CN1542436A - 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测 - Google Patents

图像扫描仪中灰尘和划痕的检测 Download PDF

Info

Publication number
CN1542436A
CN1542436A CNA2004100351659A CN200410035165A CN1542436A CN 1542436 A CN1542436 A CN 1542436A CN A2004100351659 A CNA2004100351659 A CN A2004100351659A CN 200410035165 A CN200410035165 A CN 200410035165A CN 1542436 A CN1542436 A CN 1542436A
Authority
CN
China
Prior art keywords
scanning
photosensor array
time
light source
zone
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2004100351659A
Other languages
English (en)
Inventor
R・G・甘
R·G·甘
ざ斯
K·斯皮尔斯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HP Inc
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Co filed Critical Hewlett Packard Co
Publication of CN1542436A publication Critical patent/CN1542436A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/40—Picture signal circuits
    • H04N1/409—Edge or detail enhancement; Noise or error suppression
    • H04N1/4097—Removing errors due external factors, e.g. dust, scratches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8841—Illumination and detection on two sides of object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明提供了一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：沿第一方向照明所述物体表面上的一个区域；以一个第一时间扫描上述区域；沿第二方向照明所述物体表面上的上述区域；以一个第二时间扫描上述区域；比较上述两次扫描；和当上述两次扫描存在差异时确定上述区域中存在损伤。本发明还可以检测由划痕、表面纹路甚至指纹产生的阴影。另外还要指出，已经有很多种光敏器件阵列的配置，而对于本发明的唯一要求就是它能够产生并检测至少两种不同的阴影。

