CN116881063A - 一种电子产品的存储单元的测试***及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种电子产品的存储单元的测试***及测试方法，包括：至少一个集成子板，用以通讯连接于不同的待测电子产品；以及服务端，用以通讯连接于所述集成子板，以向所述待测电子产品供电，并根据所述待测电子产品的类型，搭建对应的测试环境；其中，所述服务端还用以根据所述测试环境，以选择对应的***镜像文件进行烧录，生成测试文件，并将所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中进行测试，以生成测试结果。通过本发明提供的一种电子产品的存储单元的测试***及测试方法，能够提升测试效率。

Description

一种电子产品的存储单元的测试***及测试方法

技术领域

本发明涉及存储领域，特别涉及一种电子产品的存储单元的测试***及测试方法。

背景技术

内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，eMMC）与通用闪存存储（UniversalFlash Storage，UFS）在电视机、机顶盒、平板电脑、手机等电子产品中被广泛应用。eMMC是由ARM CPU作为控制器再加上闪存块（NAND Flash）构成，其中ARM CPU会运行控制器软件，通常称为固件(Firmware)。

由于不同的电子产品对应的处理器的类型不同，导致需要适配不同的内嵌式存储器或通用闪存存储。目前的测试***在对电子产品进行兼容性测试时，测试效率较为低下。因此，存在待改进之处。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子产品的存储单元的测试***及测试方法，以提升测试效率。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明提供了一种电子产品的存储单元的测试***，包括：

至少一个集成子板，用以通讯连接于不同的待测电子产品；以及

服务端，用以通讯连接于所述集成子板，以向所述待测电子产品供电，并根据所述待测电子产品的类型，搭建对应的测试环境；

其中，所述服务端还用以根据所述测试环境，以选择对应的***镜像文件进行烧录，生成测试文件，并将所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中进行测试，以生成测试结果。

在本发明一实施例中，所述服务端用以根据所述待测电子产品的类型，选择对应的配置测试的兼容性测试类型，并搭建对应的所述测试环境。

在本发明一实施例中，所述服务端还用以通过所述集成子板与不同的所述待测电子产品通讯连接，并将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中。

在本发明一实施例中，所述服务端还用以根据所述待测电子产品的类型及测试项目，同时对所述待测电子产品进行测试。

在本发明一实施例中，所述服务端还用以将所述测试结果保存于数据库中，并进行显示。

本发明还提供了一种电子产品的存储单元的测试方法，包括：

根据待测电子产品的类型，服务端搭建对应的测试环境；

所述服务端对所述待测电子产品进行供电，并根据所述测试环境，以选择对应的***镜像文件进行烧录，生成测试文件；

所述服务端将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中；

所述待测电子产品根据对应的所述测试文件进行测试，以生成对应的测试结果。

在本发明一实施例中，所述根据待测电子产品的类型，服务端搭建对应的测试环境的步骤包括：

根据待测电子产品的类型，服务端选择对应的配置测试的兼容性测试类型；

将所述待测电子产品通讯连接到所述服务端中，以搭建对应的测试环境。

在本发明一实施例中，所述服务端将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中的步骤包括：

响应于所述服务端的通讯指令，判断所述待测电子产品与所述服务端是否通讯连接；

当所述待测电子产品与所述服务端通讯连接时，所述服务端将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中；

当所述待测电子产品与所述服务端未通讯连接时，所述服务端重复发出通讯指令，直至连接次数达到预设次数后，所述待测电子产品与所述服务端依旧未通讯连接时，所述服务端发出连接失败警告。

在本发明一实施例中，所述待测电子产品根据对应的所述测试文件进行测试，以生成对应的测试结果的步骤包括：

所述服务端根据所述待测电子产品的类型及测试项目，向所述待测电子产品发送对应的测试指令；

响应于所述测试指令，所述待测电子产品根据所述测试文件进行测试，并实时生成对应的测试结果。

在本发明一实施例中，所述服务端判断测试流程是否顺利结束；

当所述测试流程顺利结束时，将测试结果保存于所述服务端的数据库中；

当所述测试流程出现问题时，停止测试，所述服务端发出预警通知；

对所述预警通知进行分析，生成测试失败记录，并将所述测试失败记录保存于所述服务端的数据库中。

如上所述，本发明提供的电子产品的存储单元的测试***及测试方法，能够同时对不同类型的电子产品进行兼容性测试，能够有效提升测试效率。同时，在测试过程中，能够实时对测试进度进行显示，进而能够便于对测试结果进行分析。

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例中电子产品的存储单元的测试***的示意图；

图2为本发明一实施例中集成子板的示意图；

图3为本发明一实施例中用户界面的示意图；

图4为本发明一实施例中电子产品的存储单元的测试方法的流程图；

图5为图4中步骤S10的流程图；

图6为图4中步骤S30的流程图；

图7为图4中步骤S40的流程图；

图8为图7中步骤S42的流程图。

图中：10、待测电子产品；20、集成子板；21、集成电路板；22、中央处理器；23、内存；24、通讯接口；25、继电器；26、控制开关；30、服务端；40、用户界面。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明提供了一种电子产品的存储单元的测试***，其可用于对不同的电子产品进行测试。例如可以对手机（Phone）、电视（TV）、机顶盒(OTT）、平板电脑(PAD）等进行测试。在对电子产品进行测试时，其测试项目可以包括存储测试与内存测试。存储测试可以是对电子产品中的内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，EMMC）、通用闪存存储（Universal Flash Storage，UFS）等闪存存储器进行测试。内存测试可以是对电子产品中的双倍速率同步动态随机存储器（Double Data Rate SDRAM，DDR SDRAM）、低功耗双数据速率同步动态随机存储器（Low Power Double Data Rate SDRAM，LPDDR SDRAM）等随机存取存储器进行测试。其中，测试***可以包括集成子板20与服务端30。

在本发明的一个实施例中，待测电子产品10可以为需要进行测试的电子产品。待测电子产品10的类型可能为多种，同一类型的待测电子产品10的数量也可能为多个。由于不同类型的待测电子产品10需要连接到不同的集成子板20中。因此，集成子板20的数量可以为至少一个。单个集成子板20上可以连接多个同一类型的待测电子产品10。例如，当需要通过测试***同时对8个手机、6个电视、4个机顶盒、10个平板电脑进行测试时，集成子板20的数量可以设置为4个。手机可以连接在第一块集成子板20上。电视可以连接在第二块集成子板20上。机顶盒可以连接在第三块集成子板20上。平板电脑可以连接在第四块集成子板20上。通过不同的集成子板20连接不同类型的待测电子产品10，能够方便后续完成测试。

请参阅图2，在本发明的一个实施例中，集成子板20可以包括集成电路板21、中央处理器（CPU）22、内存（DRAM）23、通讯接口24、继电器25、控制开关26等。其中，集成子板20可以通过某一通讯接口24与待测电子产品10通讯连接。集成子板20可以通过另一通讯接口24与服务端30通讯连接。服务端30可以为服务器、主机等，服务端30内可以配置有数据库。中央处理器22可以实现实时有效的信息中转站功能，即对上行通过通讯接口24接受服务端30发送过来的指令，对下行把接受的指令解码后分发给对应的待测电子产品10。通讯接口24可以包括但不限于通用串行总线接口（Universal Serial Bus，USB）、通用异步收发接口（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART）等。集成子板20与待测电子产品10之间还可连接有继电器25，集成电路板21上的中央处理器22可以通过控制控制开关26的闭合和断开，以控制待测电子产品10的供电。具体的，集成子板20可以用于响应于服务端30的测试指令，以控制控制开关26的闭合和断开，进而控制待测电子产品10的供电，以实现待测电子产品10的掉电需求的测试。当需要对不同的待测电子产品10进行测试时，可以将不同的待测电子产品10通讯连接到对应的集成子板20上，将所有的集成子板20通讯连接到服务端30上。此时服务端30可以通过控制集成子板20中控制开关26的闭合和断开，以控制待测电子产品10的供电。

请参阅图3，在本发明的一个实施例中，服务端30可以根据待测电子产品10的类型，搭建对应的测试环境。进一步的，服务端30可以根据待测电子产品的类型，以选择对应的配置测试的兼容性测试类型。同时，将待测电子产品10通过对应的集成子板20通讯连接到服务端30中，以搭建对应的测试环境。具体的，服务端30上可以配置有用户界面40(UserInterface，UI)，可以通过用户界面40，选择相应配置测试的兼容性测试类型。例如，当需要对部分待测电子产品10进行存储测试时，可以在用户界面40上选择存储相关的测试类型（eMMC/UFS等）。当需要对另一部分待测电子产品10进行内存测试时，可以在用户界面40上选择内存相关的测试类型（DDR/LPDDR等）。当在用户界面40配置完兼容性测试类型后，可将待测电子产品10通过某一通讯接口24通讯连接到集成子板20中，集成子板20可通过另一通讯接口24通讯连接到服务端30中。此时服务端30可以与不同的待测电子产品10通讯连接，进而搭建对应的测试环境。其中，用户界面40上可以显示不同的待测电子产品10的测试进度及测试状态。例如，DUT-UI-1可以表示为第一个集成子板20上编号为1的待测电子产品10。

在本发明的一个实施例中，服务端30用以根据测试环境，选择对应的***镜像文件进行烧录，以生成测试文件。具体的，当测试环境搭建完成后，服务端30可以根据上述的兼容性测试类型，在集成子板20中选择对应的***镜像文件（SOC Image）进行烧录，以生成测试文件。其中，测试文件可以包括内存测试文件与存储测试文件。内存测试文件可以用于对需要进行内存测试的待测电子产品10进行测试。存储测试文件可以用于对需要进行存储测试的待测电子产品10进行测试。

在本发明的一个实施例中，当生成测试文件后，服务端30需要判断待测电子产品10与服务端30之间是否通讯连接。具体的，当生成测试文件后，服务端30可以发出通讯指令。不同的集成子板20接收到该通讯指令后，需要判断待测电子产品10与服务端30之间是否顺利通讯连接。当待测电子产品10与服务端30通讯连接时，服务端30可以通过控制不同的集成子板20将测试文件发送到对应的待测电子产品10中完成测试。当某一待测电子产品10与服务端30连接失败时，服务端30可以重复向对应的集成子板20发出通讯指令，并控制集成子板20重新与连接失败的待测电子产品10进行连接。当集成子板20与连接失败的待测电子产品10进行重新连接的连接次数达到预设次数后，待测电子产品10与服务端30依旧连接失败时，服务端30可以发出连接失败警告。其中，预设次数可以根据实际需求进行设定，例如可以为3次、4次、5次等。当服务端30发出连接失败警告后，可以在服务端30的用户界面40上显示连接失败的待测电子产品10的具体信息，以便后续对其线路等进行检查修复。

在本发明的一个实施例中，当待测电子产品10与服务端30通讯连接后，服务端30可以控制集成子板20将测试文件发送到对应的待测电子产品10中进行测试，以生成测试结果。具体的，服务端30可以根据待测电子产品10的类型及测试项目，向待测电子产品10发送对应的测试指令。待测电子产品10可以响应于测试指令，根据测试文件进行测试，并实时生成对应的测试结果。其中，不同待测电子产品10的类型和测试项目可以是不同的。例如，对于手机而言，其仅需要进行存储测试。对于电视而言，其仅需要进行内存测试。对于平板电脑而言，其需要同时进行存储测试与内存测试。因此，可以按照待测电子产品10的类型和测试项目，对不同的待测电子产品10进行测试优先顺序排列，以提升测试效率。在本实施例中，可以先对需要进行内存测试的待测电子产品10进行测试，再对需要进行存储测试的待测电子产品10进行测试。在测试过程中，待测电子产品10可以实时反馈测试结果。测试结果可以通过集成子板20实时传输到服务端30中，并在服务端30的用户界面40上实时显示，以实时对待测电子产品10的测试进度及测试状态进行监控。

在本发明的一个实施例中，在待测电子产品10的测试过程中，由于待测电子产品10中的内嵌式存储器和/或通用闪存存储可能都会出现问题，导致对应的测试流程出现问题。因此，服务端30可以实时对所有的待测电子产品10进行监控，以判断待测电子产品10的测试流程是否顺利结束。当测试流程顺利结束时，可以将测试结果通过集成子板20传输到服务端30，并保存服务端30的数据库中。当某一个待测电子产品10的测试流程出现问题时，该待测电子产品10可以停止测试，此时服务端30可以并发出对应的预警通知，以在用户界面40上显示出现问题的待测电子产品10的具体信息。同时，可以对该预警通知进行分析，以生成测试失败记录，并将测试失败记录保存于服务端30的数据库中。其中，测试结果与测试失败记录都可保存于服务端30的数据库中，以便后续能够进行追溯与统计分析等。

请参阅图4，本发明还提供了一种电子产品的存储单元的测试方法，该测试方法可以应用于上述测试***中，以对不同的电子产品进行测试。该测试方法与上述实施例中测试***一一对应，测试方法可以包括如下步骤：

步骤S10、根据待测电子产品的类型，服务端搭建对应的测试环境；

步骤S20、服务端对待测电子产品进行供电，并根据测试环境，以选择对应的***镜像文件进行烧录，生成测试文件；

步骤S30、服务端将不同的测试文件发送到对应的待测电子产品；

步骤S40、待测电子产品根据对应的测试文件进行测试，以生成对应的测试结果。

请参阅图5，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S10时，具体的，步骤S10可包括如下步骤：

步骤S11、根据待测电子产品的类型，选择对应的配置测试的兼容性测试类型；

步骤S12、将待测电子产品通讯连接到服务端中，以搭建对应的测试环境。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S11与步骤S12时，具体的，服务端30上可以配置有用户界面40(User Interface，UI)，可以通过用户界面40，选择相应配置测试的兼容性测试类型。例如，当需要对部分待测电子产品10进行存储测试时，可以在用户界面40上选择存储相关的测试类型（eMMC/UFS等）。当需要对另一部分待测电子产品10进行内存测试时，可以在用户界面40上选择内存相关的测试类型（DDR/LPDDR等）。当在用户界面40选择兼容性测试类型后，可将待测电子产品10通过某一通讯接口24通讯连接到集成子板20中，集成子板20可通过另一通讯接口24通讯连接到服务端30中。此时服务端30可以与不同的待测电子产品10通讯连接，进而搭建对应的测试环境。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S20时，具体的，当测试环境搭建完成后，服务端30可以根据上述的兼容性测试类型，在集成子板20中选择对应的***镜像文件（SOCImage）进行烧录，以生成测试文件。其中，测试文件可以包括内存测试文件与存储测试文件。内存测试文件可以用于对需要进行内存测试的待测电子产品10进行测试。存储测试文件可以用于对需要进行存储测试的待测电子产品10进行测试。

请参阅图6，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S30时，具体的，步骤S30可包括如下步骤：

步骤S31、响应于服务端的通讯指令，判断服务端与待测电子产品是否通讯连接；

步骤S32、当待测电子产品与服务端通讯连接时，服务端将不同的测试文件发送到对应的待测电子产品；

步骤S33、当待测电子产品与服务端未通讯连接时，服务端重复向待测电子产品发出通讯指令，直至连接次数达到预设次数后，待测电子产品与服务端依旧未通讯连接时，服务端发出连接失败警告。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S31、步骤S32及步骤S33时，具体的，当生成测试文件后，服务端30可以发出通讯指令。不同的集成子板20接收到该通讯指令后，需要判断待测电子产品10与服务端30之间是否顺利通讯连接。当待测电子产品10与服务端30通讯连接时，服务端30可以通过控制不同的集成子板20将测试文件发送到对应的待测电子产品10中完成测试。当某一待测电子产品10与服务端30未通讯连接时，服务端30可以重复向对应的集成子板20发出通讯指令，并控制集成子板20重新与连接失败的待测电子产品10进行连接。当集成子板20与连接失败的待测电子产品10进行重新连接的连接次数达到预设次数后，待测电子产品10与服务端30依旧连接失败时，服务端30可以发出连接失败警告。

请参阅图7，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S40时，具体的，步骤S40可包括如下步骤：

步骤S41、服务端根据待测电子产品的类型及测试项目，向待测电子产品发送对应的测试指令；

步骤S42、响应于测试指令，待测电子产品根据测试文件进行测试，并实时生成对应的测试结果。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S41时，具体的，不同待测电子产品10的类型和测试项目可以是不同的。例如，对于手机而言，其仅需要进行存储测试。对于电视而言，其仅需要进行内存测试。对于平板电脑而言，其需要同时进行存储测试与内存测试。因此，可以按照待测电子产品10的类型和测试项目，对不同的待测电子产品10进行测试优先顺序排列，以提升测试效率。

请参阅图8，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S42时，具体的，步骤S42可包括如下步骤：

步骤S421、响应于测试指令，待测电子产品根据测试文件进行测试，服务端判断测试流程是否顺利结束；

步骤S422、当测试流程顺利结束时，将测试结果保存于服务端的数据库中；

步骤S423、当测试流程出现问题时，停止测试，服务端发出预警通知；

步骤S424、对预警通知进行分析，生成测试失败记录，并将测试失败记录保存于服务端的数据库中。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S421、步骤S422、步骤S423及步骤S424时，具体的，由于待测电子产品10中的内嵌式存储器和/或通用闪存存储可能会出现问题，导致对应的测试流程出现问题。因此，服务端30可以实时对所有的待测电子产品10进行监控，以判断待测电子产品10的测试流程是否顺利结束。当测试流程顺利结束时，可以将测试结果通过集成子板20传输到服务端30，并保存服务端30的数据库中。当某一个待测电子产品10的测试流程出现问题时，该待测电子产品10可以停止测试，此时服务端30可以并发出对应的预警通知，以在用户界面40上显示出现问题的待测电子产品10的具体信息。同时，可以对该预警通知进行分析，以生成测试失败记录，并将测试失败记录保存于服务端30的数据库中。其中，测试结果与测试失败记录都可保存于服务端30的数据库中，以便后续能够进行追溯与统计分析等。

可见，在上述方案中，能够同时对不同类型的电子产品进行兼容性测试，能够有效提升测试效率。同时，在测试过程中，能够实时对测试进度进行显示，进而能够便于对测试结果进行分析。

以上公开的本发明实施例只是用于帮助阐述本发明。实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种电子产品的存储单元的测试***，其特征在于，包括：

至少一个集成子板，用以通讯连接于不同的待测电子产品；以及

服务端，用以通讯连接于所述集成子板，以向所述待测电子产品供电，并根据所述待测电子产品的类型，搭建对应的测试环境；

其中，所述服务端还用以根据所述测试环境，以选择对应的***镜像文件进行烧录，生成测试文件，并将所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中进行测试，以生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的电子产品的存储单元的测试***，其特征在于，所述服务端用以根据所述待测电子产品的类型，选择对应的配置测试的兼容性测试类型，并搭建对应的所述测试环境。

3.根据权利要求1所述的电子产品的存储单元的测试***，其特征在于，所述服务端还用以通过所述集成子板与不同的所述待测电子产品通讯连接，并将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中。

4.根据权利要求1所述的电子产品的存储单元的测试***，其特征在于，所述服务端还用以根据所述待测电子产品的类型及测试项目，同时对所述待测电子产品进行测试。

5.根据权利要求1所述的电子产品的存储单元的测试***，其特征在于，所述服务端还用以将所述测试结果保存于数据库中，并进行显示。

6.一种电子产品的存储单元的测试方法，其特征在于，包括：

根据待测电子产品的类型，服务端搭建对应的测试环境；

所述服务端对所述待测电子产品进行供电，并根据所述测试环境，以选择对应的***镜像文件进行烧录，生成测试文件；

所述服务端将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中；

所述待测电子产品根据对应的所述测试文件进行测试，以生成对应的测试结果。

7.根据权利要求6所述的电子产品的存储单元的测试方法，其特征在于，所述根据待测电子产品的类型，服务端搭建对应的测试环境的步骤包括：

根据待测电子产品的类型，服务端选择对应的配置测试的兼容性测试类型；

将所述待测电子产品通讯连接到所述服务端中，以搭建对应的测试环境。

8.根据权利要求6所述的电子产品的存储单元的测试方法，其特征在于，所述服务端将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中的步骤包括：

响应于所述服务端的通讯指令，判断所述待测电子产品与所述服务端是否通讯连接；

当所述待测电子产品与所述服务端通讯连接时，所述服务端将不同的所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中；

当所述待测电子产品与所述服务端未通讯连接时，所述服务端重复发出通讯指令，直至连接次数达到预设次数后，所述待测电子产品与所述服务端依旧未通讯连接时，所述服务端发出连接失败警告。

9.根据权利要求6所述的电子产品的存储单元的测试方法，其特征在于，所述待测电子产品根据对应的所述测试文件进行测试，以生成对应的测试结果的步骤包括：

所述服务端根据所述待测电子产品的类型及测试项目，向所述待测电子产品发送对应的测试指令；

响应于所述测试指令，所述待测电子产品根据所述测试文件进行测试，并实时生成对应的测试结果。

10.根据权利要求9所述的电子产品的存储单元的测试方法，其特征在于，所述响应于所述测试指令，所述待测电子产品根据所述测试文件进行测试，并实时生成对应的测试结果的步骤包括：

响应于所述测试指令，所述待测电子产品根据所述测试文件进行测试，所述服务端判断测试流程是否顺利结束；

当所述测试流程顺利结束时，将测试结果保存于所述服务端的数据库中；

当所述测试流程出现问题时，停止测试，所述服务端发出预警通知；

对所述预警通知进行分析，生成测试失败记录，并将所述测试失败记录保存于所述服务端的数据库中。