CN1705992A

CN1705992A - 光盘装置

Info

Publication number: CN1705992A
Application number: CNA2003801016134A
Authority: CN
Inventors: 西胁青儿; 百尾和雄; 齐藤阳一
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2002-10-17
Filing date: 2003-10-16
Publication date: 2005-12-07
Anticipated expiration: 2023-10-16
Also published as: WO2004040562A1; US20060013107A1; US7142489B2; CN100492504C; JPWO2004040562A1; JP4077452B2

Abstract

本发明提供一种光盘装置。通过与光轴交叉的直线，全息部件(4)被分割成n个区域(Ak)，光检测器(7)至少被分割成2个区域A、A’。由具有多个信号面的光盘的第1信号面(6a)反射的光和由第2信号面(6b)反射的光，分别成为入射到全息部件(4)中的光a、a’，光a、a’分别派生具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在光检测器(7)上。1级衍射光ak、ak’在光检测器(7)上的分布，相对于衍射光轴和检测面的交点大致反转，1级衍射光ak大致包含在区域A内，1级衍射光ak’大致包含在区域(A’)内。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及一种用于在光盘上记录信号、或再生记录在光盘上的信号的光盘装置。

背景技术

以往，作为此种光盘装置，已知有，例如日本特开2000-133929号公报所公开的光盘装置。此处，以该现有例作为原型，以增加若干修正的方式，参照图26～图30进行说明。

图26是表示以往技术中的光盘装置的简要剖面图(在物镜形成的聚光点位于光盘的第1信号面上时)，图27是表示形成在用于该光盘装置的全息部件上的全息图形的图，图28是表示形成在用于该光盘装置的光检测器上的光检测图形、和在图26所示状态下的该光检测器上的光分布情况的图，图29是表示以往技术中的光盘装置的简要剖面图(在物镜形成的聚光点位于光盘的第2信号面上时)，图30是表示形成在用于该光盘装置的光检测器上的光检测图形、和在图29所示状态下的该光检测器上的光分布情况的图。

如图26所示，以往技术中的光盘装置，具有：光源1；准直透镜3，用于将从光源1射出的光变换成平行光；物镜5，用于将该平行光聚光在光盘上；全息部件4，用于衍射被光盘反射的光(返回光)；分光器2，用于弯折依次透过全息部件4、准直透镜3的返回光的光路；光检测器7，聚光光路由分光器2弯折的返回光。

光盘包括：由透明材料构成的基材6，在基材6的表面形成的半透明的第1信号面6a，在第1信号面6a的后面(远离物镜5的一侧)接近该第1信号面6a而形成的第2信号面6b。第1信号面6a和第2信号面6b之间的距离d，一般为20μm～几十μm的范围，在第1信号面6a和第2信号面6b之间，充填有折射率n(n＝1.5左右)的透明介质。

如图27所示，通过在光轴和全息部件4表面的交点40交叉的直线，全息部件4被四等分成为第1象限41、第2象限42、第3象限43、第4象限44等4个区域，分别形成图形。

如图28所示，光检测器7由被直线7Fa、7Fb分割的检测单元7F1、7F2、7F3、7F4和被直线7Ta、7Tb、7Tc分割的检测单元7T1、7T2、7T3、7T4构成。

如图26所示，从光源1射出的光，透过分光器2，被准直透镜3聚光成为平行光。该平行光，在透过全息部件4后，被物镜5聚光在光盘的第1信号面6a上(用实线表示光路)。被该第1信号面6a反射的返回光8a，被物镜5聚光，入射到全息部件4，被该全息部件4衍射。被全息部件4衍射的返回光8a，由准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8a，聚光在光检测器7上(用实线表示全息部件4上的0级衍射光的光路)。

由于光盘的第1信号面6a为半透明，因此在该第1信号面6a上聚光的光中的透过它的光，到达第2信号面6b。另外，在第2信号面6b反射的返回光8b，再次透过第1信号面6a，被物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4被衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，被准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a上反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b聚光在光检测器7上(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的前面(接近分光器2的一侧)。

如果将由光盘反射的光，即返回光8中的、在成为记录再生的对象的信号面(此处，第1信号面6a)反射并入射到全息部件4的第1象限41～第4象限44的返回光8a，分别规定为第1象限光81a～第4象限84a，将在不是记录再生的对象的信号面(此处，第1信号面6b)上反射并入射到全息部件4的第1象限41～第4象限44的返回光8b，分别规定为第1象限光81b～第4象限84b，则返回光8通过全息部件4的第1象限41～第4象限44被四等分(或大致四等分)成第1象限光81a(或81b)、第2象限光82a(或82b)、第3象限光83a(或83b)、第4象限光84a(或84b)，在各自的区域被衍射。

在返回光8a投射在光检测器7上的情况下，第1象限光81a的1级衍射光8a1聚光在跨越检测单元7F1、7F4的光点8a1S上，第1象限光81a的-1级衍射光8a1’聚光在收在检测单元7T1内的光点8a1S’上；第2象限光82a的1级衍射光8a2聚光在跨越检测单元7F1、7F4的光点8a2S上，第2象限光82a的-1级衍射光8a2’聚光在收在检测单元7T2内的光点8a2S’上；第3象限光83a的1级衍射光8a3聚光在跨越检测单元7F2、7F3的光点8a3S上，第3象限光83a的-1级衍射光8a3’聚光在收在检测单元7T3内的光点8a3S’上；第4象限光84a的1级衍射光8a4聚光在跨越检测单元7F2、7F3的光点8a4S上，第4象限光84a的-1级衍射光8a4’聚光在收在检测单元7T4内的光点8a4S’上(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7上的情况下，第1象限光81b的1级衍射光8b1聚光在光点8b1S上，第1象限光81b的-1级衍射光8b1’聚光在光点8b1S’上；第2象限光82b的1级衍射光862聚光在光点8b2S上，第2象限光82b的-1级衍射光8b2’聚光在光点8b2S’上；第3象限光83b的1级衍射光8b3聚光在光点8b3S上，第3象限光83b的-1级衍射光8b3’聚光在光点8b3S’上；第4象限光84b的1级衍射光8b4聚光在光点8b4S上，第4象限光84b的-1级衍射光8b4’聚光在光点8b4S’上(用虚线表示各光点)。

另外，图28所示的点80S是通过全息部件4的各象限的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a中的0级衍射光在光检测器7上的聚光点，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S及光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’是接近衍射焦点且聚成很小的光点。

因此，能够与这些光点的尺寸对应，将光检测器7的宽度w较小地设定在w＝60μm左右。此外，由于返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的前面(接近分光器2的一侧)，因此光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S及光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’，分别与将第1象限光81b、第2象限光82b、第3象限光83b、第4象限光84b的形状相对于交点40反转的形状相似，其大半的区域重叠在检测单元7F2、7F4及检测单元7T1、7T2、7T3、7T4的上面，成为杂散光成分。

图29所示的光盘装置，除了由物镜5形成的聚光点位于光盘的第2信号面6b上(即，成为记录再生的对象的信号面是第2信号面6b)、并且来自第1信号面6a的返回光8b的聚光点位于来自第2信号面6b的返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)以外，其它与图26所示的光盘装置相同，因而省略重复的说明。

与图28的情况相同，图30所示的点80S是通过全息部件4的各象限的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a中的0级衍射光在光检测器7上的聚光点，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S及光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’是接近衍射焦点且缩成很小的光点。

与图26的情况不同，在图29所示的光盘装置中，由于返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的后面，所以，光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S及光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’分别与第1象限光81b、第2象限光82b、第3象限光83b、第4象限光84b的形状相似，其大半的区域重叠在检测单元7F1、7F2、7F3、7F4及检测单元7T1、7T2、7T3、7T4的上面，成为杂散光成分。

几个检测单元被导通，结果，形成能够得到以下6个信号的构成。

F1＝由检测单元7F1得到的信号+由检测单元F3得到的信号

F2＝由检测单元7F2得到的信号+由检测单元F4得到的信号

T1＝由检测单元7T1得到的信号

T2＝由检测单元7T2得到的信号

T3＝由检测单元7T3得到的信号

T4＝由检测单元7T4得到的信号

以图27所示的箭头6R作为光盘的半径方向，基于下式(1)～(3)，检测对光盘信号面的聚焦误差信号FE、对光盘轨道的跟踪误差信号TE、光盘信号面的再生信号RF。

FE＝F1-F2 式(1)

TE＝T1+T4-T2-T3 式(2)

RE＝F1+F2+T1+T2+T3+T4 式(3)

图31表示以往技术中的光盘装置的散焦和聚焦误差信号FE的关系。此处，以光检测器7的宽度为w＝60μm、光盘的信号面只有第1信号面6a而不存在第2信号面6b(或光盘的信号面只有第2信号面6b而不存在第1信号面6a)的情况为前提。此外，关于散焦，物镜5接近信号面的一侧对应于负(-)。图31中的FS信号为F1+F2。在以往技术中，由于组合检测单元7T1、检测单元7T2、检测单元7T3、检测单元7T4的检测器形状，与组合检测单元7F1、检测单元7F2、检测单元7F3、检测单元7F4的检测器形状大致相等，因此光盘的信号面的再生信号RF，看来可基于下式(4)检测。

RF＝2×FS 式(4)

在上述以往的光盘装置中，存在以下的问题。即，在以往的光盘装置中，光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S及光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’的大半的区域，重叠在检测单元7F1、7F2、7F3、7F4及检测单元7T1、7T2、7T3、7T4的上面。在以往的光盘装置中，通过减小光检测器7的宽度w，能够减小该重合的程度，但如果考虑光检测器7和光点的位置误差的界限，w＝60μm左右为极界。如果将第1信号面6a和第2信号面6b的间隔设为d＝25μm、充填在第1信号面6a和第2信号面6b之间的透明介质的折射率设为n＝1.57，则聚焦在第1信号面6a时的第2信号面6b的影响，相当于图31中的散焦d/n＝-16μm时的状态，聚焦在第2信号面6b时的第1信号面6a的影响，相当于图31中的散焦d/n＝16μm时的状态。特别是在散焦d/n＝16μm时，在聚焦误差信号FE中存在不能忽略的偏移量(图31中的振幅A)，因邻近另一面(第1信号面6a)的杂散光造成的影响，对焦点控制面的正确的聚焦被打乱，存在不能正确进行信号的读取或信号的写入的问题。

