CN1264824A - 用于表面形貌测量的位移传感器 - Google Patents

用于表面形貌测量的位移传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN1264824A
CN1264824A CN 00114436 CN00114436A CN1264824A CN 1264824 A CN1264824 A CN 1264824A CN 00114436 CN00114436 CN 00114436 CN 00114436 A CN00114436 A CN 00114436A CN 1264824 A CN1264824 A CN 1264824A
Authority
CN
China
Prior art keywords
surface form
light path
measuring
measuring surface
displacement transducer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN 00114436
Other languages
English (en)
Inventor
卢圣凤
李�柱
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huazhong University of Science and Technology
Original Assignee
Huazhong University of Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huazhong University of Science and Technology filed Critical Huazhong University of Science and Technology
Priority to CN 00114436 priority Critical patent/CN1264824A/zh
Publication of CN1264824A publication Critical patent/CN1264824A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

用于表面形貌测量的位移传感器,固定部分由壳体内的激光器、偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜、聚焦透镜、光电转换器及自动聚焦控制电路组成;可拆卸测头包括触针——反射镜测杆;测量精度高、工作稳定可靠、使用灵活,在一台仪器上同时能进行接触和非接触测量,降低仪器成本,可广泛用于研究和工业现场。

Description

用于表面形貌测量的位移传感器
本发明的位移传感器用于表面形貌及轮廓的测量。
对于表面形貌测量,当前存在触针式接触测量和光学式非接触测量两种方式,前者测量可靠,但可能对被测表面造成损害,且测量时间过长;后者由于是非接触测量,对易损害的被测表面尤为合适,而且测量速度快,但也存在对表面倾斜、反射率及表面微观形貌敏感等问题。J.Kagami et al,Measurement of Surface profiles by thefocusing method,Wear,134,2,PP221-230,1989一文所提供的聚焦探测技术,是一种光学式非接触测量仪器,包括激光器和依次置放在光路上的偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜,正对偏振λ/4分光镜放置光电路转换器,入射光通过偏振分光镜和λ/4波片,由物镜聚焦为一光点至被测工件表面,反射光返回并透射至偏振分光镜、经光电转换器转换为电信号,再经自动聚焦控制电路、驱动电路控制位移装置,使得物镜焦点在扫描测量时始终落在被测工件表面上,物镜的移动描述了表面形貌信息,可由计算机进行处理。当用户面对不同的表面形貌测量时,单一的接触式触针测量或单一的光学非接触测量可能均难以满足要求,而同时备有两台不同方式的测量仪器又将大大增加用户经济负担和使用不便。
本发明的目的在于提供一种用于表面形貌测量的位移传感器,它由固定部分和可拆卸部分构成,固定部分可实现光学式非接触测量,而装上可拆卸部分又可实现接触式测量,因而使一台仪器同时具备接触和非接触两种测量手段,降低仪器成本,扩大应用范围。本发明用于表面形貌测量的位移传感器,包括激光器和依次置放在光路上的偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜,所述偏振分光镜与光路成45°角,正对偏振分光镜与光路垂直放置聚焦透镜、其焦点处放置光电转换器,光电转换器与自动聚集控制电路、驱动电路、所述位移装置顺序通过电信号联接,上述各组成部分均固定于一壳体内,其特征在于:
(1)所述壳体正对光路和物镜处开有通光孔,
(2)在通光孔处通过螺纹或紧固螺钉联接可拆卸测头,
(3)可拆卸测头由管状外壳及其内部一端带有触针、另一端固接反射镜的测杆构成。
本发明用于表面形貌测量的位移传感器,所述测杆可以通过固定于杆身的簧片和管状外壳柔性联接,所述触针直径可以为0.5μm~2μm。
上述用于表面形貌测量的位移传感器,所述位移装置可以为步进电机、音圈电机、直线电机或压电陶瓷。
本发明的传感器利用可拆卸测头的触针——反射镜测杆结构,将激光聚集光束直接在被测工件表面扫描转换为对测杆上固接的反射镜扫描,从而实现了接触式测量,垂直测量范围1mm,垂直测量分辨率3nm,远远高于一般接触式垂直测量分辨率10nm的精度;取下可拆卸测头,就实现了非接触测量,垂直测量范围1mm,垂直测量分辨率亦达10nm,该传感器测量精度高、工作稳定可靠、使用灵活,在一台仪器上同时能进行接触测量和非接触测量,降低仪器成本,可广泛应用于研究机构和工业现场的表面形貌测量。
以下结合附图对本发明进一步说明。
图1为本发明位移传感器各组成部分示意图。
图2为本发明的可拆卸测头部分的示意图。
图3为本发明用于接触测量方式的示意图。
图4为本发明用于非接触测量方式的示意图。
构成图1所示传感器的一种实施方式为:激光器1采用2mw半导体激光器、波长0.68μm,偏振分光镜2、λ/4波片3、与音圈电机5相联的物镜4均依次置放在光路上;反射镜6和触针7装于可拆卸测头内,11为被测工件,返回光则经过偏振分光镜2和透镜8到光电转换器9成为电信号,再经过自动聚焦控制电路10和驱动电路控制音圈电机5移动,使物镜4的光束始终聚焦在反射镜6的表面或者被测工件11表面上。
图2表示的可拆卸测头由管状外壳12及可在其内部移动的一端带有触针7、另一端固接反射镜6的测杆13构成,测杆13通过杆身固定的簧片15和管状外壳12柔性联接,在实际中采用的一种触针为直径2μm金刚石触针。
图3表示本发明用于接触测量方式,可拆卸测头21通过丝杆和调节螺钉与传感器壳体20联接,传感器壳体20又可通过丝杆和调节螺钉安装在立柱25上,被测工件11置放于Y工作台22和X工作台23上,并整体放在平台24上,立柱和平台垂直连接。
图4表示本发明用于非接触测量方式,与图3区别仅在于将可拆卸测头21从传感器壳体20卸下。

Claims (3)

1.一种用于表面形貌测量的位移传感器,包括激光器和依次置放在光路上的偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜,所述偏振分光镜与光路成45°角,正对偏振分光镜与光路垂直放置聚焦透镜、其焦点处放置光电转换器,光电转换器与自动聚集控制电路、驱动电路、所述位移装置顺序通过电信号联接,上述各组成部分均固定于一壳体内,其特征在于:
(1)所述壳体正对光路和物镜处开有通光孔,
(2)在通光孔处通过螺纹或紧固螺钉联接可拆卸测头,
(3)可拆卸测头由管状外壳及其内部一端带有触针、另一端固接反射镜的测杆构成。
2.如权利要求1所述的用于表面形貌测量的位移传感器,其特征在于所述测杆通过固定于杆身的簧片和管状外壳柔性联接;所述触针直径为0.5μm~2μm。
3.如权利要求1或2所述的用于表面形貌测量的位移传感器,其特征在于所述位移装置可为步进电机、音圈电机、直线电机或压电陶瓷。
CN 00114436 2000-03-20 2000-03-20 用于表面形貌测量的位移传感器 Pending CN1264824A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 00114436 CN1264824A (zh) 2000-03-20 2000-03-20 用于表面形貌测量的位移传感器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 00114436 CN1264824A (zh) 2000-03-20 2000-03-20 用于表面形貌测量的位移传感器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN1264824A true CN1264824A (zh) 2000-08-30

Family

ID=4584120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 00114436 Pending CN1264824A (zh) 2000-03-20 2000-03-20 用于表面形貌测量的位移传感器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN1264824A (zh)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100412567C (zh) * 2006-05-11 2008-08-20 哈尔滨工业大学(威海) 一维扫描激光雷达汽车防撞***
CN100462670C (zh) * 2002-04-26 2009-02-18 索尼精密技术株式会社 光接收/发射复合单元、其制造方法以及位移探测装置
US7547866B2 (en) 2004-04-28 2009-06-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser irradiation method and method for manufacturing semiconductor device including an autofocusing mechanism using the same
CN100501315C (zh) * 2006-01-06 2009-06-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 一种表面轮廓检测方法
CN102175153A (zh) * 2011-03-08 2011-09-07 东莞宏威数码机械有限公司 激光光束聚焦焦斑检测***
CN1809853B (zh) * 2003-03-14 2012-07-11 利瓦斯有限责任公司 用于道路表面状况检测的设备
CN104197845A (zh) * 2014-09-18 2014-12-10 海宁科海光电科技有限公司 可提示聚焦方向的高精度激光位移传感器
CN104197847A (zh) * 2014-09-19 2014-12-10 孙维 一种传感器
CN106197297A (zh) * 2010-11-30 2016-12-07 庄臣及庄臣视力保护公司 用于测量未水合的眼科镜片的方法
CN109269393A (zh) * 2018-11-06 2019-01-25 吉林大学 一种表面全场微观三维形貌自动检测仪
CN111174717A (zh) * 2020-01-10 2020-05-19 长飞光纤光缆股份有限公司 一种光纤几何参数测试***及方法
CN114952427A (zh) * 2022-04-15 2022-08-30 大连海事大学 一种铣床超长回转臂姿态自适应高精度测量装置

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100462670C (zh) * 2002-04-26 2009-02-18 索尼精密技术株式会社 光接收/发射复合单元、其制造方法以及位移探测装置
CN1809853B (zh) * 2003-03-14 2012-07-11 利瓦斯有限责任公司 用于道路表面状况检测的设备
US7777210B2 (en) 2004-04-28 2010-08-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser irradiation method in which a distance between an irradiation object and an optical system is controlled by an autofocusing mechanism and method for manufacturing semiconductor device using the same
US8022380B2 (en) 2004-04-28 2011-09-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser irradiation method in which a distance between an irradiation object and an optical system is controlled by an autofocusing mechanism and method for manufacturing semiconductor device using the same
CN101604627B (zh) * 2004-04-28 2012-05-23 株式会社半导体能源研究所 激光辐射方法和使用其方法制造半导体装置的方法
US7547866B2 (en) 2004-04-28 2009-06-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser irradiation method and method for manufacturing semiconductor device including an autofocusing mechanism using the same
CN100501315C (zh) * 2006-01-06 2009-06-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 一种表面轮廓检测方法
CN100412567C (zh) * 2006-05-11 2008-08-20 哈尔滨工业大学(威海) 一维扫描激光雷达汽车防撞***
CN106197297B (zh) * 2010-11-30 2019-04-09 庄臣及庄臣视力保护公司 用于测量未水合的眼科镜片的方法
CN106197297A (zh) * 2010-11-30 2016-12-07 庄臣及庄臣视力保护公司 用于测量未水合的眼科镜片的方法
CN102175153A (zh) * 2011-03-08 2011-09-07 东莞宏威数码机械有限公司 激光光束聚焦焦斑检测***
CN102175153B (zh) * 2011-03-08 2013-09-11 东莞宏威数码机械有限公司 激光光束聚焦焦斑检测***
CN104197845A (zh) * 2014-09-18 2014-12-10 海宁科海光电科技有限公司 可提示聚焦方向的高精度激光位移传感器
CN104197847A (zh) * 2014-09-19 2014-12-10 孙维 一种传感器
CN109269393A (zh) * 2018-11-06 2019-01-25 吉林大学 一种表面全场微观三维形貌自动检测仪
CN111174717A (zh) * 2020-01-10 2020-05-19 长飞光纤光缆股份有限公司 一种光纤几何参数测试***及方法
CN111174717B (zh) * 2020-01-10 2020-11-10 长飞光纤光缆股份有限公司 一种光纤几何参数测试***及方法
CN114952427A (zh) * 2022-04-15 2022-08-30 大连海事大学 一种铣床超长回转臂姿态自适应高精度测量装置
CN114952427B (zh) * 2022-04-15 2024-01-09 大连海事大学 一种铣床超长回转臂姿态自适应高精度测量装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940003918B1 (ko) 형상측정장치
US7685733B2 (en) Micro force measurement device, micro force measurement method, and micro surface shape measurement probe
KR100787401B1 (ko) 프로브 장치 및 피검사체 검사 방법
CN1264824A (zh) 用于表面形貌测量的位移传感器
US5982494A (en) Non-contact position sensor
JP2002541445A (ja) 光センサ付き表面検査装置
Zhang et al. An autofocusing measurement system with a piezoelectric translator
JP2003500660A (ja) レーザスキャナーの走査対象である平面の位置把握方法およびそのためのシステム
US6459492B1 (en) Non-contact position sensor
JP5171108B2 (ja) 三次元形状測定装置
EP0884564B1 (en) Displacement sensor and method for producing target feature thereof
GB2337815A (en) Thickness meter for thin transparent objects
CN1322309C (zh) 表面粗糙度非接触测量***
CN109443711A (zh) 一种基于针孔随动高速扫描共焦显微技术的大口径光学元件测量装置和方法
Saito et al. A single lens micro-angle sensor
JP2003035510A (ja) 位置検出装置
JP3318795B2 (ja) 変位検出装置
CN2814333Y (zh) 表面粗糙度非接触测量装置
CN112857263A (zh) 一种斜照明式的彩色共聚焦测量***及检测方法
US9594230B2 (en) On-axis focus sensor and method
CN220398407U (zh) 一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置
JP2791121B2 (ja) 微細表面形状計測装置
CN117128889B (zh) 一种基于Linnik干涉物镜的模块化倍率变换轮廓测量装置
JP2001228071A (ja) 表面測定器と組み合わされた走査型プローブ顕微鏡
CN215811546U (zh) 一种透镜参数测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication