CN116429375B - 一种光电轴指向一致性标校方法 - Google Patents

一种光电轴指向一致性标校方法 Download PDF

Info

Publication number
CN116429375B
CN116429375B CN202310323967.2A CN202310323967A CN116429375B CN 116429375 B CN116429375 B CN 116429375B CN 202310323967 A CN202310323967 A CN 202310323967A CN 116429375 B CN116429375 B CN 116429375B
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical
antenna
axis
microwave antenna
theodolite
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310323967.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116429375A (zh
Inventor
何运成
李鲲
付强
田金超
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhiyi Hangyu Beijing Technology Co ltd
Original Assignee
Zhiyi Hangyu Beijing Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhiyi Hangyu Beijing Technology Co ltd filed Critical Zhiyi Hangyu Beijing Technology Co ltd
Priority to CN202310323967.2A priority Critical patent/CN116429375B/zh
Publication of CN116429375A publication Critical patent/CN116429375A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116429375B publication Critical patent/CN116429375B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00—Measuring angles
    • G01C1/02—Theodolites

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)

Abstract

本发明适用于光学望远镜光轴和微波天线电轴的平行度校准，具体涉及一种光电轴指向一致性标校方法。本发明的方法包括：使用光学经纬仪（4）自准直功能，将光学望远镜光轴标定在一立方棱镜上；在微波天线远场测试中通过光电轴校准仪，将微波天线电轴标定在一立方棱镜上；用两部光学经纬仪（4）分别垂直标定两个立方棱镜，整体或单独调节光学望远镜角度，使微波天线立方棱镜顶面和光学望远镜立方棱镜顶面均平行于地面，此时微波天线电轴和光学望远镜光轴均与地面垂直，即完成光电轴指向一致性标校。本发明的装置结构简单、标校结果精度高、工程实现造价低，具有产业化推广价值。

Description

一种光电轴指向一致性标校方法
技术领域
本发明涉及测量测试技术领域，具体涉及一种光电轴指向一致性标校方法。
背景技术
在空间探测与遥感领域，一般包含有微波、毫米波、红外、激光等多种传感器，能够完成对云雨粒子、大气成分、宇宙背景辐射等目标的遥感照射、目标定位和识别等。为拓展多尺度目标和微物理参数的探测能力，遥感探测越来越向多体制融合、多频段/波段融合方向发展，出现了主被动复合探测、微波和激光复合探测等多种应用解决方案。由于是集多种微波或光学仪器于一体，必然产生诸多***间的电轴、光轴指向一致性问题。
