CN1591028A - 显示面板合并检测电路 - Google Patents

显示面板合并检测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN1591028A
CN1591028A CN 03155353 CN03155353A CN1591028A CN 1591028 A CN1591028 A CN 1591028A CN 03155353 CN03155353 CN 03155353 CN 03155353 A CN03155353 A CN 03155353A CN 1591028 A CN1591028 A CN 1591028A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal line
display panel
testing circuit
drive end
pole plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN 03155353
Other languages
English (en)
Other versions
CN100351678C (zh
Inventor
余志隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chunghwa Picture Tubes Ltd
Original Assignee
Chunghwa Picture Tubes Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chunghwa Picture Tubes Ltd filed Critical Chunghwa Picture Tubes Ltd
Priority to CNB031553532A priority Critical patent/CN100351678C/zh
Publication of CN1591028A publication Critical patent/CN1591028A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100351678C publication Critical patent/CN100351678C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

一种显示面板合并检测电路，是利用一合并电路检测显示面板薄膜晶体管阵列(LCD TFT Array)制程中的布线，此方法使用复数个电路开关与连接导线导入一环状短路布线(short－ring layout)与一杆状短路布线(shorting－bar layout)，使面板制造厂商在设计布线时，并不受限于检测设备，因可充分使用该任一布线设备的检测并可由该复数个电路开关自由切换各样检测方法，以达到提升其产量、降低成本的目的。

