CN1407814A - 电子显示器画质检查装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电子显示器画质检查装置，不使用高精度的CCD摄像机和高速图像处理装置，就能很容易消除在等离子体显示器等的显示装置中，隔板、电极等不发光部分产生的莫尔条纹现象，即可以实现对黑点(不发光像素)等的像素缺陷的高速检测，其摄入电子显示器的画面，并根据该图像，检查电子显示器的像素产生的缺陷，这种装置具有：使摄入上述电子显示器画面的摄像元件，在纵横方向移动预定距离的装置、将每次该移动时摄入的图像进行帧积分的装置、从这个帧积分的图像检查电子显示器像素缺陷的装置。

Description

电子显示器画质检查装置
技术领域
本发明是涉及一种电子显示器画质检查装置，其可以自动检查等离子体显示器等电子显示装置的显示缺陷。
背景技术
作为以往技术的一个例子，将使用了CCD(电荷耦合元件)摄像机的等离子体显示器画质检查装置表示在图3，以下进行说明。
1是等离子体显示器等电子显示器装置，2是CCD摄像机等的摄像装置，3是向等离子体显示器显示图象的信号发生器，5是从等离子体显示器画面的摄影图像，检查像素缺陷的图像处理装置，6是显示或打印检查结果的彩色监视器、打印机的显示装置，7是这个检查装置的操作装置。
以往方式里，如图3所示，由信号发生器3将显示白色的显示图案在等离子体显示器1的整个显示画面输出，这个图像由CCD摄像机等的摄像装置2摄入，并发送给图像处理装置5。在图像处理装置5里检查该图像的黑点(未感光的像素)等显示缺陷。
但是等离子体显示器1的发光面，如图5所示，R、G、B发光元件的隔板1a及连接各个发光元件的电极1b部分并不发光。为此，用具有与等离子体显示器析像度(解像度)同等程度的析像度的摄像机，摄入等离子体显示器1的发光面时，如图4所示，产生莫尔条纹(干涉条纹)现象，难以同黑点等未感光像素进行区分，因此，由于误检等给画质检查带来障碍。
为了消除这个莫尔条纹现象，就需要一种方式，即，使用比显示器显示像素数更高析像度的摄像机，或者考虑使用以压电元件将CCD元件边进行半像素移动边摄像的摄像机，由所摄入的图像来进行高析像度化，但是这种方式里，伴随高析像度化其像素数也增加，并且有必要将隔板、电极等不发光部分和黑点进行分离处理，这样就需要高价的高速图像处理装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种画质检查装置，以消除这些缺点，依靠这种装置，可以不使用高精度的CCD摄像机和高速图像处理装置，就可以很容易地消除等离子体显示器等显示装置中的隔板、电极等不发光部分产生的莫尔条纹现象，并可以高速检测出黑点(未感光像素)等像素缺陷。
本发明为了达到上述目的，提供一种电子显示器画质检查装置，其摄入电子显示器的画面，并根据这个图像，检查电子显示器的像素产生的缺陷，这种装置具有：将摄入上述电子显示器画面的摄像元件在纵、横方向移动预定距离的装置、将每次该移动时摄入的图像进行帧积分的装置、以及从这个帧积分的图像检查电子显示器的像素缺陷的装置。
而且，一种电子显示器画质检查装置，其可摄入电子显示器的画面，并根据这个图像，检查电子显示器像素产生的缺陷，其具有：将摄入上述电子显示器画面的摄像元件在纵、横方向移动预定距离的装置、检测保持每次该移动时所摄入图像最大值的装置、以及从检测保持了最大值的图像中，检查电子显示器像素缺陷的装置。
又，一种电子显示器画质检查装置，其可摄入电子显示器的画面，并根据这个图像，检查电子显示器像素产生的缺陷，其具有：控制摄入上述电子显示器画面的摄像元件的曝光时间，并在该曝光中，将上述摄像元件在纵、横方向移动预定距离的装置、从由上述摄像元件摄入的并根据电荷蓄积特性来积分的图像，检查电子显示器的像素缺陷的装置。
还有，将使上述摄像元件就在纵、横方向移动预定距离的装置，做成，在纵、横方向、上述摄像元件的像素阵列间距的1/N像素距离各移动N次、计N2次的装置。
其结果，等离子体显示器的发光像素、与隔板或者电极等不发光部分的图像水平被平均化，就可以消除莫尔条纹现象。
而且，使用最大值检测电路代替帧积分电路也可以消除莫尔条纹现象。另外，控制摄像元件的曝光时间，在曝光中，通过在纵.横方向每隔预定距离就进行移动的摄像元件，可以不使用帧积分电路，利用摄像元件的电荷蓄积特性使其进行积分，同样可以消除莫尔条纹现象。
附图说明
图1是表示本发明的等离子体显示器画质检查装置的一个实施例的方框图。
图2是表示按照本发明的莫尔条纹消除原理的处理方式说明图。
图3是表示以往等离子体显示器画质检查装置的一个例子的方框图。
图4是由CCD摄像机摄入的产生莫尔条纹现象的产生例的说明图。
图5是表示等离子体显示器的不发光部分(电极/隔板)等的说明图。
标号说明
1：等离子体显示器2：摄像装置(CCD摄像机)3：信号发生器4：帧积分电路5：图像处理装置6：显示装置7：操作装置8：CCD摄像机内部的压电元件9：CCD元件
发明实施方式
以下，参照图1说明本发明适用于等离子体显示器画质检查装置的一个实施例。
1是等离子体显示器等电子显示器装置、2是CCD摄像机等摄像装置、3是使等离子体显示器显示图像的信号发生器、4是帧积分电路或者最大值检测保持电路，例如由帧存储器组成。如果是帧积分电路，在每读入一帧图像时，都重复进行以下动作，即，将摄入的图像和帧存储器存储的图像的每一个像素进行积分。如果是最大值检测保持电路，在每读入一帧图像时，都重复进行如下动作，即，将摄入的图像和帧存储器存储的图像的每一个像素都进行比较，然后在级别较高的情况下将其更新存储。5是从等离子体显示器画面的摄入图像的帧积分值或者最大值，来检测像素缺陷的图像处理装置、6是显示或打印检测结果的彩色监视器或打印机等显示装置、7是这种检测装置的操作装置。
以下参照图1、图2，详细说明这个工作原理。图2是按照本发明，说明莫尔条纹消除原理的图，显示了图5点A中的1条线波形。
这里，由信号发生器3输出显示于等离子体显示器的整个显示面的白色的显示图案。并由CCD摄像机等的摄像装置2摄入这个图像，并发送给帧积分电路4。
在帧积分电路4里，一完成1帧图像的读入，就控制摄像装置2内部的压电元件8，使CCD元件9在纵、横方向移动CCD像素阵列间距的1/N像素单位，而读入图像同上次读入的图像进行每一个像素的积分(或者检测保持读入图像的最大值)，再重复进行这个动作。
也就是说，将CCD元件9在纵、横方向N次、计N2次地移动CCD像素阵列间距的1/N像素单位(距离)，以进行图像读入和帧积分(最大值检测保持)动作，再输出给图像处理装置5。
图像处理装置5，将帧积分(最大值检测保持)后的图像和事先定好的缺陷判断值SH进行比较，将规定值以下的像素作为缺陷(熄灭像素)检测出来，并存储管理这些缺陷数据，再输出给显示装置6。
这里，如图2所示，摄入的图像中，不发光的隔板部分和不发光的缺陷像素部分，都表现为低值，但由于如上所述，将CCD元件9在纵.横方向、N次、计N2次地移动CCD像素阵列间距的1/N像素距离，以进行图像读入和帧积分(最大值检测保持)，因此不发光的隔板部分被消除，只剩下不发光的缺陷像素部分在缺陷判断值SH以下，则可以作为缺陷被检测出来。
显示装置6，显示这个检查结果，根据需要进行打印等。操作装置7是进行上述测试开始、结束等的控制和检查顺序的设定的装置。
而且，在上述实施例里，使用了帧积分电路4，但另外控制CCD元件9的曝光时间，将曝光中的CCD元件和上述情况一样，在纵、横方向移动，这样，可以不使用帧积分电路，利用CCD元件的电荷蓄积特性进行积分，也可以消除莫尔条纹现象。
如上述所说明，即使等离子体显示器等显示画面上存在隔板、电极等不发光部分，如图2所示，可以将边挪移CCD像素边摄入的图像依次进行帧积分，这样很容易消除莫尔移动移动条纹现象，可以只把缺陷像素部分作为缺陷检测出来。

Claims (4)

1、一种电子显示器画质检查装置，其对电子显示器的画面进行摄像，并根据该图像，检查电子显示器的像素产生的缺陷，其特征在于具有：对上述电子显示器画面进行摄像的摄像元件，在纵、横方向移动预定距离的装置；将每次该移动时摄入的图像进行帧积分的装置；以及从该帧积分的图像检查电子显示器的像素缺陷的装置。
2、一种电子显示器画质检查装置，其电子显示器的画面进行摄像，并根据该图像，检查电子显示器的像素产生的缺陷，其特征在于具有：对上述电子显示器画面进行摄像的摄像元件，在纵、横方向移动预定距离的装置；检测保持每次该移动时所摄入图像最大值的装置；以及从检测保持了最大值的图像中，检查电子显示器像素缺陷的装置。
3、一种电子显示器画质检查装置，其电子显示器的画面进行摄像，并根据这个图像，检查电子显示器的像素产生的缺陷，其特征在于具有：控制对上述电子显示器画面进行摄像的摄像元件的曝光时间，并在该曝光中，在纵、横方向移动预定距离的装置、从由上述摄像元件摄入的并根据电荷蓄积特性进行积分的图像中，检查电子显示器像素缺陷的装置。
4、如权利要求1至3中任意一项所述的电子显示器画质检查装置，其特征在于：将上述摄像元件在纵横方向移动预定距离的装置，作为每隔上述摄像元件的像素阵列间距的1/N像素距离，就在纵.横方向移动N次、计N2次的移动装置。
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