CN1509420A - 具有改进的耐电痕迹的光缆 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种具有改进的耐电痕迹、包括至少一条光纤和外护套的光缆，该外护套包括聚合物材料，其特征在于，该聚合物材料构成护套的基质，而且该聚合物材料包括通过配位催化聚合反应获得的多峰烯烃聚合物，而且其特征还在于，该护套的所有成分包括以重量计15－40％的金属氢氧化物，优选的为氢氧化镁和/或氢氧化铝，以及以重量计0.01－0.9％的碳黑。

Description

具有改进的耐电痕迹的光缆

技术领域

本发明涉及一种至少包括一条光纤和外护套的光缆，该外护套包括既具有良好耐电痕迹又具有良好机械性能的聚合物材料。

背景技术

光缆含有用于传输进行通信、数据交换和控制目的的任何形式的信号的光纤。例如，在GB A2 2 193 583中，公开了这样一种光纤。在此引用该文献的内容供参考。除了光纤之外，光缆还包括用于保护这些光纤的外护套。外护套通常基于诸如聚烯烃，特别是聚乙烯或乙烯的共聚物的聚合物材料，其中乙烯单体构成该聚合物总质量的大部分。电缆护套必须满足容易生产而且具有良好化学性能的要求，例如特别是在温度升高到100℃时的拉力和断裂伸度。此外，外护套还应该具有低热变形性和良好的耐电痕迹。

特别是，对护套良好的耐电痕迹非常感兴趣，这是因为光缆最常与电力电缆相邻安装的实际原因。具有高压，特别是130kV以上高压的这些电力电缆产生强电场，从而在相邻光缆护套的横断面区域上感应电压。这样就因为漏电痕迹而产生蠕动(creeping)电流，而且进一步导致护套发生被称为干带起弧(dry band arcing)的局部击穿，特别是在潮湿条件下。

为了避免发生这些问题，必须防止光缆在外护套上产生蠕动电流，即护套必须具有良好的耐电痕迹。然而，与此同时，护套还必须满足其他的边界条件，例如电缆护套材料具有良好的可处理性，以便以经济、有效的方式生产该护套，而且具有良好的机械性能，例如成品电缆的拉力、断裂伸度以及耐热性。关于机械性能，必须考虑到光缆通常自由悬挂在以最远500米的距离间隔开的支承装置之间的。为了使最终光缆保持低信号衰减，重要的是，尽可能减小护套的收缩量。此外，护套材料通常包括以重量计2％或者更多的碳黑。

DE-A-13504041公开了一种与电力电缆一起使用、其护套包括添加以重量计30-60％的金属氢氧化物使得自分辨而且具有耐电痕迹的材料的光缆。然而，这样大量的金属氢氧化物会导致不希望地破坏护套的机械性能。

日本专利申请63-322299公开了一种尤其以成型为对户外电缆等的接头应用的绝缘材料使用的耐电痕迹材料。这种耐电痕迹材料包括以重量计混合了以重量计100份热塑性树脂的100-500份热塑性橡胶，其中将以重量计的20-50份氢氧化镁混合到以重量计100份的热塑性橡胶和热塑性树脂的所述混合物中。热塑性橡胶的成分使杨氏模量拉力和断裂伸度的值降低，特别是在高温下。热变形大，不可接受。

WO 93/05424公开了一种具有线性聚乙烯基质的光缆护套材料，它包括以重量计15-30％的金属氢氧化物以及任选的以重量计1％以上的碳黑。但是，仍可以提高这种护套材料的耐电痕迹。

发明内容

本发明的目的是设计一种具有外护套的光缆，利用这种外护套，该光缆具有改进的耐电痕迹，而且具有良好的机械性能。特别是，本发明的目的是设计一种当电压在100-400kV的电力电缆附近产生强电场时，具有足够耐电痕迹的光缆。

本发明基于这样的认识，即如果光缆包括其基质是通过进行配位催化聚合反应获得的多峰乙烯聚合物的护套，则可以提供这种光纤。

此外，本发明基于这样的认识，即如果这种聚合物材料构成护套的基质，则可以将碳黑成分减少到以重量计最多占总护套成分的0.9％。

因此，本发明提供了一种具有改进的耐电痕迹、包括至少一条光纤和外护套的光缆，该外护套包括聚合物材料，其特征在于，聚合物材料构成护套的基质，而且该聚合物材料包括通过进行配位催化聚合反应获得的多峰烯烃聚合物，而且其特征还在于，护套的所有成分包括以重量计15-40％的金属氢氧化物以及以重量计0.01-0.9％的碳黑。