此外，聚焦在第1信号面6a时的来自第2信号面6b的光点，相当于使来自第1信号面6a的光点仅具有-16μm的散焦的情况；聚焦在第2信号面6b时的来自第1信号面6a的光点，相当于使来自第2信号面6b的光点仅具有16μm的散焦的情况。因此，第1信号面6a、第2信号面6b在焦点控制时都检测出相同的反射光量，聚焦在第1信号面6a时的来自第1信号面6a的信号量与来自第2信号面6b的杂散光光量之比，相当于A1/A0；聚焦在第2信号面时的来自第2信号面的信号量与来自第1信号面的杂散光光量之比，相当于A2/A0，根据图31，这些值相当于17％～24％。由于杂散光光量随邻近另一面的记录状况或地址位的存在而变动，所以这样就难以正确读取焦点控制面的再生信号。

进而，如果考虑在第2信号面6b上记录信号的情况，由于透过光量随第1信号面6a的记录状况或地址位的存在而变动，所以用于在第2信号面6b记录信号的光点的强度变动，这样就难以正确写入信号。

发明内容

本发明是为解决以往技术中的上述问题而提出的，其目的是提供一种能够实现具有多个接近的信号面的光盘的良好记录再生的光盘装置。

为达到上述目的，本发明的光盘装置的第1结构，具有光源、将从所述光源射出的光聚光在光盘上的物镜、衍射由所述光盘反射的光的光分路机构、通过所述光分路机构衍射的光聚光的光检测器，其特征在于：所述光分路机构，通过与光轴交叉的直线被分割成n个)区域Ak，其中，n≥2，k＝1、2、…、n；所述光检测器至少被分割成2个区域A、A’；从所述光源射出的光，通过所述物镜聚光在具有多个信号面的所述光盘的任一个信号面上；由所述聚光的信号面(聚光面)反射的光和由与所述聚光的信号面邻近的信号面(邻近面)反射的光，成为分别经由所述物镜后入射到所述光分路机构中的光a、a’；入射到所述光分路机构的所述区域Ak中的所述光a、a’，分别派生出具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在所述光检测器上；所述1级衍射光ak、ak’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是大致反转的；所述1级衍射光ak大致包含在所述区域A内，所述1级衍射光ak’大致包含在区域A’内。

此外，在所述的本发明的光盘装置的第1结构中，最好是，所述光检测器，除了所述区域A、A’以外，至少被分割成2个区域B、B’；入射到所述光分路机构的所述区域Ak中的所述光a、a’，分别派生具有共同的衍射光轴的-1级衍射光bk、bk’，投射在所述光检测器上；所述-1级衍射光bk、bk’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是相似的；所述-1级衍射光bk、bk’大致一同包含在所述区域B内。此外，在此种情况下，最好是，将在所述区域A检测出的信号设为SA、将在所述区域A’检测出的信号设为SA’、将在所述区域B检测出的信号设为SB、将在所述区域B’检测出的信号设为SB’；在从所述光源射出的光聚光在所述光盘的第1信号面上的情况下，将所述信号SA作为所述第1信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SA’作为第2信号面(邻近面)的反射信号；在从所述光源射出的光聚光在所述光盘的第2信号面上的情况下，将所述信号SB作为所述第2信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SB’作为所述第1信号面(邻近面)的反射信号。此外，在此情况下，最好是，将在所述区域A检测出的信号设为SA、将在所述区域A’检测出的信号设为SA’、将在所述区域B检测出的信号设为SB、将在所述区域B’检测出的信号设为SB’；将信号SA+SB-SA’-SB’作为所述聚光的信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SA’+SB’作为与所述聚光的信号面邻近的信号面(邻近面)的反射信号。此外，在此情况下，最好是，在所述邻近面比所述聚光面更靠近所述物镜侧的情况下，根据所述邻近面的反射信号，控制来自所述光源的发射光量。此外，在此情况下，最好是，在不包含所述区域A’、B’而包含所述区域A、B的区域内，所述光检测器进一步被分割成多个区域，通过运算在被分割的所述多个区域内检测出的信号，生成对所述光盘的聚焦误差信号。

此外，本发明的光盘装置的第2结构是，具有光源、将从所述光源射出的光聚光在光盘上的物镜、衍射由所述光盘反射的光的光分路机构、通过所述光分路机构衍射的光聚光的光检测器，其特征在于：所述光分路机构，通过与光轴交叉的直线被分割成n个区域Bk，其中，n≥2，k＝1、2、…、n；所述光检测器，至少被分割成2个区域B、B’；从所述光源射出的光，通过所述物镜聚光在具有多个信号面的所述光盘的任一个信号面上；由所述聚光的信号面(聚光面)反射的光和由与所述聚光的信号面邻接的信号面(邻近面)反射的光，成为分别经由所述物镜后入射到所述光分路机构中的光b、b’；入射到所述光分路机构的所述区域Bk中的所述光b、b’，分别派生具有共同的衍射光轴的-1级衍射光bk、bk’，投射在所述光检测器上；所述-1级衍射光bk、bk’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是大致反转的；所述-1级衍射光bk大致包含在所述区域B内，所述-1级衍射光bk’大致包含在区域B’内。

此外，在所述的本发明的光盘装置的第2构成中，最好是，所述光检测器，除了所述区域B、B’以外，至少被分割成2个区域A、A’；入射到所述光分路机构的所述区域Bk中的所述光b、b’，分别派生具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在所述光检测器上；所述1级衍射光ak、ak’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是相似的；所述1级衍射光ak、ak’大致一同包含在所述区域A内。此外，在此情况下，最好是，将在所述区域A检测出的信号设为SA、将在所述区域A’检测出的信号设为SA’、将在所述区域B检测出的信号设为SB、将在所述区域B’检测出的信号设为SB’；在从所述光源射出的光聚光在所述光盘的第1信号面上的情况下，将所述信号SA作为所述第1信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SA’作为第2信号面(邻近面)的反射信号；在从所述光源射出的光聚光在所述光盘的第2信号面上的情况下，将所述信号SB作为所述第2信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SB’作为所述第1信号面(邻近面)的反射信号。此外，在此情况下，最好是，将在所述区域A检测出的信号设为SA、将在所述区域A’检测出的信号设为SA’、将在所述区域B检测出的信号设为SB、将在所述区域B’检测出的信号设为SB’；则将信号SA+SB-SA’-SB’作为所述聚光的信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SA’+SB’作为与所述聚光的信号面邻近的信号面(邻近面)的反射信号。此外，在此情况下，最好是，在所述邻近面比所述聚光面更靠近所述物镜侧的情况下，根据所述邻近面的反射信号，控制来自所述光源的发射光量。此外，在此情况下，最好是，在不包含所述区域A’、B’而包含所述区域A、B的区域内，所述光检测器进一步被分割成多个区域，通过运算在被分割的所述多个区域内检测出的信号，生成对所述光盘的聚焦误差信号。

根据所述本发明的构成，对于具有多个邻近的信号面的光盘，能够消除来自邻近另一面的杂散光成分，因此不管邻近另一面的记录状况或地址位的存在如何，也能够正确读取焦点控制面的再生信号。此外，由于能够检测来自邻近另一面的杂散光光量，因此即使在第2信号面上记录信号的情况下，通过推断第1信号面的透过光量，并基于该推断值控制光源的输出，能够控制用于在第2信号面上记录信号的光点的强度，以实现准确的写入。此外，即使在聚焦信号检测中，由于也能够消除来自邻近另一面的杂散光成分，因此能够进行无邻近另一面的影响的聚焦控制。

附图说明

图1是表示本发明的第1实施方式的光盘装置的简要剖面图(由物镜形成的聚光点位于光盘的第1信号面上的情况)。

图2是表示在用于本发明的第1实施方式的光盘装置的、作为光分路机构的全息部件上形成的全息图形的图。

图3是表示在用于本发明的第1实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形和图1所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图。

图4是说明沿着图1所示状态下的该光盘装置的光轴的剖面上的、光检测器前后处的返回光的聚光点位置的图。

图5是表示本发明的第1实施方式的光盘装置的简要剖面图(由物镜形成的聚光点位于光盘的第2信号面上的情况)。

图6是表示在用于本发明的第1实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形和图5所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图。

图7是说明沿着图5所示状态下的该光盘装置的光轴的剖面上的、光检测器前后处的返回光的聚光点位置的图示。

图8是表示本发明的实施方式中的光盘装置的散焦和聚焦误差信号FE之间关系的图。

图9是表示在用于本发明的第2实施方式的光盘装置的作为光分路机构的全息部件上形成的全息图形的图。

图10是表示在用于本发明的第2实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形和在其上的光分布方式的图，图10A表示由物镜形成的聚光点位于光盘的第1信号面上时的光点的配置，图10B表示由物镜形成的聚光点位于光盘的第2信号面上时的光点的配置。

图11是表示本发明的第3实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第1信号面上的情况)。

图12是表示在用于本发明的第3实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形和图11所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图示。

图13是表示本发明的第3实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第2信号面上的情况)。

图14是表示在用于本发明的第3实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形和图13所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图。

图15是表示本发明的第4实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第1信号面上的情况)。

图16是表示在用于本发明的第4实施方式的光盘装置的全息部件上形成的全息图形的图。

图17是表示在用于本发明的第4实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形和图15所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图。

图18是表示本发明的第4实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第2信号面上的情况)。

图19是表示在用于本发明的第4实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图18所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图。

图20是表示本发明的第5实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第1信号面上的情况)。

图21是表示在用于本发明的第5实施方式的光盘装置的、作为光分路机构的全息部件上形成的全息图形的图。

图22是表示在用于本发明的第5实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图20所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图，表示图22A、图22B的2种光分布方式。

图23是表示本发明的第5实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第2信号面上的情况)。

图24是表示在用于本发明的第5实施方式的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图23所示状态下的该光检测器上的光分布方式的图，表示图24A、图24B的2种光分布方式。

图25是表示有调整误差时的光检测面上的光点和分割线的关系的图，图25A表示在图3中的再生信号检测部的分割线附近的光点的样子，图25B表示在图17中的再生信号检测部的分割线附近的光点的样子。

图26是表示以往技术中的光盘装置的简要剖面图(由物镜形成的聚光点位于光盘的第1信号面上的情况)。

图27是表示在用于以往技术中的光盘装置的全息部件上形成的全息图形的图。

图28是表示在用于以往技术中的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图26所示状态下的该光检测器上面的光分布情况的图。

图29是表示以往技术中的光盘装置的简要剖面图(由物镜形成的聚光点位于光盘的第2信号面上的情况)。

图30是表示在用于以往技术中的光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图29所示状态下的该光检测器上面的光分布情况的图。

图31是表示以往技术中的光盘装置的散焦和聚焦误差信号FE之间关系的图。

具体实施方式

以下，根据实施方式更具体地说明本发明。

[第1实施方式]

图1是表示本发明的第1实施方式的光盘装置的简要剖面图(物镜形成的聚光点位于光盘的第1信号面上的情况)，图2是表示在用于该光盘装置的作为光分路机构的全息部件上形成的全息图图形的图，图3是表示在用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和在图1所示状态下的该光检测器上面的光分布方式的图，图4是说明沿着图1状态下的该光盘装置的光轴的剖面上的、光检测器前后处的返回光(在衍射光栅的0级衍射光)的聚光点位置的图。另外，与以往技术中的光盘装置共同的构成部件，附加同一符号说明。

如图1所示，本实施方式的光盘装置，具有：光源1；将从光源1射出的光变换为平行光的准直透镜3；将该平行光聚光在光盘上的物镜5；衍射由光盘反射的光(返回光)的全息部件4；用于弯折依次透过全息部件4、准直透镜3的返回光的分光器2；衍射通过分光器2光路被弯折的返回光的衍射光栅9；分散由衍射光栅9衍射的返回光后进行聚光的光检测器7。

光盘包括：由透明材料构成的基材6，在基材6的表面形成的半透明的第1信号面6a，在第1信号面6a的后面(远离物镜5的一侧)接近该第1信号面6a而形成的第2信号面6b。第1信号面6a和第2信号面6b的距离d，一般为20μm～几十μm的范围，在第1信号面6a和第2信号面6b之间，充填有折射率n(n＝1.5左右)的透明介质。

如图2所示，通过在光轴和全息部件4表面的交点40交叉的直线，全息部件4被四等分成为第1象限41、第2象限42、第3象限43、第4象限44等4个区域，分别形成图形。

如图3所示，光检测器7具有再生信号检测部、聚焦检测部和跟踪检测部。再生信号检测部包括：检测单元71、72、73、74，配置在这些检测单元71、72、73、74的轴对称位置上的检测单元71’、72’、73’、74’，以及与这些检测单元71、72、73、74、71’、72’、73’、74’的外侧邻接配置的、专为检测杂散光而设置的检测单元75a、75b、75c、75d、75c’、75d’。聚焦检测部包括：检测单元7F1、7F2、7F3、7F4、7F5、7F6、7F7，和配置在这些检测单元7F1、7F2、7F3、7F4、7F5、7F6、7F7的轴对称位置上的检测单元7F1’、7F2’、7F3’、7F4’、7F5’、7F6’、7F7’。跟踪检测部包括检测单元7T1、7T2、7T3、7T4，和形状与这些检测单元7T1、7T2、7T3、7T4相似的检测单元7T1’、7T2’、7T3’、7T4’。

如图1所示，从光源1射出的光，透过分光器2，被准直透镜3聚光成为平行光。该平行光在透过全息部件4后，被物镜5聚光在光盘的第1信号面6a上(用实线表示光路)。在该第1信号面6a反射的返回光8a，被物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8a，被准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8a，通过衍射光栅9再次向与被全息部件4衍射的方向不同的方向衍射后，在光检测器7上分散聚光(用实线表示在全息部件4及衍射光栅9的0级衍射光的光路)。

由于光盘的第1信号面6a为半透明，因此聚光在该第1信号面6a上的光中的透过其的光，到达第2信号面6b。另外，在第2信号面6b反射的返回光8b，再次透过第1信号面6a，被物镜5聚光后，入射到全息部件4，被该全息部件4衍射。由全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，并在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，通过衍射光栅9再次向与被全息部件4衍射的方向不同的方向衍射后，在光检测器7上分散聚光(用实线表示全息部件4及衍射光栅9的0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的前面(接近分光器2的一侧)。

如果将由光盘反射的光，即返回光8中的、在成为记录再生的对象的信号面(此处，第1信号面6a)反射并入射到全息部件4的第1象限41～第4象限44的返回光8a，分别规定为第1象限光81a～第4象限84a，将在不是记录再生的对象的信号面(此处是第1信号面6b)反射并入射到全息部件4的第1象限41～第4象限44的返回光8b，分别规定为第1象限光81b～第4象限84b，则返回光8通过全息部件4的第1象限41～第4象限44被四等分(或大致四等分)成第1象限光81a(或81b)、第2象限光82a(或82b)、第3象限光83a(或83b)、第4象限光84a(或84b)，在各自的区域进行衍射。该全息部件4的衍射效率，例如0级光是80％，±1级光是40％。

对于返回光8a、8b两者来说，被衍射光栅9衍射的光中的0级衍射成分(不衍射而直接透过的成分)投射到光检测器7的再生信号检测部上面，1级衍射成分投射到光检测器7的聚焦检测部上面，-1级衍射成分投射到光检测器7的跟踪检测部上面，它们的光分布具有相似关系。即，±级衍射成分形成的光分布，具有只是将0级衍射成分形成的光分布平移的关系。衍射光栅9的衍射效率，例如0级光是80％左右，±1级光是5％左右。

在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，图3所示的点80S是聚光通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a的0级衍射光中通过了衍射光栅9的0级成分聚光的位置。另外，第1象限光81a的1级衍射光8a1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元71内部的光点8a1S上，第1象限光81a的-1级衍射光8a1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元71’内部的光点8a1S’上；第2象限光82a的1级衍射光8a2中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72内部的光点8a2S上，第2象限光82a的-1级衍射光8a2’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72’内部的光点8a2S’上；第3象限光83a的1级衍射光8a3中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元73的内部的光点8a3S上，第3象限光83a的-1级衍射光8a3’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元73’内部的光点8a3S’上；第4象限光84a的1级衍射光8a4中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74内部的光点8a4S上，第4象限光84a的-1级衍射光8a4’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74’内部的光点8a4S’上(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，第1象限光81b的1级衍射光8b1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元75d内部的光点8b1S上，第1象限光81b的-1级衍射光8b1’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在于检测单元71’、72’、73’、74’的内部扩大的光点8b1S’上；第2象限光82b的1级衍射光8b2中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元75b内部的光点8b2S上，第2象限光82b的-1级衍射光8b2’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在于检测单元71’、72’、73’、74’的内部扩大的光点8b2S’上；第3象限光83b的1级衍射光8b3中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元75a内部的光点8b3S上，第3象限光83b的-1级衍射光8b3’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在于检测单元71’、72’、73’、74’的内部扩大的光点8b3S’上；第4象限光84b的1级衍射光8b4中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元75c内部的光点8b4S上，第4象限光84b的-1级衍射光8b4’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在于检测单元71’、72’、73’、74’的内部扩大的光点8b4S’上(用虚线表示各光点)。

如图4所示，1级衍射光8a1、8b1中通过衍射光栅9的0级成分、1级衍射光8a2、8b2中通过衍射光栅9的0级成分、1级衍射光8a3、8b3中通过衍射光栅9的0级成分、1级衍射光8a4、8b4中通过衍射光栅9的0级成分、-1级衍射光8a1’、8b1’中通过衍射光栅9的0级成分、-1级衍射光8a2’、8b2’中通过衍射光栅9的0级成分、-1级衍射光8a3’、8b3’中通过衍射光栅9的0级成分、-1级衍射光8a4’、8b4’中通过衍射光栅9的0级成分，分别具有共同的衍射光轴m₁、m₂、m₃、m₄、m₁’、m₂’、m’₃、m₄’。

如图3、图4所示，衍射光轴m₁、m₂、m₃、m₄和光检测器7的检测面7S的交点，分别存在于检测单元71和检测单元75d的界线71a、检测单元72和检测单元75b的界线72a、检测单元73和检测单元75a的界线73a、检测单元74和检测单元75c的界线74a的附近(例如，光点尺寸的1/10的距离以内)。此外，衍射光轴m₁’、m₂’、m’₃m₄’和检测面7S的交点，分别存在于检测单元71’和检测单元75d’的界线71a’、检测单元72’和检测单元75a的界线72a’、检测单元73’和检测单元75b的界线73a’、检测单元74’和检测单元75c’的界线74a’的附近(例如，光点尺寸的1/10的距离以内)。

如图4所示，在全息部件4衍射的返回光8a，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的1级衍射光8a1、8a2、8a3、8a4中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S后面的距离L1的位置。与此对应，在全息部件4衍射的返回光8b，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的1级衍射光8b1、8b2、8b3、8b4中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S前面的距离L2(其中，L2是大致等于L1的值)的位置。因此，如图3所示，1级衍射光8a1、8b1中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a1S、8b1S，1级衍射光8a2、8b2中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a2S、8b2S，1级衍射光8a3、8b3中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a3S、8b3S，1级衍射光8a4、8b4中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a4S、8b4S，具有以各自的衍射光轴m₁、m₂、m₃、m₄和检测面7S的交点(即，界线71a、72a、73a、74a附近)为界折返的关系。

此外，如图4所示，在全息部件4衍射的返回光8a，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的-1级衍射光8a1’、8a2’、8a3’、8a4’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S的前面的距离L1的位置。与此对应，在全息部件4衍射的返回光8b，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的-1级衍射光8b1’、8b2’、8b3’、8b4’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S前面的距离L3(其中，L3-L1＝L1+L2)的位置。因此，如图3所示，光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’是固定各衍射光轴m₁’、m₂’、m₃’、m₄’和检测面7S的交点(即，扇形状的轴位置)后、分别将光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’放大3倍左右而成的。

在返回光8a投射在光检测器7的聚焦检测部上面的情况下，图3所示的点80F是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a的0级衍射光中，在衍射光栅9衍射的1级成分所聚光的位置。另外，第1象限光8a1的1级衍射光8a1中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a1F，第1象限光81a的-1级衍射光8a1’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a1F’；第2象限光82a的1级衍射光8a2中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a2F，第2象限光82a的-1级衍射光8a2’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a2F’；第3象限光83a的1级衍射光8a3中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a3F，第3象限光83a的-1级衍射光8a3’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a3F’；第4象限光84a的1级衍射光8a4中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a4F，第2象限光84a的-1级衍射光8a4’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8a4F’(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7的聚焦检测部上面的情况下，第1象限光81b的1级衍射光8b1中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b1F，第1象限光81b的-1级衍射光8b1’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b1F’；第2象限光82b的1级衍射光8b2中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b2F，第2象限光82b的-1级衍射光8b2’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b2F’；第3象限光83b的1级衍射光8b3中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b3F，第3象限光8b3的-1级衍射光83b’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b3F’；第4象限光84b的1级衍射光8b4中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b4F，第4象限光84b的-1级衍射光8b4’中在衍射光栅9衍射的1级成分，聚光在光点8b4F’(用虚线表示各光点)。

在返回光8a投射在光检测器7的跟踪检测部上面的情况下，图3所示的点80T是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a的0级衍射光中、在衍射光栅9衍射的-1级成分所聚光的位置。另外，第1象限光81a的1级衍射光8a1中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a1T，第1象限光8a1的-1级衍射光8a1’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a1T’；第2象限光82a的1级衍射光8a2中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a2T，第2象限光82a的-1级衍射光8a2’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a2T’；第3象限光83a的1级衍射光8a3中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a3T，第3象限光83a的-1级衍射光8a3’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a3T’；第4象限光84a的1级衍射光8a4中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a4T，第2象限光84a的-1级衍射光8a4’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8a4T’(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7的跟踪检测部上面的情况下，第1象限光81b的1级衍射光8b1中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b1T，第1象限光81b的-1级衍射光8b1’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b1T’；第2象限光82b的1级衍射光8b2中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b2T，第2象限光82b的-1级衍射光8b2’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b2T’；第3象限光83b的1级衍射光8b3中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b3T，第3象限光83b的-1级衍射光8b3’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b3T’；第4象限光84b的1级衍射光8b4中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b4T，第4象限光84b的-1级衍射光8b4’中在衍射光栅9衍射的-1级成分，聚光在光点8b4T’(用虚线表示各光点)。

图5表示由物镜5形成的聚光点位于光盘的第2信号面6b上(即，成为记录再生的对象的信号面是第2信号面6b)、返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点后面(远离分光器2的一侧)时的光盘装置，图6表示在此时的光检测器上形成的光检测图形和其上的光分布情况，图7是说明沿着此时的该光盘装置的光轴的剖面上的、光检测器前后处的返回光(衍射光栅的0级衍射光)的聚光点位置的图。

如图5所示，聚光在第2信号面6b上的光中，其中一部分不到达第2信号面6b而在第1信号面6a反射，成为返回光8b。该返回光8b被物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，并在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b通过衍射光栅9再次向与被全息部件4衍射的方向不同的方向衍射后，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示全息部件4及衍射光栅9的0级衍射光的光路)。其中，来自不是记录再生的对象的信号面(此处为第1信号面6a)的返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)。

与图3的情况相同，图6所示的点80S、80F、80T是通过了全息部件4的第1象限光81 a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a的0级衍射光中由衍射光栅9衍射的0级、1级、-1级的成分分别聚光的位置，各光点的投射位置和返回光8a中投射在光检测器7的再生信号检测部、聚焦检测部、跟踪检测部上的光点形状，都与图3的情况相同。但是，返回光8b中投射在再生信号检测部上面的光点的形状，是将图3相对于点80S反转的图形。此外，返回光8b中投射在聚焦检测部上面的光点形状，是将图3相对于点80F反转的图形。进而，返回光8b中投射在跟踪检测部上面的光点形状，是将图3相对于点80T反转的图形。

如图7所示，在全息部件4衍射的返回光8a，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的-1级衍射光8a1’、8a2’、8a3’、8a4’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S后面的距离L1的位置。与此对应，在全息部件4衍射的返回光8b，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的-1级衍射光8b1’、8b2’、8b3’、8b4’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S后面的距离L2(其中，L2是大致等于L1的值)的位置。因此，如图6所示，-1级衍射光8a1’、8b1’中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a1S’、8b1S’，-1级衍射光8a2’、8b2’中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a2S’、8b2S’，-1级衍射光8a3’、8b3’中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a3S’、8b3S’，-1级衍射光8a4’、8b4’中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a4S’、8b4S’，具有以各自的衍射光轴m₁’、m₂’、m₃’、m₄’和检测面7S的交点(即，界线71a’、72a’、73a’、74a’的附近)为界折返的关系。

此外，如图7所示，在全息部件4衍射的返回光8a，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的1级衍射光8a1、8a2、8a3、8a4中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S后面的距离L1的位置。与此对应，在全息部件4衍射的返回光8b，即分别在第1象限41～第4象限44衍射的1级衍射光8b1、8b2、8b3、8b4中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在检测面7S后面的距离L3(其中，L3-L1＝L1+L2)的位置。因此，如图6所示，1级衍射光8b1、8b2、8b3、8b4中通过衍射光栅9的0级成分的光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S是，固定各衍射光轴m₁、m₂、m₃、m₄和检测面7S的交点(即，扇形的轴位置)后，分别将1级衍射光8a1、8a2、8a3、8a4中通过衍射光栅9的0级成分的光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S放大3倍左右而成的。

检测单元中的几个被导通，结果，形成能够得到以下9个信号的构成。

S1＝由检测单元71得到的信号+由检测单元71’得到的信号

S2＝由检测单元72得到的信号+由检测单元72’得到的信号

S3＝由检测单元73得到的信号+由检测单元73’得到的信号

S4＝由检测单元74得到的信号+由检测单元74’得到的信号

S5＝由检测单元75a得到的信号

+由检测单元75b得到的信号

+由检测单元75c得到的信号

+由检测单元75d得到的信号

+由检测单元75c’得到的信号

+由检测单元75d’得到的信号

F1＝由检测单元7F1得到的信号

+由检测单元7F3得到的信号

+由检测单元7F5得到的信号

+由检测单元7F7得到的信号

+由检测单元7F2’得到的信号

+由检测单元7F4’得到的信号

+由检测单元7F6’得到的信号

F2＝由检测单元7F2得到的信号

+由检测单元7F4得到的信号

+由检测单元7F6得到的信号

+由检测单元7F1’得到的信号

+由检测单元7F3’得到的信号

+由检测单元7F5’得到的信号

+由检测单元7F7’得到的信号

T1＝由检测单元7T1得到的信号

+由检测单元7T3得到的信号

+由检测单元7T1’得到的信号

+由检测单元7T3’得到的信号

T2＝由检测单元7T2得到的信号

+由检测单元7T4得到的信号

+由检测单元7T2’得到的信号

+由检测单元7T4’得到的信号

以图2所示的箭头6R作为光盘的半径方向，基于下列式(5)～(8)，检测对光盘的第1信号面6a、第2信号面6b的聚焦误差信号FE，对光盘轨道的跟踪误差信号TE，光盘信号面的再生信号RF，来自光盘信号面的邻近另一面的杂散光信号SL。

FE＝F2-F1 式(5)

TE＝S1+S4-S2-S3-m×(T2-T1) 式(6)

RF＝S1+S2+S1+S4-S5 式(7)

SL＝S5 式(8)

此处，上述式(6)中的S1+S4-S2-S3，包括大的跟踪误差信息和小的物镜5的移位信息，T2-T1包含小的跟踪误差信息和大的物镜5的移位信息。因此，基于上述式(6)的跟踪误差检测法，成为通过包含适当系数m的两者的运算来消除物镜5的移位(伴随跟踪控制的光轴和透镜中心轴的偏离)影响的跟踪误差检测法(当然，如果设m＝0，则成为普通的跟踪误差检测法)。

在图3中，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S分别收在检测单元71、72、73、74的内部，光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S分别收在检测单元75d、75b、75a、75c的内部，光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’、8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’收在检测单元71’、72’、73’、74’的内部。另一方面，在图6中，光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’分别收在检测单元71’、72’、73’、74’的内部，光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’分别收在检测单元75d’、75a、75b、75c’的内部，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S、8b1S、8b2S、8b3S、8b4S收在检测单元71、72、73、74的内部。因此，光盘上的聚光点无论位于第1信号面6a侧，还是位于第2信号面6b侧，上述式(8)的信号SL都表示来自邻近另一面的杂散光成分的光量。另一方面，由于S1+S2+S3+S4中所含的来自邻近另一面的杂散光成分的光量，与S5中所含的杂散光成分的光量一致，所以通过用于检测光盘信号面的再生信号RF的公式即上述式(7)，几乎完全去除了杂散光成分。因此，不管邻近另一面的记录状况或地址位的存在如何，也能够正确读取焦点控制面的再生信号。一般，即使在第2信号面6b上还记录信号的情况下，从第1信号面6a的反射光量即杂散光信号SL，推定第1信号面6a的透射光量，并基于该推断值增减光源1的输出，由此，能够控制用于在第2信号面6b上记录信号的光点的强度，以实现正确的写入。

图8是表示本实施方式中的光盘装置的散焦和聚焦误差信号FE之间关系的图。此处，以光盘的信号面只是第1信号面6a而不存在第2信号面6b(或者，以光盘的信号面只是第2信号面6b而不存在第1信号面6a)的情况为前提。此外，关于散焦，物镜5接近信号面的一侧与负(-)对应。其中，图8中的FS信号(FS＝F1+F2)，由于信号F1、F2与光盘信号面的再生信号RF的检测无关，所以不具有以往技术中的上述式(4)那样的关系。如果设定第1信号面6a和第2信号面6b的间隔为d＝25μm，充填在第1信号面6a和第2信号面6b之间的透明介质的折射率为n＝1.57，则向第1信号面6a聚焦时的第2信号面6b的影响，就相当于图8中的散焦d/n＝-16μm时的状态，向第2信号面6b聚焦时的第1信号面6a的影响，相当于图8中的散焦d/n＝16μm时的状态。得知此时的聚焦误差信号FE的偏焦量几乎都为零，邻近另一面的影响对聚焦控制的影响几乎不存在。这是因为，对焦时，在图3中，来自邻近另一面的杂散光成分的光点8b1F、8b2F、8b3F、8b4F的大部分区域，溢出到检测单元7F1、7F2、7F3、7F4、7F5、7F6、7F7的外部，所以不作为信号F1、F2检测，由于杂散光成分的光点8b1F’、8b2F’、8b3F’、8b4F’扩展到检测单元7F2’、7F3’、7F4’、7F5’、7F6’的大致整个区域，因此不作为聚焦误差信号。

此外，在图6中，来自邻近另一面的杂散光成分的光点8b1F’、8b2F’、8b3F’、8b4F’的大部分区域溢出到检测单元7F1’、7F2’、7F3’、7F4’、7F5’、7F6’、7F7’的外部，所以不作为信号F1、F2检测，由于杂散光成分的光点8b1F、8b2F、8b3F、8b4F扩展到检测单元7F2、7F3、7F4、7F5、7F6的大致整个区域，因此不作为聚焦误差信号FE。

如上所述，不打乱对焦点控制面的正确的聚焦，能够正确进行信号的读取或信号的写入。

另外，在本实施方式中，通过运算，去除了光盘信号面的再生信号RF的杂散光成分，但也可以按以下方式检测再生信号RF(即使在以下说明的其它实施方式中也同样)。

例如，在由物镜5形成的聚光点位于光盘的第1信号面6a上的情况下，得出：

RF＝由检测单元71得到的信号

+由检测单元72得到的信号

+由检测单元73得到的信号

+由检测单元74得到的信号式(7a)

在由物镜5形成的聚光点位于光盘的第2信号面6b上的情况下，得出：

RF＝由检测单元71’得到的信号

+由检测单元72’得到的信号

+由检测单元73’得到的信号

+由检测单元74’得到的信号式(7b)即使具有如此切换的构成，也能够去除光盘信号面的再生信号RF的杂散光成分。

[第2实施方式]

在上述第1实施方式中，通过全息部件对波面进行四等分，但只要是n等分(n为2以上的整数)就可以，例如在二等分的情况下，状况如下。

图9是表示在用于本发明的第2实施方式的光盘装置的、作为光分路机构的全息部件上形成的全息图形的图，图10是表示在用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和其上的光分布方式的图。在本实施方式中，除全息部件的构成和光检测器上的检测图形不同以外，其余全部与上述第1实施方式相同，对于与上述第1实施方式中的光盘装置共同的构成部件，附加同一符号说明。

如图9所示，利用通过光轴和全息部件4的表面的交点40的直线，全息部件4被二等分成第(1+2)象限41、第(3+4)象限42的2个区域。另外，全息部件4利用各象限，将来自光盘的第1信号面6a(或第2信号面6b)的返回光8二等分成第(1+2)象限光81 a(或81b)、第(3+4)象限光82a(或82b)，在各自的区域衍射。

如图10所示，光检测器7的再生信号检测部具有检测单元71、72、73、74，和配置在这些检测单元71、72、73、74的轴对称位置上的检测单元71’、72’、73’、74’。

图10A表示由物镜5形成的聚光点位于光盘的第1信号面6a上时的光点的配置。在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，图10A所示的点80S是通过了全息部件4的第(1+2)象限光81a、第(3+4)象限光82a的0级衍射光中通过衍射光栅9的0级成分聚光的位置。另外，第(1+2)象限光81a的1级衍射光8a1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72内部的光点8a1S上，第(1+2)象限光81a的-1级衍射光8a1’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72’内部的光点8a1S’上；第(3+4)象限光82a的1级衍射光8a2中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74内部的光点8a2S上，第(3+4)象限光82a的-1级衍射光8a2’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74’的内部的光点8a2S’上(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部的情况下，第(1+2)象限光81b的1级衍射光8b1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元73内部的光点8b1S上，第(1+2)象限光81b的-1级衍射光8b1’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72’内部的光点8b1S’上；第(3+4)象限光82b的1级衍射光8b2中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元71内部的光点8b2S上，第(3+4)象限光82b的-1级衍射光8b2’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74’内部的光点8b2S’上(用虚线表示各光点)。

另一方面，图10B表示由物镜5形成的聚光点位于光盘的第2信号面6b上时的光点的配置。在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，第(1+2)象限光81a的1级衍射光8a1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72内部的光点8a1S 上，第(1+2)象限光81a的-1级衍射光8a1’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72’内部的光点8a1S’上；第(3+4)象限光82a的1级衍射光8a2中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74内部的光点8a2S上，第(3+4)象限光82a的-1级衍射光8a2’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74’内部的光点8a2S’上(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，第(1+2)象限光81b的1级衍射光8b1中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元72内部的光点8b1S上，第(1+2)象限光81b的-1级衍射光8b1’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元73’内部的光点8b1S’上；第(3+4)象限光82b的1级衍射光8b2中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元74内部的光点8b2S上，第(3+4)象限光82b的-1级衍射光8b2’中通过衍射光栅9的0级成分，聚光在收在检测单元71’的内部的光点8b2S’上(用虚线表示各光点)。

因此，如果基于下列式(9)、(10)检测光盘信号面的再生信号RF、来自光盘信号面的邻近另一面的杂散光成分SL，能够得到与上述第1实施方式同样的效果。

RF＝由检测单元72得到的信号

+由检测单元74得到的信号

+由检测单元72’得到的信号

+由检测单元74’得到的信号式(9)

SL＝由检测单元71得到的信号

+由检测单元73得到的信号

+由检测单元71’得到的信号

+由检测单元73’得到的信号式(10)

[第3实施方式]

图11是表示本发明的第3实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第1信号面上的情况)，图12是表示在用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图11所示状态下的该光检测器上的光分布方式的图，图13是表示本发明的第3实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第2信号面上的情况)，图14是表示在用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和图13所示状态下的该光检测器上的光分布方式的图。在本实施方式中，除了不设置衍射光栅、并且光检测器7上的检测图形及光分布不同以外，其余全部与上述第1实施方式相同，关于与上述第1实施方式中的光盘装置共同的构成部件，附加相同符号说明。

如图12所示，光检测器7的再生信号检测部包括检测单元71～79、和在这些检测单元71～79的轴对称位置上配置的检测单元71’～79’。这些检测单元71’～79’进一步分别被等分割成71a’和71b’、…、77a’和77b’等。

如图11所示，从光源1射出的光，透过分光器2，由准直透镜3聚光，成为平行光。该平行光在透过全息部件4后，被物镜5聚光在光盘的第1信号面6a上(光路用实线表示)。由该第1信号面6a反射的返回光8a，被物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。由全息部件4衍射的返回光8a，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8a，在光检测器7上分散聚光(用实线表示0级衍射光的光路)。

由于光盘的第1信号面6a为半透明，因此，聚光在该第1信号面6a上的光中，透过它的光到达第2信号面6b。另外，在第2信号面6b反射的返回光8b，再次透过第1信号面6a，并且由物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射后，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的前面(接近分光器2的一侧)。

与上述第1实施方式时同样(参照图2)，通过在光轴和全息部件4的表面的交点40交叉的直线，全息部件4被四等分成第1象限41、第2象限42、第3象限43、第4象限44等4个区域。另外，全息部件4通过各象限，将来自光盘的第1信号面6a(或第2信号面6b)的返回光8，四等分成第1象限光81a(或81b)、第2象限光82a(或82b)、第3象限光83a(或83b)、第4象限光84a(或84b)，在各自的区域进行衍射。该全息部件4的衍射效率，例如0级光为0％左右、±1级光为40％左右。

在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，图12所示的点80S是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a的0级衍射光聚光的位置。并且，第1象限光81a的1级衍射光8a1，聚光在收在检测单元72、73内部的光点8a1S上，第1象限光81a的-1级衍射光8a1’，聚光在收在检测单元72’、73’内部的光点8a1S’上；第2象限光82a的1级衍射光8a2，聚光在收在检测单元75、76内部的光点8a2S上，第2象限光82a的-1级衍射光8a2’，聚光在收在检测单元75’、76’内部的光点8a2S’上；第3象限光83a的1级衍射光8a3，聚光在收在检测单元75、76内部的光点8a3S上，第3象限光83a的-1级衍射光8a3’，聚光在收在检测单元75’、76’内部的光点8a3S’上；第4象限光84a的1级衍射光8a4，聚光在收在检测单元72、73内部的光点8a4S上，第4象限光84a的-1级衍射光8a4’，聚光在收在检测单元72’、73’内部的光点8a4S’上(各光点用实线表示)。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，第1象限光81b的1级衍射光8b1，其大部分聚光在收在检测单元78内部的光点8b1S上，第1象限光81b的-1级衍射光8b1’，聚光在在检测单元72’～76’内部扩大的光点8b1S’上；第2象限光82b的1级衍射光8b2，其大部分聚光在收在检测单元78内部的光点8b2S上，第2象限光82b的-1级衍射光8b2’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b2S’上；第3象限光83b的1级衍射光8b3，其大部分聚光在收在检测单元79内部的光点8b3S上，第3象限光83b的-1级衍射光8b3’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b3S’上；第4象限光84b的1级衍射光8b4，其大部分聚光在收在检测单元79内部的光点8b4S上，第4象限光84b的-1级衍射光8b4’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b4S’上(用虚线表示各光点)。

以上的光点，与投射在图3所示的上述第1实施方式中的再生信号检测部上面的光点完全相同。

如图13所示，当在光盘的第2信号面6b上聚光的情况下，返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)。除此以外，由于与图11相同，因此省略重复的说明。

如图13所示，聚光在第2信号面6b上的光中，在第1信号面6a反射的返回光8b通过物镜5聚光后，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，由准直透镜3聚光，并在分光器2的分光面2a反射后，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)。

与图12的情况相同，图14所示的点80S是通过了全息部件4的各象限的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a中的0级衍射光聚光的位置。在返回光8a中，投射在检测部上面的光点的形状都与图12相同，但在返回光8b中，投射在检测部上面的光点的形状，是将图12相对于点80S反转而成的图形。

几个检测单元被导通，结果，形成能够得到以下7个信号的结构。

S1＝由检测单元71得到的信号+由检测单元73得到的信号

+由检测单元75得到的信号+由检测单元77得到的信号

S2＝由检测单元72得到的信号+由检测单元74得到的信号

+由检测单元76得到的信号

S3a＝由检测单元71a’得到的信号

+由检测单元73a’得到的信号

+由检测单元75a’得到的信号

+由检测单元77a’得到的信号

S3b＝由检测单元71b’得到的信号

+由检测单元73b’得到的信号

+由检测单元75b’得到的信号

+由检测单元77b’得到的信号

S4a＝由检测单元72a’得到的信号

+由检测单元74a’得到的信号

+由检测单元76a’得到的信号

S4b＝由检测单元72b’得到的信号

+由检测单元74b’得到的信号

+由检测单元76b’得到的信号

S5＝由检测单元78得到的信号+由检测单元79得到的信号

+由检测单元78’得到的信号+由检测单元79’得到的信号

以图2所示的箭头6R作为光盘的半径方向，基于下列式(11)～(14)，检测对光盘的第1信号面6a、第2信号面6b的聚焦误差信号FE，对光盘轨道的跟踪误差信号TE，光盘信号面的再生信号RF，以及来自光盘的信号面的邻近另一面的杂散光信号SL。

FE＝S1+S4a+S4b

-(S2+S3a+S3b) 式(11)

TE＝S3b+S4b-S3a

-S4a 式(12)

RF＝S1+S2+S3a+S3b

+S4a+S4b-S5 式(13)

SL＝S5 式(14)

与上述第1实施方式同样，在图12中，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S几乎全部收在检测单元72～76的内部，光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S几乎全部收在检测单元78、79的内部，光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’、8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’收在检测单元72’～76’的内部。另一方面，在图14中，光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’收在检测单元72’～76’的内部，光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’几乎全部收在检测单元78’、79’的内部，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S、8b1S、8b2S、8b3S、8b4S收在检测单元72～76的内部。因此，光盘上的聚光点无论位于第1信号面6a侧、还是位于第2信号面6b侧，上述式(14)的信号SL都表示来自邻近另一面的杂散光成分的光量。另一方面，由于S1+S2+S3a+S3b+S4a+S4b中所含的来自邻近另一面的杂散光成分的光量，与S5中所含的杂散光成分的光量一致，所以通过用于检测光盘的信号面的再生信号RF的公式即上述式(13)，可大致完全去除杂散光成分。因此，不管邻近另一面的记录状况或地址位的存在如何，也能够正确读取焦点控制面的再生信号。一般，即使在第2信号面6b上还记录信号的情况下，根据第1信号面6a的反射量即杂散光信号SL，可推断第1信号面6a的反射光量，基于该推断值来增减光源1的输出，这样，也能够控制用于在第2信号面6b上记录信号的光点的强度，以实现准确的写入。

此外，上述式(11)所示的聚焦误差信号FE，与上述第1实施方式的情况完全相同。即，图8给出本实施方式的散焦和聚焦误差信号FE的关系。因此，邻近另一面的影响引起的对偏焦控制的影响，几乎不存在。这是因为，在对焦点时，在图12中，来自邻近另一面的杂散光成分的光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S的几乎全部区域溢出到检测单元71～77的外部，所以不作为信号F1、F2检测，由于杂散光成分的光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’扩散到检测单元72’～76’的大致整个区域，因此不作为聚焦误差信号FE。

此外，在图14中，由于来自邻近另一面的杂散光成分的光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’的几乎全部区域溢出到检测单元71’～77’的外部，所以不作为信号F1、F2检测，由于杂散光成分的光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S扩散到检测单元72～76的大致整个区域，因此不作为聚焦误差信号FE。

由此，不打乱对焦点控制面的正确的聚焦，能够准确地进行信号的读取或信号的写入。与上述第1实施方式相比，本实施方式不具有衍射光栅9，还具有简化光检测器7的结构等优点。

[第4实施方式]

图15是表示本发明的第4实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第1信号面上的情况)，图16是表示在用于该光盘装置的全息图上形成的全息图图形，图17是表示在用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和在图15的状态下的该光检测器上的光分布方式的图，图18是表示该光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第2信号面上的情况)，图19是表示在用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和在图18的状态下的该光检测器上的光分布方式的图示。在本实施方式中，除了光源1制造在光检测器7内、以及光检测器7上的检测图形和光盘的径向6R的方位不同以外，其余和上述第3实施方式相同，对于与上述第3实施方式中的光盘装置共同的构成部分，附加相同符号说明。

如图17所示，光检测器7的再生信号检测部包括检测单元71～77、和配置在这些检测单元71～77的轴对称位置上的检测单元71’～77’构成。其中，检测单元72’～76’再分别被等分割成72a’和72b’、…、76a’和76b’等。由于在检测单元71～77和检测单元71’～77’之间配置了光源1，因此与上述第1实施方式或上述第3实施方式相比，加大设定了检测单元71～77和检测单元71’～77’的间隔L。

如图15所示，从光源1射出的光在分光器2的分光面2a反射后，光路被弯折。光路被弯折的光，由准直透镜3聚光，成为平行光。该平行光在透过全息部件4后，被物镜5聚光在光盘的第1信号面6a上(用实线表示光路)。在该第1信号面6a反射的返回光8a，由物镜5聚光后，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8a，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8a，在光检测器7上分散聚光(用实线表示0级衍射光的光路)。

由于光盘的第1信号面6a为半透明性，因此，聚光在该第1信号面6a上的光中，透过它的光到达第2信号面6b。另外，在第2信号面6b反射的返回光8b，再次透过第1信号面6a，由物镜5聚光后，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的前面(接近分光器2的一侧)。

如图16所示，通过在光轴和全息部件4的表面的交点40交叉的直线，全息部件4被四等分成第1象限41、第2象限42、第3象限43、第4象限44等4个区域。另外，全息部件4通过各象限，将来自光盘的第1信号面6a(或第2信号面6b)的返回光8四等分成第1象限光81a(或81b)、第2象限光82a(或82b)、第3象限光83a(或83b)、第4象限光84a(或84b)，在各自的区域衍射。该全息部件4的衍射效率，例如0次光为0％左右，±1次光为40％左右。

在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，图17所示的点80S是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a的0级衍射光聚光的位置(同时，与光源1的发光点位置1S也一致)。另外，第1象限光81a的1级衍射光8a1，聚光在收在检测单元72、73的内部的光点8a1S上，第1象限光81a的-1级衍射光8a1’，聚光在收在检测单元72’、73’的内部的光点8a1S’上；第2象限光82a的1级衍射光8a2，聚光在收在检测单元72、73的内部的光点8a2S上，第2象限光82a的-1级衍射光8a2’，聚光在收在检测单元72’、73’的内部的光点8a2S’上；第3象限光83a的1级衍射光8a3，聚光在收在检测单元75、76的内部的光点8a3S上，第3象限光83a的-1级衍射光8a3’，聚光在收在检测单元75’、76’的内部的光点8a3S’上；第4象限光84a的1级衍射光8a4，聚光在收在检测单元75、76的内部的光点8a4S上，第4象限光84a的-1级衍射光8a4’，聚光在收在检测单元75’、76’的内部的光点8a4S’上(用实线表示各光点)。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，第1象限光81b的1级衍射光8b1，其大部分聚光在收在检测单元71的内部的光点8b1S上，第1象限光81b的-1级衍射光8b1’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b1S’上；第2象限光82b的1级衍射光8b2，其大部分聚光在收在检测单元71的内部的光点8b2S上，第2象限光82b的-1级衍射光8b2’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b2S’上；第3象限光83b的1级衍射光8b3，其大部分聚光在收在检测单元77的内部的光点8b3S上，第3象限光83b的-1级衍射光8b3’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b3S’上；第4象限光84b的1级衍射光8b4，其大部分聚光在收在检测单元77的内部的光点8b4S上，第4象限光84b的-1级衍射光8b4’，聚光在在检测单元72’～76’的内部扩大的光点8b4S’上(用虚线表示各光点)。

以上的光点，除1级衍射光和-1级衍射光的间隔扩大以外，其它与图12所示的上述第3实施方式中的光点完全相同。

图18，除了物镜5的聚光点位于光盘的第2信号面6b上、以及返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)以外，其余与图15完全相同，因此省略重复的说明。

如图18所示，聚光在第2信号面6b上的光中，其中一部分不到达第2信号面6b而在第1信号面6a反射，成为返回光8b。该返回光8b由物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射后，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)。

图19所示的点80S，与图17的情况相同，是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、第3象限光83a、第4象限光84a中的0级衍射光聚光的位置。在返回光8a中投射在检测部7的检测部上的光点的形状，全部与图17相同。但是，在返回光8b中，投射在光检测器7的检测部上面的光点的形状，是将图17相对于点80S反转而成的图形。以上的光点，除了1级衍射光和-1级衍射光的间隔扩大以外，其余与图14所示的上述第3实施方式中的光点完全相同。

几个检测单元被导通，结果，形成能够得到以下7个信号的构成。

S1＝由检测单元72得到的信号+由检测单元74得到的信号

+由检测单元76得到的信号

S2＝由检测单元73得到的信号+由检测单元75得到的信号

S3a＝由检测单元72a’得到的信号

+由检测单元74a’得到的信号

+由检测单元76a’得到的信号

S3b＝由检测单元72b’得到的信号

+由检测单元74b’得到的信号

+由检测单元76b’得到的信号

S4a＝由检测单元73a’得到的信号

+由检测单元75a’得到的信号

S4b＝由检测单元73b’得到的信号

+由检测单元75b’得到的信号

S5＝由检测单元71得到的信号+由检测单元77得到的信号

+由检测单元71’得到的信号+由检测单元77’得到的信号

以图16所示的箭头6R作为光盘的半径方向(与上述第3实施方式相比，相对于全息部件4、光检测器7的方位旋转了90度)，基于下列式(15)～(18)，检测对光盘的第1信号面6a、第2信号面6b的聚焦误差信号FE，对光盘轨道的跟踪误差信号TE，光盘的信号面的再生信号RF，以及来自光盘的信号面的邻近另一面的杂散光信号SL。

FE＝S1+S4a+S4b

-(S2+S3a+S3b) 式(15)

TE＝S3b+S4b-S3a-S4a 式(16)

RF＝S1+S2+S3a+S3b

+S4a+S4b-S5 式(17)

SL＝S5 式(18)

与上述第3实施方式同样，在图17中，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S收在检测单元72～76的内部，光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S大部分收在检测单元71、77的内部，光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’、8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’收在检测单元72’～76’的内部。另一方面，在图19中，光点8a1S’、8a2S’、8a3S’、8a4S’收在检测单元72’～76’的内部，光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’大部分收在检测单元71’、77’的内部，光点8a1S、8a2S、8a3S、8a4S、8b1S、8b2S、8b3S、8b4S收在检测单元72～76的内部。因此，光盘上的聚光点无论位于第1信号面6a侧、还是位于第2信号面6b侧，上述式(18)的信号SL都表示来自邻近另一面的杂散光成分的光量。另一方面，由于S1+S2+S3a+S3b+S4a+S4b中所含的来自邻近另一面的杂散光成分的光量，与S5中所含的杂散光成分的光量一致，所以通过用于检测光盘的信号面的再生信号RF的公式即上述式(17)，大致完全去除了杂散光成分。因此，不管邻近另一面的记录状况或地址位的存在如何，也能够正确读取焦点控制面的再生信号。一般，即使在第2信号面6b上也记录信号的情况下，根据第1信号面6a的反射量即杂散光信号SL，来推断第1信号面6a的反射光量，并基于该推断值来增减光源1的输出，这样，也能够控制用于在第2信号面6b上记录信号的光点的强度，以实现准确的写入。

此外，上述式(15)所示的聚焦误差信号FE，与上述第1实施方式的情况几乎相同。即，图8近似地给出本实施方式的散焦和聚焦误差信号FE的关系。因此，可以认为，邻近另一面的影响对偏焦控制的影响几乎不存在。这是因为，在对焦点时，在图17中，由于来自邻近另一面的杂散光成分的光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S的大部分区域，溢出到检测单元72～76的外部，所以不作为信号F1、F2检测，由于杂散光成分的光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’扩展到检测单元72’～76’的大致整个区域，因此不作为聚焦误差信号FE。

此外，在图19中，由于来自邻近另一面的杂散光成分的光点8b1S’、8b2S’、8b3S’、8b4S’的大部分区域，也溢出到检测单元72’～76’的外部，所以不作为信号F1、F2检测，由于杂散光成分的光点8b1S、8b2S、8b3S、8b4S扩展到检测单元72～76的大致整个区域，因此不作为聚焦误差信号FE。

如上所述，不打乱对焦点控制面的正确的聚焦，能够准确进行信号的读取或信号的写入。此外，本实施方式，由于各检测单元间的分割线与光的衍射方向一致，所以即使光源1的波长变动，光点的变位也沿分割线进行。因而，本实施方式具有即使1级衍射光和-1级衍射光的间隔加大，聚焦误差信号FE等也不受影响的优点。此外，即使物镜5沿光盘的径向6R移位，由于检测面上的光点的变位也沿分割线进行，因此难产生其影响。

[第5实施方式]

图20是表示本发明的第5实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第1信号面上的情况)，图21是表示在用于该光盘装置的作为光分路机构的全息部件上形成的全息图形，图22是表示在用于图20的状态下的该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和在其上的光分布方式的图，图23是表示本发明的第5实施方式的光盘装置的简要剖面图(聚光在光盘的第2信号面上的情况)，图24是表示在用于图23的状态下的该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和其上的光分布方式的图。在本实施方式中，除了设置圆柱透镜3’来代替衍射光栅9、以及全息部件4上的全息图图形和光检测器7上的光检测图形不同以外，其余与上述第1实施方式相同，对于与上述第1实施方式中的光盘装置共同的构成部分，附加相同符号说明。此处，圆柱透镜3’被配置成将圆柱方向绕光轴从纸面旋转45度。

如图21所示，通过在光轴和全息部件4的表面的交点40交叉的直线，全息部件4被四等分成第1象限41、第2象限的一半42和其余的一半42’、第3象限43、第4象限的一半44和其余的一半44’等6个区域，分别形成图形。另外，各区域的分割线，位于与光盘的半径方向6R成45度或90度角度的方位。

如图22所示，光检测器7的再生信号检测部，由检测单元71～76构成。

如图20所示，从光源1射出的光，透过分光器2，由准直透镜3聚光成为平行光。该平行光在透过全息部件4后，通过物镜5聚光在光盘的第1信号面6a上(用实线表示光路)。在该第1信号面6a反射的返回光8a，通过物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8a，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8a在透过圆柱透镜3’后，在光检测器7上分散聚光(用实线表示0级衍射光的光路)。此处，由于返回光8a透过将圆柱方向绕光轴旋转45度配置的圆柱透镜3’，因此在该方位象散增加，在光检测器7上成为最小弥散圆附近的聚光状态，光检测器7上的光分布，形成开口面上的光分布绕光轴旋转90度的状态。

由于光盘的第1信号面6a为半透明性，因此在聚光在该第1信号面6a上的光中，透过它的光到达第2信号面6b。另外，在第2信号面6b反射的返回光8b，再次透过第1信号面6a，由物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，并在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，通过准直透镜3聚光，在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，在通过圆柱透镜3’后，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点，位于返回光8a的聚光点的前面(接近分光器2的一侧)，由于与返回光8a同样地透过圆柱透镜3’，因此象散增加，光检测器7上的光分布，成为开口面上的光分布绕光轴旋转90度的状态。

如上所述，通过在光轴和全息部件4的表面的交点40交叉的直线，全息部件4被六分割成第1象限41、第2象限的一半42和其余的一半42’、第3象限43、第4象限的一半44和其余的一半44’等6个区域，分别形成图形。另外，全息部件4通过各象限，将来自光盘的第1信号面6a(或第2信号面6b)的返回光8，六分割成第1象限光81a(或81b)、第2象限光82a(或82b)及82a’(或82b’)、第3象限光83a(或83b)、第4象限光84a(或84b)及84a’(或84b’)，在各自的区域衍射。该全息部件4的衍射效率，例如0级光为10％左右，±1级光为35％左右，或者，0级光为70％左右，±1级光为10％左右。

在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，如图21、图22所示，光点8aS是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、82a’、第3象限光83a、第4象限光84a、84a’的0级衍射光的聚光点，聚光在被四等分的检测单元71～74上，收在它们中。光点8a1S、8a2S、8a2S’、8a3S、8a4S、8a4S’分别是第1象限光81a、第2象限光82a、82a’、第3象限光83a、第4象限光84a、84a’的1级衍射光的聚光点。另外，在图22A的例中，光点8a1S、8a2S、8a4S收在检测单元76的内部，光点8a2S’、8a3S、8a4S’收在检测单元75的内部。在图22B的例中，光点8a1S、8a2S’、8a4S’收在检测单元76的内部，光点8a2S、8a3S、8a4S收在检测单元75的内部。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，如图21、22所示，光点8bS是通过了全息部件4的第1象限光81b、第2象限光82b、82b’、第3象限光83b、第4象限光84b、84b’的0级衍射光的聚光点，聚光在被四等分的检测单元71～74上。光点8b1S、8b2S、8b2S’、8b3S、8b4S、8b4S’分别是第1象限光81b、第2象限光82b、82b’、第3象限光83b、第4象限光84b、84b’的1级衍射光的聚光点。另外，在图22A的例中，光点8b1S、8b2S、8b4S只是悬在检测单元76的界线附近而大部分溢出在外边，而且，光点8b2S’、8b3S、8b4S’只是悬在检测单元75的界线附近而其大部分溢出在外边。在图22B的例中，光点8b1S、8b2S’、8b4S’只是悬在检测单元76的界线附近而其大部分溢出在外边，而且，光点8b2S、8b3S、8b4S只是悬在检测单元75的界线附近而其大部分溢出在外边。

图23中，除了物镜5的聚光点位于光盘的第2信号面6b上、并且返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)以外，其余与图20完全相同，因此省略重复的说明。

如图23所示，聚光在第2信号面6b上的光中，其一部分不到达第2信号面6b而在第1信号面6a反射，成为返回光8b。该返回光8b被物镜5聚光，入射到全息部件4，在该全息部件4衍射。在全息部件4衍射的返回光8b，通过准直透镜3聚光，并在分光器2的分光面2a反射，光路被弯折。光路被弯折的返回光8b，在光检测器7上分散聚光(用虚线表示0级衍射光的光路)。其中，返回光8b的聚光点位于返回光8a的聚光点的后面(远离分光器2的一侧)。

在返回光8a投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，如图21、24所示，光点8aS是通过了全息部件4的第1象限光81a、第2象限光82a、82a’、第3象限光83a、第4象限光84a、84a’的0级衍射光的聚光点，聚光在被四等分的检测单元71～74上，收在它们中。光点8a1S、8a2S、8a2S’、8a3S、8a4S、8a4S’，分别是第1象限光81a、第2象限光82a、82a’、第3象限光83a、第4象限光84a、84a’的1级衍射光的聚光点。另外，在图24A的例中，光点8a1S、8a2S、8a4S收在检测单元76的内部，光点8a2S’、8a3S、8a4S’收在检测单元75的内部。在图24B的例中，光点8a1S、8a2S’、8a4S’收在检测单元76的内部，光点8a2S、8a3S、8a4S收在检测单元75的内部。

在返回光8b投射在光检测器7的再生信号检测部上面的情况下，如图21、24所示，光点8bS是通过了全息部件4的第1象限光81b、第2象限光82b、82b’、第3象限光83b、第4象限光84b、84b’的0级衍射光的聚光点，聚光在被四等分的检测单元71～74上。光点8b1S、8b2S、8b2S’、8b3S、8b4S、8b4S’，分别是第1象限光81b、第2象限光82b、82b’、第3象限光83b、第4象限光84b、84b’的1级衍射光的聚光点。另外，在图24A的例中，光点8b1S、8b2S、8b4S只是悬在检测单元76的界线附近而其大部分溢出在外边，此外，光点8b2S’、8b3S、8b4S’只是悬在检测单元75的界线附近而其大部分溢出在外边。而且，在图24B的例中，光点8b1S、8b2S’、8b4S’只是悬在检测单元76的界线附近而其大部分溢出在外边，另外，光点8b2S、8b3S、8b4S只是悬在检测单元75的界线附近而其大部分溢出在外边。

从以上检测单元，可得到以下6个信号。

S1＝由检测单元71得到的信号

S2＝由检测单元72得到的信号

S3＝由检测单元73得到的信号

S4＝由检测单元74得到的信号

S5＝由检测单元75得到的信号

S6＝由检测单元76得到的信号

以图21所示的箭头6R作为光盘的半径方向，基于下列式(19)～(21)，检测对光盘的第1信号面6a、第2信号面6b的聚焦误差信号FE，对光盘轨道的跟踪误差信号TE，以及光盘的信号面的再生信号RF。

FE＝S1+S3-S2-S4 式(19)

TE＝S5-S6 式(20)

RF＝S5+S6 式(21)

此处，基于上述式(19)的聚焦误差检测法，也就是利用象散法的聚焦误差检测法。在上述式(20)中，由于在跟踪误差检测中使用检测单元75、76上的光，所以无论光盘上的聚光点位于第1信号面6a侧还是位于第2信号面6b，都能够几乎全部消除来自邻近另一面的杂散光成分的影响，能够实现稳定的跟踪控制。此外，在上述式(21)中，由于在再生信号RF的检测中使用检测单元75、76上的光，所以能够大致完全去除杂散光成分，其结果，不管邻近另一面的记录状况或地址位的存在如何，都能够正确读取焦点控制面的再生信号。此外，图22B及图24B的构成是，在图22A及图24A的构成中只替换了来自不含跟踪误差信号TE的区域(从光盘来的槽衍射光的0级光和±1级光不重叠的区域)的光点(8a2S、8a4S和8a2S’、8a4S’)的构成，跟踪灵敏度不变化，但通过该替换，成为消除物镜5的移位(伴随跟踪控制的光轴和透镜中心轴的偏离)的影响的跟踪误差检测法。

另外，在本实施方式中，也可以考虑以包围检测单元75、76的形式，配置捕捉来自邻近另一面的杂散光成分的检测单元77(未图示)，并利用该检测单元77检测来自邻近另一面的杂散光信号SL的构成。另外，在此情况下，将检测单元71～74的尺寸，设定为在内部完全包含来自邻近另一面的杂散光成分的尺寸，将S7作为由检测单元77得到的信号，基于下式(22)也可以检测光盘的信号面的再生信号RF。

RF＝S1+S2+S3+S4-m×S7 式(22)

但是，在上述式(22)中，系数m是与全息部件4的衍射效率有关的值，m＝0级衍射效率/1级衍射效率。

通过基于上述式(22)检测光盘的信号面的再生信号RF，能够大致完全去除杂散光成分，不管邻近另一面的记录状况或地址位的存在如何，都能够正确读取焦点控制面的再生信号。再者，即使在第2信号面6b上记录信号的情况下，根据第1信号面6a的反射量即杂散光信号SL推断第1信号面6a的透过光量，并基于该推断值来增减光源1的输出，能够控制用于在第2信号面6b上记录信号的光点的强度，以实现准确的写入。

以上，说明了第1～第5实施方式，但与以往技术不同之处在于，具有如下的机构：在检测面上，将来自在光盘上聚焦的焦点控制面的光点和来自邻近另一面的光点，相对于衍射光轴反转(换句话讲，一方的返回光在检测面的前面成像、另一方的返回光在检测面的后面成像的关系)，在各自的检测单元(区域)分别检测各自的光点。

通过该机构，能够同时进行来自邻近另一面的杂散光成分的检测和去除，只要具有该机构，即使形成在全息部件上的全息图形或形成在光检测器上的光检测图形不同，也能够得到相同的效果。

此外，在第1～第5实施方式中，以具有2个邻近的信号面的光盘为前提进行了说明，但对于具有3个以上的邻近的信号面的光盘，当然也能够得到同样的效果。此外，全息部件4也可以是偏光型全息部件，也可以配置在准直透镜3和光检测器7之间。

另外，按调整误差的关系完全分别检测2个光点实质上是困难的，但只要能够至少在各检测单元(区域)捕捉各光点的80％以上的光量(换句话讲，只要杂散光成分的混入率在20％以下)进行检测，实用上就无问题。

图25表示有调整误差时的光检测面上的光点和分割线的关系。图25A表示在图3中的再生信号检测部的分割线74a附近的光点的样子。如图25A所示，如果假设分割线74a从衍射光轴m₄和检测面的交点M4只移位δ，则来自邻近另一面的光点8b4S的总光量与漏入检测单元74侧的光量之比为2/π×(δ/r)²。其中，r是来自邻近另一面的光点直径。因此，如果按杂散光光量的混入率20％规定，在上述第1实施方式的情况下，光点的位置误差可容许到δ＝0.53r。此外，图25B表示在图17中的再生信号检测部的分割线77a附近的光点的样子。如图25B所示，如果假设检测单元76和检测单元77之间的分割线77a从衍射光轴m₄和检测面的交点M4只移位δ，则来自邻近另一面的光点8b4S的总光量与漏入检测单元76侧的光量之比为4δ/πr。因此，如果按杂散光光量的混入率20％规定，在上述第4实施方式的情况下，光点的位置误差可容许到δ＝0.16r。

Claims

1.一种光盘装置，具有光源、将从所述光源射出的光聚光在光盘上的物镜、衍射由所述光盘反射的光的光分路机构、通过所述光分路机构衍射的光聚光的光检测器，其特征在于：

所述光分路机构，通过与光轴交叉的直线被分割成n个)区域Ak，其中，n≥2，k＝1、2、…、n；

所述光检测器至少被分割成2个区域A、A’；

从所述光源射出的光，通过所述物镜聚光在具有多个信号面的所述光盘的任一个信号面上；

由所述聚光的信号面(聚光面)反射的光和由与所述聚光的信号面邻近的信号面(邻近面)反射的光，成为分别经由所述物镜后入射到所述光分路机构中的光a、a’；

入射到所述光分路机构的所述区域Ak中的所述光a、a’，分别派生出具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在所述光检测器上；

所述1级衍射光ak、ak’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是大致反转的；

所述1级衍射光ak大致包含在所述区域A内，所述1级衍射光ak’大致包含在区域A’内。

2.如权利要求1记载的光盘装置，其特征在于：

所述光检测器，除了所述区域A、A’以外，至少被分割成2个区域B、B’；

入射到所述光分路机构的所述区域Ak中的所述光a、a’，分别派生具有共同的衍射光轴的-1级衍射光bk、bk’，投射在所述光检测器上；

所述-1级衍射光bk、bk’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是相似的；

所述-1级衍射光bk、bk’大致一同包含在所述区域B内。

3.一种光盘装置，具有光源、将从所述光源射出的光聚光在光盘上的物镜、衍射由所述光盘反射的光的光分路机构、通过所述光分路机构衍射的光聚光的光检测器，其特征在于：

所述光分路机构，通过与光轴交叉的直线被分割成n个区域Bk，其中，n≥2，k＝1、2、…、n；

所述光检测器，至少被分割成2个区域B、B’；

由所述聚光的信号面(聚光面)反射的光和由与所述聚光的信号面邻接的信号面(邻近面)反射的光，成为分别经由所述物镜后入射到所述光分路机构中的光b、b’；

入射到所述光分路机构的所述区域Bk中的所述光b、b’，分别派生具有共同的衍射光轴的-1级衍射光bk、bk’，投射在所述光检测器上；

所述-1级衍射光bk、bk’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是大致反转的；

所述-1级衍射光bk大致包含在所述区域B内，所述-1级衍射光bk’大致包含在区域B’内。

4.如权利要求3记载的光盘装置，其特征在于：

所述光检测器，除了所述区域B、B’以外，至少被分割成2个区域A、A’；

入射到所述光分路机构的所述区域Bk中的所述光b、b’，分别派生具有共同的衍射光轴的1级衍射光ak、ak’，投射在所述光检测器上；

所述1级衍射光ak、ak’在所述光检测器上的分布，相对于所述衍射光轴和检测面的交点是相似的；

所述1级衍射光ak、ak’大致一同包含在所述区域A内。

5.如权利要求2或4记载的光盘装置，其特征在于：

将在所述区域A检测出的信号设为SA、将在所述区域A’检测出的信号设为SA’、将在所述区域B检测出的信号设为SB、将在所述区域B’检测出的信号设为SB’；

在从所述光源射出的光聚光在所述光盘的第1信号面上的情况下，将所述信号SA作为所述第1信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SA’作为第2信号面(邻近面)的反射信号；

在从所述光源射出的光聚光在所述光盘的第2信号面上的情况下，将所述信号SB作为所述第2信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SB’作为所述第1信号面(邻近面)的反射信号。

6.如权利要求2或4记载的光盘装置，其特征在于：

则将信号SA+SB-SA’-SB’作为所述聚光的信号面(聚光面)的再生信号，将所述信号SA’+SB’作为与所述聚光的信号面邻近的信号面(邻近面)的反射信号。

7.如权利要求5或6记载的光盘装置，其特征在于：在所述邻近面比所述聚光面更靠近所述物镜侧的情况下，根据所述邻近面的反射信号，控制来自所述光源的发射光量。

8.如权利要求2或4记载的光盘装置，其特征在于：在不包含所述区域A’、B’而包含所述区域A、B的区域内，所述光检测器进一步被分割成多个区域，通过运算在被分割的所述多个区域内检测出的信号，生成对所述光盘的聚焦误差信号。