CN117518061B - 一种电测仪表检测数据检验***及方法 - Google Patents
一种电测仪表检测数据检验***及方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种电测仪表检测数据检验***及方法，尤其涉及仪表检测技术领域，包括，第一获取模块，用以获取参数信息、历史检测数据和校准数据，误差分析模块，用以分析被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率，第二获取模块，用以获取环境信息和检测数据，调整优化模块，用以对电测仪表的误差率的计算过程进行调整，数据检验模块，用以对电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验，检验调整模块，用以对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整，判断模块，用以对电测仪表的精确度进行分析，反馈分析模块，用以对电子仪表的精确度的分析过程进行校正。本发明有效提高了电测仪表数据检验的效率。
Description
技术领域
本发明涉及仪表检测技术领域，尤其涉及一种电测仪表检测数据检验***及方法。
背景技术
随着电力***的不断发展，电测仪表在电力***中的作用越来越重要。电测仪表主要用于测量电压、电流、功率等参数，为电力***的运行提供准确的数据支持。然而，由于电测仪表的工作环境复杂，受到温度、湿度、电磁干扰等多种因素的影响，电测仪表的测量数据往往存在一定的误差。现有的电测仪表检测方法主要采用人工检测和计算机辅助检测相结合的方式。存在人工检测效率低，准确性受操作人员经验和技能的影响较大的问题且计算机辅助检测需要大量的数据处理和分析，计算量较大，实时性较差；因此，急需一种能够提高电测仪表检测效率和准确性的方法。
中国专利公开号：CN110487315A公开了一种仪表漂移的分析***及方法，该***包括数据采集模块、数据预处理模块、正态分布验证模块、时间相关性分析模块和漂移量预估模块。数据采集模块采集多个仪表的以往的校验数据，将多个所述仪表成多个单元组；数据预处理模块根据同属于一个单元组的仪表的基本数据计算出所述单元组的仪表的计算漂移值；正态分布验证模块验证同属于一个单元组的仪表的校验数据是否服从正态分布；时间相关性分析模块对所述单元组的仪表的漂移数据与时间的相关性进行分析；漂移量预估模块计算出校验周期延长后的仪表漂移。从而，该***通过分析仪表的以往的校验数据来预测仪表校验周期延长后的漂移量，为仪表校验间隔延长提供依据；由此可见，该发明仅对仪表检测数据的异常情况进行分析，未分析环境因素对仪表检测数据的影响，存在电测仪表数据检验效率低的问题。
发明内容
为此，本发明提供一种电测仪表检测数据检验***及方法，用以克服现有技术中电测仪表数据检验效率低的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种电测仪表检测数据检验***，所述***包括，
第一获取模块，用以获取被测量电子产品的参数信息、历史检测数据和电测仪表的校准数据；
误差分析模块，用以根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据分析被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率；
第二获取模块，用以获取监测周期内的环境信息，还用以获取监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据；
调整优化模块，用以根据环境信息对电测仪表的误差率的计算过程进行调整；
数据检验模块，用以根据被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验；
检验调整模块，用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据的方差和变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整；
判断模块，用以根据监测周期内的检测数据的检验结果对电测仪表的精确度进行判断；
反馈分析模块，用以根据监测周期内的数据准确率对电子仪表的精确度的分析过程进行校正。
进一步地，所述误差分析模块设有产品分析单元，所述产品分析单元用以根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据计算电子产品的参数标准值ST（para），设定para=I，V，P，其中ST（I）是电流标准值，ST（V）是电压标准值，ST（P）是功率标准值；
所述产品分析单元根据历史电流均值E（I）和额定电流I计算电流标准值ST（I），设定ST（I）=I2/E（I）；
所述产品分析单元根据历史检测电流I（i）计算历史电流均值E（I），设定i=1,2，...，n，其中，n是历史检测数据的数量，历史电流均值E（I）的计算公式如下：
E（I）=[I（1）+I（2）+...+I（n）]/n；
所述产品分析单元根据历史电流均值E（I）和额定电流I计算电流误差值Er（I），设定Er（I）=|I-E（I）|。
进一步地，所述误差分析模块还设有误差率计算单元，所述误差率计算单元用以根据电测仪表的校准数据计算电测仪表的误差率k（para），电测仪表的误差率k（para）的计算公式如下：
k（I）=|Ib-Ic|/Ib；
k（V）=|Vb-Vc|/Vb；
k（P）=|Pb-Pc|/Pb；
其中，k（I）是电测仪表的电流误差率，k（V）是电测仪表的电压误差率，k（P）是电测仪表的功率误差率，Ib是标准电流源的标准电流大小，Ic是监测周期内的校准电流，Vb是标准电压源的标准电压大小，Vc是监测周期内的校准电压，Pb是标准功率源的标准功率大小，Pc是监测周期内的校准功率。
进一步地，所述调整优化模块设有第一调整单元，所述第一调整单元用以将监测周期内的平均磁场强度B与磁场强度阈值BY进行比对，并根据比对结果对电测仪表误差率的计算过程进行调整，其中：
当B＜BY时，所述第一调整单元判定监测周期内平均磁场强度正常，不进行调整；
当B≥BY时，所述第一调整单元判定监测周期内平均磁场强度异常，并对电测仪表误差率的计算过程进行调整，将电测仪表的误差率调整为k（para）’，设定k（para）’=k（para）×sin[π×（B-BY）]；
所述调整优化模块还设有第一优化单元，所述第一优化单元根据监测周期内的平均温度t和平均湿度s计算环境影响参数η，环境影响参数η的计算公式如下：
η=[|t-T|+|s-S|]/（T+S）；
其中，T是预设环境温度，S是预设环境湿度；
所述第一优化单元将环境影响参数与各预设环境影响参数进行比对，并根据比对结果对电测仪表误差率的调整过程进行优化，其中：
当η＜A1时，所述第一优化单元判定监测周期内环境影响参数正常，不进行优化；
当A1≤η＜A2时，所述第一优化单元判定监测周期内环境影响参数异常，并将磁场强度阈值优化为BY’，设定BY’=BY×exp{-（η-A1）/（A2-η）}；
当η≥A2时，所述第一优化单元判定监测周期内的环境影响参数异常，并将磁场强度阈值优化为BY”，设定BY”=BY×sin（η-A2）。
进一步地，所述数据检验模块根据电子产品的参数标准值ST（para）、参数误差值Er（para）和电测仪表的误差率k（para）计算检测数据的检验范围[α（var），β（var）]，其中，α（var）为检验范围的左值，β（var）为检验范围的右值，var是检验参数类型，设定var=i，v，p；其中，i是电流类型，v是电压类型，p是功率类型；
电流检验范围[α（i），β（i）]的计算公式如下：
α（i）=[ST（I）+Er（I）]×k（I）；
β（i）=[ST（I）-Er（I）]×k（I）；
所述数据检验模块根据检测数据的检验范围[α（var），β（var）]对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验，其中：
当α（i）≤I测（j）≤β（i）时，所述数据检验模块判定检测电流I测（j）正常；
当I测（j）＜α（i）或I测（j）＞β（i）时，所述数据检验模块判定检测电流I测（j）异常；
当α（v）≤V测（j）≤β（v）时，所述数据检验模块判定检测电压V测（j）正常；
当V测（j）＜α（v）或V测（j）＞β（v）时，所述数据检验模块判定检测电压V测（j）异常；
当α（p）≤P测（j）≤β（p）时，所述数据检验模块判定检测功率P测（j）正常；
当P测（j）＜α（p）或P测（j）＞β（p）时，所述数据检验模块判定检测功率P测（j）异常；
其中，I测（j）是第j次测量的检测电流，设定j=1,2,...N，N是电测仪表测量电子产品的次数，V测（j）是第j次测量的检测电压，P测（j）是第j次测量的检测功率。
进一步地，所述检验调整模块设有第二调整单元，所述第二调整单元用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测电流I测（j）计算检测电流方差σ1，检测电流方差σ1的计算公式如下：
D1=[I测（1）+I测（2）+...+I测（N）]/N；
σ1={[I测（1）-D]2+[I测（2）-D]2+...+[I测（N）-D]2}/N；
其中，D1是检测电流的期望，I测（1）是第1次测量的检测电流，I测（2）是第2次测量的检测电流，I测（N）是第N次测量的检测电流；
所述第二调整单元根据检测电流方差σ1将电流检验范围调整为[α（i）’，β（i）]，设定α（i）’=α（i）×arctanσ。
进一步地，所述检验调整模块还设有第二优化单元，所述第二优化单元用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测电流计算检测电流的变化率γ1，检测电流的变化率γ1的计算公式如下：
γ1=D1/max{I测（1）,I测（2）,...,I测（N）};
所述第二优化单元根据检测电流的变化率γ1对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验调整过程进行优化，将检测电流方差优化为σ1’，设定σ1’=σ1×ln[1+γ1]。
进一步地，所述判断模块根据监测周期内的检测数据的检验结果计算异常系数μ，设定μ=I异+V异+P异，其中，I异是检测电流的异常数据比例，V异是检测电压的异常数据比例，P异是检测功率的异常数据比例；
所述判断模块将异常系数μ与各预设异常系数进行比对，并根据比对结果对电子仪表的精确度进行等级划分，所述判断模块根据划分后的等级生成下一监测周期的解决方案，其中：
当μ＜F1时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表的精度正常，不对下一监测周期的电测仪表的检测数据过程进行校验；
当F1≤μ＜F2时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表的精度异常，并设置调整系数u对下一监测周期电测仪表的误差率进行调整，设定u=（μ-F1）/（F2-μ），将下一监测周期的电流误差率调整为k（para）’，设定k（para）’=k（para）×u；所述判断模块调整后的电流误差率作为下一监测周期的解决方案；
当μ≥F2时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表出现故障，将更换电测仪表作为下一监测周期的解决方案；
其中，F1是第一预设异常系数，F2是第二预设异常系数，F1＜F2。
进一步地，所述反馈分析模块根据监测周期内的数据准确率y对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，设定y=m1+m2+m3/3×N，其中，m1是监测周期内检测电流正常的数量，m2是监测周期内检测电压正常的数量，m3监测周期内检测功率正常的数量；
所述反馈分析模块根据数据准确率y对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，将第一预设异常系数校正为F1’，设定F1’=F1×exp{y}。
另一方面，本发明还提供一种电测仪表检测数据检验方法，包括，
步骤S1，获取被测量电子产品的参数信息、历史检测数据和电测仪表的校准数据；
步骤S2，根据参数信息和历史检测数据计算被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率；
步骤S3，获取监测周期内的环境信息和电测仪表测量电子产品的检测数据；
步骤S4，根据环境信息对对电测仪表的误差率的计算过程进行调整；
步骤S5，根据被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验；
步骤S6，根据电测仪表测量电子产品的检测数据的方差和变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整；
步骤S7，用以根据监测周期内的检测数据的检验结果对电测仪表的精确度进行判断，并根据判断结果生成下一监测周期的解决方案；
步骤S8，根据监测周期内的数据准确率对电子仪表的精确度的分析过程进行校正。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于，通过所述第一获取模块对本***产品信息和电测仪表校准信息的获取，提高了信息获取的完整性和准确性，进而提高了电测仪表测量过程中测量仪器的准确性和被测电子产品参数误差值的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述误差分析模块被测量电子产品的历史检测数据和电测仪表的校验过程的校准数据进行分析，提高了电测仪表测量过程中测量仪器的准确性和被测电子产品参数误差值的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述第二获取模块对检测数据和环境数据的获取，提高了检测数据的准确性，进而电测仪表检测数据检验的效率，通过所述调整优化模块对电测仪表误差率的调整和优化提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了数据检验的效率，通过所述数据检验模块对计算检测数据的检验范围，以对检测数据的异常情况进行分析，提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述检验调整模块对检测数据进行数值分析，并根据分析结果对检测数据的检验过程进行调整，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述判断模块对监测周期内电测仪表的精确度进行分析，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述反馈分析模块对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率。
附图说明
图1为本实施例电测仪表检测数据检验***的结构示意图；
图2为本实施例误差分析模块的结构示意图；
图3为本实施例调整优化模块的结构示意图；
图4为本实施例检验调整模块的结构示意图；
图5为本实施例电测仪表检测数据检验方法的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。
下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。
需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
请参阅图1所示，其为本实施例电测仪表检测数据检验***的结构示意图，包括，
第一获取模块，用以获取被测量电子产品的参数信息、历史检测数据和电测仪表的校准数据，所述电测仪表的校准数据是根据监测周期周期性获取，所述电子产品的参数信息包括额定电流、额定电压与额定功率，所述历史检测数据包括历史检测电流、历史检测电压和历史检测功率，所述电测仪表的校准数据包括校准电流、校准电压和校准功率，所述电测仪表的校准数据是电测仪表测量标准校准源得到的测量数据，所述标准校准源包括标准功率源、标准电压源和标准电流源，所述校准电流是电测仪表测量标准电流源得到的数据，所述校准电压是电测仪表测量标准电压源得到的数据，所述校准功率是电测仪表测量标准功率源得到的数据；本实施例中不对历史检测数据的数量作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足历史检测数据的数量的需求即可，如可以将历史检测数据的数量设定为10份，每份历史检测数据包含一份历史检测电流、历史检测电压和历史检测功率；本实施例中，不对监测周期的取值作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足监测周期的取值需求即可，如可以将监测周期设定为1天、2天、3天等；本实施例中，不对被测量电子产品的参数信息和历史校准数据的获取方式作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足测量电子产品的参数信息和历史校准数据的获取需求即可，如可以通过用户交互输入的方式获取；
误差分析模块，用以根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据分析被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率，误差分析模块与所述第一获取模块连接；
