率被给定为这样一个值，该值是通过将在根据灰度值的光发射持续某一时间段时实际测得的亮度的减小量转换为单位时间的值而计算得出的。
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