采样体的时空一致性是目标信息准确获取的前提，光电轴指向一致性对高精度探测及多元数据融合起着至关重要的作用。目前常用的指向一致性测试方法多在光学领域，出现了包括投影靶法、小口径光管法和大口径平行光管法等多种方法。微波电轴指向标定多是机械结构设计保证。微波电轴和光学望远镜(2)光轴指向一致性标定，因发展较晚，尚属空白。随着微波和激光复合遥感手段的日益发展，急需一种适用性强、操作简单，不依赖人眼主观判断的校准方法。
发明内容
本发明针对上述技术问题和应用需求，提出了一种分别用立方棱镜(3)标定微波天线(1)电轴和光学望远镜(2)光轴，再用光学经纬仪(4)标定两立方棱镜(3)的光电轴指向一致性标校方法，结构简捷、标校结果精度高、工程实现造价低，具有产业化推广价值。
本发明涉及光学和电磁学检验检测领域，具体实现方法和步骤如下：
1)使用光学经纬仪(4)自准直功能，将光学望远镜(2)光轴标定在一立方棱镜(3)上；
光学望远镜(2)为被动式，其光轴不可视，须将望远镜光轴标定在一可视的物体上，将光学望远镜(2)和光学经纬仪(4)横置在水平的光学平台上，调节二者的相对位置，利用经纬仪发出的平行光，调节找到光学望远镜(2)的光轴指向。在光学望远镜(2)上粘贴一立方棱镜(3)，调节立方棱镜(3)的位置和角度，使立方棱镜(3)反射光线与经纬仪光线重合，此时立方棱镜(3)的表面法线方向即代表了光学望远镜(2)的光轴指向；
2)在微波天线(1)远场测试中，通过光电轴校准仪，将微波天线(1)电轴标定在一立方棱镜(3)上；
远场测试是根据天线用作发射时的参数与用作接收时的参数保持不变的互易性原理，直接测量天线远场数据的一种方法，通过将一个已知特性的发射天线(5)设置在远处向微波天线(1)照射，当收发天线之间的距离满足远场条件L>>2D2/λ，其中，L为收发天线之间距离，D为天线口径，λ为工作波长，微波天线(1)接收的是平面波的照射；
将信号源(52)的频率设置为微波天线(1)工作的中心频率，调节发射天线(5)、微波天线(1)的方位俯仰使接收信号最大，此时收发天线电轴正对，此角度记为方向图0°；测试转台(11)旋转步进设置为1°，旋转微波天线(1)，测试转台(11)每步进1°***自动采集数据，通过测试软件(12)绘制不同方位接收信号强度，得到天线方向图，方向图峰值对应微波天线(1)最大辐射方向与发射天线(5)最大辐射方向的对准方位，记录此时测试转台(11)角度，即为微波天线(1)电轴方位；
微波天线(1)电轴不可视，应将电轴标定在一立方棱镜(3)上，具体步骤如下：
2-1)在实验室中，将CCD相机(15)与立方棱镜(3)固定在一个二维调整架上，并使CCD相机(15)中心视线与立方棱镜(3)的表面法线方向平行；
2-2)以天线几何中心为基准，将固定有CCD相机(15)与立方棱镜(3)二维调整架固定在天线边缘，并使相机中心视线与天线法线方向基本平行；
2-3)以T字形结构件为基准固定发射天线(5)与光轴靶标(53)，组成光电轴校准仪，光电轴校准仪的光轴靶标(53)高度H2'应等于摄像头中心视线和天线几何中心的高度H2；
2-4)将发射天线(5)架设在发射架(54)上，将微波天线(1)架设在测试转台(11)上，发射天线(5)架设高度H1'大于微波天线(1)的架设高度H1，微波天线(1)电轴指向上倾；收发天线之间的距离满足远场条件L>>2D2/λ，微波天线(1)的架设高度大于20λ-25λ；
2-5)调整天线***平台方位和俯仰角度，使转台平台与水平面基本平行，调整光电轴校准仪的安装基准，使得安装基准与水平面平行；
2-6)调整微波天线(1)与测试转台(11)的安装孔位，使CCD相机(15)与天线几何中心的连线与水平面垂直；
2-7)用发射天线(5)发送连续波信号，通过调整测试转台(11)方位和俯仰角度，使微波天线(1)指向为接收信号最大方向；
2-8)调整CCD相机(15)的二维调整架，使得光电轴校准仪的光轴靶标(53)位于摄像头的图像中心，此时可认为微波天线(1)电轴、CCD相机(15)的光轴和立方棱镜(3)表面法线方向平行；
2-9)锁定二维调整架，拆掉CCD相机(15)，即完成用立方棱镜(3)标定微波天线(1)电轴方向；
3)用两部互相瞄准过的经纬仪分别观测两立方棱镜(3)，整体调节光学望远镜(2)角度，直至光学望远镜上的立方棱镜(3)反射光线与经纬仪光线重合，实现光学望远镜(2)光轴和微波天线(1)电轴指向一致性标校；
具体步骤如下：
3-1)架设两台光学经纬仪(4)与微波天线(1)立方棱镜(3)同高，调整水平调节螺母，使经纬仪水平；