Description

图像扫描仪中灰尘和划痕的检测
技术领域
本发明一般涉及数字电子图像扫描装置，更具体地说，涉及对灰尘、划痕及其它表面损伤的检测。
背景技术
电子图像扫描仪将光学图像转换成适合储存、传送及打印的电子形式。在典型的图像扫描仪中，来自图像的光线被聚焦到线性光敏器件阵列上，每次扫描一行。通过在线性光敏器件阵列和原始图像之间产生相对运动，就可以扫描一个二维图像。对于灰度级的扫描，可能只需要单一的线性光敏器件阵列即可。一般而言，彩色扫描仪测量至少三个相对窄的可见光波长的光谱带的强度，例如红、绿及蓝光谱带。
对于图像扫描仪，数字化图像会受被扫描物体表面出现的人工痕迹所影响(如灰尘和指纹等)，或者受被扫描物体表面的损伤所影响(如划痕、折痕等)，也会受物体表面的纹路所影响。对于透明媒体上损伤的检测，已经公开了许多种方法。如可参见美国专利第5,266,805号、美国专利第5,969,372号以及欧洲专利(EP)0 950 316 A1等。引用的专利文件中的有些方法利用这样一个事实：透明彩色胶片中的染料基本上是可以让红外光线透过的，而灰尘和划痕相对来说则是不透光的。另一些公开的方法采用暗场成像法，在这种方法中，射到光敏器件上的光线是由损伤而不是由胶片反射或衍射的。
用于不透光媒体的扫描仪的构成不同于用于透射性媒体的扫描仪，因此需要采用不同的检测方法。这就需要自动区分反射性媒体表面的人工痕迹及损伤。
可以获得对同一个物体进行的多次扫描，其中，对于被扫描物体上的任意一行，每次扫描时光照的角度均不相同。这些不同的扫描可以分别从隔开的不同光敏器件列上获得。由于光照角度不同，所以每次扫描所产生的阴影也不同。多次扫描可以结合为单个合成彩色图像。
发明内容
在合成图像中，灰尘颗粒会产生一系列重叠的阴影，其中每个阴影具有一种不同的颜色。通过在合成图像中搜索独特的色型，就能够分辨出人工痕迹或损伤。或者可以将一个已扫描图像的数据与另一个已扫描图像的数据进行比较，两者之间出现的任何差别都可能是由阴影产生的，这就可以表明存在损伤。
因此，本发明提供了一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：沿第一方向照明所述物体表面上的一个区域；以一个第一时间扫描上述区域；沿第二方向照明所述物体表面上的上述区域；以一个第二时间扫描上述区域；比较上述两次扫描；和当上述两次扫描存在差异时确定上述区域中存在损伤。
当一个明显的阴影的尺寸在所述两次扫描之间不同时确定上述区域中存在损伤。当一个明显的阴影的方向在所述两次扫描之间不同时确定上述区域中存在损伤。
所述方法还包括移动照明光源以从不同的方向获得照明的步骤。
所述方法还包括利用两个不同的相互错开的照明光源以从不同方向获得照明的步骤。
本发明又提供了一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：用一个光源和一个第一光敏器件阵列扫描所述物体表面上的一个区域；用所述光源和一个第二光敏器件阵列扫描所述物体表面上的所述区域；其中所述光源、第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列是彼此相对固定的，第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列被分开，所述光源和所述第一和第二光敏器件阵列在第一次扫描和第二次扫描之间移动；当上述第一次和第二次扫描之间存在差异时确定上述区域中存在损伤。
其中，当一个明显的阴影的尺寸在所述第一次和第二次扫描之间不同时确定上述区域中存在损伤。
所述第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列检测相同波长的光。
所述第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列检测不同波长的光。
本发明最后提供了一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：用一个光源和一个用于检测第一颜色的第一光敏器件阵列扫描所述物体表面上的一个区域；用所述光源和一个用于检测第二颜色的第二光敏器件阵列扫描所述物体表面上的所述区域；其中所述光源、第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列是彼此相对固定的，第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列被分开，所述光源和所述第一和第二光敏器件阵列在第一次扫描和第二次扫描之间移动；根据上述第一次扫描和第二次扫描组成一个合成图象；当检测到有一个由重叠的阴影产生的颜色带的图案时确定上述区域中存在损伤。
附图说明
图1是数字图像扫描仪实例配置的简化侧视图。
图2是采用多个光源进行扫描的文件的简化侧视图，说明灰尘颗粒在每一个光源下如何投下不同的阴影。
图3A、3B以及3C是图1所示扫描仪的简化侧视图，说明扫描仪光学部件相对于灰尘颗粒的三个位置。
图4是灰尘颗粒在合成扫描中的图像的平面图，该颗粒由一个光源及三列移位式光敏器件进行扫描。
图5是光敏器件组件的简化平面图，对于一种颜色，该组件具有多个光敏器件阵列。
图6是另一种光敏器件组件的简化平面图，对于一种颜色，该组件具有多个光敏器件阵列。
图7是依照本发明的方法的流程图。
具体实施方式
图1说明数字电子图像扫描仪的实例配置。文件100由光源102照射。光源102发出的光线经文件100反射后，通过透镜104，再照射到光敏器件组件106上。光敏器件组件106包含三列光敏器件(108，110，112)，每列光敏器件均进行滤光以便接收不同波长范围的光线。
图2中，文件200由两个不同光源(202，204)中的一个来照射。灰尘颗粒206(经过放大以便于说明)也被照射。当灰尘颗粒由光源202照射时，该颗粒向下方投射阴影。当灰尘颗粒由光源204照射时，该颗粒向上方投射阴影。假定文件200的第一次扫描在光源202照射下进行，而文件200的第二次扫描在光源204照射下进行。如果将第二次扫描的数据与第一次扫描的数据进行比较，其中的任何差别都可以表示有阴影，这就可以表示存在表面人工痕迹或损伤。
不使用多个光源，而是可以使用一个灯光以及多列光敏器件。图3A-3C说明如图1所示的单个光源扫描仪扫描灰尘颗粒的过程。在图3A-3C中，假定光敏器件列108用于检测红光，光敏器件列110用于检测绿光，以及光敏器件列112用于检测蓝光。在图3A中，灰尘颗粒300挡住了本来会照射到红光光敏器件列108上的光线。这就是说，光敏器件列108使一个阴影成像。假定通过使光源102、透镜106以及光敏器件组件106向下相对于固定不动的文件100移动，来对文件100进行扫描，如图3A所示。在图3B中，光源、透镜以及光敏器件组件已经向下进行了相对于文件100的移动，而且灰尘颗粒300的阴影也由绿光光敏器件列110成像。在图3C中，光源、透镜以及光敏器件组件又向下进行了移动，灰尘颗粒300的阴影由蓝光光敏器件112成像。从光线轨迹可以注意到，在由红光光敏器件列108进行扫描时，灰尘颗粒300产生的阴影会比由绿光光敏器件列110进行扫描时所产生的阴影略长一些。同样，在由绿光光敏器件列110进行扫描时，灰尘颗粒300产生的阴影会比由蓝光光敏器件列112进行扫描时所产生的阴影略长一些。
图4说明合成图像中灰尘颗粒及其阴影的图像，合成图像采用来自所有三列光敏器件的数据。红光光敏器件列成像的阴影400最长。如果该文件为白底，那么合成图像中阴影400靠外面的部分为青色，这是由于绿色和蓝色光线被反射而红色光线没有被反射的缘故。绿光光敏器件列成像的阴影402长度位于第二，其靠外面的部分为蓝色(假定文件为白底，蓝光被反射而红、绿光则被挡住)。最后，蓝光光敏器件成像的阴影404最短，它完全为灰色或黑色。合成图像中的这种特殊的彩色图案就可以表明存在损伤。在彩印文件的彩色合成图像中，阴影的颜色当然还会受文件本身的颜色所影响。但是，损伤总是会出现较小的黑色或灰色区域，并且有特殊的相邻色型。
对于如图1所示的光敏器件组件，其光敏器件列的排列通常相对比较近，使得阴影长度和差别相对地都比较小。其它一些光敏器件配置已经有人提出，这种光敏器件有一列附加的光敏器件用于白色光线。如参见美国专利第5,773,814号。一列用于白色光线的光敏器件有助于提高扫描黑白文件(如文本文件)的速度。图5说明一种光敏器件组件的实例，该光敏器件有两列光敏器件用于检测白色光线。放置在靠外部分的两列(500，508)检测白色光线，而放置在靠内部分的三列(502，504，506)检测红、绿及蓝色光线。通过增加第二列白光光敏器件，就可以获得两个分开的白光扫描，一个使用列500进行，另一个使用列508进行，对这两次扫描进行比较。可以使这两列白光敏器件相对地说远远隔开，以便增加阴影长度的差别。
不是增加两列白光光敏器件，而是在三列光敏器件组件中增加第四列彩色光敏器件，第四列与另一列检测相同颜色的光线。例如，可以增加一个附加的绿光光敏器件列，可以对这两次绿光扫描结果进行比较，检查其中是否有差别。两次扫描的是相同的颜色，出现的任何差别就可以表示有阴影，也就表示存在人工痕迹或损伤。另外一些光敏器件配置也已经有人提出，在这些配置中，每种颜色均使用两列光敏器件，其中，对于每种颜色，一列包含相对较大的光敏器件，而另一列则包含相对较小的光敏器件。具有相对小的光敏器件区的扫描线用于原始高输入采样率，而相对大的光敏器件区的扫描线则用于高色彩精度和速度。图6说明一种光敏器件组件的实例，该传感器有三列相对较大的光敏器件(600，602，604)，并且还有三列相对较小的光敏器件(606，608，610)。每一种颜色的光谱带均由一列较大的光敏器件和一列较小的光敏器件进行检测。例如，红波长可由列600和606来检测，绿波长可由列602和608来检测，以及蓝波长可由列604和610来检测。通过对同一种颜色进行两次不同的扫描，如图6所示的光敏器件组件可用于检测阴影。例如，可以将使用光敏器件列600进行的扫描与使用光敏器件列606进行的扫描相比较。两次扫描均是对于同一颜色，其中的任何差别表示有阴影，这就可以表示存在人工痕迹或损伤。
图7是一个流程图，说明依照本发明的一种方法。在步骤700和702，用分开的光敏器件阵列(如一个组件中不同列的光敏器件列)进行两次扫描。在形成了合成图像时(测试704)，就可以搜索该合成图像，检查其中是否有阴影图案(步骤706)。或者可以通过对各次单独的扫描进行比较来检测其中的差别。阴影图案或差别均可以表示有阴影，这就可以表示存在表面人工痕迹或损伤。
应当指出，以上只是对针对灰尘进行了讨论，然而，划痕、表面纹路甚至指纹也会产生能够检测的阴影。另外还要指出，已经有很多种光敏器件阵列的配置，而对于本发明的唯一要求就是它能够产生并检测至少两种不同的阴影。
对于本发明所进行的上述描述是为了进行说明和描述。它并不是对本发明的详尽描述，其目的也不是要将本发明限制于所公开的形式上，而且按照上述示范有可能进行其它修改和变更。实施例的选择和说明是为了更好地解释本发明的原理和它的实际应用，从而本专业的其他技术人员能够更好地将本发明应用到各种实施例和各种适合于设想的具体应用的各种修改方案中。我们的意图是：把所附的权利要求书看作包括除先有技术限制之外的本发明的其它替换的实施例。

Claims (10)

1.一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：
沿第一方向照明所述物体表面上的一个区域；
以一个第一时间扫描上述区域；
沿第二方向照明所述物体表面上的上述区域；
以一个第二时间扫描上述区域；
比较上述两次扫描；和
当上述两次扫描存在差异时确定上述区域中存在损伤。
2.根据权利要求1的方法，其特征在于：当一个明显的阴影的尺寸在所述两次扫描之间不同时确定上述区域中存在损伤。
3.根据权利要求1的方法，其特征在于：当一个明显的阴影的方向在所述两次扫描之间不同时确定上述区域中存在损伤。
4.根据权利要求1的方法，其特征在于还包括移动照明光源以从不同的方向获得照明的步骤。
5.根据权利要求1的方法，其特征在于还包括利用两个不同的相互错开的照明光源以从不同方向获得照明的步骤。
6.一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：
用一个光源和一个第一光敏器件阵列扫描所述物体表面上的一个区域；
用所述光源和一个第二光敏器件阵列扫描所述物体表面上的所述区域；
其中所述光源、第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列是彼此相对固定的，第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列被分开，所述光源和所述第一和第二光敏器件阵列在第一次扫描和第二次扫描之间移动；
当上述第一次和第二次扫描之间存在差异时确定上述区域中存在损伤。
7.根据权利要求6的方法，其特征在于：当一个明显的阴影的尺寸在所述第一次和第二次扫描之间不同时确定上述区域中存在损伤。
8.根据权利要求6的方法，其特征在于：所述第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列检测相同波长的光。
9.根据权利要求6的方法，其特征在于：所述第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列检测不同波长的光。
10.一种检测被扫描物体表面上的损伤的方法，该方法包括：
用一个光源和一个用于检测第一颜色的第一光敏器件阵列扫描所述物体表面上的一个区域；
用所述光源和一个用于检测第二颜色的第二光敏器件阵列扫描所述物体表面上的所述区域；
其中所述光源、第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列是彼此相对固定的，第一光敏器件阵列和第二光敏器件阵列被分开，所述光源和所述第一和第二光敏器件阵列在第一次扫描和第二次扫描之间移动；
根据上述第一次扫描和第二次扫描组成一个合成图象；
当检测到有一个由重叠的阴影产生的颜色带的图案时确定上述区域中存在损伤。
CNA2004100351659A 2000-07-31 2001-05-31 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测 Pending CN1542436A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/629,495 US6465801B1 (en) 2000-07-31 2000-07-31 Dust and scratch detection for an image scanner
US09/629495 2000-07-31

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB011208457A Division CN1174241C (zh) 2000-07-31 2001-05-31 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN1542436A true CN1542436A (zh) 2004-11-03

Family

ID=24523218

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2004100351659A Pending CN1542436A (zh) 2000-07-31 2001-05-31 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测
CNB011208457A Expired - Fee Related CN1174241C (zh) 2000-07-31 2001-05-31 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB011208457A Expired - Fee Related CN1174241C (zh) 2000-07-31 2001-05-31 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测

Country Status (5)

Country Link
US (3) US6465801B1 (zh)
CN (2) CN1542436A (zh)
DE (1) DE10121545A1 (zh)
SG (1) SG94785A1 (zh)
TW (1) TW502110B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101008622B (zh) * 2006-01-26 2015-05-20 以色列商奥宝科技股份有限公司 用以检测具有显微导体的图样成型装置的检测***及方法

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10029826C1 (de) * 2000-06-16 2001-08-02 Agfa Gevaert Ag Verfahren und Vorrichtung zur Defekterkennung und/oder -korrektur bei der digitalen Bildverarbeitung
US7242797B2 (en) * 2003-06-05 2007-07-10 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for mapping defects on the light transmissive support surface of a document scanning or photocopying device
US7676110B2 (en) * 2003-09-30 2010-03-09 Fotonation Vision Limited Determination of need to service a camera based on detection of blemishes in digital images
US7295233B2 (en) 2003-09-30 2007-11-13 Fotonation Vision Limited Detection and removal of blemishes in digital images utilizing original images of defocused scenes
US7590305B2 (en) * 2003-09-30 2009-09-15 Fotonation Vision Limited Digital camera with built-in lens calibration table
US7310450B2 (en) * 2003-09-30 2007-12-18 Fotonation Vision Limited Method of detecting and correcting dust in digital images based on aura and shadow region analysis
US7315658B2 (en) * 2003-09-30 2008-01-01 Fotonation Vision Limited Digital camera
US8369650B2 (en) 2003-09-30 2013-02-05 DigitalOptics Corporation Europe Limited Image defect map creation using batches of digital images
US7369712B2 (en) * 2003-09-30 2008-05-06 Fotonation Vision Limited Automated statistical self-calibrating detection and removal of blemishes in digital images based on multiple occurrences of dust in images
US7340109B2 (en) * 2003-09-30 2008-03-04 Fotonation Vision Limited Automated statistical self-calibrating detection and removal of blemishes in digital images dependent upon changes in extracted parameter values
US7424170B2 (en) * 2003-09-30 2008-09-09 Fotonation Vision Limited Automated statistical self-calibrating detection and removal of blemishes in digital images based on determining probabilities based on image analysis of single images
US7206461B2 (en) * 2003-09-30 2007-04-17 Fotonation Vision Limited Digital image acquisition and processing system
US7308156B2 (en) * 2003-09-30 2007-12-11 Fotonation Vision Limited Automated statistical self-calibrating detection and removal of blemishes in digital images based on a dust map developed from actual image data
US7528997B2 (en) * 2003-12-22 2009-05-05 Xerox Corporation Systems and methods for streak detection in image array scanning
US7122819B2 (en) * 2004-05-06 2006-10-17 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for imager die package quality testing
US7605958B2 (en) * 2004-06-02 2009-10-20 Xerox Corporation Design parameters for a multi-row linear photosensor array
JP4498149B2 (ja) * 2005-01-17 2010-07-07 キヤノン株式会社 画像読み取り装置
FR2892815B1 (fr) * 2005-10-28 2008-02-01 Turbomeca Diagnostic ou parametrage d'une installation de detection par ressuage de defauts debouchants a la surface de pieces
WO2007095556A2 (en) 2006-02-14 2007-08-23 Fotonation Vision Limited Digital image acquisition device with built in dust and sensor mapping capability
US7817874B2 (en) 2006-12-06 2010-10-19 Micron Technology, Inc. Image sensor occlusion localization and correction apparatus, systems, and methods
JP4913075B2 (ja) * 2008-01-16 2012-04-11 京セラミタ株式会社 画像読取装置
US8358829B2 (en) * 2008-11-26 2013-01-22 Camtek Ltd. System and a method for inspecting an object
US8565508B2 (en) * 2009-11-26 2013-10-22 Camtek Ltd. System and a method for insepcting an object using a hybrid sensor
DE102011004584A1 (de) 2011-02-23 2012-08-23 Krones Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Blasen und/oder Falten auf etikettierten Behältern
US8894280B2 (en) 2011-12-31 2014-11-25 Carestream Health, Inc. Calibration and correction procedures for digital radiography detectors supporting multiple capture modes, methods and systems for same
US8901514B2 (en) * 2012-06-28 2014-12-02 Molecular Devices, Llc Sample analysis system with spotlight illumination
CN102830123B (zh) * 2012-08-16 2014-07-02 北京科技大学 一种金属板带表面微小缺陷的在线检测方法
EP3016368A1 (en) * 2014-10-27 2016-05-04 Thomson Licensing Method and apparatus for handling a defect object in an image
CN109961455B (zh) * 2017-12-22 2022-03-04 杭州萤石软件有限公司 一种目标检测方法及装置
CN110440853B (zh) * 2019-07-24 2024-05-17 沈阳工程学院 一种监控除尘***
US11340845B1 (en) 2021-03-12 2022-05-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Determination of predicted failure modes based on properties of dust in printing devices

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5266805A (en) 1992-05-05 1993-11-30 International Business Machines Corporation System and method for image recovery
US5663569A (en) * 1993-10-14 1997-09-02 Nikon Corporation Defect inspection method and apparatus, and defect display method
EP0698994B1 (en) 1994-08-23 2000-02-02 Hewlett-Packard Company Sensor assembly providing gray scale and color for an optical image scanner
DE19511534C2 (de) * 1995-03-29 1998-01-22 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von 3D-Fehlstellen bei der automatischen Inspektion von Oberflächen mit Hilfe farbtüchtiger Bildauswertungssysteme
US5969372A (en) 1997-10-14 1999-10-19 Hewlett-Packard Company Film scanner with dust and scratch correction by use of dark-field illumination
US6177682B1 (en) * 1998-10-21 2001-01-23 Novacam Tyechnologies Inc. Inspection of ball grid arrays (BGA) by using shadow images of the solder balls
TW475330B (en) * 1999-10-29 2002-02-01 Hewlett Packard Co Photosensor array with multiple different sensor areas

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101008622B (zh) * 2006-01-26 2015-05-20 以色列商奥宝科技股份有限公司 用以检测具有显微导体的图样成型装置的检测***及方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20020195577A1 (en) 2002-12-26
US20050023492A1 (en) 2005-02-03
US7355193B2 (en) 2008-04-08
US6465801B1 (en) 2002-10-15
SG94785A1 (en) 2003-03-18
DE10121545A1 (de) 2002-02-21
CN1338626A (zh) 2002-03-06
CN1174241C (zh) 2004-11-03
TW502110B (en) 2002-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1174241C (zh) 图像扫描仪中灰尘和划痕的检测
US5969372A (en) Film scanner with dust and scratch correction by use of dark-field illumination
US7224540B2 (en) Extended depth of field imaging system using chromatic aberration
CN1965222B (zh) 用于控制透明或反射元件的设备
US20140010438A1 (en) Three dimensional shape measurement apparatus and method
US20110310244A1 (en) System and method for detecting a defect of a substrate
KR20120018319A (ko) 투명한 기재의 결함을 검출하기 위한 방법 및 시스템
CN1699937A (zh) 全宽度阵列扫描分光光度计
CA2488512A1 (en) Method and arrangement for touchless detection of data of uneven surfaces
JP2013531307A (ja) 物体に適用される光学的可変マーキングの光学特性を測定するための方法およびデバイス
US20020025061A1 (en) High speed and reliable determination of lumber quality using grain influenced distortion effects
CA2198283A1 (en) Three dimensional color imaging
JP3090594B2 (ja) 画像認識装置を用いたコイン判別装置
US9172836B2 (en) Optical scanner illumination system and method
CN114390152B (zh) 检测微小凹凸的接触式图像传感器及应用
US20130077851A1 (en) Three dimensional pattern inspection system
JP2001141659A (ja) 画像撮像装置及び欠陥検出装置
US6532084B1 (en) Method for detecting the relative location of an image reading head and a light source
US20080055663A1 (en) Calibration method of an image-capture apparatus
JP2000258348A (ja) 欠陥検査装置
US20030098999A1 (en) White reference calibration in a dual digitizer
JP3187220B2 (ja) 照明装置
JPH0637477Y2 (ja) 情報読み取り装置
FR3101144A1 (fr) Système et procédé de contrôle de la couleur d’un article en déplacement
JPH0730729A (ja) 画像入力装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication