CN1567509A - 修补电极图案缺陷的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种修补电极图案缺陷的方法。该方法包含有进行一检测程序，以检测该等离子体显示器上的电极图案是否具有缺陷，进行一第一修补程序，以填补该电极图案的凹陷部分，以及进行一第二修补程序，以去除该电极图案的突出部分。其中在该第一修补程序中，利用一导电浆料来填补该电极图案的凹陷部分，而在该第二修补程序中，利用一激光光束来去除该电极图案的突出部分，使电极发挥稳定放电功能。

Description

修补电极图案缺陷的方法
技术领域
本发明提供一种修补缺陷(defect)的方法，尤指一种利用导电材料与激光光束修补电极图案缺陷的方法。
背景技术
随着电子信息产业的发展，平面显示器(flat panel display，FPD)的应用以及需求不断扩大，其中等离子体显示器(plasma display panet，PDP)由于具有体积小、大尺寸及视角广等特点，因此已成为平面显示器中极具发展潜力的产品。
等离子体显示器主要包含有一前基板(front substrate)，一后基板(backsubstrate)，一电离气体(未显示)填充于前基板与后基板之间用来产生紫外线，以及多对彼此平行的维持电极(sustain electrode)设置于前基板表面，作为放电用。前基板上另包含有多条辅助电极(bus electrode)，分别电连接于各维持电极上。后基板上则包含有多个定址电极(address electrode)，其方向与各维持电极垂直，以及多个阻隔壁(rib)，其方向与各定址电极平行，以及一萤光层涂布于各阻隔壁侧壁及各定址电极上。其中，任相邻的二阻隔壁与其上方相对应的二维持电极形成一放电单元(discharge cell)作为发光之用。一般而言，等离子体显示器是由数十万个约数百微米的放电单元排列组合而成，其发光原理是给予该对维持电极一启动电压，使填充于前基板与后基板间电离气体放电而产生紫外线，当紫外线照射不同萤光层时，便能使各放电单元的萤光层分别发出红色、绿色与蓝色光作为显示用。
由以上可知，等离子体显示器能否正常运作其中一重要因素在于每一放电单元的维持电极对是否可正常放电，使得电离产生紫外线。而维持电极无法放电的原因往往是因为在电极图案的制作过程中，因为种种因素使得电极图案产生缺陷所造成。此外，由于维持电极的启动电压太高会容易造成等离子体显示器过热并导致元件寿命减短，因此在电极图案设计上也不断推陈出新，以期能够降低维持电极的启动电压，在此前提下电极图案复杂度也相对提高，因此电极图案的制作更加复杂。以维持电极为例，维持电极的材料为透明导电材料，如氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)等，其制作方法一般是先以溅镀方式将透明导电材料形成于前基板表面，然后利用一掩模暨蚀刻工艺定义出电极图案。然而在电极图案精密度不断提升、线宽愈来愈小的情形下，电极图案很容易因微粒子(particle)的存在，或是掩模上的刮痕产生缺陷，造成维持电极在给予预定的启动电压后无法稳定放电，或者是造成维持电极在未给予启动电压的情形下异常放电的情形。
等离子体显示器的电极图案缺陷导致电极放电效果不佳，而使等离子体显示器显示效果恶化，然而目前对于在制作电极图案时所造成的缺陷并无相关解决方法。厂商往往采用较宽松的品管标准，藉以提高良率避免大量提高成本，但即使如此，仍有相当比例的等离子体显示器因为电极图案缺陷过多而严重影响等离子体显示器品质，甚至报废，严重影响等离子体显示器的产能。因此对于目前成本极高的等离子体显示器来说，如何解决电极图案缺陷以提升电极放电的稳定性，便是目前等离子体显示器研发上相当重要课题。
发明内容
因此本发明的主要目的在于提供一种修补等离子体显示器电极图案缺陷的方法，以解决上述电极图案缺陷所造成的问题。
本发明提供一种修补电极图案缺陷的方法。该方法包含有进行一检测程序，以检测该等离子体显示器上的电极图案是否具有缺陷，进行一第一修补程序，以填补该电极图案的凹陷部分，以及进行一第二修补程序，以去除该电极图案的突出部分。其中在该第一修补程序中，是利用一导电浆料来填补该电极图案的凹陷部分，而在该第二修补程序中，是利用一激光光束(laser beam)来去除该电极图案的突出部分，使等离子体显示器的电极图案发挥稳定放电功能。
由于本发明修补电极图案缺陷的方法，利用一第一修补程序以导电浆料填补电极图案的凹陷部分，并利用一第二修补程序以激光光束去除该电极图案的突出部分，能在电极图案因制作过程中无法避免的污染或其他因素产生缺陷后进行有效的修补，避免等离子体显示器因少数维持电极无法正常放电影响整体显示效果。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图。然而附图仅供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制，其中：
图1为本发明修补电极图案方法的流程图；
图2为本发明第一实施例修补电极图案的示意图；
图3为本发明第二实施例修补电极图案的示意图；
图4为本发明第三实施例修补电极图案的示意图；以及
图5为本发明第四实施例修补电极图案的示意图。
附图中的附图标记说明如下：
10电极图案                12透明电极
14辅助电极                16凹陷部分
17断线部分                18导电浆料
20凹陷部分                30电极图案
32透明电极                34辅助电极
36突出部分                100开始
110进行一检测程序
120判断电极图案是否有缺陷
130进行一第一修补程序
140进行一第二修补程序
150结束
具体实施方式
请参考图1，图1为本发明修补电极图案缺陷的方法的流程图。如图1所示，本发明修补电极图案缺陷的方法包含有下列步骤：
步骤100：开始；
步骤110：进行一检测程序，检测等离子体显示器的电极图案；
步骤120：判断电极图案是否有缺陷，若有缺陷则进行修补，若无则结束修补流程；
步骤130：进行一第一修补程序，以填补电极图案的凹陷部分；
步骤140：进行一第二修补程序，以去除电极图案的突出部分；以及
步骤150：结束。
如上所述，本发明修补电极图案缺陷的方法是于等离子体显示器电极图案制作完成后进行一检测程序，利用光学检测或是电检测方式判断电极图案是否有缺陷，若电极图案具有缺陷则进行后续修补程序，若电极图案无缺陷则结束修补程序，接着进行第一修补程序，填补电极图案的破孔、不完全电连接或断线等凹陷部分，并进行一第二修补程序，去除电极图案的突出部分。其中，该第一修补程序是利用一导电材料，如银浆料(silverpaste)、金浆料、银胶、含有ITO或IZO等透明导电材质的浆料等，涂抹在该电极图案的破孔、不完全电连接或断线等凹陷部分，使其恢复或接收原始的电极图案，以达到正常放电功能，而第二修补程序则是利用一激光光束将电极图案突出或不该存在的部分切除，使维持电极保持正常的放电间隙(discharge gap)，避免等离子体显示器的放电单元产生不正常的放电情形。
请参考图2，图2为本发明第一实施例修补电极图案10的示意图。如图2所示，电极图案10为一等离子体显示器的维持电极，包含有一封透明电极12，且各透明电极12上并连接有一辅助电极14，用来增加透明电极12的导电性，以及一异常的破孔等凹陷部分16。根据本发明第一实施例修补电极图案的方法，当进行检测程序或是电检测程序并检测出电极图案10包含有凹陷部分16时，本发明即利用一导电浆料18，如上述的银浆料(silverpaste)、ITO浆料、IZO浆料、金浆料或银胶等，涂抹在电极图案10的凹陷部分16，以利用导电浆料18来填补凹陷部分16，使得电极图案10恢复成完整的电极图案，进而发挥正常导电放电功能。
请参考图3，图3为本发明第二实施例修补电极图案10的示意图。如图3所示，电极图案10为一等离子体显示器的维持电极，包含有一对辅助电极14，多个连接于该对辅助电极14上相对的T型透明电极12，以及异常的电极断线部分17。在本实施例中的透明电极12的形状及排列是为了使透明电极12的放电功能更稳定，但相对地在制作过程中容易产生如图3所示的异常断线部分17。同样地根据本发明第一实施例修补电极图案的方法，当进行检测程序或是电检测程序并检测出电极图案10包含有断线部分17时，本发明即利用一导电浆料18，如上述的银浆料、ITO浆料、IZO浆料、金浆料或银胶等，涂抹在电极图案10的断线部分17，利用导电浆料18来填补断线部分17，使得电极图案10恢复成完整的电极图案，进而发挥正常导电放电功能。
如上所述，利用导电浆料18将电极图案10的凹陷部分16或断线部分17完整填补，可有效修补电极图案10，并使等离子体显示器的电极发挥正常放电功能，然而由于导电浆料18一般是由包含有银或金等透光度不佳的金属材料，所以利用导电浆料18将完整填补电极图案的凹陷部分16或断线部分17虽然可使电极发挥正常功能，但若凹陷部分16或断线部分17的面积较大，则导电浆料18可能会影响等离子体显示器放电单元的透光度，造成显示亮度不足。因此在本发明第三实施例中利用部分填补的方式来修复电极图案10的凹陷部分16，以期在不影响放电单元透光度的情形下，使电极发挥正常放电功能，至于电极图案10的断线部分17的部分修补方法，与凹陷部分16的修补方法，以下不多作赘述。
请参考图4，图4为本发明第三实施例修补电极图案10的示意图。如图4所示，电极图案10为一等离子体显示器的维持电极，包含有一对透明电极12，且透明电极12上均连接有一辅助电极14，用来增加透明电极12的导电性，以及一异常的凹陷部分16。根据本发明第二实施例修补电极图案的方法，当进行检测程序时检测出电极图案10包含有凹陷部分16时，本发明即利用一导电浆料18，涂抹在电极图案10的凹陷部分16，以利用导电浆料18填补凹陷部分16来使电极图案10恢复完整，达到正常放电功能。其中，与本发明第一实施例主要不同之处在于，在本发明第三实施例中，为避免导电浆料18影响等离子体显示器放电单元透光度，故采用部分填补的方式填补凹陷部分16，来修补电极图案10。如图4所示，电极图案10的凹陷部分16仅有部分区域是以导电浆料18加以填补，形成一长条状修补线条，如此不仅可恢复电极的放电功能，又可兼顾透光度。另外如图4中所示的另一凹陷部分20由于面积较大，故利用导电浆料18填补出二长条状修补线条，使电极正常放电。此外值得注意的是在本发明的第三实施例中，由于是利用部分修补的方式修补电极图案10，因此在进行检测程序110时，即先判断出电极图案10凹陷部分的种类，使得在进行第一修补程序130时即可调整导电浆料18填补的数量与形状，在不影响等离子体显示器透光率的前提下，有效修补电极图案10，使电极发挥正常放电功能。
请参考图5，图5为本发明第四实施例修补电极图案30的示意图。如图5所示，电极图案30为一等离子体显示器的维持电极，包含有一对透明电极32，且透明电极32上并连接有一辅助电极34，用来增加透明电极32的导电性，以及异常的突出部分36。其中透明电极32上的突出部分36可能会缩短维持电极的放电间隙造成放电不稳定，或是接触到相对的透明电极32形成短路，而导致等离子体显示器放电单元持续放电，使得等离子体显示器萤幕上产生亮点。根据本发明第三实施例修补电极图案的方法，当进行检测程序时检测出电极图案30包含有突出部分36时，本发明即利用一激光光束去除电极图案30的突出部分36，避免电极产生异常放电。
等离子体显示器的电极图案由于微粒污染等因素容易产生缺陷，再加上电极图案设计日益复杂，使得电极图案缺陷产生的比例相对提高，且等离子体显示器的成本昂贵，生产良率对于制造成本影响相当大，因此本发明提供一种修补电极图案的方法，包含有进行一检测程序，以检测该等离子体显示器上的电极图案缺陷，进行一第一修补程序，以填补该电极图案的凹陷部分，以及进行一第二修补程序，以去除该电极图案的突出部分。亦即分别利用一导电浆料填补电极图案凹陷部分，以及利用一激光光束去除电极图案突出部分，因此可有效修补电极图案上不同种类的缺陷，使电极发挥正常放电功能。而本发明的方法亦可合理地应用在等离子体显示器的辅助电极(bus electrode)以及定址电极(address electrode)，甚至是其他光电显示器的电极修补工艺。
以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求书所做的均等变化与修饰，皆应属本发明专利的涵盖范围。

Claims (21)

1.一种缺陷修补的方法，其用来修补一基板上的一电极图案的缺陷，该方法包含有：
进行一检测程序，以检测该基板上的该电极图案是否具有缺陷；以及
进行一第一修补程序，以修补该电极图案的缺陷。
2.如权利要求1所述的方法，其中该电极图案是一等离子体显示器的维持电极图案。
3.如权利要求2所述的方法，其中该维持电极图案的材料包含有一透明导电材料或一金属导电材料。
4.如权利要求1所述的方法，其中该电极图案的缺陷包含有破孔、不完全电连接或断线等凹陷部分。
5.如权利要求4所述的方法，其中该第一修补程序利用一导电材料来填补该凹陷部分。
6.如权利要求5所述的方法，其中该第一修补程序完整地填补该凹陷部分。
7.如权利要求5所述的方法，其中该第一修补程序部分地填补该凹陷部分。
8.如权利要求5所述的方法，其中该导电材料包含有银浆料、氧化铟锡浆料、氧化铟锌浆料、金浆料，或银胶。
9.如权利要求1所述的方法，其中该电极图案的缺陷包含有一突出部分。
10.如权利要求9所述的方法，还包含有一第二修补程序，且该第二修补程序利用一激光光束去除该突出部分。
11.如权利要求1所述的方法，其中该检测程序包含有光学检测程序或电检测程序。
12.一种缺陷修补的方法，其用来修补一等离子体显示器上的一电极图案的缺陷，该电极图案的缺陷包含有一第一缺陷与一第二缺陷，该方法包含有：
进行一检测程序，以检测该等离子体显示器上的该电极图案的缺陷；
进行一第一修补程序，以修补该第一缺陷；以及
进行一第二修补程序，以去除该第二缺陷。
13.如权利要求11所述的方法，其中该电极图案的材料包含有一透明导电材料或一金属导电材料。
14.如权利要求11所述的方法，其中该第一缺陷包含有破孔、不完全电连接或断线等凹陷部分。
15.如权利要求13所述的方法，其中该第一修补程序利用一导电材料来填补该电极图案的该凹陷部分。
16.如权利要求14所述的方法，其中该导电材料包含有银浆料、氧化铟锡浆料、氧化铟锌浆料、金浆料，或银胶。
17.如权利要求14所述的方法，其中该第一修补程序利用该导电材料完整地填补该凹陷部分。
18.如权利要求14所述的方法，其中该第一修补程序利用该导电材料部分地填补该凹陷部分。
19.如权利要求11所述的方法，其中该第二缺陷是该电极图案的一突出部分。
20.如权利要求18所述的方法，其中该第二修补程序利用一激光光束去除该突出部分。
21.如权利要求18所述的方法，其中该检测程序包含有光学检测程序或电检测程序，且该电极图案包含有维持电极、辅助电极以及定址电极。
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