Description

显示面板合并检测电路
技术领域
本发明是利用一合并电路检测显示面板薄膜晶体管阵列制程中的布线，此方法导入常用的环状短路布线与杆状短路布线，使设计面板布线时不受限于检测设备，以提升其产量、降低成本。
背景技术
在目前的液晶显示器面板(LCD panel)制造后出厂时，必须经由一道检测的手续，目的是检测显示面板中各控制画素(pixel)显示的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)运作是否正确，其面板四周的检测电路布线需配合检测设备形式，其中现行运用的检测电路布线包括有环状短路布线(short-ring layout)与杆状短路布线(shorting-bar layout)。
因为上述两种设备布线的不同，其制程光罩亦有所不同，造成此阵列制程产能不易搭配，时常因为面板厂商设计的布线品种不同，如面板尺寸、解析度等，而需切换不同的阵列检测设备，如此会造成面板设计厂商设计的负担与多方成本考量，更会因必须兼顾各种布线而增加购买检测设备时的成本。以下即对该两种布线详细说明：
请参阅常用技术图1A所示的环状短路布线电路示意图，图1A为一液晶显示器面板的显示元件阵列布线图，面板由闸极驱动端G(gate driver)与资料驱动端D(data driver)拉出复数条扫描线13与资料线14相互垂直交错形成，而控制画素显示的薄膜晶体管11设置于扫描线13与资料线14交错的位置，另扫描线13之间有电容12连接，画素显示即由此电容12的充放电控制显示。为检测各连接薄膜晶体管11等元件与四周布线的正确性，该复数条扫描线13与资料线14各有电路连接外部检测设备，如图所示，复数条扫描线13连接有复数个第一接触极板15a，复数条资料线14连接有复数个第二接触极板15b，此复数个接触极板(15a，15b)是为检测设备所设的探针所接触的位置，以检测其中各显示元件是否良好，该复数个第一接触极板15a与第二接触极板15b各由复数个阻抗16连接导线17，将检测设备探针与各显示元件所检测出的数据导出，判断良率，此面板完成检测后即会将外部基板检测电路沿图示的切割线18方向切下，以继续下一部份制程。
由图1B所示的环状短路布线局部电路示意图可知，扫描线13或资料线14连接有复数个接触极板(15a，15b)，检测设备的探针19如图所示接触在接触极板(15a，15b)上，再由阻抗17将检测讯号送出至导线17，阻抗16可延迟各端点讯号，使各讯号不至相互干扰。
而图2A所示为常用技术的杆状短路布线电路示意图，如图1A所示，为一液晶显示器面板的显示元件阵列布线图，面板由闸极驱动端G与资料驱动端D拉出复数条扫描线13与资料线14相互垂直交错形成，其间设置有控制画素显示的薄膜晶体管11，画素显示由其中电容12的充放电控制显示。此杆状短路布线检测方式并不使用探针检测，为检测各连接薄膜晶体管11等元件与四周布线的正确性，该复数条扫描线13与资料线14各有电路连接外部检测设备，如图所示，复数条扫描线13连接有复数个第一极板25a，复数条资料线14连接有复数个第二极板25b，此复数个极板(25a，25b)各连接有外部基板电路复数条导线，图示为相邻两个极板分别连接不同的导线。
图示中，第一极板25a为面板中闸极驱动端G的扫描线13所连接的复数个极板，相邻两个极板分别连接有第三导线23与第四导线24，终端分别连接至第一闸极端G1与第二闸极端G2；同理，资料线14连接有复数个第二极板25b，相邻的极板分别连接第一导线21与第二导线22，导线终端连接有第一资料端D1与第二资料端D2，而此杆状短路布线电路即由第一资料端D1、第二资料端D2、第一闸极端G1与第二闸极端G2将检测数据导出，以检测该面板内部显示元件使否运作良好，此面板完成检测后即会将外部基板的检测电路沿图示的切割线28方向切下，以继续下一部份制程。
图2B为常用技术的杆状短路布线局部电路示意图，此图为图2A的闸极驱动端G局部电路，其中复数条扫描线13连接有复数个第一极板25a，相邻两个极板成对形成奇偶分开连接第三导线23与第四导线24，终端设置有第一闸极端G1与第二闸极端G2，可分别连接奇数端极板与偶数端极板所传的检测讯号，实际实施时并不以分为两组为限，为增加检测效率可分为复数组，即会设置有复数条导线将分为复数组的极板讯号传出至终端检测。
以上两种常用检测方式不同，因此面板中的布线设计也会因使用的检测方式而有所不同，并会因此在布线上受限制，又因布线不同使光罩的切换与购买使成本加增，故本发明将以上两种检测电路合并，不仅可导入常用的环状短路布线与杆状短路布线，使设计面板布线时不受限于检测设备，又可由以比对各样检测方法的优缺点以提供设备厂商改良建议，如此达到提升其产量、降低成本的目的。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板合并检测电路，是利用一合并电路检测显示面板薄膜晶体管阵列制程中的布线，以复数个电路开关连接同时导入环状短路布线与杆状短路布线，使面板制造厂商在设计布线时，并不受限于检测设备，由此电路开关切换使用该任一布线设备的检测，以达到提升其产量、降低成本的目的。
本发明提供的显示面板合并检测电路包括有：
复数个讯号极板，包括有复数个第一讯号极板与复数个第二讯号极板，该显示面板的复数条扫描线与复数条资料线由该复数个讯号极板连接外部检测电路；
复数个阻抗，该复数条扫描线与该复数条资料线是由该复数个阻抗连接一环讯号线；
复数条资料驱动端讯号线，该复数个第二讯号极板由复数条导线相互轮替连接该复数条资料驱动端讯号线；
复数条闸极驱动端讯号线，该复数个第一讯号极板由复数条导线相互轮替连接该复数条闸极驱动端讯号线：
复数个切换开关，设置于该复数个讯号极板与该复数条资料驱动端讯号线和该复数条闸极驱动端讯号线连接的导线上；
由该复数个切换开关切换该显示面板的检测讯号为传至该环讯号线或是该复数条闸极驱动端讯号线与该复数条闸极驱动端讯号线上。
其中该复数个切换开关是以复数个晶体管实施。
其中该复数个切换开关是以一连接导线相互连接。
其中该环讯号线连接至一环讯号端。
其中该复数条闸极驱动端讯号线连接至复数个闸极端。
其中该复数条资料驱动端讯号线连接至复数个资料端。
其中该环讯号端、该复数个闸极端与该复数个资料端是为检测讯号检测端。
其中该复数个讯号极板为复数个探针接触极板。
其中该复数个切换开关为导通(on)时，即使用一杆状短路布线的检测电路；当该复数个切换开关为截止(off)时，即使用一环状短路布线的检测电路。
附图说明
图1A为常用技术的环状短路布线电路示意图；
图1B为常用技术的环状短路布线局部电路示意图；
图2A为常用技术的杆状短路布线电路示意图；
图2B为常用技术的杆状短路布线局部电路示意图；
图3A为本发明显示面板合并检测电路示意图；
图3B为本发明显示面板合并检测闸极驱动端电路局部示意图；
图3C为本发明显示面板合并检测资料驱动端电路局部示意图。
具体实施方式
现行的对于显示面板的显示元件与电路出厂前的检测设备包括有环状短路布线(short-ring layout)与杆状短路布线(shorting-bar layout)两种，面板设计之初需考虑将会使用的剪社设备为那一种，而其布线即会受到限制，本发明提供一合并检测电路，使之不用考虑不同的阵列检测设备即能检测，不用至点灯才能检证杆状短路布线检测的正确性，不但能提升检测设备的稼动力，亦能降低成本。
请参阅图3A，本发明显示面板合并检测电路示意图，图示为一液晶显示器面板的显示元件阵列布线图，此面板大小决定于尺寸与解析度大小，面板由闸极驱动端G(gate driver)与资料驱动端D(data driver)拉出复数条扫描线13与资料线14相互垂直交错形成，而控制画素显示的薄膜晶体管11设置于扫描线13与资料线14交错的位置，另扫描线13之间由有电容12连接，画素显示即由此电容12的充放电控制显示，其中复数条扫描线13连接有复数个第一讯号极板35a，复数条资料线14连接有复数个第二讯号极板35b，由此复数个讯号极板(35a，35b)连接外部检测电路。
为检测各连接薄膜晶体管11等元件与四周布线的正确性，并结合上述环状短路布线与杆状短路布线。以闸极驱动端G而言，由第一讯号极板35a拉出的复数条连接导线上分别设置有复数个切换开关39，此切换开关39可以晶体管实施，由一连接导线306相互连结，作为开关讯号的传递，以切换环状短路布线与杆状短路布线的电路，由复数个第一讯号极板35a所连接出的导线更由复数阻抗36连接一环讯号线37，使检测数据由阻抗36与此环讯号线37导出，各相邻的复数个第一讯号极板35a亦分别由导线连接至第三讯号线33与第四讯号线34，如此可由切换开关39来切换两种检测电路，可检测由环讯号线37连接的环讯号端305所送出的检测讯号，亦可由第一闸极端303与第二闸极端304所送出的检测讯号来判断面板运作是否良好。
同理，以资料驱动端D而言，由第二讯号极板35b拉出的复数条连接导线上分别设置有复数个切换开关39，此切换开关39可以晶体管或薄膜晶体管(TFT)实施，由连接导线306相互连结，作为开关讯号的传递，以切换环状短路布线与杆状短路布线的电路，由复数个第二讯号极板35b所连接出的导线更由复数阻抗36连接一环讯号线37，使检测数据由阻抗36与此环讯号线37导出，各相邻的复数个第二讯号极板35b亦分别由导线连接至复数条资料驱动端讯号线，包括有第一讯号线31与第二讯号线32，并可由切换开关39来切换两种检测电路，可检测由环讯号线37连接的环讯号端305所送出的检测讯号，亦可由第一资料端301与第二资料端302所送出的检测讯号来判断面板运作是否良好。以上所述闸极驱动端G的第一讯号极板35a与资料驱动端D的第二讯号极板35b共同连接至环讯号线37，而闸极驱动端G与资料驱动端D相邻的讯号极板相互轮替连接同一条复数条资料驱动端讯号线的第一讯号线31，而第二讯号线32亦连接由闸极驱动端G与资料驱动端D的相互轮替连接的讯号极板，同理，于复数条闸极驱动端讯号线，包括有第三讯号线33与第四讯号线34亦是共同相连的讯号线，而使用环状短路布线的检测电路或杆状短路布线的检测电路是由复数个切换开关39由连接导线306统一切换两种模式。此面板完成检测后即会将外部基板检测电路沿图示的切割线38方向切下，以继续下一部份制程。
再请参阅图3B，本发明检测闸极驱动端电路局部示意图，图中所示为闸极驱动端G的局部电路，扫描线13所连接的复数个第一讯号极板35a，各第一讯号极板35a由导线连接有两条讯号线，一为经由阻抗36连接至环讯号线37，另一为经过切换开关39，再连接至复数条闸极驱动端讯号线的第三讯号线33或第四讯号线34，两两相邻的讯号极板相互轮替连接该复数条讯号线，并不限于此图所描述的第三讯号线34与第四讯号线34。切换开关39是利用晶体管元件产生一个电子开关，当晶体管元件的闸极(gate)端加一高电压时，晶体管元件即可导通(on)，视为源极与汲极导通(S-D short)，因为阻抗36的原因，讯号电流将由讯号极板经由此切换开关39传送至第三讯号线33，相邻的讯号极板的讯号电流将传送至第四讯号线34，此状态就如同使用杆状短路布线的检测电路；当切换开关39截止(off)，讯号电流则被切换开关39阻断，此讯号将经由阻抗36传送至环讯号线37，并可将复数个探针19接触此复数个第一讯号极板35a上，此状态如同环状短路布线的检测电路。以此运作方式达到切换两种检测电路的目的。
而图3C，本发明检测资料驱动端电路局部示意图，图中所示为资料驱动端D的局部电路，资料线14所连接的复数个第二讯号极板35b，各第二讯号极板35b亦由导线连接有两条讯号线，一为经由阻抗36连接至环讯号线37，另一为经过切换开关39，再连接至复数条资料驱动端讯号线，包括有第一讯号线31或第二讯号线32，两两相邻的讯号极板相互轮替连接复数条讯号线，亦并不限于此图所描述的方式。切换开关39为导通(on)，因为阻抗36的原因，讯号电流将由讯号极板经由此切换开关39传送至第一讯号线31，相邻的讯号极板的讯号电流将传送至第二讯号线32，此状态就如同使用杆状短路布线的检测电路；当切换开关39截止(off)，讯号电流则被切换开关39阻断，此讯号将经由阻抗36传送至环讯号线37，并可将复数个探针19接触此复数个第二讯号极板35b上，此状态就如同使用环状短路布线的检测电路，以此运作方式达到切换两种检测电路的目的。
以上为本发明显示面板合并检测电路实施例的详细说明，其中设置复数个切换开关于显示面板的检测电路上，达成一面板合并检测电路，利用此切换开关的电路以切换不同的检测设备，使面板电路设计时不需考虑检测布线而限制其制程，并不会因为在检测某一布线品种而使另一布线品种的检测设备闲置，更可由此方式比对检测设备的良莠，以达到降低成本的目的。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明所实施的范围。即大凡依本发明申请专利范围所作的均等变化与修饰，皆应仍属于本发明专利涵盖的范围内。

Claims (9)

1、一种显示面板合并检测电路，是由一合并检测电路所设置的开关切换环状短路布线与杆状短路布线的检测电路，该显示面板合并检测电路包括有：
复数个讯号极板，包括有复数个第一讯号极板与复数个第二讯号极板，该显示面板的复数条扫描线与复数条资料线由该复数个讯号极板连接外部检测电路；
复数个阻抗，该复数条扫描线与该复数条资料线是由该复数个阻抗连接一环讯号线；
复数条资料驱动端讯号线，该复数个第二讯号极板由复数条导线相互轮替连接该复数条资料驱动端讯号线；
复数条闸极驱动端讯号线，该复数个第一讯号极板由复数条导线相互轮替连接该复数条闸极驱动端讯号线；
复数个切换开关，设置于该复数个讯号极板与该复数条资料驱动端讯号线和该复数条闸极驱动端讯号线连接的导线上；
由该复数个切换开关切换该显示面板的检测讯号为传至该环讯号线或是该复数条闸极驱动端讯号线与该复数条闸极驱动端讯号线上。
2、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，棱特征在于，其中该复数个切换开关是以复数个晶体管实施。
3、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该复数个切换开关是以一连接导线相互连接。
4、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该环讯号线连接至一环讯号端。
5、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该复数条闸极驱动端讯号线连接至复数个闸极端。
6、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该复数条资料驱动端讯号线连接至复数个资料端。
7、如权利要求3、4或5所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该环讯号端、该复数个闸极端与该复数个资料端是为检测讯号检测端。
8、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该复数个讯号极板为复数个探针接触极板。
9、如权利要求1所述的显示面板合并检测电路，其特征在于，其中该复数个切换开关为导通时，即使用一杆状短路布线的检测电路；当该复数个切换开关为截止时，即使用一环状短路布线的检测电路。
CNB031553532A 2003-08-27 2003-08-27 显示面板合并检测电路 Expired - Fee Related CN100351678C (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB031553532A CN100351678C (zh) 2003-08-27 2003-08-27 显示面板合并检测电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB031553532A CN100351678C (zh) 2003-08-27 2003-08-27 显示面板合并检测电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1591028A true CN1591028A (zh) 2005-03-09
CN100351678C CN100351678C (zh) 2007-11-28

Family

ID=34598118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB031553532A Expired - Fee Related CN100351678C (zh) 2003-08-27 2003-08-27 显示面板合并检测电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN100351678C (zh)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101089934B (zh) * 2006-06-16 2010-04-14 胜华科技股份有限公司 可切换检测与驱动功能的显示器模组电路
CN101572045B (zh) * 2009-06-01 2011-01-05 深圳华映显示科技有限公司 一种平面显示器及其测试方法
CN101620818B (zh) * 2008-07-03 2011-02-09 中华映管股份有限公司 显示面板及其检测方法
CN101826533B (zh) * 2009-03-06 2011-11-16 华映视讯（吴江）有限公司 主动阵列式显示器的切换组件结构
US8115202B2 (en) 2006-02-24 2012-02-14 E Ink Holdings Inc. Thin film transistor array substrate and electronic ink display device
CN101639508B (zh) * 2009-04-30 2012-07-04 华映光电股份有限公司 一种检测电路及显示器
CN102681226A (zh) * 2010-01-04 2012-09-19 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板检测信号分配装置和检测设备
CN102967954A (zh) * 2012-11-20 2013-03-13 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的测试装置及方法
CN103474418A (zh) * 2013-09-12 2013-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
CN104332122A (zh) * 2014-09-16 2015-02-04 友达光电股份有限公司 显示面板的测试单元结构与显示面板
CN109410852A (zh) * 2018-10-22 2019-03-01 惠科股份有限公司 一种显示装置及其检测方法
CN109727563A (zh) * 2019-01-30 2019-05-07 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 下窄边框显示面板

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4776812B2 (ja) * 2000-06-08 2011-09-21 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の製造方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8115202B2 (en) 2006-02-24 2012-02-14 E Ink Holdings Inc. Thin film transistor array substrate and electronic ink display device
CN101089934B (zh) * 2006-06-16 2010-04-14 胜华科技股份有限公司 可切换检测与驱动功能的显示器模组电路
CN101620818B (zh) * 2008-07-03 2011-02-09 中华映管股份有限公司 显示面板及其检测方法
CN101826533B (zh) * 2009-03-06 2011-11-16 华映视讯（吴江）有限公司 主动阵列式显示器的切换组件结构
CN101639508B (zh) * 2009-04-30 2012-07-04 华映光电股份有限公司 一种检测电路及显示器
CN101572045B (zh) * 2009-06-01 2011-01-05 深圳华映显示科技有限公司 一种平面显示器及其测试方法
CN102681226B (zh) * 2010-01-04 2015-01-21 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板检测信号分配装置和检测设备
CN102681226A (zh) * 2010-01-04 2012-09-19 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板检测信号分配装置和检测设备
CN102967954B (zh) * 2012-11-20 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的测试装置及方法
WO2014079095A1 (zh) * 2012-11-20 2014-05-30 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的测试装置及方法
CN102967954A (zh) * 2012-11-20 2013-03-13 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的测试装置及方法
CN103474418A (zh) * 2013-09-12 2013-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
CN103474418B (zh) * 2013-09-12 2016-05-04 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
CN104332122A (zh) * 2014-09-16 2015-02-04 友达光电股份有限公司 显示面板的测试单元结构与显示面板
CN104332122B (zh) * 2014-09-16 2017-01-18 友达光电股份有限公司 显示面板的测试单元结构与显示面板
CN109410852A (zh) * 2018-10-22 2019-03-01 惠科股份有限公司 一种显示装置及其检测方法
CN109727563A (zh) * 2019-01-30 2019-05-07 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 下窄边框显示面板
US11373564B2 (en) 2019-01-30 2022-06-28 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Lower narrow border display panel

Also Published As

Publication number Publication date
CN100351678C (zh) 2007-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100351678C (zh) 显示面板合并检测电路
CN113963622B (zh) 一种显示面板和显示装置
CN100541282C (zh) 阵列基板及具有所述阵列基板的主基板和液晶显示装置
CN101216643B (zh) 液晶显示装置阵列基板、其修补方法及液晶显示装置
CN106444189A (zh) 一种阵列基板、其检测方法及显示装置
KR20050021255A (ko) 디스플레이 패널을 위한 조합 검출 회로
CN111509026A (zh) 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN109841181A (zh) 阵列基板、显示面板和显示装置
CN110416270B (zh) Oled显示面板及其检测方法、显示装置
US9293074B2 (en) Active-matrix substrate, display panel, and display panel manufacturing method including plural testing signal selection circuits
WO2005008318A1 (ja) 検査方法、半導体装置、及び表示装置
CN1804708A (zh) 显示装置及其像素测试方法
CN110824799B (zh) 阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板
CN104808859A (zh) 一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置
CN110827728B (zh) 显示面板和显示装置
CN104464587A (zh) 一种阵列基板及其检测电路
CN110189672B (zh) 一种显示面板、其检测方法及显示装置
CN1284968C (zh) 漏液检测装置
TWI730765B (zh) 畫素陣列基板
CN101738806B (zh) 阵列背板、用以测试阵列背板的探针及液晶显示面板
CN114488632B (zh) 一种显示面板、显示装置及其检测方法
CN105445979A (zh) 一种点灯治具及点灯方法
CN114860110A (zh) 触控显示面板及显示装置
JP2004301658A (ja) 基板検査装置
CN111952285A (zh) 阵列基板母板和检测刻蚀残留的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20071128

Termination date: 20200827

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee