CN118294686A - 分析装置 - Google Patents

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Furuno Electric Co Ltd
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Abstract

本发明提出一种分析装置，可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。分析装置包括测光部、获取部以及修正部。测光部从高度方向上的一端开口的比色杯的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定。获取部获取在将空白液放入至比色杯的状态下由测光部测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至比色杯的状态下由测光部测定出的检体数据。修正部基于空白数据及检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使空白数据及检体数据各自的测定位置一致的修正。

Description

分析装置
技术领域
本公开涉及一种分析装置。
背景技术
以往，已知有通过使检体与试剂在被称为比色杯的反应容器中反应来对检体中的成分进行分析的分析装置(例如，参照专利文献1)。在此种分析装置中，根据对反应液照射光而测定的反应液的吸光度与对水等空白液照射光而测定的空白液的吸光度的差分来对检体中的成分进行测定。具体而言，分析装置针对反应液及空白液各者在多个测定位置对吸光度进行测定，算出与反应液及空白液各自的测定位置对应的吸光度彼此的差分。
另外，分析装置通过使将多个比色杯呈环状配置的比色杯工作台旋转，各比色杯通过光源来对吸光度进行测定。因此，例如，有时会因使比色杯工作台旋转的马达的旋转不均、或旋转轴的扭转、旋转的加减速的影响而测定位置偏移。针对此种问题，分析装置在反应液及空白液各自的测定结果中，进行修正测定位置以消除偏移的相关处理。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本专利特开平9-80055号公报
发明内容
[发明所要解决的问题]
然而，在现有的技术中，在提高基于相关处理的测定位置的修正精度的方面有进一步改善的余地。
因此，在本公开中，提出一种可提高基于相关处理的测定位置的修正精度的分析装置。
[解决问题的技术手段]
为了解决所述课题，本公开的分析装置包括测光部、获取部、以及修正部。所述测光部从高度方向上的一端开口的比色杯的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定。所述获取部获取在将空白液放入至所述比色杯的状态下由所述测光部测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至所述比色杯的状态下由所述测光部测定出的检体数据。所述修正部基于所述空白数据及所述检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使所述空白数据及所述检体数据各自的所述测定位置一致的修正。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的分析装置还包括驱动部。所述驱动部使呈环状排列配置的多个所述比色杯沿环状方向旋转。所述测光部在多个所述比色杯沿环状方向旋转的期间对所述吸光度进行测定。所述修正部将多个所述比色杯中的特定的比色杯作为所述相关处理的对象。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的所述特定的比色杯是在角速度变化的期间对所述吸光度进行测定的所述比色杯。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的所述特定的比色杯是在角速度一定的期间对所述吸光度进行测定的所述比色杯。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的所述驱动部反复进行从多个所述比色杯静止的状态即静止状态经过沿所述环状方向旋转的旋转状态到达所述静止状态的序列。所述获取部获取在特定的所述序列中所述测光部所测量出的所述空白数据。所述修正部使用所述特定序列中的所述空白数据进行所述相关处理。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的所述获取部获取在第一序列中所述测光部所测量出的第一空白数据、及在第二序列中所述测光部所测量出的第二空白数据。所述修正部基于所述第一空白数据及所述第二空白数据中的各测定位置的相关处理，算出使所述第一空白数据及所述第二空白数据各自的所述测定位置一致的修正值，并根据所述修正值对所述检体数据的各测定值进行修正。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的所述获取部获取由多个所述比色杯各者测定出的多个所述空白数据、及由多个所述比色杯各者测定出的多个所述检体数据。所述修正部使用多个所述空白数据及多个所述检体数据进行所述相关处理。
由此，分析装置可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，本公开的分析装置包括基板、受光元件、以及放大电路。所述受光元件设置于所述基板，接收通过了所述比色杯的各波长的光。所述放大电路设置于所述基板，将所述受光元件所接收到的各波长的光的信号针对每一波长放大。关于所述多个放大电路各者与所述受光元件的连接距离，将小于规定值的波长的信号放大的所述放大电路比将规定值以上的波长的信号放大的所述放大电路短。
由此，分析装置可降低电噪声。
另外，关于本公开的所述连接距离，将340nm的波长的信号放大的所述放大电路最短。
由此，分析装置可降低电噪声。
附图说明
图1是表示实施形态的分析装置的概略性结构的平面图。
图2是表示分析装置进行的相关处理的一例的图。
图3是表示实施形态的分析装置的结构例的功能框图。
图4是表示比色杯工作台的间歇旋转的图。
图5是表示比色杯工作台的间歇旋转的图。
图6是表示测光部中的配置有受光元件的基板结构的图。
图7是表示测光部的电源供给的图。
图8是表示实施形态的分析装置所执行的处理的流程的流程图。
[符号的说明]
1：分析装置
2：比色杯
2a：一端
2b：另一端
3：比色杯工作台
4：驱动部
5：测光部
5p：测光位置
6：控制部
7：存储部
8：显示部
41：驱动齿轮
42：从动齿轮
43：步进马达
44：编码器
51：光源
52：受光元件
61：获取部
62：修正部
63：分析部
71：测光数据
200：基板
201：放大电路
300：第二基板
400：第三基板
500：第一零散线
510：堆叠连接器
520：第二零散线
具体实施方式
以下，基于附图对本公开的实施形态进行详细说明。此外，在以下的各实施形态中，通过对相同的部位标注相同的符号而省略重复的说明。
图1是表示实施形态的分析装置1的概略性结构的平面图。图2是表示分析装置进行的相关处理的一例的图。另外，列举以下所示的分析装置1使两种试剂与相同的检体反应来对检体中的成分进行分析的例子加以说明。此外，与检体反应的试剂数不限于两种，也可为一种或三种以上。另外，检体例如是人的血液，分析的成分中也包含血液中的例如丙氨酸氨基转移酶(Alanine aminotransferase，ALT)。
如图1所示，分析装置1包括多个比色杯2、比色杯工作台3、驱动部4、以及测光部5。此外，分析装置1还具有容纳有分注于比色杯2的检体的检体库、或容纳有分注于比色杯2的试剂的试剂库、自检体库及试剂库向比色杯2分注检体或试剂的臂，为了方便起见，在图1中省略了图示。
比色杯2是使检体与试剂反应的反应容器，例如包含透明的原材料(树脂原材料或玻璃原材料等)。另外，比色杯2例如为长方体(也可为立方体或其他形状)的形状，在高度方向(纸面纵深方向)的一端具有用于分注检体及试剂的开口。
比色杯工作台3俯视时形成为环状，沿着环状方向配置有多个比色杯2的列。
驱动部4进行使比色杯工作台3旋转的驱动。具体而言，驱动部4包括驱动齿轮41、从动齿轮42、步进马达(stepping motor，SM)43、以及编码器44(参照图3)。驱动齿轮41连接于从动齿轮42及步进马达43。从动齿轮42连接于驱动齿轮41及比色杯工作台3。
测光部5包括：光源51，设置于比色杯工作台3的外周侧；以及受光元件52，设置于比色杯工作台3的内周侧。光源51例如包括卤素灯，朝向受光元件52射出光。受光元件52例如是光电二极管，接收从光源51射出的光。
根据此种结构的分析装置1如下所述那样运行。
具体而言，首先，驱动部4通过驱动步进马达43而使驱动齿轮41旋转，从而将驱动齿轮41的旋转力传递至从动齿轮42，使从动齿轮42旋转。其结果，使从动齿轮42的旋转力传递至比色杯工作台3而使比色杯工作台3旋转。此外，驱动部4进行使比色杯工作台3在静止状态与旋转状态之间交替地反复的间歇旋转，关于间歇旋转的详细情况，使用图4在后面叙述。
然后，测光部5对在比色杯工作台3旋转的期间通过测光位置5p的比色杯2的反应液照射光，在多个测定位置对通过各比色杯2的光进行测光，由此对反应液的吸光度进行测定。
另外，分析装置1将水(纯水)等空白液分注至比色杯中来对测光后的空白液的吸光度进行测定。然后，分析装置1算出所测定的反应液的吸光度与所测定的空白液的吸光度的差分作为最终的反应液的吸光度。
此处，所述差分是在多个测定位置各者算出。具体而言，所述差分是使用反应液及空白液各自的测定位置最接近的差分彼此而算出。因此，例如，有时会因步进马达43的旋转不均、或旋转轴的扭转、旋转的加减速的影响而测定位置偏移。其结果，反应液及空白液各自的测定位置偏移，从而有可能无法准确地对吸光度进行测定。对于此种问题，分析装置1在反应液及空白液各自的测定结果中，进行修正测定位置以消除偏移的相关处理。
在本公开中，在所述相关处理中，使用从比色杯2的宽度方向(比色杯工作台3的旋转方向)上的一端跨及另一端的多个测定位置进行相关处理。使用图2对所述方面进行说明。
在图2中，示出了比色杯2的剖面图(从测光部5观察的剖面)及在从比色杯2的一端2a跨及另一端2b的多个测定位置对吸光度进行测定的图。此外，图2的图表中的各点表示各测定位置。
如图2所示，测光部5包含作为比色杯2的框体部分的一端2a和/或另一端2b来对吸光度进行测定。而且，如图2所示，作为比色杯2的框体部分的一端2a和/或另一端2b的吸光度相较于比色杯2的内部空间(充满反应液的空间)而言吸光度高。
因此，在本公开中，使用作为比色杯2的框体部分的例如一端2a及另一端2b此两者的吸光度进行相关处理。例如，分析装置1对从作为比色杯2的框体部分的一端2a跨及另一端2b整体的多个测定位置(包含于第一范围D1的测定位置)的吸光度的图表形状进行比较，将空白液(或反应液)的数据错开，直至空白液与反应液的吸光度的图表形状一致的位置为止。
其结果，如图2的下图所示，对于相关处理后的图表形状，成为空白液与反应液的测定位置一致的状态。由此，可提高根据反应液及空白液的差分算出的反应液的吸光度的精度。
即，在本公开中，通过使用作为比色杯2的框体部分的一端2a及另一端2b的吸光度高的部位进行相关处理，可提高相关处理的灵敏度，因此可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
然后，分析装置1基于在相关处理中测定位置的修正完成的反应液及空白液的数据，算出反应液的最终的吸光度。具体而言，分析装置1使用比比色杯2的内部空间小的第二范围D2中所含的测定位置的吸光度来算出反应液的最终的吸光度。
接着，使用图3对实施形态的分析装置1的结构例进行说明。图3是表示实施形态的分析装置1的结构例的功能框图。此外，在图3的框图中，仅由功能框表示用于对本实施形态的特征进行说明所需的构成构件，省略了对一般的构成构件的记载。
换言之，图3的框图所图示的各构成构件是功能概念性的构件，未必需要物理上如图示那样构成。例如，各功能框的分散、整合的具体形态不限于图示的形态，能够将其全部或一部分根据各种负荷或使用状况等以任意的单位在功能上或物理上分散、整合而构成。
如图3所示，分析装置1包括：比色杯工作台3、驱动部4、测光部5、控制部6、存储部7、以及显示部8。控制部6包括获取部61、修正部62、以及分析部63。存储部7存储测光数据71。
此处，分析装置1例如包含具有中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、硬盘驱动器、输入输出端口等的计算机或各种电路。
计算机的CPU例如通过读出ROM中所存储的程序并执行，作为控制部6的获取部61、修正部62及分析部63发挥功能。
另外，也可由专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)或现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)等硬件构成控制部6的获取部61、修正部62及分析部63的至少任一部分或全部。
另外，存储部7例如是包括半导体元件存储器、或硬盘驱动器等存储器件的存储部。在所述存储部7中存储测光数据71、或各种程序、控制部6的处理所需的各种信息。
接着，对控制部6的各功能(获取部61、修正部62及分析部63)进行详细说明。
获取部61获取各种信息。具体而言，获取部61获取在测光部5中测光后的吸光度数据。更具体而言，获取部61获取在将空白液放入至比色杯2的状态下由测光部5测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至比色杯2的状态下由测光部5测定出的检体数据。获取部61将所获取的空白数据及检体数据作为测光数据71存储于存储部7。
修正部62基于获取部61所获取的空白数据及检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使空白数据及检体数据各自的测定位置一致的修正。
分析部63基于由修正部62进行修正后的空白数据及检体数据，进行各种分析。具体而言，分析部63通过算出空白数据及检体数据的差分，算出最终的检体数据的算出值。然后，分析部63基于算出的检体数据的算出值，对检体中所包含的成分进行测定。然后，分析部63将分析结果显示于显示部8。
此外，修正部62以配置于比色杯工作台3的多个比色杯2中的特定的比色杯2为对象进行相关处理。具体而言，修正部62将通过测光位置5p时的比色杯2的角速度满足规定的条件的比色杯2作为相关处理的对象。使用图4及图5对所述方面进行说明。
图4及图5是表示比色杯工作台3的间歇旋转的图。在图4及图5中，示出了在比色杯工作台3配置有50个比色杯2的例子。
此处，对间歇旋转进行说明。所谓间歇旋转，是指在通过驱动部4使比色杯工作台3旋转的情况下，反复进行从多个比色杯2静止的状态即静止状态经过沿环状方向旋转的旋转状态到达静止状态的序列的动作。在图4所示的例子中，在关注初始位置处的1号及2号比色杯2的情况下，当进行一个序列时，1号及2号比色杯2通过旋转而移动至初始位置处的35号及36号比色杯2。即，旋转约三分之一。继而，当进行下一个序列时，1号及2号比色杯2移动至初始位置处的19号及20号比色杯2。另外，当进行下一个序列时，1号及2号比色杯2移动至初始位置处的3号及4号比色杯2。即，在间歇旋转中，在旋转一圈时，向环状方向位移两个比色杯。
另外，分析装置1在各序列中，在各处理位置100～105对比色杯2进行规定的处理。具体而言，在处理位置100进行第一试剂(R1)的分注。在处理位置101，进行第二试剂(R2)的分注。在处理位置102进行检体的分注。在处理位置104、处理位置105，进行反应液的搅拌。
图5示出了直至1号及2号比色杯2再次返回至初始位置为止的序列例。如图5所示，通过进行至1个序列～26个序列，1号及2号比色杯2再次返回至初始位置，换言之，所有的比色杯2均可通过处理位置100～处理位置105进行处理来进行吸光度的测定。
此处，修正部62将特定的比色杯2作为相关处理的对象。例如，修正部62将在比色杯工作台3的角速度变化的期间对吸光度进行测定的比色杯2作为相关处理的对象。
具体而言，在图5所示的初始位置(一个序列)中，16号比色杯2对应于测光位置5p。而且，角速度变化的期间分为加速期间及减速期间。在初始位置，加速期间的比色杯2是17号比色杯2，减速期间的比色杯2是15号比色杯2。其原因在于，所述角速度变化的期间中，测定位置偏移的可能性高。因此，修正部62通过将角速度变化的期间的比色杯2作为相关处理的对象，可对加减速所引起的测定位置的偏移进行修正。
另外，修正部62也可将在角速度一定的期间对吸光度进行测定的比色杯2作为相关处理的对象。由此，例如可对旋转轴的偏移等稳定地产生的测定位置的偏移进行修正。
另外，修正部62例如也可使用在特定的序列中测光部5测光后的空白数据进行相关处理。由此，可省去以超出必要程度的序列获取空白数据的处理，因此可减轻与分析装置1的空白数据获取有关的处理负荷。
另外，获取部61例如对在第一序列中测光部5所测量出的第一空白数据、及在第二序列中测光部所测量出的第二空白数据进行测量。而且，修正部62也可基于第一空白数据及第二空白数据中的各测定位置的相关处理，算出使第一空白数据及第二空白数据各自的测定位置一致的修正值(错开的量)，并根据修正值对检体数据的各测定值进行修正。由此，不需要针对每一比色杯2利用空白液及反应液进行相关处理，因此可减轻与相关处理有关的处理负荷。
另外，修正部62不限于使用单一的空白数据及单一的检体数据进行相关处理的情况，也可使用多个空白数据及多个检体数据进行相关处理。
例如，修正部62也可算出多个空白数据及多个检体数据的各组中的修正值(错开的量)，并根据各修正值的统计值(平均值、最频值、中央值等)对检体数据的测定位置进行修正。
在所述中，对分析装置1中的光学噪声(测光部5的测定位置的偏移)的降低方法进行了说明。以下，对分析装置1中的电噪声(设备噪声)的降低方法进行说明。
图6是表示测光部5中的配置有受光元件52(光电二极管)的基板结构的图。所述ALT的吸光度由于使用光量小的340nm，因此透过光的光量也变小，吸光度的变化量变小。因此，对于ALT的信号，由于需要增大放大器中的放大率，因此，例如，若从光电二极管52至放大电路201的连接距离长，则根据距离噪声变多。
因此，在本公开中，极力缩短光电二极管52与放大电路201的连接距离。具体而言，基板200包括将受光元件52所接收到的各波长的光的信号针对每一波长放大的多个放大电路201。此外，在图6中，仅图示了在多个放大电路201中的将波长最短的340nm的波长放大的放大电路201的连接例。
如图6所示，关于多个放大电路201与受光元件52的连接距离，将340nm的波长的信号放大的放大电路201最短。具体而言，多个放大电路201中的将340nm的波长的信号放大的放大电路201以最接近受光元件52的方式配置。换言之，将小于规定值的波长的信号放大的放大电路201相较于将规定值以上的波长的信号放大的放大电路201短。由此，可抑制根据连接距离重叠的电噪声。
接着，图7是表示测光部5的电源供给的图。在图7中，示出了测光部5所具有的第一基板200、第二基板300、以及第三基板400。如图6所示，第一基板200是配置有受光元件52及放大电路201的基板。第二基板300是对从第一基板200输入的信号进行放大及模拟数字(analogue digital，AD)转换的基板。第三基板400是基于从第二基板300输入的信号算出吸光度的基板。
在图7所示的例子中，第三基板400及第一基板200通过第一零散线500连接。另外，第一基板200及第二基板300通过堆叠连接器510连接。另外，第二基板300及第三基板400通过第二零散线520连接。
在此种结构中，第三基板400对第一基板200供给作为规定的电源电压的第一电压。然后，第一基板200将第一电压降压至比第一电压低的第二电压，使各种电路运行。另外，第一基板200将降压至第二电压的电源电压供给至第二基板300。然后，第二基板300将第二电压进一步降压至比所述第二电压低的第三电压，使各种电路运行。如此，在本公开中，通过第一基板200及第二基板300作为自身降压至所需的电压的调节器发挥功能，与从第三基板400供给电源电压的情况相比，可降低电噪声。
接着，使用图8对实施形态的分析装置1所执行的处理的流程进行说明。图8是表示实施形态的分析装置1所执行的处理的流程的流程图。
如图8所示，首先，控制部6在将空白液分注至比色杯2的状态下获取作为空白液的吸光度的空白数据(步骤S101)。
继而，控制部6在将反应液分注至比色杯2的状态下获取作为反应液的吸光度的检体数据(步骤S102)。
继而，控制部6通过空白数据与检体数据的相关处理进行测定位置的修正处理(步骤S103)。
继而，控制部6通过算出修正处理后的检体数据及空白数据的差分，算出最终的检体数据的吸光度(步骤S104)。
继而，控制部6将所算出的检体数据的吸光度显示于显示部8(步骤S105)，结束处理。
如以上说明那样，根据本公开的一实施形态，分析装置1包括测光部5、获取部61、以及修正部62。测光部5从高度方向上的一端开口的比色杯2的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定。获取部61获取在将空白液放入至比色杯2的状态下由测光部5测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至比色杯2的状态下由测光部5测定出的检体数据。修正部62基于空白数据及检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使空白数据及检体数据各自的测定位置一致的修正。由此，分析装置1可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。
另外，在所述实施形态中说明的各处理中，也可手动地进行作为自动进行的处理而说明的处理的全部或一部分，或者也可利用公知的方法自动地进行作为手动进行的处理而说明的处理的全部或一部分。此外，关于所述文件中或附图中所示的处理流程、具体名称、包含各种数据或参数的信息，除了特别记载的情况以外，可任意地变更。例如，各图所示的各种信息不限于图示的信息。
另外，图示的各装置的各构成构件是功能概念性的构件，未必需要物理上如图示那样构成。即，各装置的分散、整合的具体形态不限于图示的形态，可将其全部或一部分根据各种负荷或使用状况等以任意单位在功能上或物理上分散、整合而构成。
另外，本发明并不限定于所述实施形态，能够在权利要求书所示的范围内进行各种变更。例如，在不使处理内容矛盾的区域将所述实施形态适宜组合而获得的方式也包含于本发明的技术范围。另外，所述实施形态的流程图及序列图所示的各步骤能够适宜变更顺序。

Claims (9)

1.一种分析装置，其特征在于，包括：
测光部，从高度方向上的一端开口的比色杯的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定；
获取部，获取在将空白液放入至所述比色杯的状态下由所述测光部测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至所述比色杯的状态下由所述测光部测定出的检体数据；以及
修正部，基于所述空白数据及所述检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使所述空白数据及所述检体数据各自的所述测定位置一致的修正。
2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，还包括：
驱动部，所述驱动部使呈环状排列配置的多个所述比色杯沿环状方向旋转，
所述测光部在多个所述比色杯沿环状方向旋转的期间对所述吸光度进行测定，
所述修正部将多个所述比色杯中的特定的比色杯作为所述相关处理的对象。
3.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，
所述特定的比色杯是在角速度变化的期间对所述吸光度进行测定的所述比色杯。
4.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，
所述特定的比色杯是在角速度一定的期间对所述吸光度进行测定的所述比色杯。
5.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，
所述驱动部反复进行从多个所述比色杯静止的状态即静止状态经过沿所述环状方向旋转的旋转状态到达所述静止状态的序列，
所述获取部获取在特定的所述序列中所述测光部所测量出的所述空白数据，
所述修正部使用所述特定的序列中的所述空白数据进行所述相关处理。
6.根据权利要求5所述的分析装置，其特征在于，
所述获取部获取在第一序列中所述测光部所测量出的第一空白数据、及在第二序列中所述测光部所测量出的第二空白数据，
所述修正部基于所述第一空白数据及所述第二空白数据中的各测定位置的相关处理，算出使所述第一空白数据及所述第二空白数据各自的所述测定位置一致的修正值，并根据所述修正值对所述检体数据的各测定值进行修正。
7.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述获取部获取由多个所述比色杯各者测定出的多个所述空白数据、及由多个所述比色杯各者测定出的多个所述检体数据，
所述修正部使用多个所述空白数据及多个所述检体数据进行所述相关处理。
8.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，还包括：
基板；
受光元件，设置于所述基板，接收通过了所述比色杯的各波长的光；以及
多个放大电路，设置于所述基板，将所述受光元件所接收到的各波长的光的信号针对每一波长放大，
关于所述多个放大电路各者与所述受光元件的连接距离，
将小于规定值的波长的信号放大的所述放大电路比将规定值以上的波长的信号放大的所述放大电路短。
9.根据权利要求8所述的分析装置，其特征在于，
关于所述连接距离，
将340nm的波长的信号放大的所述放大电路最短。
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