CN1677116A - 探针检查装置 - Google Patents
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Abstract
一种用于检查至少一探针设置于一探针承座的装设情形的探针检查装置，探针的至少一部分凸出于探针承座。探针检查装置包含一第一高度挡块、一第二高度挡块以及一高度基准元件。第一高度挡块设置于探针承座；第二高度挡块设置于探针承座。高度基准元件连结第一高度挡块及第二高度挡块，且高度基准元件具有一高度基准面，推动高度基准元件时，高度超过高度基准面的探针将阻止高度基准元件的移动。
Description
技术领域
本发明为关于一种探针检查装置，特别是关于一种检查至少一探针设置于一探针承座装设情形的探针检查装置。
背景技术
随着电子科技的进步，一般人对电子用品在品质及价格上的要求也越来越高。为了制作出品质优良且在价格上具有竞争力的电子产品，电子产品厂商除了不断的研发高性能产品，并于产品出厂前做精密完整的测试。以电路板为例，于一电路板制作完成后，必须对电路板进行测试，以检测电路板是否有缺陷。一般的检测器具包含一探针承座，且有至少一探针设置于探针承座，并利用压合的原理使电路板表面与探针的尖端触碰导电，做各种电测功能。如果有少部份探针的高度高出一共平面时，于压合动作的过程中容易刺穿电路板的表面，造成电路板的损毁。
如上所述，为避免电路板损毁的情况，必须于进行压合动作前先检查探针的高度及平整性。传统上的检查方式约有三种，第一种是以手触碰探针以感觉探针有无凸出，第二种是以人工目测的方式来寻找有无凸出的探针，第三种则是利用光标卡尺来量测探针承座上探针凸出的高度。
然而，以人工目视来寻找有无凸出的探针的误差范围大，若是以手触碰探针以感觉探针有无凸出的方法会因不同的检测人员的感觉不同而结果也不同。而以光标卡尺来量测探针承座上探针凸出的高度虽然有固定的高度数值可做为依据，但是由于此种方式必须重复测量探针承座上每一根探针，相当耗费时间，且当探针位置密集时，于测量上会有困难，再加上探针具有弹性，亦不易于量测。
如上所述，如何提供一种能迅速且准确地检查探针承座上探针装设情形的探针检查装置实乃当前重要课题之一。
发明内容
有鉴于上述课题，本发明的目的是提供一种探针检查装置，其可迅速且准确地检查探针承座上探针装设的情形。
为达上述目的，本发明提供一种探针检查装置，其用于检查至少一探针设置于一探针承座的装设情形，且探针的至少一部分凸出探针承座，探针检查装置包含一第一高度挡块、一第二高度挡块以及一高度基准元件。
一第一高度挡块设置于探针承座，第二高度挡块设置于探针承座。高度基准元件连结第一高度挡块及第二高度挡块，且高度基准元件具有一高度基准面，当推动高度基准元件时，高度超过高度基准面的探针会阻止高度基准元件的移动。
承上所述，由于在本发明的探针检查装置中包含一第一高度挡块、一第二高度挡块以及一高度基准元件，因而能够迅速且准确地检查探针承座上探针装设的情形。
附图说明
图1为依本发明实施例的探针检查装置的示意图。
图2为依本发明实施例的探针检查装置放置于探针承座的示意图。
图3为依本发明实施例的探针承座设置于测试机台的示意图。
图4为依本发明实施例的探针检查装置的另一示意图。
图5为依本发明另一实施例的探针检查装置的示意图。
图中符号说明：
1 探针检查装置
11 第一高度挡块
12 第二高度挡块
13 高度基准元件
131 高度基准面
14 第一滚轮
15 第二滚轮
2 探针
3 探针承座
31 承座基准面
32 第一滑轨
33 第二滑轨
4 探针检查装置
41 第一高度挡块
42 第二高度挡块
43 高度基准元件
431 高度基准面
44 第一滚轮
5 探针承座
51 承座基准面
52 第一滑轨
6 探针
7 测试机台
具体实施方式
以下参照相关附图说明依本发明较佳实施例的探针检查装置，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
请参照图1及图2所示，依据本发明实施例的探针检查装置1用于检查至少一探针2设置于一探针承座3的装设情形，且探针2的至少一部分凸出于探针承座3。探针检查装置1包含一第一高度挡块11、一第二高度挡块12以及一高度基准元件13。第一高度挡块11放置于探针承座3；第二高度挡块12放置于探针承座3。高度基准元件13连结第一高度挡块11以及第二高度挡块12，且高度基准元件13具有一高度基准面131。
第一高度挡块11与高度基准元件13相互垂直，第二高度挡块12与高度基准元件13亦相互垂直。第一高度挡块11的高度等于第二高度挡块12的高度。
探针承座3包括一承座基准面31，探针2凸出于承座基准面31。高度基准面131为高度基准元件13的一底部，且承座基准面31与高度基准面131为平行。高度基准面131至承座基准面31的垂直距离等于探针2预设的凸出高度。
请参照图2及图3所示，当要测试电路板的前，必须先检查探针承座3上探针2的高度及平整性，确认无误后再将探针承座3设置于测试机台7。检查人员将探针检查装置1放置于已设有探针2的探针承座3上，然后推动探针检查装置1。由于高度基准面131至承座基准面31的垂直距离等于探针2预设的凸出高度，因而当检查人员在推动高度基准元件13时，高度超过高度基准面131的探针2会阻止高度基准元件13的移动，此时检查人员能够实时调整过高的探针2，以避免后续步骤受到影响。
请参照图4所示，探针检查装置1可更包括一第一滚轮14以及一第二滚轮15。第一滚轮14设置于第一高度挡块11的一端，且与探针承座3相接触；第二滚输15设置于第二高度挡块12的一端，且与探针承座3相接触。探针承座3可更包含一第一滑轨32以及一第二滑轨33，第一滑轨32与第一滚轮14相接触，第二滑轨33与第二滚轮15相接触，使探针检查装置1在探针承座3上容易滑动。
高度基准元件13的材质可为金属或是玻璃纤维。另外，高度基准元件13的材质亦可为一直线的线材，且线材水平连结第一高度挡块11与第二高度挡块12。
如上所述，由于高度基准面131至承座基准面31的垂直距离等于探针2预设的凸出高度，因而在推动高度基准元件13时，高度超过高度基准面131的探针2会阻止高度基准元件13的移动，故依据本发明实施例的探针检查装置1能够迅速且准确地检查探针承座3上探针2装设的情形。
请参照图5所示，依据本发明另一实施例的探针检查装置4包含一第一高度挡块41、一第二高度挡块42以及一高度基准元件43。第一高度挡块41设置于探针承座5；第二高度挡块42设置于探针承座5。高度基准元件43连结第一高度挡块41以及第二高度挡块42，且高度基准元件43具有一高度基准面431。
第一高度挡块41与高度基准元件43相互垂直，第二高度挡块42与高度基准元件43亦相互垂直。第一高度挡块41的高度等于第二高度挡块42的高度。
探针承座5包括一承座基准面51，探针6设置于探针承座5，且凸出于承座基准面51。高度基准面431为高度基准元件43的一底部，且承座基准面51与高度基准面431为平行。高度基准面431至承座基准面51的垂直距离等于探针6预设的凸出高度。
探针检查装置4可更包括一第一滚轮44，第一滚轮44设置于第一高度挡块41的一端，且与探针承座5相接触。探针承座5可更包含一第一滑轨52，第一滑轨52与第一滚轮44相接触，使高度基准元件43能以第二高度挡块42为转轴而在探针承座3上移动，检查高度超过高度基准面431的探针6。当然，第一滚轮44亦可设置于第二高度挡块42的一端，而高度基准元件43以第一高度挡块41做为转轴在探针承座5上移动，检查高度超过高度基准面431的探针6。
高度基准元件43的材质可为金属或是玻璃纤维。另外，高度基准元件43的材质亦可为一直线的线材，且线材水平连结第一高度挡块41与第二高度挡块42。
如上所述，由于高度基准面431至承座基准面51的垂直距离等于探针6预设的凸出高度，因而在旋转高度基准元件43时，高度超过高度基准面431的探针6会阻止高度基准元件43的转动，故依据本发明实施例的探针检查装置4能够迅速且准确地检查探针承座5上探针6装设的情形。
以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的申请专利范围中。
Claims (10)
1.一种探针检查装置，用于检查至少一探针设置于一探针承座的装设情形，该探针的至少一部分凸出该探针承座，该探针检查装置包含：
一第一高度挡块，其设置于该探针承座；
一第二高度挡块，其设置于该探针承座；以及
一高度基准元件，连结该第一高度挡块及该第二高度挡块，且该高度基准元件具有一高度基准面，推动该高度基准元件时，高度超过该高度基准面的该探针会阻止该高度基准元件的移动。
2.如权利要求1所述的探针检查装置，其中该探针承座包括一承座基准面，该探针凸出该承座基准面，该高度基准面至该承座基准面的垂直距离等于一该探针预设的凸出高度。
3.如权利要求2所述的探针检查装置，其中该高度基准面为该高度基准元件的一底部，且该承座基准面与该高度基准面平行。
4.如权利要求1所述的探针检查装置，更包括一第一滚轮，该第一滚轮设置于该第一高度挡、或该第二高度挡块的一端，且与该探针承座相接触。
5.如权利要求4所述的探针检查装置，其中该探针承座包含一第一滑轨，该第一滑轨与该第一滚轮相接触，俾使该探针检查装置在该探针承座上滑动。
6.如权利要求1所述的探针检查装置，其中该高度基准元件材质为金属、或玻璃纤维。
7.如权利要求1所述的探针检查装置，其中该高度基准元件的材质为一线材，且该线材为一直线，该线材水平连结该第一高度挡块与该第二高度挡块。
8.如权利要求1所述的探针检查装置，其中该第一高度挡块的高度等于该第二高度挡块的高度。
9.如权利要求1所述的探针检查装置，其中该第一高度挡块、或及该第二高度挡块与该高度基准元件相互垂直。
10.如权利要求1所述的探针检查装置，其中以该第一高度挡块、或该第二高度挡块为转轴，旋转该高度基准元件，以检查高度超过该高度基准面的该探针。
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