CN117073604B - 涂布测厚方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本说明书实施例提供涂布测厚方法、装置、设备及存储介质，其中涂布测厚方法包括：涂布测厚方法，其特征在于，包括：响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度，通过自动化的数据采集、材料称重和厚度计算，避免了人工进行操作，由此提高了测量效率，提高了安全性。
Description
技术领域
本说明书实施例涉及测量技术领域，特别涉及涂布测厚方法。
背景技术
在涂布生产中，需要使用到β射线测厚仪检测涂布的面密度。而测厚仪标定时，需要人工将被标定材料放到测厚仪传感器之间，再采集检测数值，输入实际面密度到软件中。在这过程中，操作人员距离β放射源距离较近，不可避免会遭受少量辐射，损害健康。因此，采用一种无需人工接触的标定方法十分必要。
现有常规手动标定方法，需要人工拿材料放到传感器之间，因此会导致操作人员接受到射线照射。由此，亟需一种更好的方案。
发明内容
有鉴于此，本说明书实施例提供了涂布测厚方法。本说明书一个或者多个实施例同时涉及涂布测厚装置，一种计算设备，一种计算机可读存储介质以及一种计算机程序，以解决现有技术中存在的技术缺陷。
根据本说明书实施例的第一方面，提供了一种涂布测厚方法，包括：
响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；
在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；
对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；
确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；
基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度。
在一种可能的实现方式中，在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据，包括：
在识别到目标材料存在涂层的情况下，确定设备的泵速数据；
根据泵速数据获取至少一个初始采样数据。
在一种可能的实现方式中，根据泵速数据获取至少一个初始采样数据，包括：
在设定时间段内泵速数据变化的情况下，获取当前泵速数据对应的至少两个当前初始采样数据；
基于至少两个当前初始采样数据，得到至少一个初始采样数据。
在一种可能的实现方式中，对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据，包括：
获取至少一个初始采样数据中的各初始采样数据，确定各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据；
对各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据进行平均数计算，得到至少一个目标采样数据。
在一种可能的实现方式中，确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据，包括：
确定预设长度，基于预设长度和至少一个目标采样数据，对目标材料进行取样得到至少一个部分材料；
对至少一个部分材料进行称重，得到至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据。
在一种可能的实现方式中，基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度，包括：
根据预设计算规则确定衰减系数计算规则，根据称重数据、至少一个目标采样数据通过衰减系数计算规则确定衰减系数；
基于衰减系数和至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度。
在一种可能的实现方式中，基于衰减系数和至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度，包括：
根据至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度采样值；
基于厚度采样值和衰减系数确定目标衰减系数；
根据至少一个目标采样数据和目标衰减系数确定目标材料的厚度。
根据本说明书实施例的第二方面，提供了一种涂布测厚装置，包括：
设备监测模块，被配置为响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；
数据采集模块，被配置为在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；
数据处理模块，被配置为对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；
材料称重模块，被配置为确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；
厚度计算模块，被配置为基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度。
根据本说明书实施例的第三方面，提供了一种计算设备，包括：
存储器和处理器；
所述存储器用于存储计算机可执行指令，所述处理器用于执行所述计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现上述涂布测厚方法的步骤。
根据本说明书实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其存储有计算机可执行指令，该指令被处理器执行时实现上述涂布测厚方法的步骤。
根据本说明书实施例的第五方面，提供了一种计算机程序，其中，当所述计算机程序在计算机中执行时，令计算机执行上述涂布测厚方法的步骤。
本说明书实施例提供涂布测厚方法、装置、设备及存储介质，其中涂布测厚方法包括：涂布测厚方法，其特征在于，包括：响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度，通过自动化的数据采集、材料称重和厚度计算，避免了人工进行操作，由此提高了测量效率，提高了安全性。
附图说明
图1是本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚方法的场景示意图；
图2是本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚方法的流程图；
图3是本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚方法的***架构图；
图4是本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚方法的设备示意图；
图5是本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚装置的结构示意图；
图6是本说明书一个实施例提供的一种计算设备的结构框图。
具体实施方式
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本说明书。但是本说明书能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本说明书内涵的情况下做类似推广，因此本说明书不受下面公开的具体实施的限制。
在本说明书一个或多个实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本说明书一个或多个实施例。在本说明书一个或多个实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本说明书一个或多个实施例中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解，尽管在本说明书一个或多个实施例中可能采用术语第一、第二等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本说明书一个或多个实施例范围的情况下，第一也可以被称为第二，类似地，第二也可以被称为第一。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
在本说明书中，提供了涂布测厚方法，本说明书同时涉及涂布测厚装置，一种计算设备，以及一种计算机可读存储介质，在下面的实施例中逐一进行详细说明。
参见图1，图1示出了根据本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚方法的场景示意图。
在图1的应用场景中，计算设备101可以响应于设备启动指令102，对目标材料进行监测103；在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据104；对至少一个初始采样数据104进行预处理，得到至少一个目标采样数据105；确定至少一个目标采样数据105对应的部分材料的称重数据106，计算设备101可以基于称重数据106、至少一个目标采样数据105和预设计算规则确定目标材料的厚度，如附图标记107所示。
需要说明的是，上述计算设备101可以是硬件，也可以是软件。当计算设备101为硬件时，可以实现成多个服务器或终端设备组成的分布式集群，也可以实现成单个服务器或单个终端设备。当计算设备101体现为软件时，可以安装在上述所列举的硬件设备中。其可以实现成例如用来提供分布式服务的多个软件或软件模块，也可以实现成单个软件或软件模块。在此不做具体限定。
参见图2，图2示出了根据本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚方法的流程图，具体包括以下步骤。
步骤201：响应于设备启动指令，对目标材料进行监测。
在实际应用中，参见图3，本说明书实施例可以采用测厚装置，其中，测厚装置包含计算机、控制器、射线传感器和附加的光纤传感器、电子称。电子称数据通过串行端口将称重数据发送给计算机。控制器根据光纤传感器的通断信号采集数据，并将采集到的每一组数据，以数据包的形式发送给计算机。
步骤202：在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据。
在一种可能的实现方式中，在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据，包括：在识别到目标材料存在涂层的情况下，确定设备的泵速数据；根据泵速数据获取至少一个初始采样数据。
具体的，先启动测厚软件自动标定模块，弹出标定界面，让涂布机按照制定的泵速，在基材上涂上间断的涂层，参见图4，可以在目标材料上存在泵速1涂层、泵速2涂层、泵速3涂层、泵速4涂层和泵速5涂层。
在一种可能的实现方式中，根据泵速数据获取至少一个初始采样数据，包括：在设定时间段内泵速数据变化的情况下，获取当前泵速数据对应的至少两个当前初始采样数据；基于至少两个当前初始采样数据，得到至少一个初始采样数据。
具体的，光纤传感器检测到有涂层，即开始记录采样数据，存在泵速1涂层、泵速2涂层、泵速3涂层、泵速4涂层和泵速5涂层的情况下，最终行成5个泵速的采集数据数组，参见表1。
表1
步骤203：对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据。
在一种可能的实现方式中，对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据，包括：获取至少一个初始采样数据中的各初始采样数据，确定各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据；对各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据进行平均数计算，得到至少一个目标采样数据。
在实际应用中，将每个泵速下采集数据数组取得平均值，记录到***数据库中。
例如，将上述泵速1涂层、泵速2涂层、泵速3涂层、泵速4涂层和泵速5涂层的数据求平均值，并存储至数据库中。
步骤204：确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据。其中，部分材料为目标材料的一部分。
在一种可能的实现方式中，确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据，包括：确定预设长度，基于预设长度和至少一个目标采样数据，对目标材料进行取样得到至少一个部分材料；对至少一个部分材料进行称重，得到至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据。
在实际应用中，依据设定长度计算材料通过取样辊时（由光纤传感器信号延时取得），触发取样器切片取样。操作人员将取样切片按照泵速顺序，依次放到电子称上，每放入一片后，电子称通过串口自动发到测厚软件上。采样数据对照表存储到数据库中。参见表2。
表2
步骤205：基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度。
在一种可能的实现方式中，基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度，包括：根据预设计算规则确定衰减系数计算规则，根据称重数据、至少一个目标采样数据通过衰减系数计算规则确定衰减系数；基于衰减系数和至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度。
在实际应用中，可以利用公式计算衰减系数，如下所述。
Un= 1/|ln(In/I0) ×dn|
其中，Un为在泵速n时的衰减系数，In为泵速n时的信号采样值，I0为空载时对空气的信号采样值，dn为泵速n下的实际面密度。
在一种可能的实现方式中，基于衰减系数和至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度，包括：根据至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度采样值；基于厚度采样值和衰减系数确定目标衰减系数；根据至少一个目标采样数据和目标衰减系数确定目标材料的厚度。
在实际应用中，在测量实际材料厚度时，可以基于以下步骤进行计算。
（1）读取实际材料厚度采样值Ix；
（2）依据厚度采样值Ix查标定数据表，计算n的值，使其满足：标定采样值In≤实时采样值Ix＜标定采样值In+1；其中，n为上述表2中确定的泵速标号；
（3）依据n值，查表计算衰减系数Ux。其公式如下所述；
Ux= (采样值-标定采样值n)/( 标定采样值n+1-标定采样值n) *(Un+1-Un) + Un
（4）计算实际材料厚度值dx。
具体的，可以使用以下公式计算材料实际厚度。
dx= 1/|ln(Ix/I0) *Ux|
其中，Ux为在采样值Ix时的衰减系数，Ix为面密度dx时的信号采样值，I0为空载时的采样值，dx为测量出的材料面密度。
本说明书实施例提供涂布测厚方法、装置、设备及存储介质，其中涂布测厚方法包括：涂布测厚方法，其特征在于，包括：响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度，通过自动化的数据采集、材料称重和厚度计算，避免了人工进行操作，由此提高了测量效率，提高了安全性。
与上述方法实施例相对应，本说明书还提供了涂布测厚装置实施例，图5示出了本说明书一个实施例提供的一种涂布测厚装置的结构示意图。如图5所示，该装置包括：
设备监测模块501，被配置为响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；
数据采集模块502，被配置为在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；
数据处理模块503，被配置为对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；
材料称重模块504，被配置为确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；
厚度计算模块505，被配置为基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度。
在一种可能的实现方式中，数据采集模块502，还被配置为：
在识别到目标材料存在涂层的情况下，确定设备的泵速数据；
根据泵速数据获取至少一个初始采样数据。
在一种可能的实现方式中，数据采集模块502，还被配置为：
在设定时间段内泵速数据变化的情况下，获取当前泵速数据对应的至少两个当前初始采样数据；
基于至少两个当前初始采样数据，得到至少一个初始采样数据。
在一种可能的实现方式中，数据处理模块503，还被配置为：
获取至少一个初始采样数据中的各初始采样数据，确定各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据；
对各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据进行平均数计算，得到至少一个目标采样数据。
在一种可能的实现方式中，材料称重模块504，还被配置为：
确定预设长度，基于预设长度和至少一个目标采样数据，对目标材料进行取样得到至少一个部分材料；
对至少一个部分材料进行称重，得到至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据。
在一种可能的实现方式中，厚度计算模块505，还被配置为：
根据预设计算规则确定衰减系数计算规则，根据称重数据、至少一个目标采样数据通过衰减系数计算规则确定衰减系数；
基于衰减系数和至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度。
在一种可能的实现方式中，厚度计算模块505，还被配置为：
根据至少一个目标采样数据确定目标材料的厚度采样值；
基于厚度采样值和衰减系数确定目标衰减系数；
根据至少一个目标采样数据和目标衰减系数确定目标材料的厚度。
本说明书实施例提供涂布测厚方法、装置、设备及存储介质，其中涂布测厚装置包括：涂布测厚方法，其特征在于，包括：响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；在识别到目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；对至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，部分材料为目标材料的一部分；基于称重数据、至少一个目标采样数据和预设计算规则确定目标材料的厚度，通过自动化的数据采集、材料称重和厚度计算，避免了人工进行操作，由此提高了测量效率，提高了安全性。
上述为本实施例的一种涂布测厚装置的示意性方案。需要说明的是，该涂布测厚装置的技术方案与上述的涂布测厚方法的技术方案属于同一构思，涂布测厚装置的技术方案未详细描述的细节内容，均可以参见上述涂布测厚方法的技术方案的描述。
图6示出了根据本说明书一个实施例提供的一种计算设备600的结构框图。该计算设备600的部件包括但不限于存储器610和处理器620。处理器620与存储器610通过总线630相连接，数据库650用于保存数据。
计算设备600还包括接入设备640，接入设备640使得计算设备600能够经由一个或多个网络660通信。这些网络的示例包括公用交换电话网（PSTN，Public SwitchedTelephone Network）、局域网（LAN，Local Area Network）、广域网（WAN，Wide AreaNetwork）、个域网（PAN，Personal Area Network）或诸如因特网的通信网络的组合。接入设备640可以包括有线或无线的任何类型的网络接口（例如，网络接口卡（NIC，networkinterface controller））中的一个或多个，诸如IEEE802.11无线局域网（WLAN，WirelessLocal Area Network）无线接口、全球微波互联接入（Wi-MAX，WorldwideInteroperability for Microwave Access）接口、以太网接口、通用串行总线（USB，Universal Serial Bus）接口、蜂窝网络接口、蓝牙接口、近场通信（NFC，Near FieldCommunication）。
在本说明书的一个实施例中，计算设备600的上述部件以及图6中未示出的其他部件也可以彼此相连接，例如通过总线。应当理解，图6所示的计算设备结构框图仅仅是出于示例的目的，而不是对本说明书范围的限制。本领域技术人员可以根据需要，增添或替换其他部件。
计算设备600可以是任何类型的静止或移动计算设备，包括移动计算机或移动计算设备（例如，平板计算机、个人数字助理、膝上型计算机、笔记本计算机、上网本等）、移动电话（例如，智能手机）、可佩戴的计算设备（例如，智能手表、智能眼镜等）或其他类型的移动设备，或者诸如台式计算机或个人计算机（PC，Personal Computer）的静止计算设备。计算设备600还可以是移动式或静止式的服务器。
其中，处理器620用于执行如下计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现上述涂布测厚方法的步骤。上述为本实施例的一种计算设备的示意性方案。需要说明的是，该计算设备的技术方案与上述的涂布测厚方法的技术方案属于同一构思，计算设备的技术方案未详细描述的细节内容，均可以参见上述涂布测厚方法的技术方案的描述。
本说明书一实施例还提供一种计算机可读存储介质，其存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现上述涂布测厚方法的步骤。
上述为本实施例的一种计算机可读存储介质的示意性方案。需要说明的是，该存储介质的技术方案与上述的涂布测厚方法的技术方案属于同一构思，存储介质的技术方案未详细描述的细节内容，均可以参见上述涂布测厚方法的技术方案的描述。
本说明书一实施例还提供一种计算机程序，其中，当所述计算机程序在计算机中执行时，令计算机执行上述涂布测厚方法的步骤。
上述为本实施例的一种计算机程序的示意性方案。需要说明的是，该计算机程序的技术方案与上述的涂布测厚方法的技术方案属于同一构思，计算机程序的技术方案未详细描述的细节内容，均可以参见上述涂布测厚方法的技术方案的描述。
上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
所述计算机指令包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本说明书实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本说明书实施例，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本说明书实施例所必须的。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
以上公开的本说明书优选实施例只是用于帮助阐述本说明书。可选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书实施例的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本说明书实施例的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本说明书。
Claims (8)
1.一种涂布测厚方法，其特征在于，包括：
响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；
在识别到所述目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；
对所述至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；
确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，所述部分材料为所述目标材料的一部分；
基于所述称重数据、所述至少一个目标采样数据和预设计算规则确定所述目标材料的厚度；
所述基于所述称重数据、所述至少一个目标采样数据和预设计算规则确定所述目标材料的厚度，包括：
根据所述预设计算规则确定衰减系数计算规则，根据所述称重数据、所述至少一个目标采样数据通过衰减系数计算规则确定衰减系数；
基于所述衰减系数和所述至少一个目标采样数据确定所述目标材料的厚度；
所述基于所述衰减系数和所述至少一个目标采样数据确定所述目标材料的厚度，包括：
根据所述至少一个目标采样数据确定所述目标材料的厚度采样值；
基于所述厚度采样值和所述衰减系数确定目标衰减系数；
根据所述至少一个目标采样数据和所述目标衰减系数确定所述目标材料的厚度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在识别到所述目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据，包括：
在识别到所述目标材料存在涂层的情况下，确定设备的泵速数据；
根据所述泵速数据获取至少一个初始采样数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述泵速数据获取至少一个初始采样数据，包括：
在设定时间段内所述泵速数据变化的情况下，获取当前泵速数据对应的至少两个当前初始采样数据；
基于所述至少两个当前初始采样数据，得到至少一个初始采样数据。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据，包括：
获取所述至少一个初始采样数据中的各初始采样数据，确定所述各初始采样数据对应的至少两个当前初始采样数据；
对各初始采样数据对应的所述至少两个当前初始采样数据进行平均数计算，得到至少一个目标采样数据。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据，包括：
确定预设长度，基于所述预设长度和所述至少一个目标采样数据，对所述目标材料进行取样得到至少一个部分材料；
对所述至少一个部分材料进行称重，得到至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据。
6.一种涂布测厚装置，其特征在于，包括：
设备监测模块，被配置为响应于设备启动指令，对目标材料进行监测；
数据采集模块，被配置为在识别到所述目标材料存在涂层的情况下，获取至少一个初始采样数据；
数据处理模块，被配置为对所述至少一个初始采样数据进行预处理，得到至少一个目标采样数据；
材料称重模块，被配置为确定至少一个目标采样数据对应的部分材料的称重数据；其中，所述部分材料为所述目标材料的一部分；
厚度计算模块，被配置为基于所述称重数据、所述至少一个目标采样数据和预设计算规则确定所述目标材料的厚度；
所述基于所述称重数据、所述至少一个目标采样数据和预设计算规则确定所述目标材料的厚度，包括：
根据所述预设计算规则确定衰减系数计算规则，根据所述称重数据、所述至少一个目标采样数据通过衰减系数计算规则确定衰减系数；
基于所述衰减系数和所述至少一个目标采样数据确定所述目标材料的厚度；
所述基于所述衰减系数和所述至少一个目标采样数据确定所述目标材料的厚度，包括：
根据所述至少一个目标采样数据确定所述目标材料的厚度采样值；
基于所述厚度采样值和所述衰减系数确定目标衰减系数；
根据所述至少一个目标采样数据和所述目标衰减系数确定所述目标材料的厚度。
7.一种计算设备，其特征在于，包括：
存储器和处理器；
所述存储器用于存储计算机可执行指令，所述处理器用于执行所述计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现权利要求1至5任意一项所述涂布测厚方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现权利要求1至5任意一项所述涂布测厚方法的步骤。
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