CN117347681B - 一种直流电阻测试仪 - Google Patents
一种直流电阻测试仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117347681B CN117347681B CN202311656987.8A CN202311656987A CN117347681B CN 117347681 B CN117347681 B CN 117347681B CN 202311656987 A CN202311656987 A CN 202311656987A CN 117347681 B CN117347681 B CN 117347681B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- arc
- temperature
- circuit board
- wall
- box
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 110
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000008030 elimination Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 23
- 239000012634 fragment Substances 0.000 claims description 18
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 13
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims description 9
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 8
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 4
- 238000004321 preservation Methods 0.000 claims description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 9
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000375 direct analysis in real time Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000012063 dual-affinity re-targeting Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/58—Means for relieving strain on wire connection, e.g. cord grip, for avoiding loosening of connections between wires and terminals within a coupling device terminating a cable
- H01R13/5804—Means for relieving strain on wire connection, e.g. cord grip, for avoiding loosening of connections between wires and terminals within a coupling device terminating a cable comprising a separate cable clamping part
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0425—Test clips, e.g. for IC's
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/58—Means for relieving strain on wire connection, e.g. cord grip, for avoiding loosening of connections between wires and terminals within a coupling device terminating a cable
- H01R13/5837—Means for relieving strain on wire connection, e.g. cord grip, for avoiding loosening of connections between wires and terminals within a coupling device terminating a cable specially adapted for accommodating various sized cables
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本发明公开了一种直流电阻测试仪,涉及直流电阻测试仪技术领域,包括保护箱,所述保护箱的内部设置有控制面板,所述控制面板的内部镶嵌有显示组件,所述控制面板的上表面电性连接有可调控加持力的电夹组件,所述保护箱的内腔中部设置有电路板,且电路板通过支撑架固定在保护箱的内壁,所述电路板的底部设置有为电路板升温保持电子元件灵敏度的电弧消除机构。本发明当电夹组件接触到电缆产生电弧时,消弧机构能够配合支撑机构将电弧消除,避免了电弧对设备和人员可能造成的伤害,提高了工作的安全性,而消弧机构的存在增加了电流的电阻,从而产生了热量,这有助于提高消弧机构自身的温度,增强了其对电弧的消除能力。
Description
技术领域
本发明涉及直流电阻测试仪技术领域,特别涉及一种直流电阻测试仪。
背景技术
例如公开号为CN112230059A,本发明公开了一种直流低电阻测试仪,包括箱体和底座,所述箱体包括外壳体和内壳体,所述内壳体的外表面与外壳体的外表面相接触,所述外壳体的外表面固定连接有连接机构,本发明涉及低电阻测试仪技术领域。该直流低电阻测试仪,所述连接机构包括滑动槽,所述滑动槽的内表面滑动连接有滑动杆,所述滑动杆一端固定连接有横杆,通过在固定框的内部设置限位机构,配合限位机构中的第一限位杆,配合推动槽和限位槽,再利用第二限位杆和转动块,通过转动块向上推动第二限位杆并转动,使得第二限位杆的一侧与第一限位杆的一侧相接触,通过此结构能够将固定框快速拆卸和安装,从而能够快速将过滤网取下,便于对其进行清洗。
但上述的电阻测试仪在高寒地区低温环境下则会出现无法开机、乱码、黑屏或检测误差过大,进而影响数据的真实可靠性,在冬季较低的温度下直流电阻测试仪往往会出现无法正常启动,并且在高海拔高寒地区,由于环境条件的特殊性,使得高海拔地区在测量直流电阻时容易有电弧的产生进而影响测试数值的准确性,因此,本申请提供了一种直流电阻测试仪来满足需求。
发明内容
本申请的目的在于提供一种直流电阻测试仪,可有效解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本申请提供如下技术方案:一种直流电阻测试仪,包括保护箱,所述保护箱的内部设置有控制面板,所述控制面板的内部镶嵌有显示组件,所述控制面板的上表面电性连接有可调控加持力的电夹组件,所述保护箱的内腔中部设置有电路板,且电路板通过支撑架固定在保护箱的内壁,所述电路板的底部设置有为电路板升温保持电子元件灵敏度的电弧消除机构,所述保护箱的内壁设置有保持保护箱内部温度的保温层,所述保护箱的内壁设置有电源,所述电源通过电线与电路板电性连接;
电弧消除机构,包括设置在电路板底部用于传导热量的导温机构,所述导温机构的底部设置有消除电弧并产生热量的消弧机构,所述导温机构的底部设置有用于支撑消弧机构并辅助消弧机构消除电弧的支撑机构,所述消弧机构的一端设置有控制消弧机构温度的控温机构。
所述显示组件包括安装框,所述安装框的内部设置有加热带,所述安装框的内壁镶嵌有液晶屏,所述安装框的内部设置有加热带,所述安装框的一侧设置有温控器,所述温控器与加热带电性连接。
所述导温机构包括陶瓷片和导热板,所述陶瓷片安装在电路板底部的支撑架上,所述陶瓷片和导热板之间设置有若干个导热铜片。
所述支撑机构包括安装在导热板底部的安装箱,所述安装箱的内部设置有若干个呈矩形阵列分布的半弧片,所述半弧片的内壁与外表面均设置有若干个凸片。
所述消弧机构包括导线,所述导线的外表面设置有若干个呈等间距分布的半球片,所述半球片的外表面设置有环片,若干个所述半球片的外表面上部共同设置有铜线板,所述铜线板与导热板底部相接触,所述导线设置在若干个半弧片的上部。
所述半弧片呈半球弧形结构,且半弧片设置在两个半球片之间。
所述控温机构包括陶瓷壳,所述陶瓷壳的内部设置有两个双金属片,两个所述双金属片的相对面均设置有接触片,两个所述双金属片的一端均固定在陶瓷壳的内壁一侧,且两个双金属片的另一端分别与导线电性连接。
所述电夹组件包括与控制面板电性连接的导电线,所述导电线的外表面包裹有橡胶套,所述橡胶套的一端设置有夹持握柄,所述夹持握柄的内部开设有安装槽,所述安装槽的内部转动安装有夹杆,所述夹杆的两侧均设置有扭矩弹簧,所述夹持握柄的一端开设有凹槽。
所述夹持握柄的内壁设置有安装盒,所述安装盒的内部滑动安装有弹片,所述弹片的一侧设置有隔板,所述隔板的一侧且位于安装盒的内部设置有弹簧;
所述弹片的内壁设置有若干个呈等间距分布的摩擦片,所述弹片的外表面设置有弹簧片和支撑弹片,所述弹片通过弹簧片和支撑弹片与夹持握柄固定连接,所述弹片的一端开设有卡槽,且卡槽与凹槽位置相对应。
综上,本发明的技术效果和优点:
本发明当电夹组件接触到电缆产生电弧时,消弧机构能够配合支撑机构将电弧消除,避免了电弧对设备和人员可能造成的伤害,提高了工作的安全性,而消弧机构的存在增加了电流的电阻,从而产生了热量,这有助于提高消弧机构自身的温度,增强了其对电弧的消除能力,并且消弧机构产生的热量传递到导温机构,再由导温机构传递到电路板上,有助于保证电路板在低温下正常工作,提高了设备的使用效率和稳定性,当消弧机构的温度过高热量时控温机构则会断开消弧机构的通电,确保消弧机构不会持续升温进而影响电路板的正常工作;
本发明能够让弹片适应不同直径的电缆来提供不同的夹持力度,弹片的变形能够使其更好地贴合在电缆的表面,提高了夹持的稳定性和准确性,摩擦片的存在能够防止弹片在操作过程中滑落,提高了操作的安全性。
本发明提供导温机构提供热量加热和CPU自主加热的双重加热方法,该加热方法在正常情况下,CPU加热借助导温机构提供热量的加热元件的温度,进而为CPU的运行提供合适的温度环境,当加热元件的温度不能保证CPU工作温度时,即采用CPU自加热方法,通过自加热的方式,为CPU的运行提供恒温环境,保证测量数据的精度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为直流电阻测试仪的立体结构示意图;
图2为直流电阻测试仪的立体结构剖视图;
图3为显示组件的立体连接结构剖视图;
图4为直流电阻测试仪的内部示意图;
图5为电路板和电弧消除机构的立体连接结构示意图;
图6为电弧消除机构的立体连接结构示意图;
图7为导温机构的立体连接结构示意图;
图8为消弧机构和支撑机构的立体连接结构示意图;
图9为消弧机构的立体连接结构示意图;
图10为半球片的立体连接结构示意图;
图11为半弧片的立体连接结构示意图;
图12为控温机构的立体连接结构示意图;
图13为电夹组件的立体连接结构示意图;
图14为电夹组件的立体连接结构***图;
图15为夹持握柄和橡胶套的立体连接结构示意图;
图16为弹片和支撑弹片的立体连接结构示意图;
图17为电夹组件的局部立体连接结构示意图;
图18为通信接口电路的电路图。
图中:1、保护箱;2、控制面板;3、显示组件;31、液晶屏;32、加热带;33、安装框;34、温控器;4、电夹组件;40、卡槽;41、橡胶套;42、导电线;43、夹持握柄;44、夹杆;45、弹片;46、扭矩弹簧;47、凹槽;48、安装槽;49、安装盒;411、摩擦片;412、弹簧片;413、支撑弹片;414、弹簧;415、隔板;5、电路板;6、保温层;7、电弧消除机构;71、导温机构;711、陶瓷片;712、导热铜片;713、导热板;72、控温机构;721、陶瓷壳;722、双金属片;723、接触片;73、支撑机构;731、安装箱;732、半弧片;733、凸片;74、消弧机构;741、铜线板;742、导线;743、半球片;744、环片;8、电源。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一:参考图1-图18所示的一种直流电阻测试仪,包括保护箱1,保护箱1的内部设置有控制面板2,控制面板2的内部镶嵌有显示组件3,控制面板2的上表面电性连接有可调控加持力的电夹组件4,保护箱1的内腔中部设置有电路板5,且电路板5通过支撑架固定在保护箱1的内壁,电路板5的底部设置有为电路板5升温保持电子元件灵敏度的电弧消除机构7,保护箱1的内壁设置有保持保护箱1内部温度的保温层6,保护箱1的内壁设置有电源8,电源8通过电线与电路板5电性连接;
电弧消除机构7,包括设置在电路板5底部用于传导热量的导温机构71,导温机构71的底部设置有消除电弧并产生热量的消弧机构74,导温机构71的底部设置有用于支撑消弧机构74并辅助消弧机构74消除电弧的支撑机构73,消弧机构74的一端设置有控制消弧机构74温度的控温机构72。
值得说明的是,在高寒地区低温环境下普通直流电阻测试仪会出现无法开机、乱码、黑屏或检测误差过大,进而影响数据的真实可靠性,在冬季较低的温度下直流电阻测试仪的CPU往往会出现无法正常启动,并且在高海拔高寒地区,由于环境条件的特殊性,使得高海拔地区在测量直流电阻时容易有电弧的产生进而影响测试数值的准确性,而且环境的特殊性高海拔地区所产生的电弧与平原地区也有所不同,主要分为以下几点:
空气密度:高海拔地区空气密度较低,导致电弧的传播速度和能量损失与平原地区有所不同,电弧在高海拔地区可能更容易扩散,且能量衰减较慢;
温度影响:高寒地区的低温环境对电弧的产生和传播产生影响,低温条件下,电弧中的电子和离子运动速度减慢,电弧的传播速度和稳定性可能受到影响;
湿度影响:高寒地区湿度较低,空气中的水分减少,可能导致电弧更容易产生;
气压影响:高海拔地区气压较低,影响电弧的传播和熄灭,在低气压条件下,电弧可能更容易熄灭,但同时也可能增加电弧重新产生的概率;
风速影响:高海拔地区风力较大,风速对电弧的传播和稳定性产生影响,较大风速加速电弧的熄灭,但也使电弧更容易产生。
为了解决上述高寒地区低温环境对直流电阻测试仪的影响,在使用时将电夹组件4夹持或耷放在电缆上,电夹组件4的特殊结构设计能够让电夹组件4以较大的接触面积夹持在电缆上,电夹组件4的特殊结构设计使其能够以较大的接触面积夹持在电缆上,有助于提高电流的传递效率,减小电阻,避免能量的浪费,电流通过电夹组件4传递到消弧机构74上,当电夹组件4接触到电缆产生电弧时消弧机构74能够配合支撑机构73将产生的电弧消除,并且电流通过消弧机构74时因消弧机构74的设置增加电流的电阻从而产生热量,消弧机构74产生的热量传递到导温机构71上,导温机构71将热量传递到电路板5上;
当电夹组件4接触到电缆产生电弧时,消弧机构74能够配合支撑机构73将电弧消除,避免了电弧对设备和人员可能造成的伤害,提高了工作的安全性,而消弧机构74的存在增加了电流的电阻,从而产生了热量,这有助于提高消弧机构74自身的温度,增强了其对电弧的消除能力,并且消弧机构74产生的热量传递到导温机构71,再由导温机构71传递到电路板5上,有助于保证电路板在低温下正常工作,提高了设备的使用效率和稳定性,当消弧机构74的温度过高热量时控温机构72则会断开消弧机构74的通电,确保消弧机构74不会持续升温进而影响电路板5的正常工作;
而电路板5则通过电夹组件4来检测电缆上的电阻,通过导温机构71提供的温度能够确保电路板5上电子元件能够在较低的温度下正常运行;
电路板5上的CPU作为电阻测试仪的核心部分,其工作状态直接决定了直流电阻测试仪工作性能,而在低温环境下,由于CPU普遍低温特性较差存在低温无法启动的问题,为了解决该问题提供导温机构71提供热量加热和CPU自主加热的双重加热方法,该加热方法在正常情况下,CPU加热借助导温机构71提供热量的加热元件的温度,进而为CPU的运行提供合适的温度环境,当加热元件的温度不能保证CPU工作温度时,即采用CPU自加热方法,通过自加热的方式,为CPU的运行提供恒温环境,保证测量数据的精度;
CPU自加热步骤具体如下:
S1.***供电启动;
S2.通过辅助控制器判断主控CPU是否已经启动;
S3.通过温度检测单元判断温度是否高于安全值;
S4.断开主控CPU的电源并同时通过加热单元开启加热;
S5.通过辅助控制器判断是否加热超时。
通上电后,***供电启动,电源为主控CPU供电,之后进入流程,辅助控制器检测主控CPU是否已启动,如果已经启动,则流程结束,***启动完成,若未启动,进入流程,辅助控制器会检测当前温度,如果温度高于安全值,辅助控制器会不进行操作,继续等待***启动;
若温度低于安全值,则进入流程,辅助控制器会断开主控CPU的电源,并同时开启加热,之后进入流程,辅助控制器会判断是否加热超时,如未超时,则回到流程,继续检测温度是否在安全范围内,直到温度达到安全范围后,回到流程,尝试再次为***供电并启动***,如加热已经超时,则直接回到流程,尝试启动***;
针对现有低温环境下的通信存在的技术问题,通过导温机构71提供的热量实现对电路板5上通信模块的加热,进而保证通信模块不会因为过低的温度,造成通信不畅的问题,同时,针对电平不同问题,采用如图18所示的MAX3232E电平转换芯片,用于实现单片机与微型计算机的通信,该芯片用于进行单片机和计算机之间的点对点通信,具有两个发送引脚(TX00、TX11)和两个接收引脚(RX00、RX11),可分别供UARTO和DART 1使用,并提供±15kV的ESD保护电路,防止器件受到静电放电的损坏,仅用一对串口完成通信,降低了通信设计难度,同时,使通信质量得到保障。
实施例二:如图3所示的显示组件3包括安装框33,安装框33的内部设置有加热带32,安装框33的内壁镶嵌有液晶屏31,安装框33的内部设置有加热带32,安装框33的一侧设置有温控器34,温控器34与加热带32电性连接。
其中,在高海拔高寒地区液晶屏31因温度较低液晶屏31内部结晶出现显示屏模糊不清和拖尾的问题,通过将液晶屏31镶嵌在安装框33内并采用温控器34控制加热带32加热,将加热带32产生的热量传递到液晶屏31上,在使用时温控器34及时对加热带32进行加热处理,直到液晶屏31温度达到正常显示的标准,通过对液晶屏31的温度控制解决液晶屏31模糊不清和拖尾的问题。
实施三:如图4-图12所示的消弧机构74包括导线742,导线742的外表面设置有若干个呈等间距分布的半球片743,半球片743的外表面设置有环片744,若干个半球片743的外表面上部共同设置有铜线板741,铜线板741与导热板713底部相接触,导线742设置在若干个半弧片732的上部。
半弧片732呈半球弧形结构,且半弧片732设置在两个半球片743之间。
值得说明的是,电流通过电夹组件4传递到导线742上,当产生电弧时,导线742上的半球片743因呈等间距分布且配合环片744的凸出结构能够让电弧在各个半球片743的传递中消除,而且设置的半球片743与环片744为阻值交大的金属,当电流通过导线742时半球片743因电流的通过阻值较大从而缓慢的升温,而设置的铜线板741进一步增加半球片743的电阻,使得半球片743与铜线板741快速的升温将热量传递到导温机构71上。
因半球片743和环片744的特殊结构设计使得电弧能够在各个半球片743之间传递并逐渐消除,从而提高了测量的准确性和安全性,而半球片743和环片744的高电阻使得电流通过时能够快速升温,增加了电弧产生的难度,同时也使得热量能够快速传递到导温机构71上,保护电路板5在低温环境下正常工作;
其中,半球片743和环片744的高电阻能够使得电流通过时产生大量的热量,这些热量能够快速传递到导温机构71上,确保了电路板5在低温下正常工作,使得设备能够在低温环境下正常工作,提高了设备的可靠性和稳定性。
支撑机构73包括安装在导热板713底部的安装箱731,安装箱731的内部设置有若干个呈矩形阵列分布的半弧片732,半弧片732的内壁与外表面均设置有若干个凸片733。
其中,当上述半球片743消除电弧时,设置在各个半球片743之间的半弧片732通过凸片733辅助半球片743来消除电弧,而且设置的半弧片732呈图11所示的形状能够贴合半球片743的结构进行结合消除电弧,并且设置的半弧片732为陶瓷结构能够支撑半球片743部不接触到安装箱731。
半弧片732通过凸片733的辅助,能够帮助半球片743更好地消除电弧,提高了测量的准确性和安全性,而且半弧片732为陶瓷结构,能够防止半球片743接触到安装箱731,保护了半球片743不被损坏。
导温机构71包括陶瓷片711和导热板713,陶瓷片711安装在电路板5底部的支撑架上,陶瓷片711和导热板713之间设置有若干个导热铜片712;
其中,当上述将热量传递到导热板713上后,温度通过导热铜片712再次传递到陶瓷片711上,其中导热铜片712呈图7字母“S”形状的设计能够增加与空气接触面积,进而加热保护箱1内的空气,通过对保护箱1内部空气与陶瓷片711双层加热,让电路板5在合适的温度下运行进而确保检测数值的准确性。
控温机构72包括陶瓷壳721,陶瓷壳721的内部设置有两个双金属片722,两个双金属片722的相对面均设置有接触片723,两个双金属片722的一端均固定在陶瓷壳721的内壁一侧,且两个双金属片722的另一端分别与导线742电性连接。
值得说明的是,当电流长时间通过消弧机构74后,消弧机构74的温度也将逐步升高,消弧机构74上的温度也将通过导线742传递到双金属片722上,而双金属片722受热后因为两种金属的受热温度不同,使得双金属片722产生变形,变形后的双金属片722将两个接触的接触片723断开,从而防止消弧机构74持续升温损坏电路板5上的电路元件。
实施例四:如图13-图17所示的电夹组件4包括与控制面板2电性连接的导电线42,导电线42的外表面包裹有橡胶套41,橡胶套41的一端设置有夹持握柄43,夹持握柄43的内部开设有安装槽48,安装槽48的内部转动安装有夹杆44,夹杆44的两侧均设置有扭矩弹簧46,夹持握柄43的一端开设有凹槽47。
值得说明的是,在使用时捏住夹杆44在安装槽48的内部转动,安装槽48带动扭矩弹簧46转动,而设置的夹杆44的内壁设置有防滑凹槽。
夹持握柄43的内壁设置有安装盒49,安装盒49的内部滑动安装有弹片45,弹片45的一侧设置有隔板415,隔板415的一侧且位于安装盒49的内部设置有弹簧414;
弹片45的内壁设置有若干个呈等间距分布的摩擦片411,弹片45的外表面设置有弹簧片412和支撑弹片413,弹片45通过弹簧片412和支撑弹片413与夹持握柄43固定连接,弹片45的一端开设有卡槽40,且卡槽40与凹槽47位置相对应。
其中,当上述的夹杆44打开后,使用者将夹持握柄43放到电缆上,因电缆的表面呈弧形所以当弹片45接触到电缆的表面时将产生变形,弹片45的变形将带动隔板415挤压弹簧414收缩,弹片45产生形状能够更加贴合在电缆的表面,而且设置的摩擦片411能够防止弹片45滑落,并且设置的弹簧片412能够为弹片45提供弹性,在夹持电缆时捏住夹杆44的一端则位于凹槽47和卡槽40的内部,能够使得夹持握柄43固定在电缆的表面;
而且弹片45呈图13-图17的形状设计能够让弹片45适应不同直径的电缆来提供不同的夹持力度,弹片45的变形能够使其更好地贴合在电缆的表面,提高了夹持的稳定性和准确性,摩擦片411的存在能够防止弹片45在操作过程中滑落,提高了操作的安全性。
最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种直流电阻测试仪,包括保护箱(1),所述保护箱(1)的内部设置有控制面板(2),其特征在于:所述控制面板(2)的内部镶嵌有显示组件(3),所述控制面板(2)的上表面电性连接有可调控加持力的电夹组件(4),所述保护箱(1)的内腔中部设置有电路板(5),且电路板(5)通过支撑架固定在保护箱(1)的内壁,所述电路板(5)的底部设置有为电路板(5)升温保持电子元件灵敏度的电弧消除机构(7),所述保护箱(1)的内壁设置有保持保护箱(1)内部温度的保温层(6),所述保护箱(1)的内壁设置有电源(8),所述电源(8)通过电线与电路板(5)电性连接;
电弧消除机构(7),包括设置在电路板(5)底部用于传导热量的导温机构(71),所述导温机构(71)的底部设置有消除电弧并产生热量的消弧机构(74),所述导温机构(71)的底部设置有用于支撑消弧机构(74)并辅助消弧机构(74)消除电弧的支撑机构(73),所述消弧机构(74)的一端设置有控制消弧机构(74)温度的控温机构(72);
所述导温机构(71)包括陶瓷片(711)和导热板(713),所述陶瓷片(711)安装在电路板(5)底部的支撑架上,所述陶瓷片(711)和导热板(713)之间设置有若干个导热铜片(712);
所述支撑机构(73)包括安装在导热板(713)底部的安装箱(731),所述安装箱(731)的内部设置有若干个呈矩形阵列分布的半弧片(732),所述半弧片(732)的内壁与外表面均设置有若干个凸片(733);
所述消弧机构(74)包括导线(742),所述导线(742)的外表面设置有若干个呈等间距分布的半球片(743),所述半球片(743)的外表面设置有环片(744),若干个所述半球片(743)的外表面上部共同设置有铜线板(741),所述铜线板(741)与导热板(713)底部相接触,所述导线(742)设置在若干个半弧片(732)的上部;
所述半弧片(732)呈半球弧形结构,且半弧片(732)设置在两个半球片(743)之间。
2.根据权利要求1所述的一种直流电阻测试仪,其特征在于:所述显示组件(3)包括安装框(33),所述安装框(33)的内部设置有加热带(32),所述安装框(33)的内壁镶嵌有液晶屏(31),所述安装框(33)的内部设置有加热带(32),所述安装框(33)的一侧设置有温控器(34),所述温控器(34)与加热带(32)电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种直流电阻测试仪,其特征在于:所述控温机构(72)包括陶瓷壳(721),所述陶瓷壳(721)的内部设置有两个双金属片(722),两个所述双金属片(722)的相对面均设置有接触片(723),两个所述双金属片(722)的一端均固定在陶瓷壳(721)的内壁一侧,且两个双金属片(722)的另一端分别与导线(742)电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种直流电阻测试仪,其特征在于:所述电夹组件(4)包括与控制面板(2)电性连接的导电线(42),所述导电线(42)的外表面包裹有橡胶套(41),所述橡胶套(41)的一端设置有夹持握柄(43),所述夹持握柄(43)的内部开设有安装槽(48),所述安装槽(48)的内部转动安装有夹杆(44),所述夹杆(44)的两侧均设置有扭矩弹簧(46),所述夹持握柄(43)的一端开设有凹槽(47);
所述夹持握柄(43)的内壁设置有安装盒(49),所述安装盒(49)的内部滑动安装有弹片(45),所述弹片(45)的一侧设置有隔板(415),所述隔板(415)的一侧且位于安装盒(49)的内部设置有弹簧(414);
所述弹片(45)的内壁设置有若干个呈等间距分布的摩擦片(411),所述弹片(45)的外表面设置有弹簧片(412)和支撑弹片(413),所述弹片(45)通过弹簧片(412)和支撑弹片(413)与夹持握柄(43)固定连接,所述弹片(45)的一端开设有卡槽(40),且卡槽(40)与凹槽(47)位置相对应。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311656987.8A CN117347681B (zh) | 2023-12-06 | 2023-12-06 | 一种直流电阻测试仪 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311656987.8A CN117347681B (zh) | 2023-12-06 | 2023-12-06 | 一种直流电阻测试仪 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN117347681A CN117347681A (zh) | 2024-01-05 |
CN117347681B true CN117347681B (zh) | 2024-02-13 |
Family
ID=89358017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311656987.8A Active CN117347681B (zh) | 2023-12-06 | 2023-12-06 | 一种直流电阻测试仪 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN117347681B (zh) |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN2462340Y (zh) * | 2000-12-21 | 2001-11-28 | 郑光文 | 加热液体的节能装置 |
JP2005216807A (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-11 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | 回路遮断器 |
DE102011089234A1 (de) * | 2010-12-21 | 2012-06-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Lichtbogen-Löschvorrichtung und Schutzschaltgerät |
CN104269323A (zh) * | 2014-08-13 | 2015-01-07 | 东莞市凯恩电子科技有限公司 | 可控制多负载电路的断电复位温控开关 |
CN105388351A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-03-09 | 中国电力科学研究院 | 一种用于高海拔地区的高压直流线路电晕电流测量*** |
CN206865145U (zh) * | 2017-04-20 | 2018-01-09 | 河北新民电气科技有限公司 | 全补偿式有载调匝式消弧线圈装置 |
CN206906483U (zh) * | 2017-07-17 | 2018-01-19 | 武汉亿天科技有限公司 | 一种直流电阻快速测试仪 |
CN109116121A (zh) * | 2018-07-27 | 2019-01-01 | 中国科学院寒区旱区环境与工程研究所 | 一种适用于低温环境的高精度电阻测量仪 |
CN208752137U (zh) * | 2018-08-24 | 2019-04-16 | 武汉国电华星电气有限公司 | 一种变压器直流电阻测试仪 |
CN214210919U (zh) * | 2020-12-14 | 2021-09-17 | 空联净化技术(上海)有限公司 | 空气净化器应用的板式静电除尘设备拉弧衰减装置 |
WO2022072572A1 (en) * | 2020-10-01 | 2022-04-07 | S&C Electric Company | Voltage readings using high voltage resistor across vacuum interrupter |
CN217007475U (zh) * | 2021-12-14 | 2022-07-19 | 淮安苏达电气有限公司 | 大功率回路电阻测试仪 |
-
2023
- 2023-12-06 CN CN202311656987.8A patent/CN117347681B/zh active Active
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN2462340Y (zh) * | 2000-12-21 | 2001-11-28 | 郑光文 | 加热液体的节能装置 |
JP2005216807A (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-11 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | 回路遮断器 |
DE102011089234A1 (de) * | 2010-12-21 | 2012-06-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Lichtbogen-Löschvorrichtung und Schutzschaltgerät |
CN104269323A (zh) * | 2014-08-13 | 2015-01-07 | 东莞市凯恩电子科技有限公司 | 可控制多负载电路的断电复位温控开关 |
CN105388351A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-03-09 | 中国电力科学研究院 | 一种用于高海拔地区的高压直流线路电晕电流测量*** |
CN206865145U (zh) * | 2017-04-20 | 2018-01-09 | 河北新民电气科技有限公司 | 全补偿式有载调匝式消弧线圈装置 |
CN206906483U (zh) * | 2017-07-17 | 2018-01-19 | 武汉亿天科技有限公司 | 一种直流电阻快速测试仪 |
CN109116121A (zh) * | 2018-07-27 | 2019-01-01 | 中国科学院寒区旱区环境与工程研究所 | 一种适用于低温环境的高精度电阻测量仪 |
CN208752137U (zh) * | 2018-08-24 | 2019-04-16 | 武汉国电华星电气有限公司 | 一种变压器直流电阻测试仪 |
WO2022072572A1 (en) * | 2020-10-01 | 2022-04-07 | S&C Electric Company | Voltage readings using high voltage resistor across vacuum interrupter |
CN214210919U (zh) * | 2020-12-14 | 2021-09-17 | 空联净化技术(上海)有限公司 | 空气净化器应用的板式静电除尘设备拉弧衰减装置 |
CN217007475U (zh) * | 2021-12-14 | 2022-07-19 | 淮安苏达电气有限公司 | 大功率回路电阻测试仪 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Underexpanded Supersonic Plasma Jet Generated by a Small Arc-Heated Facility;Heji Huang;IEEE Transactions on Plasma Science;20111130;第39卷(第11期);2882-2883 * |
电线电缆导体直流电阻检测过程中的问题与处理对策;曹卫卫;机械工程与自动化(第1期);第150-151页 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN117347681A (zh) | 2024-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107396463B (zh) | 一种电发热组件、防覆盖发热模块及地暖*** | |
CN117347681B (zh) | 一种直流电阻测试仪 | |
CN212658771U (zh) | 老化测试设备及其加热组件 | |
CN112701540B (zh) | 一种高温保护自动断电插座 | |
CN109618423A (zh) | 便携式试验仪器自动加热装置 | |
CN214011841U (zh) | 一种防水效果好的电子元件用电子主板 | |
CN210953143U (zh) | 一种用于框架断路器的母排取温装置 | |
CN210129966U (zh) | 厚膜加热器 | |
CN220400709U (zh) | 加热采集装置、电池模组及用电设备 | |
CN213482420U (zh) | 一种应急电源测试架 | |
CN221337228U (zh) | 一种具有自我保护的焊接用加热台 | |
CN211856850U (zh) | 一种无线电力节能监控器 | |
CN216670181U (zh) | 一种用于集成电路保护装置 | |
CN218820549U (zh) | 测温组件和烹饪设备 | |
CN218101932U (zh) | 一种带温控保护的充电桩接线端子 | |
CN216057517U (zh) | 一种油路管道防堵塞电加热装置 | |
CN212570850U (zh) | 一种加湿器过热保护装置 | |
CN218040037U (zh) | 一种带断电保护功能的插座测试仪 | |
CN116092873A (zh) | 一种电器防干烧的温敏开关 | |
CN215577983U (zh) | 一种便于安装的空凋启动用小型ptc热敏电阻器 | |
CN210951739U (zh) | 一种具有传感器故障保护功能的风冷热泵控制器 | |
CN214381562U (zh) | 一种高强度pcb基板 | |
CN216287809U (zh) | 一种阻燃性好的叠层式压敏电阻 | |
CN217157152U (zh) | 一种温控器 | |
CN218629890U (zh) | 一种便于安装的半导体测试固定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |