CN1472513A - 高精度电子天平的内校砝码校正的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种高精度电子天平的内校砝码校正的方法，其步骤为：通过本天平称出内校砝码的重量值P1，并存入微机；在上述同一天平上称出一只名义值和上述内校砝码相同的标准砝码的重量P2，并存入微机；在微机内算出差值D，D＝P2－P1作为内校砝码的修正量；校正时引入D，使求得正确的校正系数K，存入微机。本方法简单方便，可使生产内校码过程中对内校码质量的准确性要求降低，降低生产成本，并能对已磨损、氧化造成珐码质量变化的内校砝码可方便地修正。

Description

高精度电子天平的内校砝码校正的方法

技术领域

本发明涉及一种高精度电子天平的内校砝码校正的方法，属衡器领域。

背景技术

由于高精度电子天平的相对精度很高，均在百万分之一以上，当受到环境温度变化，天平自身通电后发热的温度变化，元器件的老化，空气压力的变化，水平位置的变化等多种因素的影响，都会使称重结果不正确，因此，在很多高精度电子天平中都装有内部校正砝码，当当受到温度等外部环境影响时。即时用内部校正砝码对天平进行重新校正，修改校正系数，使天平恢复正确的称重结果，这对高精度电子天平的称重是非常必要的。而高精度电子天平的内校砝码的生产有较高的要求，它对砝码材料密度、磁化率、砝码表面光洁度均有很高的要求外，对砝码实际质量的准确性有较高的要求，如天平的实际分度值为0.1mg，则内部校正砝码的实际质量误差就应小于0.05mg，这样的要求给砝码生产过程中的调整带来困难，同时由于经常使用带来的磨损及氧化等造成砝码质量变化，产生校正偏差，这对内部校正砝码进行修正相当困难，目前尚没有行之有效的内部校正砝码的校正方法。

发明内容

本发明的目的是提供一种可降低内内校砝码质量准确性要求，并能对已磨损、氧化造成珐码质量变化的内校砝码可方便地修正的高精度电子天平的内校砝码校正的方法。

本发明的技术方案是用一个检测程序和改变通常求校正系数的算法来实现的，其方法步骤如下：

1、通过本天平的称重***称出内校砝码的重量值P1，并存入微机；

2、在上述同一天平上称出一只名义值和上述内校砝码相同的标准砝码的重量P2，并存入微机；

3、在微机内算出差值D，D＝P2-P1作为内校砝码的修正量；

4、根据公式：

求得校正系数K，存入微机。

本方法简单方便，可使生产内校码过程中对内校码质量的准确性要求降低，降低生产成本，并能对已磨损、氧化造成珐码质量变化的内校砝码可方便地修正。

附图说明

图1为本方法程序流程图。

具体实施方式

本实施根据流程图作一说明，例有一台称量为200克量程，实际分度值为0.0001克的电子天平。内校砝码的名义值为200克。首先启动程序，通过本天平的称重***称出内校砝码重量值P1为200.0010克，存入微机内存，然后用一只200克，误差小于0.05毫克的标准砝码，亦在本天平的称重***称出其重量P2为200.0020克，在微机得到其差值D为D＝P2-P1，为200.0020-200.0010＝.0010克即为内校砝码的修正量，根据公式：

$=0.999990$ 以此K值和称量数据相乘，则得到精确的数字显示。

其称量过程为：

称重传感器的模拟信号经A/D转换成数字信号输入到微机中，在微机内进行如零点、线性化等处理得到的数据与已在微机内存放的校正系数K相乘后由显示器显示所称地物重。

Claims (1)

1、一种高精度电子天平的内校砝码校正的方法，其方法步骤为：

(1)通过本天平的称重***称出内校砝码的重量值P1，并存入微机；

(2)在上述同一天平上称出一只名义值和上述内校砝码相同的标准砝码的重量P2，并存入微机；

(3)在微机内算出差值D，D＝P2-P1作为内校砝码的修正量；

(4)根据公式：

求得校正系数K，存入微机。

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