3-2)设立方棱镜(3)共顶角的三个面分别为X面、Y面和Z面；
3-3)调整经纬仪1使其俯仰角为0，用经纬仪1发出的平行光照射在微波天线(1)立方棱镜(3)X面上，整体调节微波天线(1)和光学天线所在平台，使立方棱镜(3)反射光线与经纬仪光线重合，此时立方棱镜(3)的X面与地面垂直；
3-4)调整经纬仪2使其俯仰角为0，且出光方向与经纬仪1大概垂直，发出的平行光照射在微波天线(1)立方棱镜(3)Y面上，整体调节微波天线(1)和光学天线所在平台和经纬仪2的方位角，使立方棱镜(3)的Y面和X面同时与地面垂直；
3-5)立方棱镜(3)共顶角的三个面X、Y、Z相互垂直，标定X面和Y面均垂直于地面，则Z面与地面平行；
3-6)重复3-3)、3-4)步骤，单独调节光学望远镜(2)角度，使光学望远镜(2)立方棱镜(3)Z面与地面平行；
3-7)锁定光学望远镜(2)调整机构，此时光学望远镜(2)光轴与微波天线(1)电轴均与地面垂直，即完成光电轴指向一致性标校。
所述步骤1)中使用光学经纬仪(4)的自准直功能：光学经纬仪(4)配合立方棱镜(3)使用，找到垂直入射位置的这个过程就是自准直过程，最终表现为瞄准立方镜镜面后，在无限远的焦距下仍然能看见反射回来的激光灯。经纬仪上有一个激光灯，照在镜子上呈现黄色十字，根据光的反射定律，只有当激光灯垂直入射于镜面，经纬仪才能在镜面上看到黄色十字的激光灯，并且在焦距无限远的视角下仍然能找到反射回来的激光灯。
本发明的装置结构简单、测量结构精度高。本发明将不可见的微波天线(1)电轴和光学望远镜(2)光轴标定在立方棱镜(3)上，便捷直观。本发明光学望远镜(2)光轴标定在望远镜装调过程中完成，微波天线(1)标定在天线远场测试中完成，实现了工装工序的极简化。本发明在标定结束后只留两个立方棱镜(3)及配套结构件在设备上，工程造价低，具有应用推广价值。
附图说明
图1为一种光电轴指向一致性标校方法实施例1光电轴指向一致性标定方法原理框图；
图2为一种光电轴指向一致性标校方法实施例2光学望远镜光轴标校示意图；
图3为一种光电轴指向一致性标校方法实施例3微波天线远场测试示意图；
图4为一种光电轴指向一致性标校方法实施例3微波天线远场测试方向图；
图5为一种光电轴指向一致性标校方法实施例4微波天线电轴标定示意图；
图6为一种光电轴指向一致性标校方法实施例5立方棱镜共顶角的三个面示意图。
附图标记:
1、微波天线；11、测试转台；12、测试软件；13、低噪声放大器；14、频谱分析仪；15、CCD相机；2、光学望远镜；3、立方棱镜；31、立方棱镜1；32、立方棱镜2；4、光学经纬仪；41：光学经纬仪1；42：光学经纬仪2；43：光学经纬仪1’；44：光学经纬仪2’；5、发射天线；51、功率放大器；52、信号源；53、光轴靶标；54、发射架。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例1
如图1所示，一种光电轴指向一致性标校方法，具体方法包括：使用光学经纬仪(4)自准直功能，将光学望远镜(2)光轴标定在一立方棱镜(3)上；在微波天线(1)远场测试中通过特制工装(光电轴校准仪)，将微波天线(1)电轴标定在一立方棱镜(3)上；用两部光学经纬仪(4)分别垂直标定两立方棱镜(3)，整体或单独调节光学望远镜(2)角度，使微波天线(1)立方棱镜(3)顶面和光学望远镜(2)立方棱镜(3)顶面均平行于地面，此时微波天线(1)电轴和光学望远镜(2)光轴均与地面垂直，即完成光电轴指向一致性标校。
实施例2
如图2所示，光学望远镜(2)光轴标校方法为：将光学望远镜(2)和光学经纬仪(4)横置在水平的光学平台上，调节二者的相对位置，利用经纬仪发出的平行光，调节找到光学望远镜(2)的光轴指向。在光学望远镜(2)上粘贴一立方棱镜(3)，调节立方棱镜(3)的位置和角度，使立方棱镜(3)反射光线与经纬仪光线重合，此时立方棱镜(3)的表面法线方向即代表了光学望远镜(2)的光轴指向。
实施例3
如图3所示，微波天线(1)远场测试方法为：将一个已知特性的发射天线(5)设置在远处向微波天线(1)照射，当收发天线之间的距离满足远场条件L>>2D2/λ，其中，L为收发天线之间距离，D为天线口径，λ为工作波长，微波天线(1)接收的是平面波的照射。将信号源(52)的频率设置为微波天线(1)工作的中心频率，调节发射天线(5)、微波天线(1)的方位俯仰使接收信号最大，此时收发天线电轴正对，此角度记为方向图0°；测试转台(11)旋转步进设置为1°，旋转微波天线(1)，测试转台(11)每步进1°***自动采集数据，通过测试软件(12)绘制不同方位接收信号强度，得到天线方向图。方向图峰值对应微波天线(1)最大辐射方向与发射天线(5)最大辐射方向的对准方位，记录此时测试转台(11)角度，即为微波天线(1)电轴方位。
实施例4
如图5所示，微波天线(1)电轴标定方法如下：2-1)在实验室中，将CCD相机(15)与立方棱镜(3)固定在一个二维调整架上，并使CCD相机(15)中心视线与立方棱镜(3)的表面法线方向平行；2-2)以天线几何中心为基准，将固定有CCD相机(15)与立方棱镜(3)二维调整架固定在天线边缘，并使相机中心视线与天线法线方向基本平行；2-3)以T字形结构件为基准固定发射天线(5)与光轴靶标(53)，组成光电轴校准仪。光电轴校准仪的光轴靶标(53)高度H2'应等于摄像头中心视线和天线几何中心的高度H2；2-4)按图5所示，将发射天线(5)架设在发射架(54)上，将微波天线(1)架设在测试转台(11)上。发射天线(5)的架设高度H1'大于微波天线(1)的架设高度H1，微波天线(1)电轴指向上倾；收发天线之间的距离满足远场条件L>>2D2/λ，微波天线(1)的架设高度大于20λ-25λ；2-5)调整天线***平台方位和俯仰角度，使转台平台与水平面基本平行。调整光电轴校准仪的安装基准，使得安装基准与水平面平行；2-6)调整微波天线(1)与测试转台(11)的安装孔位，使CCD相机(15)与天线几何中心的连线与水平面垂直；2-7)用发射天线(5)发送连续波信号，通过调整测试转台(11)方位和俯仰角度，使微波天线(1)指向为接收信号最大方向；2-8)调整CCD相机(15)的二维调整架，使得光电轴校准仪的光轴靶标(53)位于摄像头的图像中心，此时可认为微波天线(1)电轴、CCD相机(15)的光轴和立方棱镜(3)表面法线方向平行；2-9)锁定二维调整架，拆掉CCD相机(15)，即完成用立方棱镜(3)标定微波天线(1)电轴方向。
实施例5
微波天线(1)电轴和光学望远镜(2)光轴一致性标定具体方法如下：3-1)架设两台光学经纬仪(4)与微波天线(1)立方棱镜(3)同高，调整水平调节螺母，使经纬仪水平；3-2)设立方棱镜(3)共顶角的三个面分别为X面、Y面和Z面；3-3)调整经纬仪1使其俯仰角为0，用经纬仪1发出的平行光照射在微波天线(1)立方棱镜(3)X面上，整体调节微波天线(1)和光学天线所在平台，使立方棱镜(3)反射光线与经纬仪光线重合，此时立方棱镜(3)的X面与地面垂直；3-4)调整经纬仪2使其俯仰角为0，且出光方向与经纬仪1大概垂直，发出的平行光照射在微波天线(1)立方棱镜(3)Y面上，整体调节微波天线(1)和光学天线所在平台和经纬仪2的方位角，使立方棱镜(3)的Y面和X面同时与地面垂直；3-5)立方棱镜(3)共顶角的三个面X、Y、Z相互垂直，标定X面和Y面均垂直于地面，则Z面与地面平行；3-6)重复3-3)、3-4)步骤，单独调节光学望远镜(2)角度，使光学望远镜(2)立方棱镜(3)Z面与地面平行；3-7)锁定光学望远镜(2)调整机构，此时光学望远镜(2)光轴与微波天线(1)电轴均与地面垂直，即完成光电轴指向一致性标校。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种光电轴指向一致性标校方法，其特征在于所述方法包括：
1）使用光学经纬仪（4）自准直功能，将光学望远镜（2）光轴标定在一立方棱镜（3）上；
光学望远镜（2）为被动式，其光轴不可视，须将望远镜光轴标定在一可视的物体上，将光学望远镜（2）和光学经纬仪（4）横置在水平的光学平台上，调节二者的相对位置，利用经纬仪发出的平行光，调节找到光学望远镜（2）的光轴指向，在光学望远镜（2）上粘贴一立方棱镜（3），调节立方棱镜（3）的位置和角度，使立方棱镜（3）反射光线与经纬仪光线重合，此时立方棱镜（3）的表面法线方向即代表了光学望远镜（2）的光轴指向；
在微波天线（1）远场测试中，通过光电轴校准仪，将微波天线（1）电轴标定在一立方棱镜（3）上；
远场测试是根据天线用作发射时的参数与用作接收时的参数保持不变的互易性原理，直接测量天线远场数据的一种方法，通过将一个已知特性的发射天线（5）设置在远处向微波天线（1）照射，当收发天线之间的距离满足远场条件L>>2D2/λ，其中，L为收发天线之间距离，D为天线口径，λ为工作波长，微波天线（1）接收的是平面波的照射；
将信号源（52）的频率设置为微波天线（1）工作的中心频率，调节发射天线（5）、微波天线（1）的方位俯仰使接收信号最大，此时收发天线电轴正对，此角度记为方向图0°；测试转台（11）旋转步进设置为1°，旋转微波天线（1），测试转台（11）每步进1°***自动采集数据，通过测试软件（12）绘制不同方位接收信号强度，得到天线方向图，方向图峰值对应微波天线（1）最大辐射方向与发射天线（5）最大辐射方向的对准方位，记录此时测试转台（11）角度，即为微波天线（1）电轴方位；
微波天线（1）电轴不可视，应将电轴标定在一立方棱镜（3）上，
具体步骤如下：
2-1）在实验室中，将CCD相机（15）与立方棱镜（3）固定在一个二维调整架上，并使CCD相机（15）中心视线与立方棱镜（3）的表面法线方向平行；
2-2）以天线几何中心为基准，将固定有CCD相机（15）与立方棱镜（3）二维调整架固定在天线边缘，并使相机中心视线与天线法线方向平行；
2-3）以T字形结构件为基准固定发射天线（5）与光轴靶标（53），组成光电轴校准仪，光电轴校准仪的光轴靶标（53）高度 H2'应等于摄像头中心视线和天线几何中心的高度 H2；
2-4）将发射天线（5）架设在发射架（54）上，将微波天线（1）架设在测试转台（11）上，发射天线（5）架设高度 H1'大于微波天线（1）的架设高度 H1，微波天线（1）电轴指向上倾；收发天线之间的距离满足远场条件L>>2D2/λ，微波天线（1）的架设高度大于20λ-25λ；
2-5）调整天线***平台方位和俯仰角度，使转台平台与水平面平行，调整光电轴校准仪的安装基准，使得安装基准与水平面平行；
2-6）调整微波天线（1）与测试转台（11）的安装孔位，使CCD相机（15）与天线几何中心的连线与水平面垂直；
2-7）用发射天线（5）发送连续波信号，通过调整测试转台（11）方位和俯仰角度，使微波天线（1）指向为接收信号最大方向；
2-8）调整CCD相机（15）的二维调整架，使得光电轴校准仪的光轴靶标（53）位于摄像头的图像中心，此时可认为微波天线（1）电轴、CCD相机（15）的光轴和立方棱镜（3）表面法线方向平行；
2-9）锁定二维调整架，拆掉CCD相机（15），即完成用立方棱镜（3）标定微波天线（1）电轴方向；
3）用两部互相瞄准过的经纬仪分别观测两立方棱镜（3），整体调节光学望远镜（2）角度，直至光学望远镜上的立方棱镜（3）反射光线与经纬仪光线重合，实现光学望远镜（2）光轴和微波天线（1）电轴指向一致性标校；
具体步骤如下：
3-1）架设两台光学经纬仪（4）与微波天线（1）立方棱镜（3）同高，调整水平调节螺母，使经纬仪水平；
3-2）设立方棱镜（3）共顶角的三个面分别为X面、Y面和Z面；
3-3）调整经纬仪1使其俯仰角为0，用经纬仪1发出的平行光照射在微波天线（1）立方棱镜（3）X面上，整体调节微波天线（1）和光学天线所在平台，使立方棱镜（3）反射光线与经纬仪光线重合，此时立方棱镜（3）的X面与地面垂直；
3-4）调整经纬仪2使其俯仰角为0，且出光方向与经纬仪1垂直，发出的平行光照射在微波天线（1）立方棱镜（3）Y面上，整体调节微波天线（1）和光学天线所在平台和经纬仪2的方位角，使立方棱镜（3）的Y面和X面同时与地面垂直；
3-5）立方棱镜（3）共顶角的三个面X、Y、Z相互垂直，标定X面和Y面均垂直于地面，则Z面与地面平行；
3-6）重复3-3）、3-4）步骤，单独调节光学望远镜（2）角度，使光学望远镜（2）立方棱镜（3）Z面与地面平行；
3-7）锁定光学望远镜（2）调整机构，此时光学望远镜（2）光轴与微波天线（1）电轴均与地面垂直，即完成光电轴指向一致性标校。
2.根据权利要求1所述的一种光电轴指向一致性标校方法，其特征在于：所述步骤1）中使用光学经纬仪（4）的自准直功能；
光学经纬仪（4）配合立方棱镜（3）使用，找到垂直入射位置的这个过程就是自准直过程，最终表现为瞄准立方镜镜面后，在无限远的焦距下仍然能看见反射回来的激光灯，经纬仪上有一个激光灯，照在镜子上呈现黄色十字，根据光的反射定律，只有当激光灯垂直入射于镜面，经纬仪才能在镜面上看到黄色十字的激光灯，并且在焦距无限远的视角下仍然能找到反射回来的激光灯。
CN202310323967.2A 2023-03-29 2023-03-29 一种光电轴指向一致性标校方法 Active CN116429375B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310323967.2A CN116429375B (zh) 2023-03-29 2023-03-29 一种光电轴指向一致性标校方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310323967.2A CN116429375B (zh) 2023-03-29 2023-03-29 一种光电轴指向一致性标校方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116429375A CN116429375A (zh) 2023-07-14
CN116429375B true CN116429375B (zh) 2024-03-12

Family

ID=87078996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310323967.2A Active CN116429375B (zh) 2023-03-29 2023-03-29 一种光电轴指向一致性标校方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116429375B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117723849B (zh) * 2024-02-07 2024-04-26 长光卫星技术股份有限公司 一种空间二维高频天线指向精度地面标定方法、设备及介质
CN117824712A (zh) * 2024-03-01 2024-04-05 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种机动平台惯导标定方法

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09214057A (ja) * 1996-02-06 1997-08-15 Matsushita Electron Corp 半導体レーザ装置の光軸ズレ角測定装置の校正方法
CN101651496A (zh) * 2009-09-08 2010-02-17 长春理工大学 大气激光通信***中信标光轴精密定位***
CN202361990U (zh) * 2011-12-12 2012-08-01 北方光电集团有限公司 一种照明指向***及含有该***的电子经纬仪望远镜
CN102878952A (zh) * 2012-09-25 2013-01-16 中国科学院西安光学精密机械研究所 光轴平行性标定***及标定方法
CN103185566A (zh) * 2011-12-30 2013-07-03 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法
CN103345038A (zh) * 2013-06-27 2013-10-09 中国科学院西安光学精密机械研究所 角锥棱镜立式光学定轴***及方法
CN104101786A (zh) * 2014-06-24 2014-10-15 中国电子科技集团公司第十研究所 全空域有源多波束球面相控阵天线方向图测量***
CN105823625A (zh) * 2016-04-27 2016-08-03 北京航天发射技术研究所 自准直测角光管光电轴稳定性的检测方法
CN107677456A (zh) * 2017-10-10 2018-02-09 中国人民解放军63686部队 一种望远镜光轴稳定性检测方法
CN109186944A (zh) * 2018-08-20 2019-01-11 长春理工大学 机载多光轴光学载荷光轴一致性标校方法
CN109633575A (zh) * 2018-10-26 2019-04-16 上海无线电设备研究所 一种星载微波光学复合雷达的三轴标定***及方法
CN111366902A (zh) * 2020-03-10 2020-07-03 上海卫星工程研究所 卫星热变形试验相对指向变化测量***及方法
CN212156432U (zh) * 2020-05-15 2020-12-15 武汉华之洋科技有限公司 一种光电、雷达一体式指向器
CN212275963U (zh) * 2020-04-16 2021-01-01 西安电子工程研究所 一种俯仰可调节雷达光电轴标定靶板
CN112212888A (zh) * 2020-08-28 2021-01-12 北京航天万鸿高科技有限公司 一种基于双轴转台的捷联惯组棱镜校准装置及方法
CN214953808U (zh) * 2021-04-12 2021-11-30 中山香山微波科技有限公司 一种天线远场测试***
WO2022016356A1 (zh) * 2020-07-21 2022-01-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种测绘相机高精度内、外方位元素的标定方法
CN114577448A (zh) * 2022-03-24 2022-06-03 山西支点科技有限公司 一种新型便携式光轴校靶适配装置的双光轴标定方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN204269938U (zh) * 2014-12-05 2015-04-15 光速视觉（北京）科技有限公司 一种电子极轴望远镜

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09214057A (ja) * 1996-02-06 1997-08-15 Matsushita Electron Corp 半導体レーザ装置の光軸ズレ角測定装置の校正方法
CN101651496A (zh) * 2009-09-08 2010-02-17 长春理工大学 大气激光通信***中信标光轴精密定位***
CN202361990U (zh) * 2011-12-12 2012-08-01 北方光电集团有限公司 一种照明指向***及含有该***的电子经纬仪望远镜
CN103185566A (zh) * 2011-12-30 2013-07-03 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法
CN102878952A (zh) * 2012-09-25 2013-01-16 中国科学院西安光学精密机械研究所 光轴平行性标定***及标定方法
CN103345038A (zh) * 2013-06-27 2013-10-09 中国科学院西安光学精密机械研究所 角锥棱镜立式光学定轴***及方法
CN104101786A (zh) * 2014-06-24 2014-10-15 中国电子科技集团公司第十研究所 全空域有源多波束球面相控阵天线方向图测量***
CN105823625A (zh) * 2016-04-27 2016-08-03 北京航天发射技术研究所 自准直测角光管光电轴稳定性的检测方法
CN107677456A (zh) * 2017-10-10 2018-02-09 中国人民解放军63686部队 一种望远镜光轴稳定性检测方法
CN109186944A (zh) * 2018-08-20 2019-01-11 长春理工大学 机载多光轴光学载荷光轴一致性标校方法
CN109633575A (zh) * 2018-10-26 2019-04-16 上海无线电设备研究所 一种星载微波光学复合雷达的三轴标定***及方法
CN111366902A (zh) * 2020-03-10 2020-07-03 上海卫星工程研究所 卫星热变形试验相对指向变化测量***及方法
CN212275963U (zh) * 2020-04-16 2021-01-01 西安电子工程研究所 一种俯仰可调节雷达光电轴标定靶板
CN212156432U (zh) * 2020-05-15 2020-12-15 武汉华之洋科技有限公司 一种光电、雷达一体式指向器
WO2022016356A1 (zh) * 2020-07-21 2022-01-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种测绘相机高精度内、外方位元素的标定方法
CN112212888A (zh) * 2020-08-28 2021-01-12 北京航天万鸿高科技有限公司 一种基于双轴转台的捷联惯组棱镜校准装置及方法
CN214953808U (zh) * 2021-04-12 2021-11-30 中山香山微波科技有限公司 一种天线远场测试***
CN114577448A (zh) * 2022-03-24 2022-06-03 山西支点科技有限公司 一种新型便携式光轴校靶适配装置的双光轴标定方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Li Huifen 等.Shaft Parameters Calibration of a Ship-borne Radar.Telecommunication Engineering.2018,全文. *
刘辉.一种雷达光电轴一致性校准新方法.现代雷达.2013,全文. *
孙昊 ; *** ; 吴旭贤 ; 姜永刚 ; .测量船基于标校经纬仪的雷达光轴动态标定方法研究.科学技术与工程.2011,全文. *
张新 等.空间光学***技术发展探讨.航天返回与遥感.2011,全文. *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116429375A (zh) 2023-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN116429375B (zh) 一种光电轴指向一致性标校方法
CN109374261B (zh) 一种基于靶标切换的多光轴一致性检测设备及方法
CN102353950B (zh) 一种具有光轴校准功能的激光雷达光学***及光轴校准方法
CN104048620B (zh) 一种射电望远镜天线面形绝对定标装置和方法
CN107727008B (zh) 一种测量主动光电***收发同轴的装置及方法
CN110133626B (zh) 一种激光测距***收发光轴平行性检校方法及***
CN110487514A (zh) 一种共孔径多光谱光电探测***的光轴平行性校准***
CN108415148B (zh) 一种光电吊舱多传感器共光路***
CN103675795A (zh) 激光雷达收发光轴自动匹配装置及方法
CN107727368B (zh) 一种标定平行光管焦面位置的装置及方法
CN112284302B (zh) 扫描法测量主动光电***激光收发同轴度的装置及方法
CN110887568B (zh) 一种月球观测***
CN111707449B (zh) 多谱段光轴平行性测试装置及测试方法
CN208833907U (zh) 激光雷达设备误差检测设备
CN107817094B (zh) 一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法
CN107817095B (zh) 一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法
CN109520526B (zh) 一种基于共光路的星模拟器标定与自准直测量***及方法
CN209927419U (zh) 一种大口径离轴反射式多光轴一致性定量测试和校准装置
CN114326011B (zh) 多波段共孔径光电设备光轴相对误差在线标校***和方法
KR20210059314A (ko) 타겟의 초기 위치 감지 기능을 구비한 다변측량 레이저 추적 장치 및 추적 방법
CN111693966B (zh) 一种天文定位的激光雷达的视场匹配装置及方法
CN210322255U (zh) 一种共孔径多光谱光电探测***的光轴平行性校准***
RU2086471C1 (ru) Система посадки самолетов
CN114967022B (zh) 基于双经纬仪的自准直动态靶标光学装校方法
CN109931969A (zh) 一种空间目标三维信息实时探测***

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant