CN116401421A - 芯片测试数据查询方法、***、设备及介质 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 362
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 90
- 238000013101 initial test Methods 0.000 claims abstract description 48
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 88
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 37
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 28
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 20
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 19
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 12
- 240000002044 Rhizophora apiculata Species 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 15
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 10
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 7
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 4
- 101100111477 Arabidopsis thaliana BIN4 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100046636 Arabidopsis thaliana TOP6A gene Proteins 0.000 description 3
- 102100037500 Bridging integrator 3 Human genes 0.000 description 3
- 101100364790 Drosophila melanogaster S6KL gene Proteins 0.000 description 3
- 101000739614 Homo sapiens Bridging integrator 3 Proteins 0.000 description 3
- 101000970561 Homo sapiens Myc box-dependent-interacting protein 1 Proteins 0.000 description 3
- 102100021970 Myc box-dependent-interacting protein 1 Human genes 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 description 1
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003058 natural language processing Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/90—Details of database functions independent of the retrieved data types
- G06F16/903—Querying
- G06F16/90335—Query processing
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/90—Details of database functions independent of the retrieved data types
- G06F16/901—Indexing; Data structures therefor; Storage structures
- G06F16/9027—Trees
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/90—Details of database functions independent of the retrieved data types
- G06F16/903—Querying
- G06F16/9038—Presentation of query results
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
本申请提供了一种芯片测试数据查询方法、***、设备及介质，属于芯片测试技术领域。方法包括：显示芯片数据查询界面；响应于查询信息输入操作，在芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，候选订单是响应于查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；响应于订单确定操作，在芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，目标订单是响应于订单确定操作后，从候选订单中确定得到的；在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。本申请可以直观、高效地查询到所需要的测试数据。
Description
技术领域
本申请涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试数据查询方法、***、设备及介质。
背景技术
在芯片测试的过程中，由于测试的数量较多，会产生大量的测试数据。相关技术中，为了查看芯片测试产生的数据，需要人为查找对应的测试设备或测试人员下的数据，然后再结合订单找到所需要的数据，但是由于测试的芯片较多，测试相关的订单、人员、设备、端***错复杂，因此需要大量的时间对数据进行汇总分析，耗时高，工作人员无法直观、高效地查询到所需要的测试数据。
发明内容
本申请实施例的主要目的在于提出一种芯片测试数据查询方法、***、设备及介质，能够直观、高效地查询到所需要的测试数据。
为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提出了一种芯片测试数据查询方法，所述方法包括：显示芯片数据查询界面；响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，所述候选订单是响应于所述查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；响应于订单确定操作，在所述芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，所述目标订单是响应于所述订单确定操作后，从所述候选订单中确定得到的；在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，其中，所述订单详情是在确定完所述目标订单后生成的，所述订单详情包括所述目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。
在一些实施例中，所述在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，包括：获取所述目标订单在芯片测试过程中相关的目标测试人员，并获取所述目标测试人员下在执行所述目标订单的测试过程中用到的目标测试设备，以及获取所述目标测试设备在执行所述目标订单的测试过程中用到的目标测试端口；在所述芯片数据查询界面上，按照所述目标订单、所述目标测试人员、所述目标测试设备和所述目标测试端口的顺序，依次递归显示对应的目标测试数据。
在一些实施例中，所述目标测试数据包括多个不同的参数数据；所述在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，包括：确定各个所述参数数据的显示优先级信息；按照各个所述显示优先级信息表征的优先级顺序，在所述芯片数据查询界面上依次显示所述参数数据。
在一些实施例中，所述参数数据包括：测试通过详情、物料电阻数据、物料电流数据、物料初始化数据、物料功能数据、物料开机数据和测试板通信状态数据；所述在所述芯片数据查询界面上依次显示所述参数数据，包括：确定各个所述参数数据的优先级，其中，所述参数数据的优先级由大到小的顺序为：所述测试通过详情的优先级、所述物料电阻数据的优先级、所述物料电流数据的优先级、所述物料初始化数据的优先级、所述物料功能数据的优先级、所述物料开机数据的优先级、所述测试板通信状态数据的优先级；在所述芯片数据查询界面上，按照所述参数数据的优先级由大到小的顺序，依次显示所述测试通过详情、所述物料电阻数据、所述物料电流数据、所述物料初始化数据、所述物料功能数据、所述物料开机数据和所述测试板通信状态数据。
在一些实施例中，所述响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，包括：响应于查询信息输入操作，得到输入的查询信息；若所述查询信息为日期区间，根据所述日期区间在所述初始测试数据中进行匹配，得到测试日期在所述日期区间内的候选订单，并在所述芯片数据查询界面上显示所述候选订单；若所述查询信息为订单字段，根据所述订单字段在所述初始测试数据中进行匹配，得到含有相同或相近字段的候选订单，并在所述芯片数据查询界面上显示所述候选订单。
在一些实施例中，所述响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，包括：响应于查询信息输入操作，得到输入的查询信息；将所述查询信息发送给外接的动态库中，以使所述动态库根据所述查询信息查询到匹配的候选订单，其中，所述动态库设置有数据库，所述数据库用于预先存储有芯片测试过程中产生的所述初始测试数据；接收所述动态库发送的所述候选订单，并在所述芯片数据查询界面上显示所述候选订单。
在一些实施例中，所述动态库中所存储的所述初始测试数据以红黑树的形式组织；所述动态库中通过以下步骤查询到匹配的所述候选订单，包括：遍历红黑树结构中的所述初始测试数据，将红黑树的中随机确定的根节点确定为当前节点；比较所述查询信息和所述当前节点对应的数据标识，得到比较结果；若所述比较结果表征所述查询信息和所述当前节点的数据标识一致，将所述当前节点确定为目标节点；从所述目标节点对应的所述初始测试数据中确定所述候选订单。
为实现上述目的，本申请实施例的第二方面提出了一种芯片测试数据查询***，所述***包括：显示模块，用于显示芯片数据查询界面；候选订单生成模块，用于响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，所述候选订单是响应于所述查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；目标订单生成模块，用于响应于订单确定操作，在所述芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，所述目标订单是响应于所述订单确定操作后，从所述候选订单中确定得到的；订单详情生成模块，用于在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，其中，所述订单详情是在确定完所述目标订单后生成的，所述订单详情包括所述目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。
为实现上述目的，本申请实施例的第三方面提出了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面实施例所述的芯片测试数据查询方法。
为实现上述目的，本申请实施例的第四方面提出了一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面实施例所述的芯片测试数据查询方法。
本申请实施例提出的芯片测试数据查询方法、***、设备及介质，通过在芯片测试数据的查询过程中，先显示芯片数据查询界面，用户在看到该界面后，可以在界面上进行查询信息输入操作，随后本申请实施例基于该操作进行处理，从已存储的芯片测试的初始测试数据中匹配得到候选订单，并在芯片数据查询界面上显示候选订单，所显示的候选订单还需要得到用户的确认，用户可以在芯片数据查询界面上进行订单确定操作，从候选订单中确定所需要查询的目标订单，并随后在芯片数据查询界面上显示目标订单，最终在确定得到目标订单后，本申请实施例在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据，从而可以直观、高效地查询到所需要的测试数据。
附图说明
图1是本申请实施例提供的芯片测试数据查询***的结构示意图；
图2是本申请实施例提供的芯片测试数据查询方法的流程示意图；
图3是图2中的步骤S104的流程示意图；
图4是本申请实施例提供的芯片数据查询界面的界面图；
图5是图2中的步骤S104的另一个流程示意图；
图6是图5中的步骤S302的流程示意图；
图7是图2中的步骤S102的流程示意图；
图8是本申请另一个实施例提供的芯片数据查询界面的界面图；
图9是图2中的步骤S102的另一个流程示意图；
图10是本申请实施例提供的动态库中查询到匹配的候选订单的流程示意图；
图11是本申请实施例提供的芯片测试数据查询***的功能模块示意图；
图12是本申请实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。
在芯片测试的过程中，由于测试的数量较多，会产生大量的测试数据。相关技术中，为了查看芯片测试产生的数据，需要人为查找对应的测试设备或测试人员下的数据，然后再结合订单找到所需要的数据，但是由于测试的芯片较多，测试相关的订单、人员、设备、端***错复杂，就算找到所需要的订单数据后，还需要对内容进行整理，因此需要大量的时间对数据进行汇总分析，耗时高，工作人员无法直观、高效地查询到所需要的测试数据。
基于此，本申请实施例提供了一种芯片测试数据查询方法、***、设备及介质，可以直观、高效地查询到所需要的测试数据。
本申请实施例提供的芯片测试数据查询方法、***、设备及介质，具体通过如下实施例进行说明，首先描述本申请实施例中的芯片测试数据查询***。
示例性的，如图1所示，芯片测试数据查询***中，设置中终端设备10，终端设备10设置有显示屏幕，该显示屏幕上可以显示有芯片数据查询界面20，终端设备10还可以设置有在后端运行的动态库30，芯片数据查询界面可以与动态库30通信连接，可以理解的是，动态库30也可以进行可视化显示，在此不做具体限制。
在进行芯片测试数据的查询过程中，本申请实施例可以首先在终端设备上的显示屏幕中显示芯片数据查询界面，用户在看到该界面后，可以在界面上进行查询信息输入操作，随后终端设备基于该操作进行处理，从动态库中已存储的芯片测试的初始测试数据中匹配得到候选订单，并将查询到的候选订单发送给芯片数据查询界面，以便在芯片数据查询界面上显示候选订单。所显示的候选订单还需要得到用户的确认，用户可以在芯片数据查询界面上进行订单确定操作，从候选订单中确定所需要查询的目标订单，并随后在芯片数据查询界面上显示目标订单，最终在确定得到目标订单后，本申请实施例在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。本申请实施例中通过可视化的操作进行芯片测试数据的查询，面对大量的测试数据时，可以直观、高效地查询到所需要的测试数据。
本申请实施例中的芯片测试数据查询方法可以通过如下实施例进行说明。
本申请实施例可以基于人工智能技术对相关的数据进行获取和处理。其中，人工智能(Artificial Intelligence，AI)是利用数字计算机或者数字计算机控制的机器模拟、延伸和扩展人的智能，感知环境、获取知识并使用知识获得最佳结果的理论、方法、技术及应用***。
人工智能基础技术一般包括如传感器、专用人工智能芯片、云计算、分布式存储、大数据处理技术、操作/交互***、机电一体化等技术。人工智能软件技术主要包括计算机视觉技术、机器人技术、生物识别技术、语音处理技术、自然语言处理技术以及机器学习/深度学习等几大方向。
本申请实施例提供的芯片测试数据查询方法，还可以涉及人工智能技术领域。本申请实施例提供的芯片测试数据查询方法可应用于终端中，也可应用于服务器端中，还可以是运行于终端或服务器端中的软件。在一些实施例中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式计算机等；服务器端可以配置成独立的物理服务器，也可以配置成多个物理服务器构成的服务器集群或者分布式***，还可以配置成提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、CDN以及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的云服务器；软件可以是实现芯片测试数据查询方法的应用等，但并不局限于以上形式。
本申请可用于众多通用或专用的计算机***环境或配置中。例如：个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器***、基于微处理器的***、置顶盒、可编程的消费电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何***或设备的分布式计算环境等等。本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
需要说明的是，在本申请的各个具体实施方式中，当涉及到需要根据用户信息、用户行为数据，用户历史数据以及用户位置信息等与用户身份或特性相关的数据进行相关处理时，都会先获得用户的许可或者同意，例如，获取用户存储的数据以及用户的缓存数据访问请求时，均会先获得用户的许可或者同意；在获取输入信息时，本申请实施例会先获得用户的许可或者同意。而且，对这些数据的收集、使用和处理等，都会遵守相关国家和地区的相关法律法规和标准。此外，当本申请实施例需要获取用户的敏感个人信息时，会通过弹窗或者跳转到确认页面等方式获得用户的单独许可或者单独同意，在明确获得用户的单独许可或者单独同意之后，再获取用于使本申请实施例能够正常运行的必要的用户相关数据。
图2是本申请实施例提供的芯片测试数据查询方法的一个可选的流程图，图2中的方法可以包括但不限于包括步骤S101至步骤S104。
步骤S101，显示芯片数据查询界面；
步骤S102，响应于查询信息输入操作，在芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，候选订单是响应于查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；
步骤S103，响应于订单确定操作，在芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，目标订单是响应于订单确定操作后，从候选订单中确定得到的；
步骤S104，在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。
示例性的，本申请实施例中的芯片测试数据查询方法可以应用在芯片测试数据查询***(可简称***)中，***的结构和功能在上述实施例中已有描述，在此不再赘述。
示例性的，在进行芯片测试数据查询的过程中，本申请实施例可以先显示芯片数据查询界面。芯片数据查询界面可以显示多种信息，包括显示输入信息的操作框、基于输入信息显示得到的查询结果或者其他提示信息等，用户可以通过显示的芯片数据查询界面进行人机交互操作。
示例性的，通过芯片数据查询界面上的操作框，用户可以进行查询信息输入操作，比如在操作框上输入查询信息，而***响应于该查询信息输入操作，可以得到用户输入的查询信息，再根据查询信息从已存储的芯片测试的初始测试数据中进行匹配，可以得到与查询信息匹配的若干个候选订单。
需要说明的是，本申请实施例中***可以预先存储好初始测试数据。初始测试数据是芯片测试过程中所产生的测试数据，初始测试数据包括个各个测试订单下的测试数据；每个测试订单下又若干名测试人员进行测试，因此初始测试数据包含有不同测试人员的测试数据；每个测试人员又关联到几台测试设备，因此初始测试数据包含有不同测试设备的测试数据；每个测试设备下又设置有几个测试端口，因此初始测试数据包含有不同测试端口的测试数据。
需要说明的是，本申请实施例中所显示的候选订单可以有多个，若为一个时，也存在匹配错误的情况，需要用户进行进一步的确认操作。因此，用户可以从显示的一个或多个候选订单中，确定所需要查询的订单，该订单为目标订单。
需要说明的是，本申请实施例中的查询信息输入操作是为了找到需要查询的订单。用户可以通过查询信息输入操作，输入所需要查询的订单的相关信息，从而***根据这些相关信息查到到对应的订单。进一步的，查询信息输入操作还可以是输入所需要查询的测试人员、测试设备或测试端口的信息，***同样可以根据这些信息进行匹配，从而找到多个候选订单。
示例性的，在得到目标订单后，***可以从已存储的初始测试数据中，找到目标订单下的测试数据，并在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。可以理解的是，目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据，是对应的目标订单下的测试人员、测试设备和测试端口的测试数据。
进一步的，若用户的输入信息是订单下的测试人员、测试设备或测试端口，本申请实施例中也可以找到这些测试人员、测试设备或测试端口有关的订单，并作为目标订单，并在最终的测试数据的显示时，也可以基于用户输入的信息类型，显示订单下的某些或某个测试人员、测试设备或测试端口的测试数据，本申请实施例不做具体限制。
本申请实施例中提供了可视化的交互界面，用户只需要在该界面中输入所需要查询的查询信息，***就会基于用户的输入显示目标订单的订单详情，而通过显示的时候，将目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据也一起显示出来，用户无需再为想得到某个具体的测试数据而大费周章去查找和汇总，提高了数据的汇总能力，因此本申请实施例可以直观、高效地查询到所需要的测试数据。
请参阅图3，在一些实施例中，步骤S104可以包括步骤S201至步骤S202：
步骤S201，获取目标订单在芯片测试过程中相关的目标测试人员，并获取目标测试人员下在执行目标订单的测试过程中用到的目标测试设备，以及获取目标测试设备在执行目标订单的测试过程中用到的目标测试端口；
步骤S202，在芯片数据查询界面上，按照目标订单、目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的顺序，依次递归显示对应的目标测试数据。
示例性的，本申请实施例中在对目标订单的订单详情进行显示的时候，会按照订单、员工、设备到端口的递归查询方式进行数据传递的显示。
示例性的，本申请实施例中在确定需要查询的目标订单后，可以目标订单在芯片测试过程中相关的目标测试人员，并获取目标测试人员下在执行目标订单的测试过程中用到的目标测试设备，以及获取目标测试设备在执行目标订单的测试过程中用到的目标测试端口。可以理解的是，一个订单下可以对应多个测试人员，每个测试人员下又可以对应管理多台测试设备，而一个测试设备下又可以设置有多个测试端口。
示例性的，在确定需要显示的内容后，本申请实施例中在芯片数据查询界面上，按照目标订单、目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的顺序，依次递归显示对应的目标测试数据，从而使得显示的测试数据符合芯片测试正常的观看习惯和测试检查习惯，且进一步提高了数据的汇总能力，实现多参数查询和提取订单数据，因此本申请实施例中的***是一个多对多数据的关联***。
如图4所示，为本申请一个实施例提供的芯片数据查询界面的界面图。在该图中，下面显示有最终查询得到的目标订单的测试详情，该目标订单的订单名为“fshfhs”。
按照递归显示的数据显示思路，本申请实施例中在芯片数据查询界面上，先显示目标订单的目标测试数据，如图4中“订单号”及“fshfhs”所处的一行，即为目标订单的目标测试数据，该数据是对目标订单下整体测试数据的整体概括和汇总。
随后，在目标订单的目标测试数据下，本申请实施例中显示目标测试人员下的目标测试数据，如图4中“员工编号”及“9090”所处的一行，即为目标测试人员的目标测试数据，该数据是对目标测试人员下整体测试数据的整体概括和汇总，图4中以目标订单下仅有一名目标测试人员为例子。
紧接着，在目标测试人员的目标测试数据下，本申请实施例中显示目标测试设备下的目标测试数据，如图4中“电脑编号”及“01”所处的一行，即为目标测试设备的目标测试数据，该数据是对目标测试设备下各个端口测试数据的整体概括和汇总，图4中以目标测试人员下仅有一台目标测试设备为例子。
最终，在目标测试设备的目标测试数据下，本申请实施例中显示目标测试端口下的目标测试数据，如图4中“串口号”及“COM0”至“COM7”所处的一行，即为目标测试端口的目标测试数据，该数据是目标测试设备下各个端口具体测试数据的展示。
目标测试数据包括多个不同的参数数据，参数数据是对芯片进行测试过程中检测到的具体数据，例如，参数数据可以是检测到的芯片电流、电阻等具体参数的数据。
请参阅图5，在一些实施例中，步骤S104还可以包括步骤S301至步骤S302：
步骤S301，确定各个参数数据的显示优先级信息；
步骤S302，按照各个显示优先级信息表征的优先级顺序，在芯片数据查询界面上依次显示参数数据。
示例性的，在芯片测试的过程中，会首先关注一下比较重要的测试数据，这些测试数据可以是不同的参数数据。而导致芯片测试不过关，也就是芯片检测所需要检查的数据又有很多种，为了让用户可以明显观看到重点关注的数据，本申请实施例中会对各个参数数据设定显示的优先级。
具体的，本申请实施例中每个参数数据都可以配置有预先设置的优先级信息，这个优先级信息是显示优先级信息，表明在数据汇总过程中的显示顺序。随后，本申请实施例中在得到目标测试数据后，会按照各个显示优先级信息表征的优先级顺序，在芯片数据查询界面上依次显示参数数据，使得用户可以首先查看到优先级高的参数信息，对于一些不重要的参数信息，则显示在后面。
可以理解的是，由于芯片测试所检测的参数数据是很多的，而用来进行显示的界面的大小是有限的，因此通过上述方法进一步提高数据的汇总和显示能力，方便用户按照重要程度观看到所检查的参数数据。
示例性的，本申请实施例中的参数数据有中，具体的，参数数据可以包括：测试通过详情、物料电阻数据、物料电流数据、物料初始化数据、物料功能数据、物料开机数据和测试板通信状态数据。其中，测试通过详情用于表征测试是否通过，物料电阻数据用于表征物料电阻是否异常，物料电流数据用于表征物料电流是否异常，物料初始化数据用于表征物料初始化是否异常，物料功能数据用于表征物料功能是否异常，物料开机数据用于表征物料开机是否异常，测试板通信状态数据用于表征测试板通信状态是否异常，上述物料指的是所测试的芯片。
请参阅图6，在一些实施例中，步骤S302可以包括步骤S401至步骤S402：
步骤S401，确定各个参数数据的优先级，其中，参数数据的优先级由大到小的顺序为：测试通过详情的优先级、物料电阻数据的优先级、物料电流数据的优先级、物料初始化数据的优先级、物料功能数据的优先级、物料开机数据的优先级、测试板通信状态数据的优先级；
步骤S402，在芯片数据查询界面上，按照参数数据的优先级由大到小的顺序，依次显示测试通过详情、物料电阻数据、物料电流数据、物料初始化数据、物料功能数据、物料开机数据和测试板通信状态数据。
示例性的，本申请实施例中提供了一些具体的参数数据，并为这些参数数据设定显示优先级信息。其中，测试通过详情的优先级顺序为第一顺序、物料电阻数据的优先级顺序为第二顺序、物料电流数据的优先级顺序为第三顺序、物料初始化数据的优先级顺序为第四顺序、物料功能数据的优先级顺序为第五顺序、物料开机数据的优先级顺序为第六顺序和测试板通信状态数据的优先级顺序为第七顺序，因此，参数数据的优先级由大到小的顺序为：测试通过详情的优先级、物料电阻数据的优先级、物料电流数据的优先级、物料初始化数据的优先级、物料功能数据的优先级、物料开机数据的优先级、测试板通信状态数据的优先级，在芯片数据查询界面上显示的时候，会按照优先级的顺序，依次显示测试通过详情、物料电阻数据、物料电流数据、物料初始化数据、物料功能数据、物料开机数据和测试板通信状态数据。
如图4所示，图4中“BIN1”指的是测试通过详情，“BIN1”为0表示测试不通过，“BIN1”为1表示测试通过；“BIN2”指的是物料电阻数据，“BIN2”为0表示物料电阻异常，“BIN2”为1表示物料电阻正常；“BIN3”指的是物料电流数据，“BIN3”为0表示物料电流异常，“BIN3”为1表示物料电流正常；“BIN4”指的是物料初始化数据，“BIN4”为0表示物料初始化异常，“BIN4”为1表示物料初始化正常；“BIN5”指的是物料功能数据，“BIN5”为0表示物料功能异常，“BIN5”为1表示物料功能正常；“BIN6”指的是物料开机数据，“BIN6”为0表示物料开机异常，“BIN6”为1表示物料开机正常；“BIN7”指的是测试板通信状态数据，“BIN7”为0表示测试板通信状态异常，“BIN7”为1表示测试板通信状态正常。
不仅如此，本申请实施例中在目标订单、目标测试人员、目标测试设备所处汇总的数据中，也会对各个参数信息的情况进行汇总，如图4所示，汇总显示的参数数据显示的是正常的个数，在此不再赘述。
示例性的，由于芯片数据查询界面的大小是有限的，为了查看没有显示到的目标测试数据，本申请实施例中可以通过操作芯片数据查询界面的内容左右移动或上下移动，在此不做具体限制。
请参阅图7，在一些实施例中，步骤S102可以包括步骤S501至步骤S503：
步骤S501，响应于查询信息输入操作，得到输入的查询信息；
步骤S502，若查询信息为日期区间，根据日期区间在初始测试数据中进行匹配，得到测试日期在日期区间内的候选订单，并在芯片数据查询界面上显示候选订单；
步骤S503，若查询信息为订单字段，根据订单字段在初始测试数据中进行匹配，得到含有相同或相近字段的候选订单，并在芯片数据查询界面上显示候选订单。
示例性的，本申请实施例中可以提供多种查询方式，所输入的查询信息有多种。例如，用户输入的查询信息可以是日期区间或订单字段。
具体的，若查询信息为日期区间，表明用户希望在该日期区间内查找所需要的测试数据，***可以根据日期区间在初始测试数据中进行匹配，得到测试日期在日期区间内的候选订单，并最终在芯片数据查询界面上显示候选订单。
如图4所示，图4中进行的是基于日期区间的查询方式，用户可以在芯片数据查询界面上输入所要查询的日期的起止时间，如图4中的“2022年11月1日”至“2023年3月5日”，进一步的，芯片数据查询界面可以提供日历的图像，用户通过点击日历中的具体日期即可作为待查询日期区间的起止时间。在完成日期起止时间的输入后，用户可以点击该界面中的“查询订单”按钮，随即***根据所得到的日期区间进行匹配，以找到测试日期在日期区间内的候选订单。
示例性的，***可以找到多个满足日期要求的候选订单，并显示出来，如图4所示，各个候选订单在芯片数据查询界面上依次显示，并在旁边对应设置有“订单详情”按钮，通过点击“订单详情”按钮，可以选定该候选订单为目标订单，随即可以在下面显示该目标订单的订单详情。
进一步的，可以显示候选订单的关闭状态，若某个候选订单还处于测试过程中，在芯片数据查询界面上显示该订单“未关闭”，相反，若某个候选订单测试完毕或者已经被用户强行关闭，在芯片数据查询界面上显示该订单“已关闭”，已关闭的候选订单可以查看具体的订单详情，因此显示对应的“订单详情”按钮，没关闭的订单则不行，因此没有显示对应的“订单详情”按钮。示例性的，对于不同的关闭状态的候选订单本申请可以通过不同的颜色体现出来，如已关闭的候选订单显示为绿色，未关闭的订单显示为红色。
如图4所示，芯片数据查询界面上所显示的目标订单的目标测试数据，包括订单号(如fshfhs)、配置(如地址A)、订单的建立时间(如2023年3月3日)和关闭时间(如2023年3月4日)、订单的建立者(如s)、订单在设定过程中的设定良率(如11％)、订单在设定过程中的设定测试总数(如111)、订单在设定过程中的测试数(如30)和测试良率(40％)等，并汇总显示有对应的参数数据的汇总结果。
如图4所示，芯片数据查询界面上所显示的目标测试人员的目标测试数据，包括员工编号(如9090)、员工姓名(如甲)、性别(如男)、目标测试人员的测试数(如30)和测试良率(40％)等，并汇总显示有对应的参数数据的汇总结果。
如图4所示，芯片数据查询界面上所显示的目标测试设备的目标测试数据，包括电脑编号(如01)、IP地址(如172.16.51.1)、目标测试设备的测试数(如30)和测试良率(40％)等，并汇总显示有对应的参数数据的汇总结果。
如图4所示，芯片数据查询界面上所显示的目标测试端口的目标测试数据，包括各个端口的串口号(如COM0-COM7)，并对应显示有各个端口的测试数、测试良率和检测到的参数数据。
示例性的，本申请实施例中可以在芯片数据查询界面的下面显示“EXCEL导出”的按钮，通过点击该按钮，还可以将目标订单的订单详情导出并生成Excel文件。可以理解的是，所生成的Excel文件可以按照上述实施例中的方式进行递归显示，在此不再赘述，此外，Excel文件还可以针对订单详情进行格式处理，以便呈现的Excel文件简洁、美观。
具体的，若查询信息为订单字段，订单字段可以是订单名字或订单号的字段，***可以根据订单字段在初始测试数据中进行匹配，得到含有相同或相近字段的候选订单，并最终在芯片数据查询界面上显示候选订单。
示例性的，本申请实施例中可以基于输入的订单字段进行模糊匹配，因此用户在输入的时候可以输入抽象或相似的订单名字或订单号，本申请实施例中不做具体限制。
如图8所示，图8中进行的是基于订单字段的查询方式，用户可以在芯片数据查询界面上输入所要查询的订单字段，如图8中的“fshfhs”。在完成订单字段的输入后，用户可以点击该界面中的“查询订单”按钮，随即***根据所得到的订单字段进行匹配，以找到含有相同或相近字段的候选订单。
示例性的，***可以找到多个相同或相近字段的候选订单，并显示出来，如图8所示，若用户输入的订单字段比较准确，***可以只显示完全匹配的一个候选订单，并在旁边对应设置有“订单详情”按钮，通过点击“订单详情”按钮，可以选定该候选订单为目标订单，随即可以在下面显示该目标订单的订单详情。
图8中其他显示的内容与图4相似，在此不再赘述。
请参阅图9，在一些实施例中，步骤S102还可以包括步骤S601至步骤S603：
步骤S601，响应于查询信息输入操作，得到输入的查询信息；
步骤S602，将查询信息发送给外接的动态库中，以使动态库根据查询信息查询到匹配的候选订单，其中，动态库设置有数据库，数据库用于预先存储有芯片测试过程中产生的初始测试数据；
步骤S603，接收动态库发送的候选订单，并在芯片数据查询界面上显示候选订单。
示例性的，本申请实施例中提供了一种将查询操作外接到动态库进行处理的方法，以提高数据的处理能力，动态库的形式在上述实施例的***结构中已有描述，在此不再赘述。
具体的，本申请实施例中在响应于查询信息输入操作后，可以得到输入的查询信息，随后查询操作不在芯片数据查询界面的软件上进行，而是外接到外部进行，因此，本申请实施例中可以将得到的查询信息发送给外接的动态库中，动态库设置有数据库，数据库用于预先存储有芯片测试过程中产生的初始测试数据，动态库根据查询信息查询到匹配的候选订单。
随后，在动态库完成数据的查询后，会将查询到的候选订单发送回来，最终在芯片数据查询界面上显示候选订单。
需要说明的是，本申请实施例中动态库提供了一个数据的处理中心，所存储的数据都可以放在动态库中，而前端显示的芯片数据查询界面会更加简洁，避免出现一个软件既要显示又要数据处理的负担，避免芯片数据查询界面出现臃肿，从而提高了数据的处理能力。且，由于芯片测试过程中会产生大量的测试数据，若交由一个前端软件处理，会限制数据处理的速度和质量，因此将查询的数据处理过程交由外接的动态库处理，满足芯片测试的要求。
示例性的，动态库中的芯片测试数据时动态更新的，这里关于芯片测试的测试总数是根据生产工厂的测试订单进行指定，每一次测试数据，即每一片物料跑完整个测试配置包指定的测试程序记一次，有多少物料就至少有多少测试数据，本申请实施例不做具体限制。
示例性的，动态库可以与芯片数据查询界面同处一个终端设备，也可以设置在另外的终端设备上，从而提供更强大的数据存储和处理能力，本申请实施例不做具体限制。
示例性的，动态库中所存储的初始测试数据以红黑树的形式组织。
请参阅图10，在一些实施例中，动态库中通过以下步骤查询到匹配的候选订单，可以包括步骤S701至步骤S704：
步骤S701，遍历红黑树结构中的初始测试数据，将红黑树的中随机确定的根节点确定为当前节点；
步骤S702，比较查询信息和当前节点对应的数据标识，得到比较结果；
步骤S703，若比较结果表征查询信息和当前节点的数据标识一致，将当前节点确定为目标节点；
步骤S704，从目标节点对应的初始测试数据中确定候选订单。
示例性的，本申请实施例在动态库中，为了避免大量的磁盘查询占用IO性能，在软件初始化阶段进行红黑树初始化，读取数据库数据对象编号进行内存排布。红黑树是一种特化的AVL树(平衡二叉树)，都是在进行***和删除操作时通过特定操作保持二叉查找树的平衡，从而获得较高的查找性能。它虽然是复杂的，但它的最坏情况运行时间也是非常良好的，并且在实践中是高效的，它可以在o(log n)时间内做查找，***和删除，这里的n是树中元素的数目。
示例性的，本申请实施例中通过高速红黑树算法来进行查询处理，可以遍历红黑树结构中的初始测试数据，将红黑树的中随机确定的根节点确定为当前节点，根节点为初始化生成的随机值，读取数据库对象节点值之后如果重复则覆盖，也就是当新的数据和对象建立时，***红黑树，并生成指定key。随后可以比较查询信息和当前节点对应的数据标识，得到比较结果，而数据库中的每一项数据均对应有唯一的数据标识，若比较结果表征查询信息和当前节点的数据标识一致，将当前节点确定为目标节点，最终从目标节点对应的初始测试数据中确定候选订单。
示例性的，当需要数据库交互的时候，进行红黑树查询，500w的数据大概只需要20多次的查询就可以找到指定的数据位置，然后经过一次的写入就可以进行数据录入数据库，而不需要根据订单的信息反复的进行数据库查询和确认，占用磁盘性能，提高了查询的效率和质量。
示例性的，本申请实施例中通过以下代码描述红黑树算法中的结构体：
struct Node
{
int data；＝＝》
；＝＝》
Node*left，*right，*parent；＝＝》
explicit Node(int)；
}。
其中，“int data”代表所对应的数据库对象的ID，ID是根据数据库随机分配的节点值来的，“int color”用于红黑树转动判定，***时调整红黑树高度，“Node*left，*right，*parent”表示左右结点同样为数据库对象，
请参阅图11，本申请实施例还提供一种芯片测试数据查询***，可以实现上述芯片测试数据查询方法，芯片测试数据查询***包括：
显示模块1101，用于显示芯片数据查询界面；
候选订单生成模块1102，用于响应于查询信息输入操作，在芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，候选订单是响应于查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；
目标订单生成模块1103，用于响应于订单确定操作，在芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，目标订单是响应于订单确定操作后，从候选订单中确定得到的；
订单详情生成模块1104，用于在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。
示例性的，本申请实施例中的芯片测试数据查询***可以执行上述实施例中的芯片测试数据查询方法中，***的结构和功能在上述实施例中已有描述，在此不再赘述。
示例性的，在进行芯片测试数据查询的过程中，本申请实施例可以先显示芯片数据查询界面。芯片数据查询界面可以显示多种信息，包括显示输入信息的操作框、基于输入信息显示得到的查询结果或者其他提示信息等，用户可以通过显示的芯片数据查询界面进行人机交互操作。
示例性的，通过芯片数据查询界面上的操作框，用户可以进行查询信息输入操作，比如在操作框上输入查询信息，而***响应于该查询信息输入操作，可以得到用户输入的查询信息，再根据查询信息从已存储的芯片测试的初始测试数据中进行匹配，可以得到与查询信息匹配的若干个候选订单。
需要说明的是，本申请实施例中***可以预先存储好初始测试数据。初始测试数据是芯片测试过程中所产生的测试数据，初始测试数据包括个各个测试订单下的测试数据；每个测试订单下又若干名测试人员进行测试，因此初始测试数据包含有不同测试人员的测试数据；每个测试人员又关联到几台测试设备，因此初始测试数据包含有不同测试设备的测试数据；每个测试设备下又设置有几个测试端口，因此初始测试数据包含有不同测试端口的测试数据。
需要说明的是，本申请实施例中所显示的候选订单可以有多个，若为一个时，也存在匹配错误的情况，需要用户进行进一步的确认操作。因此，用户可以从显示的一个或多个候选订单中，确定所需要查询的订单，该订单为目标订单。
需要说明的是，本申请实施例中的查询信息输入操作是为了找到需要查询的订单。用户可以通过查询信息输入操作，输入所需要查询的订单的相关信息，从而***根据这些相关信息查到到对应的订单。进一步的，查询信息输入操作还可以是输入所需要查询的测试人员、测试设备或测试端口的信息，***同样可以根据这些信息进行匹配，从而找到多个候选订单。
示例性的，在得到目标订单后，***可以从已存储的初始测试数据中，找到目标订单下的测试数据，并在芯片数据查询界面上显示目标订单的订单详情，其中，订单详情是在确定完目标订单后生成的，订单详情包括目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。可以理解的是，目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据，是对应的目标订单下的测试人员、测试设备和测试端口的测试数据。
进一步的，若用户的输入信息是订单下的测试人员、测试设备或测试端口，本申请实施例中也可以找到这些测试人员、测试设备或测试端口有关的订单，并作为目标订单，并在最终的测试数据的显示时，也可以基于用户输入的信息类型，显示订单下的某些或某个测试人员、测试设备或测试端口的测试数据，本申请实施例不做具体限制。
本申请实施例中提供了可视化的交互界面，用户只需要在该界面中输入所需要查询的查询信息，***就会基于用户的输入显示目标订单的订单详情，而通过显示的时候，将目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据也一起显示出来，用户无需再为想得到某个具体的测试数据而大费周章去查找和汇总，提高了数据的汇总能力，因此本申请实施例可以直观、高效地查询到所需要的测试数据。
该芯片测试数据查询***的具体实施方式与上述芯片测试数据查询方法的具体实施例基本相同，在此不再赘述。在满足本申请实施例要求的前提下，芯片测试数据查询***还可以设置其他功能模块，以实现上述实施例中的芯片测试数据查询方法。
本申请实施例还提供了一种电子设备，电子设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述芯片测试数据查询方法。该电子设备可以为包括平板电脑、车载电脑等任意智能终端。
请参阅图12，图12示意了另一实施例的电子设备的硬件结构，电子设备包括：
处理器1201，可以采用通用的CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；
存储器1202，可以采用只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM)、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)等形式实现。存储器1202可以存储操作***和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1202中，并由处理器1201来调用执行本申请实施例的芯片测试数据查询方法；
输入/输出接口1203，用于实现信息输入及输出；
通信接口1204，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信；
总线1205，在设备的各个组件(例如处理器1201、存储器1202、输入/输出接口1203和通信接口1204)之间传输信息；
其中处理器1201、存储器1202、输入/输出接口1203和通信接口1204通过总线1205实现彼此之间在设备内部的通信连接。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述芯片测试数据查询方法。
存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本领域技术人员可以理解的是，图中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、***、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的***实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。
以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。
Claims (10)
1.一种芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述方法包括：
显示芯片数据查询界面；
响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，所述候选订单是响应于所述查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；
响应于订单确定操作，在所述芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，所述目标订单是响应于所述订单确定操作后，从所述候选订单中确定得到的；
在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，其中，所述订单详情是在确定完所述目标订单后生成的，所述订单详情包括所述目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。
2.根据权利要求1所述的芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，包括：
获取所述目标订单在芯片测试过程中相关的目标测试人员，并获取所述目标测试人员下在执行所述目标订单的测试过程中用到的目标测试设备，以及获取所述目标测试设备在执行所述目标订单的测试过程中用到的目标测试端口；
在所述芯片数据查询界面上，按照所述目标订单、所述目标测试人员、所述目标测试设备和所述目标测试端口的顺序，依次递归显示对应的目标测试数据。
3.根据权利要求1或2所述的芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述目标测试数据包括多个不同的参数数据；
所述在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，包括：
确定各个所述参数数据的显示优先级信息；
按照各个所述显示优先级信息表征的优先级顺序，在所述芯片数据查询界面上依次显示所述参数数据。
4.根据权利要求3所述的芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述参数数据包括：测试通过详情、物料电阻数据、物料电流数据、物料初始化数据、物料功能数据、物料开机数据和测试板通信状态数据；
所述在所述芯片数据查询界面上依次显示所述参数数据，包括：
确定各个所述参数数据的优先级，其中，所述参数数据的优先级由大到小的顺序为：所述测试通过详情的优先级、所述物料电阻数据的优先级、所述物料电流数据的优先级、所述物料初始化数据的优先级、所述物料功能数据的优先级、所述物料开机数据的优先级、所述测试板通信状态数据的优先级；
在所述芯片数据查询界面上，按照所述参数数据的优先级由大到小的顺序，依次显示所述测试通过详情、所述物料电阻数据、所述物料电流数据、所述物料初始化数据、所述物料功能数据、所述物料开机数据和所述测试板通信状态数据。
5.根据权利要求1所述的芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，包括：
响应于查询信息输入操作，得到输入的查询信息；
若所述查询信息为日期区间，根据所述日期区间在所述初始测试数据中进行匹配，得到测试日期在所述日期区间内的候选订单，并在所述芯片数据查询界面上显示所述候选订单；
若所述查询信息为订单字段，根据所述订单字段在所述初始测试数据中进行匹配，得到含有相同或相近字段的候选订单，并在所述芯片数据查询界面上显示所述候选订单。
6.根据权利要求1或5所述的芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，包括：
响应于查询信息输入操作，得到输入的查询信息；
将所述查询信息发送给外接的动态库中，以使所述动态库根据所述查询信息查询到匹配的候选订单，其中，所述动态库设置有数据库，所述数据库用于预先存储有芯片测试过程中产生的所述初始测试数据；
接收所述动态库发送的所述候选订单，并在所述芯片数据查询界面上显示所述候选订单。
7.根据权利要求6所述的芯片测试数据查询方法，其特征在于，所述动态库中所存储的所述初始测试数据以红黑树的形式组织；
所述动态库中通过以下步骤查询到匹配的所述候选订单，包括：
遍历红黑树结构中的所述初始测试数据，将红黑树的中随机确定的根节点确定为当前节点；
比较所述查询信息和所述当前节点对应的数据标识，得到比较结果；
若所述比较结果表征所述查询信息和所述当前节点的数据标识一致，将所述当前节点确定为目标节点；
从所述目标节点对应的所述初始测试数据中确定所述候选订单。
8.一种芯片测试数据查询***，其特征在于，所述***包括：
显示模块，用于显示芯片数据查询界面；
候选订单生成模块，用于响应于查询信息输入操作，在所述芯片数据查询界面上显示候选订单，其中，所述候选订单是响应于所述查询信息输入操作后，从用于芯片测试的初始测试数据中匹配得到的；
目标订单生成模块，用于响应于订单确定操作，在所述芯片数据查询界面上显示目标订单，其中，所述目标订单是响应于所述订单确定操作后，从所述候选订单中确定得到的；
订单详情生成模块，用于在所述芯片数据查询界面上显示所述目标订单的订单详情，其中，所述订单详情是在确定完所述目标订单后生成的，所述订单详情包括所述目标订单下对应的目标测试人员、目标测试设备和目标测试端口的目标测试数据。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7任一项所述的芯片测试数据查询方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述的芯片测试数据查询方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310279492.1A CN116401421B (zh) | 2023-03-14 | 2023-03-14 | 芯片测试数据查询方法、***、设备及介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310279492.1A CN116401421B (zh) | 2023-03-14 | 2023-03-14 | 芯片测试数据查询方法、***、设备及介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116401421A true CN116401421A (zh) | 2023-07-07 |
| CN116401421B CN116401421B (zh) | 2024-05-07 |
Family
ID=87008344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310279492.1A Active CN116401421B (zh) | 2023-03-14 | 2023-03-14 | 芯片测试数据查询方法、***、设备及介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116401421B (zh) |
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| CN116401421B (zh) | 2024-05-07 |
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |