CN1725029A - 用于校正扩散图像变形的装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于校正扩散图像变形的装置,该装置包括一个内部容纳有液体的环状圆柱体,在该环状圆柱体上具有至少一个作为定位标记并容纳有定位液体的定位单元。本发明还公开了一种校正扩散图像变形的方法,该方法将定位标志放置在MR的头线圈内并固定;确定定位标志在MR采集的同一层面的未施加扩散敏感梯度场的第一图像和施加了扩散敏感梯度场的第二图像中的空间位置;根据定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置确定第二图像相对于第一图像的变形参数;然后根据变形参数对第二图像进行校正。使用了本发明的装置和方法后,可以明显校正人脑同一层面上的扩散图像的变形。
Description
技术领域
本发明涉及核磁共振(MR)扩散成像技术,特别是涉及用于校正扩散图像变形的装置和方法。
背景技术
随着MR成像技术的飞速发展,出现了多种成像技术,MR扩散加权成像(Diffusion Weighted Imaging,DWI)已经成为临床病人的常规检查项目,且其在临床医学中的应用正向更深更广的方向发展。
在物理学中,扩散通常是指溶液沿浓度梯度的净运动,表现为高浓度区的分子向低浓度区扩散分布,扩散的单位是平方厘米/秒(cm2/s)或平方毫米/秒(mm2/s)。实际上,即使在没有浓度梯度的情况下,水分子扩散运动仍然存在,这种水分子的扩散运动是核磁共振扩散成像的物理基础。
MR成像的基本单位是体素(voxel),体素是MR三维图像中所能分辨的成像体中具有最小物理尺寸的单元。在MR成像的过程中,如果存在扩散运动,某体素内的氢质子不再固定于同一体素内部,经过时间T后,氢质子可能出现在其它位置的体素内。这种变化与扩散运动的强弱有关,扩散运动越强烈,体素内部氢质子群中出现越远位置扩散来的氢质子成分的可能性就越大。
当给氢质子施加一个大的梯度场时,体素之间存在梯度差,该梯度称为扩散敏感梯度。原本同相位的氢质子群,由于水分子扩散到不同体素内而使原本一致的相位被破坏。由于施加的扩散敏感梯度场是线性梯度场,所以从越远的体素扩散来的氢质子越多,体素内的氢质子群的相位差别越严重,信号强度越小。这样,通过信号强度的下降就可以推测出扩散运动的程度。
如果组织内部扩散明显,在这个体素内部的氢质子群的相位差别就会较大,相反相位差别就会非常小。相位差别大的结果导致采集到的MR信号强度下降,而在相位差别小的体素中其信号就会较大。比如,脑缺血的病例在扩散加权像上,超早期缺血区的信号强度明显增高,说明该区域的水分子扩散与正常脑组织相比明显下降了,脑脊液信号较低,说明这个区域的水分子扩散明显。
在计算和显示神经纤维走行方向时,获取不同扩散敏感梯度情况下(包括大小和方向)的扩散加权图像,扩散敏感梯度的大小由扩散敏感梯度系数表示,该系数简称为B值,单位是秒/平方毫米(s/mm2)。为了获得人体层面内图像的每个象素的扩散张量的参数特性,需要将扩散加权图像的原始数据转换为数字矩阵形式,在此基础上,对同一B值的不同方向的矩阵进行点对点换算,换算后形成的新的数字矩阵代表在某一B值下的扩散参数图。
例如,在获取表观扩散系数(ADC)图像时,首先在两两正交的X、Y和Z方向上施加扩散敏感梯度场,得到不同方向的DWI图像,分别表示为DWIR、DWIP和DWIS,将三幅图像的数据矩阵分别与不施加扩散敏感梯度场的图像的数据矩阵进行点对点运算,计算出各个方向的ADC图像:ADCR、ADCP和ADCS,然后将三个方向上的ADC图像的数据矩阵进行点对点平均,得到ADCAV图像。
但是,不同方向的扩散加权图像与未施加扩散敏感梯度场的图像存在变形,回波平面成像(EPI)的DWI序列采集的DWI图像与自旋回波(SE)序列采集的解剖图像之间也存在变形。前者与扩散敏感梯度的施加方向、位置和大小有一定相关性,后者与切换采集梯度之间的相互干扰有关。变形存在的直接结果是,尽管采集的是人脑的同一层面的数据,但是,所得到的DWI图像不是在空间上一一准确对应的图像。也就是说,在无变形存在的情况下,不同图像上同一位置的象素所表示的人脑的解剖位置相同;但是在存在变形的情况下,不同图像上同一位置的象素所表示的人脑的解剖位置则发生了变化。这样,在对不同DWI的数据矩阵进行点对点换算时,由于两个数据矩阵上对应点所代表的空间位置不是一一准确对应的,所以计算所得的结果不是对同一解剖位置的象素灰度计算所得到的结果,不能反映同一解剖位置的扩散状态,不具有诊断意义。特别是,在计算和显示神经纤维走行方向时,即使非常细微的变形都会使基于矩阵运算水平合成的参数图发生严重误差,甚至可能导致完全错误的结论,不仅无法对病人实施对症治疗,还有可能造成严重的医疗事故。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种用于校正扩散图像变形的装置,应用该装置可以对图像中存在的变形进行校正。
本发明的另一目的在于提供一种校正扩散图像变形的方法,对扩散图像的变形进行校正,使得同一层面图像的空间位置准确对应。
本发明的目的是通过如下技术方案实现的:
一种用于校正扩散图像变形的装置,该装置包括一个内部容纳有液体的环状圆柱体11,在所述环状圆柱体11上具有至少一个作为定位标志并容纳有定位液体的定位单元14。
其中,所述环状圆柱体11内的液体为水,所述定位单元14内的定位液体为蛋白液。
其中,所述定位单元14的形状为空心圆柱体或空心立方柱体。
其中,所述定位单元14的数量为至少六个。
其中,在所述环状圆柱体14上进一步具有一个注入液体的入口12和一个释放液体的出口13。
一种校正扩散图像变形的方法,该方法包括如下步骤:
A、将至少一个定位标志放置在核磁共振机的头颅线圈内部,并固定该定位标志;
B、分别确定定位标志在核磁共振成像***采集的成像对象同一层面的未施加扩散敏感梯度场的第一图像和施加了扩散敏感梯度场的第二图像中的空间位置;
C、根据步骤B确定的定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置确定第二图像相对于第一图像的变形参数;
D、根据步骤C确定的变形参数对第二图像进行校正。
其中,步骤B进一步包括:确定定位标志在核磁共振成像***采集的成像对象同一层面的解剖结构图像中的空间位置,
步骤D之后进一步包括:
E、根据步骤B确定的定位标志在第一图像和解剖结构图像中的空间位置确定第一图像相对于解剖结构图像的变形参数;
F、根据步骤E确定的变形参数对第一图像和第二图像进行校正。
其中,预先设置M×N的矩形窗,其中M和N为大于或等于二的整数,并设置该矩形窗移动的步长和判断矩形窗内的区域是否是定位标志的阈值,步骤B所述确定定位标志在图像中的空间位置的步骤为:
B1、在图像的象素矩阵中以预定的步长移动该矩形窗,计算矩形窗内的所有象素的灰度平均值;
B2、判断该平均值与定位标志成像的灰度值之差是否小于预定的阈值,如果是,将矩形窗的中心象素的位置作为定位标志在图像中的空间位置,然后转到步骤B1;否则,直接转到步骤B1。
其中,步骤C所述根据定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置确定第二图像相对于第一图像的变形参数的方法是:用最小二乘法对定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置进行曲线拟合确定变形参数,
步骤D所述根据变形参数对第二图像进行校正的方法是:根据变形参数对第二图像的象素坐标进行刚性变换。
其中,步骤E所述根据定位标志在解剖结构图像和第一图像中的空间位置确定第一图像相对于解剖结构图像的变形参数的方法是:用最小二乘法对定位标志在解剖结构图像和第一图像中的空间位置进行曲面拟合确定变形参数,
步骤F所述根据变形参数对第一图像和第二图像进行校正的方法是:根据变形参数对第一图像和第二图像的象素坐标进行弹性变换。
通过以上的技术方案可以看出,本发明的装置包括一个内部容纳有液体的环状圆柱体,在该环状圆柱体上具有至少一个作为定位标志并容纳有定位液体的定位单元。本发明的方法是将定位标志放置在MR的头线圈内并固定;确定定位标志在MR采集的同一层面的未施加扩散敏感梯度场的第一图像和施加了扩散敏感梯度场的第二图像中的空间位置;根据定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置确定第二图像相对于第一图像的变形参数;然后根据变形参数对第二图像进行校正。所以,在本发明中,能够通过显示在图像上的定位标志的位置确定扩散图像的变形参数,并校正图像的变形。而在现有技术中,没有对扩散图像的变形进行校正的处理,所以在同一层面上采集的不同图像的空间位置不一一对应,造成通过对这些图像的数据矩阵进行相应运算所得的扩散参数由于误差而失去诊断意义。因此,本发明的装置和方法解决了现有技术存在变形的缺陷,通过对变形图像的校正使得后续运算得到的扩散参数更准确,并具有诊断意义,使扩散成像的检查结果能更好地协助医生对病人进行对症治疗。
而且,在本发明的方法中,利用发明人研究确定的变形规律和公式来确定扩散图像变形的参数,不仅显著缩短了变形参数的计算时间,还提高了变形参数计算的准确度。
附图说明
图1是本发明的用于校正扩散图像变形的装置的立体图。
图2是根据本发明的校正扩散图像变形的方法流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更清楚,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步描述。
本发明提供了一种用于校正扩散图像变形的装置,图1是该装置的立体图,如图1所示,该装置包括一个环状圆柱体11,该环状圆柱体11的外壁和内壁之间容纳有液体,在环状圆柱体11上有两个开口,一个为入口12,另一个为出口13,每个开口上有盖,可通过入口12向装置11内注入液体,例如水,通过出口13释放装置11内的液体。
此外,在环状圆柱体11上分布有若干定位单元14,定位单元14的内部容纳有定位液体,例如,一定浓度的蛋白液。定位单元14的作用是定位标志,其成像后的灰度与人体组织成像后的灰度有明显差别。该环状圆柱体11可由多种不含金属的材料制成,如塑料、有机玻璃等。
优选地,入口12和出口13分布于环状圆柱体11的同一个底面,在该底面上,入口12和出口13之间成180°角。入口12和出口13也可以分布于环状圆柱体11的不同底面。
环状圆柱体11上有至少一个定位单元14,优选地,定位单元14的数量为至少六个,更优选地,定位单元14的数量为八个。定位单元14为一端有盖、一端封闭或两端有盖的空心柱体,例如圆柱体或立方柱体。如图1所示,优选地,所述八个定位单元14和两个开口在环状圆柱体11一个底面上的投影均匀分布在一个圆周上。
本发明还提供了一种校正扩散图像变形的方法,该方法利用图1所示的校正装置对DWI图像进行定位,计算出变形参数,然后用变形参数对DWI图像进行校正。
图2是根据本发明的校正扩散图像变形的方法,从图2中可以看出,本发明包括如下步骤:
步骤201:将校正装置放置于核磁共振机的头颅线圈内部,并予以固定,在检查时,病人将头颅伸入到增加了校正装置的头颅线圈内部。
在本实施例中,由于校正装置的外缘与头颅线圈的内缘紧密契合,所以无需其它固定装置即可将校正装置固定在头颅线圈内部。
步骤202:核磁共振成像***进行扩散成像,得到解剖结构图像SE、未施加扩散敏感梯度场的DWI0图像和分别在三个两两正交的方向上施加扩散敏感梯度场的三个DWI图像,分别表示为DWIR、DWIP和DWIS,每个图像中有八个定位标志,分别由校正装置上的八个定位单元内的蛋白液成像而得到的。
步骤203:分别确定DWI0、DWIR、DWIP和DWIS图像中的八个定位标志在各自图像数据矩阵中的象素位置。
设图像左上角为坐标原点,X轴代表图像横坐标,正方向从左至右,Y轴代表图像纵坐标,正方向从上至下;坐标轴单位长度代表相邻象素的间距。
由于定位标志具有一定尺寸,所以每个定位标志成像后在图像中显示为由多个象素点组成的一个象素区域,而在确定定位标志的象素位置时,需要将定位标志的位置具体到一个象素点的位置。在本实施例中,使用M×N的矩形滑动窗口,其中,M和N为大于零的整数,优选地,M和N均为10。该滑动窗口从坐标原点开始按一定象素步长移动,每次移动后,计算当前窗口内的所有象素的灰度平均值,如果该平均值与定位用的蛋白液成像后的灰度值之差小于一定阈值,则说明该窗口内的区域为定位标志对应的区域,以窗口的中心象素作为该定位标志在图像中对应的标志点,该象素的坐标为定位标志在图像中的象素位置。
步骤204:根据八个定位标志在DWI0图像和DWIR图像的象素位置确定DWIR图像相对于DWI0图像的刚性变形参数△xr和△yr;根据八个定位点在DWI0图像和DWIP图像的空间位置确定DWIP图像相对于DWI0图像的刚性变形参数Δxp和Δyp;根据八个定位点在DWI0图像和DWIS图像的空间位置确定DWIS图像相对于DWI0图像的刚性变形参数Δxs和Δys。
设施加了扩散敏感梯度场的DWI图像中的象素坐标为B(x,y),DWI0图像中象素的坐标为B′(x′,y′),根据发明人对扩散成像变形规律的研究,可知施加了扩散敏感梯度场的DWI图像相对于DWI0图像的变形近似于刚性变形,而且仅有平移变形,无旋转变形,并且,B′(x′,y′)和B(x,y)之间的变换关系满足下式:
用最小二乘法对变形前后的八个标志点坐标作曲线拟合得到上述回归方程中的刚性变形参数Δx和Δy。
用上述方法分别计算DWIR图像的刚性变形参数Δxr和Δyr、DWIP图像的刚性变形参数Δxp和Δyp、DWIS图像的刚性变形参数Δxs和Δys。
步骤205:根据步骤204计算所得的刚性平移参数Δxr和Δyr对DWIR图像进行刚性变形校正,得到校正后的图像DWIR’;根据步骤204计算所得的刚性平移参数Δxp和Δyp对DWIP图像进行刚性变形校正,得到校正后的图像DWIP’;根据步骤204计算所得的刚性平移参数Δxs和Δys对DWIS图像进行刚性变形校正,得到校正后的图像DWIS’。
设校正前的图像中的象素坐标为B(x,y),校正后的图像中的象素坐标为B″(x″,y″),那么B″(x″,y″)和B(x,y)之间的变换关系满足下式:
由上式可以换算出
设校正后的图像的灰度值为G″(x″,y″),校正前的图像的灰度值为G(x,y),则两图像之间的灰度对应关系为G″(x″,y″)=G(x″-Δx,y″-Δy),如下得到校正后的图像:
如果(x″-Δx)或(y″-Δy)小于0或超过图像横坐标或纵坐标的最大值,则点(x″,y″)在校正前的图像上的对应点在图像的范围之外,此时,找不到对应点,将校正后的图像中的点(x″,y″)的象素灰度值设置为背景灰度值,例如,255;
如果(x″-Δx)和(y″-Δy)在图像范围之内,且(x″-Δx)和(y″-Δy)是整数,则点(x″,y″)在校正前的图像上的对应点是(x″-Δx,y″-Δy),此时,校正后的图像中的点(x″,y″)的灰度值满足G″(x″,y″)=G(x″-Δx,y″-Δy);
如果(x″-Δx)和(y″-Δy)在图像范围之内,但(x″-Δx)或(y″-Δy)不是整数,那么点(x″,y″)在校正前的图像上的对应点(x″-Δx,y″-Δy)落到象素之外的坐标点,此时,需要进行灰度插值,用校正前图像的点(x″-Δx,y″-Δy)的相邻象素的灰度进行插值,插值方法的有多种,可以采用线性插值,也可以采用非线性插值,例如,双线性邻域插值,并将插值后的灰度值作为校正后的图像中的点(x″,y″)的灰度值。
如此,便得到了校正后的图像DWIR’、DWIP’和DWIS’。
步骤206:根据八个定位标志在SE图像和DWI0图像的象素位置确定DWI0图像相对于SE图像的弹性变形参数。
设DWI0图像中的象素坐标为I(x,y),SE图像中象素的坐标为I′(x′,y′),根据发明人对扩散成像变形规律的研究,可知DWI0图像和SE图像之间的变形是弹性变形,并且,I′(x′,y′)和I(x,y)之间的变换关系满足下式:
用最小二乘法对变形前后的八个标志点坐标作曲面拟合得到上述回归方程中的DWI0图像相对于SE图像的弹性变形参数A到F,由于DWIR’、DWIP’和DWIS’图像相对于DWI0图像没有变形,所以该弹性变形参数也是DWIR’、DWIP’和DWIS’图像相对于SE图像的弹性变形参数。
步骤207:根据步骤206计算所得的弹性变形参数A到F对DWI0、DWIR’、DWIP’和DWIS’图像进行校正,得到校正后的图像DWI0’、DWIR”、DWIP”和DWIS”。
设校正前的图像的象素坐标为I(x,y),校正后的图像的象素坐标为I″(x″,y″),那么I″(x″,y″)和I(x,y)之间的变换关系满足下式:
由上式可换算出:
其中,A’到F’是由坐标(x”,y”)得到坐标(x,y)的坐标变换系数。
设校正后的图像的灰度值为G″(x″,y″),校正前的图像的灰度值为G(x,y),则两图像之间的灰度对应关系为G″(x″,y″)=G(A′+B′x″+C′y″,D′+E′x″+F′y″),如下得到校正后的图像:
如果(A′+B′x″+C′y″)或(D′+E′x″+F′y″)小于0或超过图像横坐标或纵坐标的最大值,则点(x″,y″)在校正前的DWI图像上的对应点在图像的范围之外,此时,找不到对应点,将校正后的图像中的点(x″,y″)的象素灰度值设置为背景灰度值,例如,255;
如果(A′+B′x″+C′y″)和(D′+E′x″+F′y″)在图像范围之内,且(A′+B′x″+C′y″)和(D′+E′x″+F′y″)是整数,则点(x″,y″)在校正前的图像上的对应点是G(A′+B′x″+C′y″,D′+E′x″+F′y″),此时,校正后的图像中的点(x″,y″)的灰度值满足G″(x″,y″)=G(A′+B′x″+C′y″,D′+E′x″+F′y″);
如果(A′+B′x″+C′y″)或(D′+E′x″+F′y″)在图像范围之内,但(A′+B′x″+C′y″)或(D′+E′x″+F′y″)不是整数,那么点(x″,y″)在校正前的图像上的对应点G(A′+B′x″+C′y″,D′+E′x″+F′y″)是落到象素之外的坐标点,此时,需要进行灰度插值,对校正前图像的点(A′+B′x″+C′y″,D′+E′x″+F′y″)的相邻象素的灰度进行插值,可以采用线性插值,也可以采用非线性插值,并将插值后的灰度值作为校正后的图像中的点(x″,y″)的灰度值。
如此,便得到了得到校正后的图像DWI0’、DWIR”、DWIP”和DWIS”。
在本发明的方法中,步骤204和步骤205的目的是校正DWIR、DWIP和DWIS图像相对于DWI0的变形,使得以这几幅图像为基础的后续运算具有诊断意义。步骤206和步骤207的目的是校正DWI图像相对于解剖结构图像SE的变形,其意义不是使诊断结果更准确,而是使DWI图像在显示时与解剖结构图像对齐,具有更直观的显示结果。
由于发明人已经对施加了扩散敏感梯度场的DWI图像相对于DWI0图像的变形以及DWI0图像相对于解剖结构图像的变形做了深入研究,确定了两种变形的规律,并确定了变形公式,所以,在步骤204和步骤206中,利用已知的变形公式确定变形参数,与未获得已知变形规律的方法相比,本发明的方法确定变形参数的计算时间显著缩短,并且计算所得的变形参数更为准确。
需要注意的是,在本发明的方法中,利用校正装置中定位液体成像后的标志作为定位标志,在实际应用中,还可以采用多种方式在图像中添加定位标志,例如在MR的头颅线圈内加入固定支架,利用固定支架成像后的标志点作为定位标志。
本发明的方法中通过校正装置的外缘和头颅线圈的内缘紧密契合来固定校正装置,在实际应用中,也可以在校正装置上设置固定装置,通过固定装置将校正装置固定在头颅线圈内。
另外,本发明的方法不局限于在MR扩散成像中应用,也可以应用于多种MR成像方式,对同一层面在不同时刻的图像进行配准或校正,例如,可以应用于功能磁共振成像(fMRI)的图像配准。
在具体的实施过程中可对根据本发明的方法进行适当的改进,以适应具体情况的具体需要。因此可以理解,根据本发明的具体实施方式只是起示范作用,并不用以限制本发明的保护范围。
Claims (10)
1、一种用于校正扩散图像变形的装置,其特征在于,该装置包括一个内部容纳有液体的环状圆柱体(11),在所述环状圆柱体(11)上具有至少一个作为定位标志并容纳有定位液体的定位单元(14)。
2、根据权利要求1所述的用于校正扩散图像变形的装置,其特征在于,所述环状圆柱体(11)内的液体为水,所述定位单元(14)内的定位液体为蛋白液。
3、根据权利要求1所述的用于校正扩散图像变形的装置,其特征在于,所述定位单元(14)的形状为空心圆柱体或空心立方柱体。
4、根据权利要求1所述的用于校正扩散图像变形的装置,其特征在于,所述定位单元(14)的数量为至少六个。
5、根据权利要求1所述的用于校正扩散图像变形的装置,其特征在于,在所述环状圆柱体(14)上进一步具有一个注入液体的入口(12)和一个释放液体的出口(13)。
6、一种校正扩散图像变形的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
A、将至少一个定位标志放置在核磁共振机的头颅线圈内部,并固定该定位标志;
B、分别确定定位标志在核磁共振成像***采集的成像对象同一层面的未施加扩散敏感梯度场的第一图像和施加了扩散敏感梯度场的第二图像中的空间位置;
C、根据步骤B确定的定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置确定第二图像相对于第一图像的变形参数;
D、根据步骤C确定的变形参数对第二图像进行校正。
7、根据权利要求6所述的校正扩散图像变形的方法,其特征在于,步骤B进一步包括:确定定位标志在核磁共振成像***采集的成像对象同一层面的解剖结构图像中的空间位置,
步骤D之后进一步包括:
E、根据步骤B确定的定位标志在第一图像和解剖结构图像中的空间位置确定第一图像相对于解剖结构图像的变形参数;
F、根据步骤E确定的变形参数对第一图像和第二图像进行校正。
8、根据权利要求6或7所述的校正扩散图像变形的方法,其特征在于,预先设置M×N的矩形窗,其中M和N为大于或等于二的整数,并设置该矩形窗移动的步长和判断矩形窗内的区域是否是定位标志的阈值,步骤B所述确定定位标志在图像中的空间位置的步骤为:
B1、在图像的象素矩阵中以预定的步长移动该矩形窗,计算矩形窗内的所有象素的灰度平均值;
B2、判断该平均值与定位标志成像的灰度值之差是否小于预定的阈值,如果是,将矩形窗的中心象素的位置作为定位标志在图像中的空间位置,然后转到步骤B1;否则,直接转到步骤B1。
9、根据权利要求6所述的校正扩散图像变形的方法,其特征在于,步骤C所述根据定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置确定第二图像相对于第一图像的变形参数的方法是:用最小二乘法对定位标志在第一图像和第二图像中的空间位置进行曲线拟合确定变形参数,
步骤D所述根据变形参数对第二图像进行校正的方法是:根据变形参数对第二图像的象素坐标进行刚性变换。
10、根据权利要求7所述的校正扩散图像变形的方法,其特征在于,步骤E所述根据定位标志在解剖结构图像和第一图像中的空间位置确定第一图像相对于解剖结构图像的变形参数的方法是:用最小二乘法对定位标志在解剖结构图像和第一图像中的空间位置进行曲面拟合确定变形参数,
步骤F所述根据变形参数对第一图像和第二图像进行校正的方法是:根据变形参数对第一图像和第二图像的象素坐标进行弹性变换。
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