根据本发明的光缆一方面满足了改进耐电痕迹的要求，特别是在该光缆安装在高压电力电缆附加时。可以认为，利用多峰聚烯烃作为护套的基质，决定性地影响改进耐电痕迹，这样使得护套内的氢氧化物成分至多40％，组合了减少的碳黑成分。另一方面，根据本发明的光缆具有良好的机械性能。这些机械性能包括护套的良好可处理性、低收缩量以及低磨耗/硬表面。碳黑成分使护套材料具有黑颜色。此外，该光缆能够承受因为气候条件和大气污染引起的断裂应力。

因此，尽管要求良好的耐电痕迹和良好的机械性能以及良好的实际使用应力条件至少有些矛盾，但是根据本发明的光缆在所有的要求条件方面均令人满意。

漏电痕迹(tracking)被定义为因为电弧的作用而产生痕迹的过程。电弧集中了足以产生漏电痕迹的足够电力和使漏电痕迹生长的足够能量。在漏电痕迹蔓延到足以横跨两个电极之间的剩余距离或接地连接，并因此而变成绝缘材料表面上局部地下降的通路时，发生故障。根据倾斜面漏电痕迹试验，测量耐电痕迹。在“例子”部分将给出应用根据该方法的试验过程的细节。

优选地，本发明的光缆护套中的金属氢氧化物为氢氧化镁和/或氢氧化铝。

优选地，本发明的光缆护套进一步具有根据在“例子”部分进一步说明的倾斜面漏电痕迹试验获得的耐电痕迹，该耐电痕迹为：62.3％漏电痕迹概率级别下至少为15小时，即η≥15小时，更优选地，62.3％漏电痕迹概率级别下至少为20小时，即η≥20小时，最优选地，62.3％漏电痕迹概率级别下至少为25小时，即η≥25小时。

在本发明的优选实施例中，护套基质由多峰聚乙烯构成。

利用根据ISO 1133通过熔体流速(MFR)的方法来表征聚合物分子量分布的特性。熔体流速主要取决于平均分子量。即，因为长、良好组合的分子提供的材料的流动趋势比短、不佳组合的分子提供的材料的流动趋势小。提高分子量就意味着降低MFR值。在规定的温度和压力条件下，以排出聚合物的g/10分钟测量熔体流速，而且熔体流速是聚合物粘性的测量值，反过来，对于每种聚合物，它不仅主要受其分子量分布的影响，而且还受其分支程度的影响。在190℃(ISO1133，条件4)，在2.16kg负荷下测量的熔体流速被表示为MFR₂。

在另一个优选实施例中，构成护套基质的乙烯聚合物具有0.01-10g/10分钟的MFR₂，更优选的为0.1-1.0g/10分钟，最优选的为0.3-0.6g/10分钟。

聚合物材料的分子量分布(MWD)优选的在3-12的范围内，更优选的在4-10范围内。

该材料的熔体流速和密度决定强度特性，而密度仅决定熔融点、表面硬度、渗透性以及吸水性。

优选地，乙烯聚合物的密度为0.870-0.970g/cm³，更优选的为0.910-0.960g/cm³，最优选的为0.930-0.950g/cm³。

术语“聚合物模态”指其分子量分布(MWD)曲线，即，作为其分子量的函数的聚合物重量百分率曲线的特性。如果以顺序步骤生产聚合物，例如采用串联的反应器并在每个反应器内采用不同的条件，则在不同反应器内产生的不同聚合物部分分别具有其自己的分子量分布，它们可能互相明显不同。可以将所获得的最终聚合物的分子量分布曲线看作各聚合物部分的分子量分布曲线的叠加，因此与各部分的曲线相比，示出两个或者更多个最大不同或至少明显加宽的曲线。将显示这种分子量分布曲线的聚合物分别称为“双峰”或“多峰”。根据例如WO 92/12182公开的几种方法可以生产多峰聚合物。

已知在两个或更多个串联的反应器内生产多峰，特别是双峰聚合物烃，优选地是生产乙烯聚合物。作为这种现有技术的例子，可以参考EP 040 992、EP 041 796、EP 022 376、EP 0887379以及WO 92/12182。在此引用这些文献的内容供参考。根据这些文献公开的内容，可以分别在液体、浆体以及气相下进行聚合反应。

优选地，在诸如WO 92/12182公开的多步反应顺序中的多步处理中(“BORSTAR”处理)生产用于形成光缆护套基质的多峰乙烯聚合物。在此引用该文献的内容供参考。在该处理过程中，在第一步，利用液相的惰性低沸点碳氢化合物介质，在循环反应器内使乙烯聚合。然后，从循环反应器内排出经过聚合反应之后的反应混合物，而且至少使惰性碳氢化合物的主要部分与聚合物分离。然后，在第二步骤或进一步的步骤中，将聚合物传送一个或者多个气相反应器内，在气相反应器内，在存在气相乙烯的情况下，继续进行聚合反应。对于不同聚合物部分的分布，根据该过程产生的多峰聚合物具有优良的均匀性，这是(例如)聚合物混合物不可能实现的。

用于生产乙烯聚合物的催化剂包括：铬、齐格勒-纳塔(Ziegler-Natta)或金属茂(metallocene)催化剂。优选地使用诸如金属茂催化剂的单个位点催化剂。优选的，在EP 688 794、EP 949 274、WO 95/12622以及WO 00/34341中公开了单个位点催化剂。在此引用这些文献的内容供参考。

可以选择利用预聚合反应步骤进行主要的聚合反应阶段，其中产生以重量计至多到总量的20％，优选地以重量计为总量的1-10％的聚合物。

构成护套介质的多峰乙烯聚合物包括低分子量(LMW)乙烯均聚物或共聚物部分以及高分子量(HMW)乙烯共聚物或均聚物部分。根据多峰乙烯聚合物是双峰或具有高模态，LMW和/或HMW部分可以分别仅包括具有两个或更多个亚部分的一部分。在此使用的术语“乙烯均聚物”指乙烯聚合物，它主要包括乙烯，即，包括以重量计至少97％，优选地以重量计为99％，更优选地以重量计为99.5％以及最优选地以重量计为99.8％的乙烯。

优选地，乙烯聚合物是包括一个LMW部分和一个HMW部分构成的双峰聚合物。

此外，优选地，乙烯聚合物包括从下面选择的乙烯聚合物部分

(a)LMW乙烯聚合物，其密度为0.860-0.975g/cm³，更优选地为0.930-0.975g/cm³，最优选的为0.955-0.975g/cm³，其MFR₂为50-5000g/10分钟，更优选地为100-1000g/10分钟，最优选的为200-600g/10分钟，以及

(b)HMW聚合物，其密度为0.870-0.945g/cm³，更优选地为0.880-0.930g/cm³，最优选地为0.910-0.930g/cm³，其MFR₂为0.01-10.0g/10分钟，更优选地为0.01-0.8g/10分钟，最优选的为0.05-0.3g/10分钟。

因此，低分子量乙烯聚合物优选的是高密度型聚乙烯(HDPE)，而高分子量乙烯聚合物是线性低密度型聚乙烯(LLDPE)。该乙烯聚合物优选的包括部分(a)和(b)。

乙烯聚合物的至少一部分优选的为与C3-C12、更优选为C3至C8的α-烯烃，优选与从包括丙烯、1-丁烯、4-甲基-1-戊烯、1-己烯以及1-辛烯的组中选择的至少一个共聚单体聚合成的共聚物。乙烯聚合物中共聚单体的量优选的为0.02-5.0mol％，更优选的为0.05-2.0mol％。

优选的，HMW部分是乙烯共聚物，优选的与以上说明的共聚单体之一共聚的。更优选的，乙烯聚合物的LMW部分为均聚物。

此外，如果根据以上描述的BORSTAR工艺生产乙烯聚合物，则优选的在循环反应器内生产LMW部分，而在气相反应器内生产HMW部分。

在优选实施例中，乙烯聚合物包括至少以重量计25％，优选的为以重量计35-55％，更优选的以重量计为43-51％，以及最优选的以重量计44-50％的低分子量乙烯聚合物成分；以及以重量计少于75％、优选的以重量计65-45％、更优选的以重量计57-49％，以及最优选的以重量计56-50％的高分子量乙烯聚合物成分。

根据本发明的光缆护套含有以重量计在15-40％范围内的金属氢氧化物，优选的为氢氧化镁和/或氢氧化铝。为了在护套内获得足够程度的耐电痕迹，该数量的氢氧化物是必需的，但是当被暴露到放电面时，聚烯烃本身已经具有某种程度的耐电痕迹。对于聚合物的加工性能和机械性能，要求尽可能少地使用氢氧化物。然而，已经发现，通过在给定范围内添加金属氢氧化物，对于用作护套材料，其仍具有满意的机械性能和加工性能。

优选的，护套的总成分包括：以重量计为20-30％的、最优选的以重量计为25％的金属氢氧化物，优选的为氢氧化镁和/或氢氧化铝。

更优选的是使用氢氧化镁。

优选的，护套中的碳黑成分以重量计为0.1-0.8％，更优选的以重量计为0.3-0.6％，最优选的以重量计为0.5％。

优选的，护套内存在的乙烯聚合物的数量要尽可能高，即不包括其他成分，氢氧化镁和/或氢氧化铝构成护套材料的残余物。然而，还可以少量存在诸如UV稳定剂的添加剂。

在生产护套材料时，应该密切地混合诸如乙烯聚合物、氢氧化镁和/或氢氧化铝、碳黑和任选添加剂，以便获得尽可能均匀的成分，从而生产根据本发明的光缆外护套。

优选的根据WO 98/15591公开的方法，进行护套材料的混合。在此引用该文献的内容供参考。根据该方法，利用一个或者多个分离的步骤，通过使聚合物通过粘***叉阶段两次或者更多次，可以将氢氧化镁和/或氢氧化铝以及碳黑混合为聚合物材料，即，每个步骤含有单独混合操作混合器或挤压机。以要求的比例添加微细粉末形式的两种成分，以获得最佳结果，并使这两种成分尽可能等同地进入护套材料内。

粉末应该具有尽可能小的颗粒尺寸。因此，优选的，金属氢氧化物(优选的为氢氧化镁或氢氧化铝)具有1.4-1.8μm的标称颗粒尺寸，而优选的碳黑具有10-30nm的标称颗粒尺寸，更优选的为具有20nm的标称颗粒尺寸。

根据本发明的光缆具有良好的环境应力抗裂性(ESCR)，这主要是由作为护套材料的基质的多峰乙烯聚合物实现的。根据标准ASTMD1693/A、采用Igepal CO-630，10％试剂来测量ESCR。优选的，多峰烯烃、优选的为乙烯、聚合物具有ESCR，其F20＞2000小时，更优选的为＞8000小时。F20意味着在经过所指出的时间后，20％的样品发生断裂。

如上所述，护套显示低收缩量，从此而防止光信号发生衰减。优选的，主要由聚合物基质确定的收缩量最大为1％。因此，烯烃，优选的为乙烯聚合物的收缩量最大优选的为1％。

为了进一步说明本发明，以下将作为例子说明本发明的优选实施例。

图1示出根据本发明的护套材料和比较材料的斜面漏电痕迹试验结果。

例子

根据以下过程生产构成根据本发明的光缆护套基质的双峰聚乙烯。

在包括与气相反应器串联的循环反应器并含有所使用的Ziegler-Natta催化剂的聚合反应设备内，在以下条件下，该双峰乙烯聚合物发生聚合反应。

第一反应器(循环反应器)

在该反应器中，通过在存在氢气(氢对乙烯的摩尔比率＝0.38∶1)的情况下通过乙烯聚合反应，生产第一聚合物(聚合物1)。所获得的乙烯均聚物具有的MFR₂值为492g/10分钟，其密度为0.975g/cm³。第二反应器(气相反应器)

在该反应器中，通过对乙烯和丁烯(气相的丁烯对乙烯的摩尔比率＝0.22∶1，氢气对乙烯的摩尔比率＝0.03∶1)进行聚合反应，生产第二聚合物(聚合物2)。所获得的乙烯和丁烯共聚物以与第一反应器产生的乙烯均聚物的均匀混合物的形式存在，聚合物1与聚合物2的重量比为45∶55。

聚合物1和聚合物2的双峰混合物的密度为0.941g/cm³，而MFR₂值为0.4g/10分钟。以下将该产品称为“双峰乙烯聚合物”。

在该例中，根据为了估计护套材料的收缩趋势开发的方法(以下称为UNI-5079)，确定所生产的聚合物的收缩量。该收缩量以以下方式确定。

在以下条件下挤压用于进行估计的电缆样品

导体：3.0mm固体，Al导体

壁厚：1.0mm

温度，模片(die)：+210℃或+180℃

模片与恒温槽之间的距离：35cm

温度，恒温槽：+23℃

线速度：75米/分钟

模片类型：半管型

螺纹接套：3.65mm

模片：5.9mm

螺丝设计：艾丽丝(Elise)

破裂的板

在室内在恒温(+23℃)下经过24小时以及在+100℃的温度下经过24小时后，测量百分比收缩量。对测量接近40cm电缆样品进行测量。适于以这样的方式标记电缆样品，以致在此条件下对电缆样品上的同一个点进行测量。在测量期间发现样品发生收缩，则必需首先做约40cm的标记。然后，切割该长度，重新测量。对要分析的每条电缆取两个样品。将这两个样品在恒温室内放置24小时，然后测量它们，计算它们的百分比收缩量。此后，将所有样品在+100℃的滑石试验台上放置24小时。然后，测量这些样品，根据原始长度计算总百分比收缩量。测量值示于下面的表1中。

表1：双峰乙烯聚合物的材料特性

拉伸断裂强度(MPa)¹：34

断裂伸长率(％)¹：800

ESCR²：0/2000h

收缩量(％)在：

23℃/24小时³：0.0

23℃/24小时⁴：0.0

收缩量(％)在：

100℃/24小时³：1.0

100℃/24小时⁴：0.9

¹：根据ISO 527-21993/5A，对电缆样品测定的。

²：根据ASTM D 1693/A，10％Igepal，测定的。该结果被表示为在给定时间上的断裂样品棒的百分率。F20意味着经过所指出的时间后20％的样品棒断裂。

³：根据UNI-5079，经过在180℃下进行挤压后测定的。

⁴：根据UNI-5079，经过在210℃下进行挤压后测定的。

从表1所示的值可以看出，双峰乙烯聚合物特别是在室温下的收缩量以及环境应力抗裂性(ESCR)方面具有良好的特性。

例子1

通过在两个挤压机之一内在最高温度180℃下，使73.60wt％的上述双峰乙烯聚合物与25wt％的氢氧化铝、0.90wt％的碳黑以及0.5wt％的UV稳定剂混合在一起生产电缆护套材料。以下将该护套材料称为“双峰护套”。

例子2：(比较例)

通过在两个挤压机之一内在最高温度180℃下，使73.60wt％的、MFR₂为0.2、密度为0.930g/cm³的单峰聚乙烯(ME6080)与25wt％的氢氧化镁、0.90wt％的碳黑以及0.5wt％的UV稳定剂混合在一起生产电缆护套材料。以下将该护套材料称为“比较护套”。

漏电痕迹试验

特别是根据标准BS 5604：1984和IEC 587：1986方法1，准则A，但是对试验电压和试验持续时间进行了调整，对双峰护套和比较护套进行倾斜面漏电痕迹试验。采用一个电压电平(4.5kV)进行试验。对事先已经试验了6个小时(并保持完好)的比较护套的样品再试验6个小时，或者直到失败。对本发明的双峰护套的试样试验24小时，或者直到失败。

每种护套材料均作为试样提供，它们是40mm宽×120mm长×6mm厚的试样，对每种护套材料试验5个试样。

在第一个样品失败时不停止进行试验(该约定是IEC 587：1986标准规定的)，而是继续对保持完好的试样进行试验，直到它们一个接着一个地失败，或者对在每个6小时试验段内未失败的样品试验商定的总时间。实际上，可以发现至少一个样品在经过每个6小时后保持完好。

根据以下参数，在同样的条件下，在室温(20℃)下，对所有样品进行试验。

表2：试验参数

试验电压	污染物的流速(ml/分钟)	串联电阻(kΩ)
			4.5	0.6	33

污染溶液是主要为水、浓度为0.1+0.002％的氯化铵，它与0.02+0.002％的主要为非离子湿润剂来混合。所有试样均被钻孔以形成安装孔，然后将它们安装到倾斜面设备上。

在施加去电离水以使表面湿润情况下，利用微细硅砂纸使样品稍许粗糙化。从倾斜面设备上取下经过一个6小时周期保持完好，而被进一步再试验6个小时的样品。在进行下一个6小时试验之前，利用去电离水立即对它们进行再清洗，并以与以前完全相同的结构重新安装它们。在污染物以规定的流速均匀流动时(参考表2)，施加电压，使电压升高到优选的试验电压(4.5kV)，然后保持恒压。此后，起动定时装置。

对每个化合物试验最长24小时，或者直到达到60mA的跳闸电流(准则A)，或者如果在达到跳闸电流之前发生燃烧，直到燃烧失败。

本发明的双峰护套和比较护套的漏电痕迹试验结果示于表1。

表1

比较护套
				失败时间(h:min)	失败方式
试样1	10:05	燃烧失败
			试样2	8:10	燃烧失败
试样3	11:40	电流跳闸
			试样4	＞12:00	没有失败
试样5	7:40	燃烧失败
			根据本发明的双峰护套
	失败时间(h:min)	失败方式
			试样1	＞24:00	没有失败
试样2	23:50	燃烧失败
			试样3	＞24:00	没有失败
试样4	12:55	燃烧失败
			试样5	24:00	燃烧失败

表1中的数据进一步示于图1。图1的横坐标以对数尺度示出试样x的寿命，而纵坐标以％示出漏电痕迹概率F。通过以递增顺序对每个样品选择寿命数据，然后根据下面的等式进行F，确定每个试样的漏电痕迹概率：

F＝(i-0.3)/(n+0.4)

其中i是选择的数据点的顺序，而n是数据点的总数。

为了利用统计方法估计寿命值，采用Weibull分布

$F\left(x\right)=1-\exp (-\left(\frac{(x-\mathrm{\η})}{\mathrm{\β}}\right))$

其中F(x)是以上说明的漏电痕迹概率，即，某个样品的寿命短于x的概率。

η是尺度参数，而且以63.2％的漏电痕迹概率给出寿命。因此，η是被试验护套的耐电痕迹的测量值。β是形状参数，而且是各值的发散测量值。该估计的结果示于图1。

对于本发明的双峰护套，可获得的η的值为25.43，β的值为5.0。对于比较护套，可获得的η的值为10.97，β的值为5.4。

该结果说明，在试验值具有同样的发散程度时，本发明的双峰护套的耐电痕迹比比较护套的耐电痕迹高得多。

Claims (13)

1.一种具有改进的耐电痕迹的包括至少一条光纤和外护套的光缆，该外护套包括聚合物材料，其特征在于，该聚合物材料构成护套的基质，而且该聚合物材料包括通过配位催化聚合反应获得的多峰烯烃聚合物，而且还在于，护套的所有成分包括以重量计15-40％的金属氢氧化物，优选地为氢氧化镁和/或氢氧化铝，以及以重量计0.01-0.9％的碳黑。

2.根据权利要求1所述的光缆，其特征在于，该护套的所述基质由多峰乙烯聚合物构成。

3.根据权利要求2所述的光缆，其特征在于，所述乙烯聚合物的密度为0.870-0.970g/cm³，而MFR₂为0.01-10g/分钟。

4.根据上述权利要求之任一所述的光缆，其特征在于，所述聚合物具有3-12的MWD。

5.根据上述权利要求之任一所述的光缆，其特征在于，所述聚合物是双峰聚合物。

6.根据权利要求2-5的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，所述乙烯聚合物包括从下面选择的乙烯聚合物部分：

(a)低分子量乙烯聚合物，其密度为0.860-0.975g/cm³，而MFR₂为50-5000g/10分钟，以及

(b)高分子量乙烯聚合物，其密度为0.870-0.950g/cm³，而MFR₂为0.01 10g/10分钟。

7.根据权利要求2-6中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，所述乙烯聚合物的至少一部分是共聚物，该共聚物是由从包括丙烯、1-丁烯、4-甲基-1-戊烯、1-己烯以及1-辛烯的组中选择的至少一个共聚单体聚合成的。

8.根据权利要求2-7中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，所述乙烯聚合物包括以重量计35-55％的低分子量乙烯聚合物成分和以重量计65-45％的高分子量乙烯聚合物成分。

9.根据上述权利要求中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，护套的所有成分包括以重量计20-30％，更优选地为以重量计25％的氢氧化镁和/或氢氧化铝。

10.根据上述权利要求中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，所述氢氧化镁和/或氢氧化铝的标称颗粒尺寸为1.4-1.8μm。

11.根据上述权利要求中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，护套的所有成分包括以重量计0.1-0.8％，优选地以重量计0.3-0.6％，最优选地以重量计0.5％的碳黑。

12.根据上述权利要求中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，所述碳黑的标称颗粒尺寸为10-30nm，更优选地为20nm。

13.根据上述权利要求中的任一权利要求所述的光缆，其特征在于，该光缆所具有的耐电痕迹为：在62.3％漏电痕迹概率下至少为15小时，优选的，在62.3％漏电痕迹概率下至少为20小时，最优选的，在62.3％漏电痕迹概率下至少为25小时。