CN1243589A - 光记录载体及扫描这种记录载体的装置 - Google Patents

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Abstract

一种光记录载体(10)包括用来以光学可探测的标记模式以基本平行的记录道来记录用户信息的记录层。记录道包括交替的第一和第二伺服记录道(11,13)。伺服记录道有不同于信息模式的代表位置信息的记录道调制。第一和第二伺服记录道的记录道调制包括不同的位置信息并具有固定的相位关系。

Description

光记录载体及扫描这种记录载体的装置
本发明涉及一种包括一个具有以光学可探测标记模式来记录用户信息的基本平行的记录道的记录层的光记录载体，记录道在垂直于记录道的方向上形成一连串重复的一个第一伺服记录道，一个非伺服记录道，一个第二伺服记录道和一个非伺服记录道，伺服记录道具有不同于用户信息模式的记录道调制，并且第一和第二伺服记录道具有代表第一和不同的第二位置信息的第一和第二调制模式。
本发明还涉及一种扫描这种记录载体的方法，扫描它的装置和制造它的装置。
一般地，记录道是一条位于记录载体上的被扫描装置跟随的并具有记录载体的特征尺寸数量级的长度的线条。在矩形记录载体上的记录道具有基本等同于记录载体的长度或宽度的长度。在盘状记录载体上的记录道是盘片上360°一圈的连续螺旋线或圆周线。调制是载体的特性的变化，这种变化代表着信息。当载体为光记录载体时，该特性可能是载体的局部反射率，是载体中凹槽的宽度，或者是光学上可被探测到的任何特性的变化。不同的调制可用来区分与这种调制一起记录的不同的信息模式。
当在记录载体上通过一个扫描射线光斑来写入用户信息时，通常需要知道放射光斑在记录载体上的位置。由于根据前同步信号用户信息在空白的可记录的记录载体上并不存在，位置可通过从记录载体的伺服记录道读出位置信息来确定。
具有存储在伺服记录道中的信息的记录载体已经公知于日本专利特许公开No.06338066中。其中描述的记录载体包括在基体中的以相邻凹槽形式交替分布的第一和第二伺服记录道。伺服记录道的调制是凹槽中心线的径向摆动。第一伺服记录道在相对较低的频率进行频率调制，第二伺服记录道在相对较高的频率进行频率调制。当扫描一个伺服记录道时，扫描光斑仅通过伺服记录道的调制而被调制，并且扫描装置能通过为第一伺服记录道选择低频解码器和为第二伺服记录道选择高频解码器来读出位置信息。当扫描两个伺服记录道之间的记录道时，光斑通过调制相邻的两个伺服记录道而被调制。扫描装置然后能通过低频-和高频解码器之间的切换区分来自第一和第二伺服记录道的信号，从而读出相邻的第一和第二伺服记录道的位置信息。
为实现扫描光斑在记录载体上的准确定位，伺服记录道中的位置信息的密度应尽可能高。但是，密度受到代表用户信息的信号的记录道调制的交互干扰的限制。在已知的记录载体中第二伺服记录道的频率可选择在靠近交互干扰所强加的限度附近。第一伺服记录道的频率必须是明显低于第一伺服记录道的频率来使得在扫描装置中把两个频率区分开来，从而使伺服记录道之间的交互干扰较低。明显较低的频率导致低的信息密度。因此，第一伺服记录道具有相对低的位置信息密度。
本发明的一个目的是提供具有高位置信息密度的伺服记录道的一种记录载体，扫描方法和相关的装置。
根据本发明的一个方面，开头一段中描述的记录载体的特征在于第一和第二伺服记录道的记录道调制具有预定的相位关系。该预定的相位关系允许一个扫描装置在扫描伺服记录道之间的记录道时对来自第一和第二伺服记录道的位置信息进行区分。扫描装置可沿一个记录道选择恰当的不同的第一和第二位置来取样一个代表第一和第二伺服记录道的复合记录道调制的探测器信号。在第一位置，第一伺服记录道的调制可从不受第二伺服记录道的调制干扰的探测器信号来得到，而在第二位置，第二伺服记录道的调制可在不受第一伺服记录道的调制干扰或在具有已知干扰的情况下来得到。
预定的相位关系允许为第一和第二伺服记录道的调制选择不同频率。频率优选为两个整数数字的比率。两个伺服记录道优选在同一频率被调制；当频率选择为接近交互干扰所强加的限度时，第一和第二伺服记录道将具有高的位置信息密度，使得能够在记录载体上准确定位。
在记录载体的一个优选的实施例中，记录道调制沿伺服记录道在常规的预定位置处有一预定值。一个扫描装置在扫描一个非伺服记录道时能有效利用这种预定值的调制。在第一位置的探测器信号的取样然后要接受相邻的第一和第二伺服记录道的调制。但是，如果第二伺服记录道的调制在第一位置具有一预定值，该装置就能从探测器信号激活存储在第一伺服记录道的调制中的位置信息。同样，当第一伺服记录道的调制在第二位置具有一预定值时，这种事实能同样用于扫描装置中来通过在第二位置取样探测器信号获得第二伺服记录道的调制。
伺服记录道优选地是记录载体的信息层中的凹槽和凹槽之间的非伺服记录道凸区。记录道调制优选地具有正弦曲线模式。该模式可以是伺服记录道的横向位置的正弦曲线变化，伺服记录道的宽度或深度或它们的结合的正弦曲线变化。这些变化可能偏离了位置、宽度或深度的平均值。由于沿着记录道变化的平均非零值可能会引起记录载体的扫描中的一个偏移，无论在记录载体上处于哪个位置，平均值优选为0。用户信息可被写在凹槽中和/或凸区上。
在第一和第二伺服记录道中的正弦曲线模式之间的相位关系优选是相位改变基本等于90°。因此，如果第一伺服记录道的调制是正弦波，第二伺服记录道的调制则为余弦波。当在90°的第一位置扫描一个非伺服记录道期间取样时，余弦调制值将为0，探测器信号直接代表第一伺服记录道的调制值。同样当在0°的第二位置取样时，正弦调制值将为0，探测器信号直接代表第二伺服记录道的调制值。
在记录载体的优选实施例中，位置信息通过180°相移键控在伺服记录道被编码。由于这种类型的编码不改变第一和第二位置的调制值，它适合于与发明的相移调制结合一起。
沿记录道用来取样的第一和第二位置的良好确定可在伺服记录道被提供给时钟标记时获得。取样位置然后相对于时钟标记来限定。
记录道调制可包括表示位置信息的部分，如地址信息，和不表示位置信息的部分，如时钟标记。时钟标记可有陡升沿和降落沿，用于探测时钟标记。在相邻伺服记录道中的时钟标记优选地在垂直于记录道的方向上校直。当相邻的时钟标记也具有同样的相位时，它们能在扫描伺服记录道和非伺服记录道时都被读出，而且不会干扰用户信息的读出。
为了防止位置信息调制被探测为时钟标记，代表位置信息的调制优选地采取相对于沿记录道的位置所取的导数。当记录道调制为正弦曲线时，这可通过应用在0°或180°的正弦波的起始和结束部分和在90°或270°的余弦波的起始和结束部分来实现。如果必要，调制模式可通过在正弦曲线变化记录道上增加无变化的部分来完成以具有预定的固定长度。
根据发明的另一方面，提供一种如权利要求书所述的扫描记录载体的方法。
根据发明的另一方面，提供一种如权利要求书所述的用来扫描根据本发明的光记录载体的装置。
根据发明的另一方面，提供一种如权利要求书所述的用来制造根据本发明的光记录载体的装置。
本发明的目的，优点和特征从下面对如附图所示的发明的优选实施例的更加具体的描述中变得更加明显，其中
图1a到d表示根据本发明的记录载体的实施例，
图2表示记录载体的透视图，
图3表示根据本发明对相邻两伺服记录道的调制，
图4a-e表示记录道调制编码信息，
图5表示带有时钟标记的记录道调制，
图6表示根据本发明的扫描装置，
图7表示用于从探测器信号获得位置信息的信号处理器，和
图8表示用于制造记录载体的装置。
图1表示记录载体1的实施例，图1a是一平面视图，图1b表示沿线b-b看的截面视图的一小部分，图1c和图1d是表示记录载体1的第一和第二实施例中部分2的平面图的高倍数放大图。记录载体1包括一连串的伺服记录道，每个形成360°一圈的螺旋线，其中在图中只示出了8个。伺服记录道由例如预成形的凹槽4或脊组成。图中凹槽4的底部比凹槽之间的凸区更靠近于记录载体的光线入射侧。在其中任一个实施例中，凸区比凹槽的底部更靠近于光线入射侧。伺服记录道预定来记录位置信息信号。为记录信息的目的，记录载体1包括一记录层6，其沉积在透明基体5上并被保护涂层7覆盖。记录层由对放射敏感的材料组成，其如果暴露于合适的放射，将发生光学上可探测的变化。这种层可以是例如由诸如材料碲组成的薄层，其一经放射束加热就改变其反射。另一种可选择的情况是，该层可由磁-光或相变材料构成，其一经加热就会分别改变磁化方向或晶体结构。当记录道由其强度根据将要记录的信息强度调制的放射束来扫描时，就可得到光学上可探测的标记的信息模式，这种模式代表信息。在非用户可记录的只读记录载体中，层6可是反射层，例如由金属如铝或银组成。在这种记录载体中的信息在其制造期间已经预先记录在记录载体中，如以浮雕凹坑形式。
为了确定正被扫描的记录道部分相对于参考伺服记录道的起始处的位置，位置信息通过预先形成的记录道调制被记录，可以适当地采用如图1c所示的正弦曲线记录道位置摆动形式，其中记录道中心的径向位置被摆动。由于记录道位置摆动在制造记录载体期间能容易实现，记录道位置摆动形式的记录道调制是优选的。但是，其它调制，诸如，例如记录道-宽度调制(图1d)或记录道-深度调制也是适合的。
应注意在图1中记录道调制被强烈地夸大了。实际上，发现记录道宽度为600·10-9情况下具有大约20·10-9m的强度的摆动是足够来实现令人信任的对放射束调制的检测。弱强度的摆动具有相邻伺服记录道间距小的优点。
在记录载体的特定实施例中，存储在伺服记录道中的位置信息被分为48二进位制位的伺服分段。伺服分段的第1位表示用于位置信息同步化的同步模式。接下来的4位代表记录载体的层数。该数值表示记录层在具有多个层叠的记录层的记录载体中的序号。伺服分段的下面3位表示记录道中的分段号。伺服记录道沿径向被分为线性排列的8个伺服分段。下面16位表示伺服记录道的记录道号。记录载体上最内侧的伺服记录道的记录道号为0。伺服分段的最后24位表示用于位置信息纠错的3个奇偶校验字节。
图2表示具有凹槽形式的伺服记录道和位于凹槽之间的凸区部分形式的非伺服记录道的记录载体的横截面透视图。记录载体有许多组的4记录道，其中两组表示了出来。每组包括一个第一伺服记录道11，一个非伺服记录道12，一个第二伺服记录道13，和一个非伺服记录道14。记录道15，16，17和18构成相似记录道的相邻组。记录标记的信息模式在记录道11，12，13中简略表示出来。伺服记录道11和13通过调制凹槽侧壁的位置被提供给位置信息。适合于扫描这种记录载体的扫描装置能沿凹槽中心和沿两凹槽之间的凸区中心引导放射光斑。该装置可写，读和/或消除凹槽中和凸区上的信息。当沿一个伺服记录道扫描时，如图2中的凹槽，扫描装置可从凹槽的摆动来获得位置信息。凹槽摆动可通过通常称为推-拉方法的方式被读出，该方法已经公开于例如美国专利US4,057,833。当沿非伺服记录道扫描时，即图2中的凸区，推-拉方法给出一个强度为两个相邻的具有不同的信息内容的凹槽的凹槽摆动结果的信号。当根据发明应用调制时，存储在两个伺服记录道中的位置信息可被获取。
图3简略表示出第一伺服记录道20，第二伺服记录道21和两个伺服记录道之间的非伺服记录道22。如果伺服记录道被编号，第一和第二伺服记录道可分别是具有偶数序号和奇数序号的伺服记录道。沿记录道位置以角度来表示，其中360°是正弦曲线模式的一个周期，通过它伺服记录道的位置，如图3中的凹槽的中心线被调制。伺服记录道20有正弦波变化，而伺服记录道21有余弦变化的位置。图中的右半部分表示来自推-拉探测器的3个信号23，24和25，分别在扫描装置的光斑跟随伺服记录道20，21和非伺服记录道22时获得。图中的左半和右半表示沿记录道的以角度表示的相同位置。当光斑跟随伺服记录道时，探测器信号的强度遵循记录道调制，其由信号23和24表示。因此，探测器信号23和24被相移90°。
当跟随非伺服记录道22时，推-拉信号25是信号23和24的线性组合。从图中可清楚地看到在90°位置处信号25的强度由伺服记录道20的调制来确定，而在0°位置处信号25的强度由伺服记录道21的调制来确定。因此，存储在伺服记录道20和21的位置信息在跟随非伺服记录道22时通过沿记录道在90°和0°位置处取样推-拉信号时而被获取。
图4表示了在正弦曲线记录道调制中编码信息的可能方式。位置信息的一位存储在伺服记录道的810°的分段中。连续的位存储在连续的分段中。图4a表示同步模式。正弦波的两个连续的0°到180°分段的单一模式，具有正弦波的0记录道偏离和正弦波的两个连续的180°到360°分段的一个90°分段不会出现在伺服记录道的部分，而是在代表同步模式的部分。
图4b表示代表逻辑1的第一伺服记录道的调制模式。该模式包括两个完整的正弦波其后跟随有具有0记录道偏离的90°分段。图4c表示代表逻辑0的第一伺服记录道的调制模式。该模式包括两个完整的反向正弦波其后跟随有具有0记录道偏离的90°分段。图4d表示代表逻辑1的第二伺服记录道的调制模式。该模式包括具有跟随有两个完整的正弦波的一个0记录道偏离的90°分段。图4e表示代表逻辑0的第二伺服记录道的调制模式。该模式包括具有跟随有两个完整的反向正弦波的一个0记录道偏离的90°分段。正弦曲线模式总是开始于值0并结束于值0，而非在最大值或最小值，以避免调制模式中的剧烈转变。否则这种转变将与嵌入调制模式中的时钟标记互相干扰。
发明并不局限于图4示出的调制模式。该模式可只包括一个而非两个完整正弦波。每个模式或一连串模式的平均值优选为0以避免在寻道中的偏移。代替正弦曲线模式，可用其它模式，如三角模式或sinc-函数模式。
图5表示嵌入逻辑1和0的调制模式中的时钟标记30的示例。时钟标记是一种对伺服记录道从0到最大记录道偏离，到最小记录道偏离，再回到0记录道偏离的相对快速的调制。时钟标记的相对快速的调制允许从探测器信号中通过频率选择来抽取时钟标记。时钟标记优选设置在沿记录道的0°位置处。令人满意的时钟抽取在伺服记录道上，即在盘状记录载体旋转一周上有128时钟标记时获得。
图6表示用来扫描如图3所示的记录载体的装置。该装置包括一个用来光学扫描记录载体10中的记录道的光学***31。光学***31包括一个放射源32，例如半导体激光器。放射源32发射出放射光束33，该光束被分束器34反射并由物镜35会聚为在记录载体10的信息层中的记录道上的放射光斑36。从记录载体反射的放射束经物镜35被引导到一个探测器并且经光束分离器34到探测器37。该探测器是一个在探测器的两半之间具有平行于正被扫描的记录道方向的分割线的分离-探测器。两半的加和信号，通常称为中心孔径信号，代表记录在记录道中的信息并作为信号Si被输出。两半的差分信号，通常称为推-拉信号，代表记录在记录道中位置信息和伺服信息，并作为信号Sp被输出。信号Sp的低频部分代表伺服信息，表示光斑36相对于正被扫描的记录道的中心线的位置。信号Sp可能在一个通过伺服信息而阻挡位置信息的低通滤波器之后用作伺服电路38的输入。伺服电路通过控制光学***31的位置和/或光学***内物镜35的位置来控制放射斑在垂直于记录道方向的方向上的位置。
信号Sp还提供给信号处理器39，其从信号Sp中抽取位置信息。来自信号处理器39的位置信息信号输出提供给一个微处理器40，如图6所示。微处理器可从位置-信息信号得到例如，记录载体10上的光斑36的当前位置。在读出，消除或写入期间，微处理器可对当前位置和所需位置进行比较并决定参数使光学***跳到所要求位置。跳跃的参数提供给伺服电路38。信息信号Si提供给微处理器，使其能从信号中得到距离目录信息，该信息可被用来控制放射光斑的位置。信息信号作为微处理器40的输出信号41来提供。
当在具有预先记录的包括位置信息的伺服记录道的记录载体上写入用户信息时，要记录的用户信息通过信号42被提供给微处理器40。扫描装置从伺服记录道读出位置信息。微处理器40对要写入的信息和位置信息进行同步化并产生连接于源控制单元43的控制信号。源控制单元43控制放射源32发出的放射束的光能，从而控制记录载体10中的标记的形成。同步化可包括在位置信息的同步化模式和要记录的用户信息信号中的同步化模式之间强加一固定关系。
图7表示用来从推-拉信号Sp中抽取位置信息的信号处理器39的示例。信号Sp连接于一个模-数转换器50的输入，其通过以时钟信号Sc确定的速率取样把模拟信号Sp转换为数字输出信号。数字输出信号连接于高通滤波器51，52，其只通过在数字输出信号出现的时钟标记。示出的实施例中滤波器包括高通滤波器51和余弦滤波器52。高通滤波器的输出提供给余弦滤波器52，该余弦滤波器是在高通滤波器中使用的取样频率的半值处为0的双柱(two-tab)有限响应滤波器。峰值探测器53确定滤波后的时钟标记的峰值。峰值探测器有一时间常数能得到峰值的运行值。峰值探测器的输出和滤波后的时钟标记都连接于比较器54。比较器只在时钟标记信号超出时钟标记峰值的一半时提供输出信号，从而避免电路被噪音触发。比较器的输出信号连接于计数器55的复位输入。计数器有连接于时钟信号Sc的计数输入并计算两个时钟标记之间的取样数目。减法器56从表示两个时钟脉冲之间所需的取样数目的参考数目Ns中，例如为2400，减去这一取样数目。如果两个时钟标记之间的位数选为6，每位的取样数目，例如对于记录道的每个810°分段，等于300。开关57，由比较器54的输出控制，把减法器的差分值传送到积分器58。积分器的输出经数-模转换器59从数字型转换为模拟型。转换器的模拟输出信号用作压控振荡器60的输入，提供时钟信号Sc。该时钟信号用来控制取样速率和所有元件50到59的处理速率。元件50-60形成一个封闭环路，其在预定值Ns处设定两个连续时钟标记之间的取样数目，而不管记录载体的扫描速率。
模-数转换器50的数字输出信号连接于带通滤波器的输入，其在图中的实施例中包括一个高-通滤波器61，一个低-通滤波器62和一个余弦滤波器63。带通滤波器通过代表记录道调制的摆动信号而阻挡时钟标记段。带通滤波器的输出连接于两个开关64和65，由时序电路66控制。时序电路确定时间点或沿记录道的位置，在那里摆动信号具有在伺服记录道中被编码的位置信息的特征值。
如果调制模式具有图4所示的形式，对于第一伺服记录道的位置为90°，270°，450°和630°(图4b和c)；在这些位置的第二伺服记录道的记录道偏离为0。对于第二伺服记录道的位置为180°，360°，540°和720°(图4d和e)；在这些位置的第一伺服记录道的记录道偏离为0。由于带通滤波器需要稳定时间来使它的输出信号适合于它的输入信号，位置优选选择在模式的结束部分附近，例如对于第一伺服记录道在450°或630°，对于第二伺服记录道在540°和720°。如果第一伺服记录道的位置取为450°，时序电路66暂时闭合开关64来从每一位具有序号最接近于450*300/810的摆动信号的300取样中通过那一取样。不选择最接近的取样，也可能在所需时候通过在取样之间内插来计算所测量的记录道偏离。如果取样为正值，逻辑“1”作为第一伺服记录道的位置信息位来输出；如果为负值，逻辑“0”被输出。同样如果第二伺服记录道的位置取为540°，暂时闭合开关65来从每一位具有序号最接近于540*300/810的取样。如果取样为正值，逻辑“1”作为第二伺服记录道的位置信息位来输出；如果为负值，逻辑“0”被输出。开关64的输出处的连续位代表第一伺服记录道的位置信息信号S1，开关65的输出处的连续位代表第二伺服记录道的位置信息信号S2。当扫描第一或第二伺服记录道时，只有信号S1或S2是可用的。当扫描非伺服记录道时，信号S1和S2都是可用的。
在图7所示的信号处理器39的任一实施例中，闭合环路50到60整个是数字的。模-数转换器50由以固定高速率取样的模-数转换器所取代。转换器的取样被提供给递减取样器，其根据输入到递减取样器的递减因数来减少取样的数目。递减取样器的输出连接于滤波器51和61的输入。图7中的数-模转换器59和压控振荡器60是不必要的，并且积分器58的输出用作递减取样器的递减因数。
图8表示用来制造根据本发明的记录载体的装置。该装置包括一个光学***70，其中放射源71产生放射束72，该放射束经准直透镜73、调制单元74和物镜75被引导到记录载体78的放射敏感层77上的放射光斑76。微处理器79控制致动器80，该致动器控制光学***70相对于记录载体78的位置。如果记录载体为盘状，致动器控制光学***的径向位置。记录载体上放射光斑76的切向位置由未在图中显示的一驱动器控制，其旋转记录载体。放射光斑76以一连串的相邻圆周记录道或一连串的360°一圈的连续螺旋线形式写入伺服记录道。
在记录载体上写入期间，微处理器发送要记录在伺服记录道的位置信息到调制器82。调制器根据图4所示的模式为第一和第二伺服记录道将位置信息的每一位转换为记录道的810°分段并增加时钟标记。控制信号用来控制调制单元74的操作。调制单元调制放射束使得达到所需的伺服记录道的调制。如果伺服记录道的径向位置要被调制，调制单元74将是一个偏振单元，如声-光装置，改变放射束的方向，和放射光斑76沿垂直于记录道方向的方向上的位置。如果宽度而不是伺服记录道的位置要被调制，调制单元74将是一个具有可控的放射束传输的装置，从而控制沉积在记录载体78上的放射能量值。大量的能量将导致比小能量更宽的伺服记录道。在那种情况下，调制单元74可与放射源71一起集成，形成放射输出能量可被控制的源。
当记录载体如前所述被照射后，对其进行蚀刻处理移去被暴露于放射束72的放射敏感层77的部分，产生原版盘，其中形成呈现出摆动的凹槽。如果连续的伺服记录道被编号，偶数记录道的摆动按照图4b和c所示的模式来调制而奇数记录道的摆动按照图4d和e所示的模式来调制。从原版盘可得到其上沉积记录层6的复制品。在这样获得的可刻型记录载体中，相应于原版盘上放射敏感层77被移去部分的部分用作伺服记录道(其可以是凹槽或者脊)。

Claims (11)

1.一种包括一个具有以光学可探测的标记模式来记录用户信息的基本平行的记录道的记录层的光记录载体，记录道在垂直于记录道方向的方向上形成一连串重复的一个第一伺服记录道，一个非伺服记录道，一个第二伺服记录道和一个非伺服记录道，伺服记录道具有不同于用户信息模式的记录道调制，并且第一和第二伺服记录道具有代表第一和不同的第二位置信息的第一和第二调制模式，其特征在于第一和第二伺服记录道的记录道调制具有预定相位关系。
2.根据权利要求1的光记录载体，其中记录道调制在沿伺服记录道上常规的预定位置处有一预定值。
3.根据权利要求2的光记录载体，其中记录道调制具有伺服记录道的位置、宽度或深度中的至少一个的正弦模式。
4.根据权利要求3的光记录载体，其中第一伺服记录道的记录道调制相对于第二伺服记录道的记录道调制有相差90°。
5.根据权利要求3的光记录载体，其中位置信息在伺服记录道中由180°相移键控来编码。
6.根据权利要求1的光记录载体，其中伺服记录道与时钟标记一起提供。
7.根据权利要求6的光记录载体，其中代表位置信息的记录道调制具有相对于沿记录道的位置有限的导数。
8.一种扫描具有以光学可探测的标记模式来记录用户信息的基本平行的记录道的光记录载体的方法，记录道在垂直于记录道方向的方向上形成一连串重复的一个第一伺服记录道，一个非伺服记录道，一个第二伺服记录道和一个非伺服记录道，伺服记录道具有不同于用户信息模式的记录道调制，其特征在于扫描时非伺服记录道位置信息从第一伺服记录道通过沿非伺服记录道在常规第一位置处取样其记录道调制而被读出，并且位置信息从第二伺服记录道通过沿非伺服记录道在常规第二位置处取样其记录道调制被读出，第二位置不同于第一位置。
9.根据权利要求7的方法，其中记录道调制是一周期变化并且第一和第二位置具有周期变化中的90°相位差。
10.一种扫描具有以光学可探测的标记模式来记录用户信息的基本平行的记录道的光记录载体的装置，记录道在垂直于记录道方向的方向上形成一连串重复的一个第一伺服记录道，一个非伺服记录道，一个第二伺服记录道和一个非伺服记录道，伺服记录道具有不同于用户信息模式的记录道调制，该装置包括一个用来以放射束来扫描记录道的光学***，一个用来探测来自记录载体并被至少一个伺服记录道的记录道调制来调制的放射束的探测器，和一个用来从探测器的输出信号获得位置信息的信号处理器，其特征在于信号处理器提供有一个用来沿正被扫描的记录道定位的计时器和一个连接于计时器用来取样探测器输出信号的取样器，以及一个用来从常规的第一位置处取得的抽样形成代表存储在第一伺服记录道中的位置信息的第一信息信号和从常规的第二位置处取得的抽样形成代表存储在第二伺服记录道中的位置信息的第二信息信号的信号电路，第一位置不同于第二位置。
11.根据权利要求10的装置，包括一个用来以放射束来沿相应于要形成在放射敏感层中的伺服记录道的路径扫描记录载体的放射敏感层的光学***，和一个用来以相应于应用在调制单元的控制信号的放射束所形成的模式的方式来调制放射束的调制单元，其特征在于该装置包括一个用来从要记录在第一伺服记录道的第一位置信息和要记录在第二伺服记录道的第二位置信息以有预定相位关系的第一和第二伺服记录道所导致的调制方式来形成控制信号的电路。
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