第二获取模块，用以获取监测周期内的环境信息，还用以获取监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据，第二获取模块与所述误差分析模块连接；所述环境信息包括电子产品检测区域的平均磁场强度、平均温度和平均湿度，所述平均湿度是相对湿度，所述电测仪表测量电子产品的检测数据包括检测电流、检测电压和检测功率；本实施例中电测仪表测量电子产品的次数为10次，即得到10份检测数据，且本实施例不对测量电子产品的次数作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足测量电子产品的次数的需求即可，如还可以将测量电子产品的次数设为20次等；本实施例中不对环境信息的获取方式作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足环境信息的获取需求即可，如可以通过温度传感器获取平均温度，通过湿度检测计获取平均湿度，通过磁场测量仪获取平均磁场强度；
调整优化模块，用以根据监测周期内的平均磁场强度对电测仪表的误差率的计算过程进行调整，还用以根据平均温度和平均湿度对电测仪表的误差率的调整过程进行优化，调整优化模块与所述第二获取模块连接；
数据检验模块，用以根据被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验，并将检验结果进行存储，所述数据检验模块将检验结果进行对用户输出,数据检验模块与所述调整优化模块连接；
检验调整模块，用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据的方差和变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整，检验调整模块与所述数据检验模块连接；
判断模块，用以根据监测周期内的检测数据的检验结果对电测仪表的精确度进行判断，并根据判断结果生成下一监测周期的解决方案，判断模块与所述检验调整模块连接；
反馈分析模块，用以根据监测周期内的数据准确率对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，反馈分析模块与所述判断模块连接；所述数据准确率是检测数据中检验为正常数据的数据比率。
请参阅图2所示，其为本实施例误差分析模块的结构示意图，包括，
产品分析单元，用以根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据计算电子产品的参数标准值和参数误差值；
误差率计算单元，用以根据电测仪表的校准数据计算电测仪表的误差率，误差率计算单元与所述产品分析单元连接。
请参阅图3所示，其为本实施例调整优化模块的结构示意图，包括，
第一调整单元，用以根据监测周期内的平均磁场强度对电测仪表的误差率的计算过程进行调整；
第一优化单元，用以根据平均温度和平均湿度对电测仪表的误差率的调整过程进行优化，第一优化单元与所述第一调整单元连接。
请参阅图4所示，其为本实施例检验调整模块的结构示意图，包括，
第二调整单元，用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据的方差对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整；
第二优化单元，用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据的变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验调整过程进行优化，第二优化单元与所述第二调整单元连接。
具体而言，本实施例所述***及方法应用于电子产品质量检测过程中电测仪表检测数据的检验；本实施例在所述电子产品的质量检测过程中，不对电子产品的类别和型号做具体限定；本实施例所述电测仪表为单个多用电信号测量仪表；本实施例所述电子产品的质量检测包括电流检测、电压检测和功率检测；本实施例通过对电测仪表的误差率和电子产品的测量参数范围进行分析，并根据影响参数对误差率的分析过程进行调整，通过分析结果对检测数据的异常性进行检验，并根据检验结果对电测仪表的精准度进行分析，提高了电测仪表数据检验的效率。
具体而言，本实施例通过所述第一获取模块对本***产品信息和电测仪表校准信息的获取，提高了信息获取的完整性和准确性，进而提高了电测仪表测量过程中测量仪器的准确性和被测电子产品参数误差值的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述误差分析模块被测量电子产品的历史检测数据和电测仪表的校验过程的校准数据进行分析，提高了电测仪表测量过程中测量仪器的准确性和被测电子产品参数误差值的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述第二获取模块对检测数据和环境数据的获取，提高了检测数据的准确性，进而电测仪表检测数据检验的效率，通过所述调整优化模块对电测仪表误差率的调整和优化提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了数据检验的效率，通过所述数据检验模块对计算检测数据的检验范围，以对检测数据的异常情况进行分析，提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述检验调整模块对检测数据进行数值分析，并根据分析结果对检测数据的检验过程进行调整，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述判断模块对监测周期内电测仪表的精确度进行分析，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率，通过所述反馈分析模块对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率。
具体而言，所述产品分析单元根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据计算电子产品的参数标准值ST（para），设定para=I，V，P，其中ST（I）是电流标准值，ST（V）是电压标准值，ST（P）是功率标准值；本实施例以电流标准值ST（I）的计算过程为例，电压标准值与功率标准值的计算过程与电流标准值的计算过程相同；
所述产品分析单元根据历史电流均值E（I）和额定电流I计算电流标准值ST（I），设定ST（I）=I2/E（I）；
所述产品分析单元根据历史检测电流I（i）计算历史电流均值E（I），设定i=1,2，...，n，其中，n是历史检测数据的数量，历史电流均值E（I）的计算公式如下：
E（I）=[I（1）+I（2）+...+I（n）]/n；
所述产品分析单元根据历史电流均值E（I）和额定电流I计算电流误差值Er（I），设定Er（I）=|I-E（I）|，电压误差值Er（V）和功率误差值Er（P）的计算过程与电流误差值Er（I）的计算过程相同。
具体而言，所述产品分析单元通过对被测量电子产品的历史检测数据进行分析，以对被测量电子产品的实际参数范围进行计算，提高了电测仪表测量过程中测量仪器的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率。
具体而言，所述误差率计算单元根据电测仪表的校准数据计算电测仪表的误差率k（para），电测仪表的误差率k（para）的计算公式如下：
k（I）=|Ib-Ic|/Ib；
k（V）=|Vb-Vc|/Vb；
k（P）=|Pb-Pc|/Pb；
其中，k（I）是电测仪表的电流误差率，k（V）是电测仪表的电压误差率，k（P）是电测仪表的功率误差率，Ib是标准电流源的标准电流大小，Ic是监测周期内的校准电流，Vb是标准电压源的标准电压大小，Vc是监测周期内的校准电压，Pb是标准功率源的标准功率大小，Pc是监测周期内的校准功率。
具体而言，所述误差率计算单元通过对电测仪表的校验过程的校准数据进行分析，以对电测仪表的误差率进行计算，提高了电测仪表测量过程中测量仪器的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率。
具体而言，所述第一调整单元将监测周期内的平均磁场强度B与磁场强度阈值BY进行比对，并根据比对结果对电测仪表误差率的计算过程进行调整，其中：
当B＜BY时，所述第一调整单元判定监测周期内平均磁场强度正常，不进行调整；
当B≥BY时，所述第一调整单元判定监测周期内平均磁场强度异常，并对电测仪表误差率的计算过程进行调整，将电测仪表的误差率调整为k（para）’，设定k（para）’=k（para）×sin[π×（B-BY）]。
具体而言，所述第一调整单元通过对监测周期内的磁场强度进行分析，以分析电磁场对电测仪表测量精度的干扰，提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率；可以理解的是，本实施例中不对磁场强度阈值BY取值作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足磁场强度阈值BY的取值需求即可，如可以将磁场强度阈值BY设定为5μT。
具体而言，所述第一优化单元根据监测周期内的平均温度t和平均湿度s计算环境影响参数η，环境影响参数η的计算公式如下：
η=[|t-T|+|s-S|]/（T+S）；
其中，T是预设环境温度，S是预设环境湿度；
所述第一优化单元将环境影响参数与各预设环境影响参数进行比对，并根据比对结果对电测仪表误差率的调整过程进行优化，其中：
当η＜A1时，所述第一优化单元判定监测周期内环境影响参数正常，不进行优化；
当A1≤η＜A2时，所述第一优化单元判定监测周期内环境影响参数异常，并将磁场强度阈值优化为BY’，设定BY’=BY×exp{-（η-A1）/（A2-η）}；
当η≥A2时，所述第一优化单元判定监测周期内的环境影响参数异常，并将磁场强度阈值优化为BY”，设定BY”=BY×sin（η-A2）；
其中，A1是第一预设环境参数，A2是第二预设环境参数，A1＜A2。
具体而言，所述第一优化单元通过对数据检测环境中的温度与湿度进行分析，以分析环境对数据检测造成的影响，并根据分析结果对电测仪表的误差率调整过程进行优化，提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率；可以理解的是，本实施例不对预设环境温度T和预设环境湿度S的取值作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足预设环境温度T和预设环境湿度S的取值需求即可，如可以将预设环境温度T设定为15℃，将预设环境湿度S设定为70%，同时，本实施例不对第一预设环境参数A1和第二预设环境参数A2的取值作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，如可以将第一预设环境参数A1设为0.1，将第二预设环境参数A2设为0.3。
具体而言，所述数据检验模块根据电子产品的参数标准值ST（para）、参数误差值Er（para）和电测仪表的误差率k（para）计算检测数据的检验范围[α（var），β（var）]，其中，α（var）为检验范围的左值，β（var）为检验范围的右值，var是检验参数类型，设定var=i，v，p；其中，i是电流类型，v是电压类型，p是功率类型；本实施例以电流检验范围[α（i），β（i）]为例，电压检验范围[α（v），β（v）]和功率检验范围[α（p），β（p）]的计算过程与电流检验范围的计算过程相同；电流检验范围[α（i），β（i）]的计算公式如下：
α（i）=[ST（I）+Er（I）]×k（I）；
β（i）=[ST（I）-Er（I）]×k（I）；
所述数据检验模块根据检测数据的检验范围[α（var），β（var）]对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验，其中：
当α（i）≤I测（j）≤β（i）时，所述数据检验模块判定检测电流I测（j）正常；
当I测（j）＜α（i）或I测（j）＞β（i）时，所述数据检验模块判定检测电流I测（j）异常；
当α（v）≤V测（j）≤β（v）时，所述数据检验模块判定检测电压V测（j）正常；
当V测（j）＜α（v）或V测（j）＞β（v）时，所述数据检验模块判定检测电压V测（j）异常；
当α（p）≤P测（j）≤β（p）时，所述数据检验模块判定检测功率P测（j）正常；
当P测（j）＜α（p）或P测（j）＞β（p）时，所述数据检验模块判定检测功率P测（j）异常；
其中，I测（j）是第j次测量的检测电流，设定j=1,2,...N，N是电测仪表测量电子产品的次数，V测（j）是第j次测量的检测电压，P测（j）是第j次测量的检测功率。
具体而言，所述数据检验模块通过计算检测数据的检验范围，以对检测数据的异常情况进行分析，提高了电测仪表检测数据检验的准确性，提高了检测的数据的精准度和可靠性，进而提高了对电测仪表校验的准确性，最终提高了电测仪表检测数据检验的效率。
具体而言，所述第二调整单元根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测电流I测（j）计算检测电流方差σ1，检测电流方差σ1的计算公式如下：
D1=[I测（1）+I测（2）+...+I测（N）]/N；
σ1={[I测（1）-D]2+[I测（2）-D]2+...+[I测（N）-D]2}/N；
其中，D1是检测电流的期望，I测（1）是第1次测量的检测电流，I测（2）是第2次测量的检测电流，I测（N）是第N次测量的检测电流；
所述第二调整单元根据检测电流方差σ1将电流检验范围调整为[α（i）’，β（i）]，设定α（i）’=α（i）×arctanσ；
所述第二调整单元对电压检验范围和功率检验范围的调整过程与电流检验范围的调整过程相同。
具体而言，所述第二调整单元通过计算检测数据的方差以对检测数据的波动性进行分析，并根据分析结果对检测数据的检验过程进行调整，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率。
具体而言，所述第二优化单元根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测电流计算检测电流的变化率γ1，检测电流的变化率γ1的计算公式如下：
γ1=D1/max{I测（1）,I测（2）,...,I测（N）};
其中，max{I测（1）,I测（2）,...,I测（N）}是监测周期内N个检测电流之间的最大值；
所述第二优化单元根据检测电流的变化率γ1对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验调整过程进行优化，将检测电流方差优化为σ1’，设定σ1’=σ1×ln[1+γ1];
所述第二优化单元对检测电压方差和检测功率方差的优化过程与检测电压方差的优化过程相同。
具体而言，所述第二调整单元通过计算检测数据的变化率以对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验调整过程进行优化，并根据分析结果对检测数据的检验过程进行调整，提高了数据检验的准确性，进而提高了对电测仪表检测数据检验的效率。
具体而言，所述判断模块根据监测周期内的检测数据的检验结果计算异常系数μ，设定μ=I异+V异+P异，其中，I异是检测电流的异常数据比例，V异是检测电压的异常数据比例，P异是检测功率的异常数据比例；
所述判断模块将异常系数μ与各预设异常系数进行比对，并根据比对结果对电子仪表的精确度进行等级划分，所述判断模块根据划分后的等级生成下一监测周期的解决方案，其中：
当μ＜F1时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表的精度正常，不对下一监测周期的电测仪表的检测数据过程进行校验；
当F1≤μ＜F2时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表的精度异常，并设置调整系数u对下一监测周期电测仪表的误差率进行调整，设定u=（μ-F1）/（F2-μ），将下一监测周期的电流误差率调整为k（para）’，设定k（para）’=k（para）×u；所述判断模块调整后的电流误差率作为下一监测周期的解决方案；
当μ≥F2时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表出现故障，将更换电测仪表作为下一监测周期的解决方案；
其中，F1是第一预设异常系数，F2是第二预设异常系数，F1＜F2。
具体而言，所述判断模块对监测周期内电测仪表的精确度进行分析，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率；可以理解的是，本实施例中不对第一预设异常系数F1和第二预设异常系数F2的取值作具体限定，本领域技术人员可以自由设置，只需满足第一预设异常系数F1和第二预设异常系数F2的取值要求即可，如可以将第一预设异常系数F1设为0.3，将第二预设异常系数F2设为1。
具体而言，所述反馈分析模块根据监测周期内的数据准确率y对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，设定y=m1+m2+m3/3×N，其中，m1是监测周期内检测电流正常的数量，m2是监测周期内检测电压正常的数量，m3监测周期内检测功率正常的数量；
所述反馈分析模块根据数据准确率y对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，将第一预设异常系数校正为F1’，设定F1’=F1×exp{y}。
具体而言，所述反馈分析模块通过对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，提高了数据检验的准确性，进而提高了电测仪表检测数据检验的效率。
请参阅图5所示，其为本实施例电测仪表检测数据检验方法的流程示意图，包括，
步骤S1，获取被测量电子产品的参数信息、历史检测数据和电测仪表的校准数据；
步骤S2，根据参数信息和历史检测数据计算被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率；
步骤S3，获取监测周期内的环境信息和电测仪表测量电子产品的检测数据；
步骤S4，根据环境信息对对电测仪表的误差率的计算过程进行调整；
步骤S5，根据被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验；
步骤S6，根据电测仪表测量电子产品的检测数据的方差和变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整；
步骤S7，用以根据监测周期内的检测数据的检验结果对电测仪表的精确度进行分析，并根据分析结果生成下一监测周期的解决方案；
步骤S8，根据监测周期内的数据准确率对电子仪表的精确度的分析过程进行校正。
至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种电测仪表检测数据检验***，其特征在于，包括，
第一获取模块，用以获取被测量电子产品的参数信息、历史检测数据和电测仪表的校准数据；
误差分析模块，用以根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据分析被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率；
第二获取模块，用以获取监测周期内的环境信息，还用以获取监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据；
调整优化模块，用以根据环境信息对电测仪表的误差率的计算过程进行调整；
数据检验模块，用以根据被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验；
检验调整模块，用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据的方差和变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整；
判断模块，用以根据监测周期内的检测数据的检验结果对电测仪表的精确度进行判断；
反馈分析模块，用以根据监测周期内的数据准确率对电子仪表的精确度的分析过程进行校正；
所述误差分析模块设有产品分析单元，所述产品分析单元用以根据被测量电子产品的参数信息和历史检测数据计算电子产品的参数标准值ST（para），设定para=I，V，P，其中ST（I）是电流标准值，ST（V）是电压标准值，ST（P）是功率标准值；
所述产品分析单元根据历史电流均值E（I）和额定电流I计算电流标准值ST（I），设定ST（I）=I2/E（I）；
所述产品分析单元根据历史检测电流I（i）计算历史电流均值E（I），设定i=1,2，...，n，其中，n是历史检测数据的数量，历史电流均值E（I）的计算公式如下：
E（I）=[I（1）+I（2）+...+I（n）]/n；
所述产品分析单元根据历史电流均值E（I）和额定电流I计算电流误差值Er（I），设定Er（I）=|I-E（I）|；
所述误差分析模块还设有误差率计算单元，所述误差率计算单元用以根据电测仪表的校准数据计算电测仪表的误差率k（para），电测仪表的误差率k（para）的计算公式如下：
k（I）=|Ib-Ic|/Ib；
k（V）=|Vb-Vc|/Vb；
k（P）=|Pb-Pc|/Pb；
其中，k（I）是电测仪表的电流误差率，k（V）是电测仪表的电压误差率，k（P）是电测仪表的功率误差率，Ib是标准电流源的标准电流大小，Ic是监测周期内的校准电流，Vb是标准电压源的标准电压大小，Vc是监测周期内的校准电压，Pb是标准功率源的标准功率大小，Pc是监测周期内的校准功率；
所述调整优化模块设有第一调整单元，所述第一调整单元用以将监测周期内的平均磁场强度B与磁场强度阈值BY进行比对，并根据比对结果对电测仪表误差率的计算过程进行调整，其中：
当B＜BY时，所述第一调整单元判定监测周期内平均磁场强度正常，不进行调整；
当B≥BY时，所述第一调整单元判定监测周期内平均磁场强度异常，并对电测仪表误差率的计算过程进行调整，将电测仪表的误差率调整为k（para）’，设定k（para）’=k（para）×sin[π×（B-BY）]；
所述调整优化模块还设有第一优化单元，所述第一优化单元根据监测周期内的平均温度t和平均湿度s计算环境影响参数η，环境影响参数η的计算公式如下：
η=[|t-T|+|s-S|]/（T+S）；
其中，T是预设环境温度，S是预设环境湿度；
所述第一优化单元将环境影响参数与各预设环境影响参数进行比对，并根据比对结果对电测仪表误差率的调整过程进行优化，其中：
当η＜A1时，所述第一优化单元判定监测周期内环境影响参数正常，不进行优化；
当A1≤η＜A2时，所述第一优化单元判定监测周期内环境影响参数异常，并将磁场强度阈值优化为BY’，设定BY’=BY×exp{-（η-A1）/（A2-η）}；
当η≥A2时，所述第一优化单元判定监测周期你爹环境影响参数异常，并将磁场强度阈值优化为BY”，设定BY”=BY×sin（η-A2）；
其中，A1是第一预设环境参数，A2是第二预设环境参数，A1＜A2；
所述数据检验模块根据电子产品的参数标准值ST（para）、参数误差值Er（para）和电测仪表的误差率k（para）计算检测数据的检验范围[α（var），β（var）]，其中，α（var）为检验范围的左值，β（var）为检验范围的右值，var是检验参数类型，设定var=i，v，p；其中，i是电流类型，v是电压类型，p是功率类型；
电流检验范围[α（i），β（i）]的计算公式如下：
α（i）=[ST（I）+Er（I）]×k（I）；
β（i）=[ST（I）-Er（I）]×k（I）；
所述数据检验模块根据检测数据的检验范围[α（var），β（var）]对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验，其中：
当α（i）≤I测（j）≤β（i）时，所述数据检验模块判定检测电流I测（j）正常；
当I测（j）＜α（i）或I测（j）＞β（i）时，所述数据检验模块判定检测电流I测（j）异常；
当α（v）≤V测（j）≤β（v）时，所述数据检验模块判定检测电压V测（j）正常；
当V测（j）＜α（v）或V测（j）＞β（v）时，所述数据检验模块判定检测电压V测（j）异常；
当α（p）≤P测（j）≤β（p）时，所述数据检验模块判定检测功率P测（j）正常；
当P测（j）＜α（p）或P测（j）＞β（p）时，所述数据检验模块判定检测功率P测（j）异常；
其中，I测（j）是第j次测量的检测电流，设定j=1,2,...N，N是电测仪表测量电子产品的次数，V测（j）是第j次测量的检测电压，P测（j）是第j次测量的检测功率；
所述检验调整模块设有第二调整单元，所述第二调整单元用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测电流I测（j）计算检测电流方差σ1，检测电流方差σ1的计算公式如下：
D1=[I测（1）+I测（2）+...+I测（N）]/N；
σ1={[I测（1）-D]2+[I测（2）-D]2+...+[I测（N）-D]2}/N；
其中，D1是检测电流的期望，I测（1）是第1次测量的检测电流，I测（2）是第2次测量的检测电流，I测（N）是第N次测量的检测电流；
所述第二调整单元根据检测电流方差σ1将电流检验范围调整为[α（i）’，β（i）]，设定α（i）’=α（i）×arctanσ；
所述检验调整模块还设有第二优化单元，所述第二优化单元用以根据监测周期内电测仪表测量电子产品的检测电流计算检测电流的变化率γ1，检测电流的变化率γ1的计算公式如下：
γ1=D1/max{I测（1）,I测（2）,...,I测（N）};
所述第二优化单元根据检测电流的变化率γ1对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验调整过程进行优化，将检测电流方差优化为σ1’，设定σ1’=σ1×ln[1+γ1]；
所述判断模块根据监测周期内的检测数据的检验结果计算异常系数μ，设定μ=I异+V异+P异，其中，I异是检测电流的异常数据比例，V异是检测电压的异常数据比例，P异是检测功率的异常数据比例；
所述判断模块将异常系数μ与各预设异常系数进行比对，并根据比对结果对电子仪表的精确度进行等级划分，所述判断模块根据根据划分后的等级生成下一监测周期的解决方案，其中：
当μ＜F1时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表的精度正常，不对下一监测周期的电测仪表的检测数据进行校验；
当F1≤μ＜F2时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表的精度异常，并设置调整系数u对下一监测周期电测仪表的误差率进行调整，设定u=（μ-F1）/（F2-μ），将下一监测周期的电流误差率调整为k（para）’，设定k（para）’=k（para）×u；
当μ≥F2时，所述判断模块判定监测周期内电测仪表出现故障，建议更换电测仪表；
其中，F1是第一预设异常系数，F2是第二预设异常系数，F1＜F2；
所述反馈分析模块根据监测周期内的数据准确率y对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，设定y=m1+m2+m3/3×N，其中，m1是监测周期内检测电流正常的数量，m2是监测周期内检测电压正常的数量，m3监测周期内检测功率正常的数量；
所述反馈分析模块根据数据准确率y对电子仪表的精确度的分析过程进行校正，将第一预设异常系数校正为F1’，设定F1’=F1×exp{y}。
2.一种电测仪表检测数据检验方法，应用于如权利要求1所述的电测仪表检测数据检验***，其特征在于，包括，
步骤S1，获取被测量电子产品的参数信息、历史检测数据和电测仪表的校准数据；
步骤S2，根据参数信息和历史检测数据计算被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率；
步骤S3，获取监测周期内的环境信息和电测仪表测量电子产品的检测数据；
步骤S4，根据环境信息对对电测仪表的误差率的计算过程进行调整；
步骤S5，根据被测量电子产品的误差值和电测仪表的误差率对监测周期内电测仪表测量电子产品的检测数据进行检验；
步骤S6，根据电测仪表测量电子产品的检测数据的方差和变化率对电测仪表测量电子产品的检测数据的检验过程进行调整；
步骤S7，用以根据监测周期内的检测数据的检验结果对电测仪表的精确度进行判断，并根据判断结果生成下一监测周期的解决方案；
步骤S8，根据监测周期内的数据准确率对电子仪表的精确度的分析过程进行校正。
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