CN116203288A - 光器件静态性能的测试装置和测试方法 - Google Patents

光器件静态性能的测试装置和测试方法 Download PDF

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Abstract

本申请公开了光器件静态性能的测试装置和测试方法，属于光器件测试技术领域，一种光器件静态性能的测试装置，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接。控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。

Description

光器件静态性能的测试装置和测试方法
技术领域
本申请涉及光器件检测技术领域，具体而言，涉及一种光器件静态性能的测试装置和测试方法。
背景技术
光器件内TEC,RTH,LD,PD等光电组件，装配完成后，上电前需要对各个组件的性能进行判定，确认无误后再做电性能和光性能测定。避免人为原因导致电性能测定时烧坏组件，引起其他关联组件损毁造成损失。
现有技术中，人工采样测试仪表对光器件进行逐一测试，根据仪表测试的数据，判断测试是否合格。但是，这种测试方法非常繁琐，需要工人依次对所有的IO端口所形成的回路进行多项检测，在实践中，很容易出现漏检的情况。
而现有的测试仪表，通常只有接入口和接出口，虽然可以采用电脑记录数据，采用人工或者自动化的方式将待测试光器件的IO端口依次连接到测试仪表上，但是这种检测方式需要频繁的连接和断开测试仪表，也就是在更换待测试光器件检测的IO端口时，需要先将测试仪表的输出端与接出端之间的线路先断开，然后等测试仪表的接触端和待测试光器件的IO端口连接之后，在闭合测试仪表的输出端和接触端，避免在更换IO端口的过程中，测试仪表存在测试电流流入至待测试光器件内。
综上所述，目前市面上缺乏一种能够在增加光器件测试效率的基础上，避免测试仪表的测试电流在更换IO端口的过程中，对光器件造成损害的光器件静态性能的测试装置和测试方法。
发明内容
本申请的内容部分用于以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。本申请的内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。
作为本申请的第一个方面，为了解决以上背景技术部分提到的技术问题，本申请的一些实施例提供了一种光器件静态性能的测试装置，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接；控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；
其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。
本申请通过在测试电路板上设置多个CR接口，并且CR接口连接至测量仪表，所以在使用控制模块控制切换开关的通断之后，就能够对待测试光器件的各个测试回路进行依次测试。在具体的运用中，采用该种测试方式能够极大的增加测试效率，相较于传统的人工测试方案，该测试方案采用自动化控制方案，不会存在漏检的情况，并且整个测试过程连续，不需要采用自动化或者人工操作的方案，控制测量仪表的接入点和接出点与待测试光器件的IO端口连接，能够增加测试效率；同时，在切换测试的IO端口时，不需要频繁的接入和接出IO端口，而是通过CR接口的切换开关进行控制，一方面可以增加切换效率，另一方面则可以避免在切换IO端口时，测量仪表产生的测试电流对IO端口的影响。
进一步的，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量。
CR接口的数量大于IO接口的数量，便于适应不同类型的待测试光器件，避免光器件的IO端口数量太多，CR接口太少，而无法构建所有的测试回路，如此在测试光器件时，不需要取下光器件进行重复测试。
在光器件IO端口的测试过程中，对于相同的IO端口而言，不仅仅需要进行正向测试，还需要进行反向测试，所以在实践中，对于相同的IO端口，是需要更换测量仪表的接出点和接入点，以对相同IO接口进行正向和反向的测试，但是在更换测量仪表的接出点和接入点时，现有的技术方案中，都需要手动控制接入点和接出点与IO接口的连接情况，所以非常不便。
进一步的，测量仪表至少包括：接入点和接出点，接入点和接出点分别连接有相同数量的第一CR接口和第二CR接口，测量仪表的接出点至第一CR接口至待测试光器件其中一个IO接口、至待测试光器件的另一个IO接口、至第一CR接口至接入点，以形成测试回路。
分别通过第一CR接口和第二CR接口连接测量仪表的接入点和出点，所以在使用第一CR接口连接所有的IO接口和第二CR接口连接所有的IO接口之后，就能通过切换控制开关的方式，形成所有的测试回路；并且，对于相同的IO接口而言，采用该方法，能够仅仅通过切换切换开关的方式，就完成同向和反向的测试，能够增加测试效率。
进一步的，第一CR接口和第二CR接口组成测量仪表的所有CR接口。
进一步的，第一CR接口的数量等于第二CR接口的数量大于或等于待测试光器件IO接口的数量。
CR接口的数量大于IO接口的数量，便于适应不同类型的待测试光器件，避免测试光器件的IO接口数量大于CR接口数量，使得无法对测试光器件的所有IO接口进行测试。
进一步的，当需要对待测试光器件进行测试时，待测试光器件安装在测试电路板上，控制模块控制切换开关的开合，以给待测试光器件选择不同的测试回路，并依次完成所有测试回路的电阻、单向导电性以及结电容的测试。
只需要控制切换开关的闭合就能够切换测试回路，整个操作过程简洁，测试效率高，并且在控制模块的控制下，不容易出现错误。
对于光器件而言，其每个IO接口之间的测试项目并不相同，一般而言，都是需要人工根据电路图判断或者相关表格，控制测试仪表进行相应的IO端口之间的项目测试，如此在测试过程中，容易导致测试项目不符合相应的IO端口之间的情况，例如两个IO端口之间存在一个很小的电容，所以不能进行电阻测试，但是因为人工操作而进行电阻测试，则容易导致这个电容被击穿，从而使得光器件损坏。
进一步的，控制模块内储存有待测试光器件每条测试回路的测试项目。
如此，本申请通过在每个控制模块内储存每天测试回路所存在的测试项目，能够避免光器件因为采用了错误的测试方式，而导致光器件损坏。
在测试电阻时，我们所需要的电阻是待测试光器件的两个IO端口之间的电阻，但是实际测量得到的电阻是测量仪表的接出点和接入点之间的电阻，所以存在的线路电阻会导致测量精度太低。
进一步的，控制模块还记录有每个测试回路的线路电阻。
本申请通过记录每条测试回路的线路电阻，能够使得在测试时，将测量得到的测量电阻减去线路电阻，就能够得到更加准确的电阻。
进一步的，线路电阻的测试方法为，将每个第一CR接口和第二CR接口短接所形成的回路进行测试，以得到对应的测试回路的线路电阻。
采用短接的方式测量每个第一CR接口和第二CR接口的线路电阻，能够准确的得到相应的每条线路的线路电阻，进一步增加测量的精度，避免线路电阻对测量精度的影响。
进一步的，当需要对待测试光器件进行测试时，具体包括如下步骤：
第一步：测量出所有测试回路的线路电阻；
第二步：将待测试光器件安装到测试电路板上，控制模块加载待测试光器件的每条测试回路的测试项目，并依次完成所有测试线路的测试项目。
作为本申请的第二个方面，为了解决在对光器件的静态性能测试中，需要频繁更换测试的IO端口，而导致光器件在测试过程中容易损坏的问题，本申请的一些实施例提供了一种光器件静态性能的测试方法，包括如下步骤：
步骤1：将待测试光器件安装在测试电路板上；
步骤2：控制模块控制切换开关的开合，以使得测量仪表和待测试光器件的IO端口形成测试回路；
步骤3：控制模块控制测量仪表在该测试回路下完成电阻测试，然后控制切换开关的闭合，依次完成所有测试回路的电阻测试，并记录测试结果；
步骤4：控制模块控制测量仪表完成所有测试回路的单向导电性测试，并记录测试结果；
步骤5：控制模块控制测量仪表完成所有测试回路的结电容测试，并记录测试结果；
步骤6：将步骤3～步骤5中的测试结果汇总，制作为结果文件，并将结果文件进行数据分析，形成数据报表，然后将数据报表通过通信模块发送至服务器或者储存器。
本申请所提供的技术方案，整个测试过程能够连续进行，在将待测试光器件安装在测试电路板上之后，就能够完成所有测试回路的多项测试，所以能够给待测试光器件的具体IO端口提供性能参数，便于后续产品质量溯源时，能够依据光器件各个IO端口的测试结果，对光器件的生产流程进行把控；并且整个测试过程连续，不需要采用自动化或者人工操作的方案，控制测量仪表的接入点和接出点与待测试光器件的IO端口连接，能够增加测试效率；同时，在切换测试的IO端口时，不需要频繁的接入和接出IO端口，而是通过CR接口的切换开关进行控制，一方面可以增加切换效率，另一方面则可以避免在切换IO端口时，测量仪表产生的测试电流对IO端口的影响。
进一步的，步骤3具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次电阻测试，如果该电阻测试的结果均不在预设的范围内，则将该测试回路按照不合格记录。
进一步的，步骤4具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次单向导电性测试，如果该测试回路得到的测试结果均不在预设的范围之内，则将该测试回路按照不合格记录下来。
进一步的，步骤5具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次结电容测试，如果该测试回路得到的测试结果均不在预设的范围之内，则将该测试回路按照不合格记录下来。
步骤3～步骤5中，针对测试回路所有的测试回路，都进行了至少三次的测量，能够保证测量的准确性；并且在测试过程中，因为不需要人工控制测试进程，所以就算进行多次测量，也不会对测试效率造成很大的影响，能够在保证测量准确度的基础上，避免对测试效率的不利影响。
进一步的，步骤1还包括，控制模块加载待测试光器件的每条测试回路的测试项目。
进一步的，步骤1还包括，测量每条测试回路的线路电阻。
综上所述：
本申请通过在测试电路板上设置多个CR接口，并且CR接口连接至测量仪表，所以在使用控制模块控制切换开关的通断之后，就能够对待测试光器件的各个测试回路进行依次测试。在具体的运用中，采用该种测试方式能够极大的增加测试效率，相较于传统的人工测试方案，该测试方案采用自动化控制方案，不会存在漏检的情况，并且整个测试过程连续，不需要采用自动化或者人工操作的方案，控制测量仪表的接入点和接出点与待测试光器件的IO端口连接。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。
另外，贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，元件和元素不一定按照比例绘制。
在附图中：
图1为光器件静态性能的测试装置的结构示意图。
图2为光器件静态性能的测试装置更为具体的结构示意图。
图3为光器件静态性能的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例。相反，提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本公开的保护范围。
另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本公开。
参照图1，光器件静态性能的测试装置包括控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接。控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试。
其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。
测量仪表至少包括：接入点和接出点，接入点和接出点分别连接有相同数量的第一CR接口和第二CR接口，测量仪表的接出点至第一CR接口至待测试光器件其中一个IO接口至待测试光器件的另一个IO接口，至第二CR接口最后至接入点，以形成测试回路。该测试回路可以简单表示为：COMB>A>B>COMA。
测量仪表为台式万用表，如此可以通过控制芯片，控制CR接口的通断。
第一CR接口和第二CR接口组成测量仪表的所有CR接口。第一CR接口的数量等于第二CR接口的数量，且大于或等于待测试光器件IO接口的数量。
当需要对待测试光器件进行测试时，待测试光器件安装在测试电路板上，控制模块控制切换开关的开合，以给待测试光器件选择不同的测试回路，并依次完成所有测试回路的电阻、单向导电性以及结电容的测试。
光器件静态性能的测试装置还包括通信模块，控制模块在依次完成所有测试回路的电阻、单向导电性以及结电容的测试之后，将测试结果整理成结果文件，再将结果文件用SQL进行数据分析，以形成数据报表，然后通过通信模块将数据报表上传至服务器或者储存器。
待测试光器件上每两个IO接口所形成的测试回路，所需要测试的内容并不一样。例如，对于A/B这两个IO接口，其具有COMB>A>B>COMA和COMB>B>A>COMA两条测试回路，第一条测试回路，需要测试电容和电阻，另一个测试回路则不能测试电容和电阻，因为测试电阻时，输入至测试回路内的测试电流，可能会导致待测试光器件损坏。
进一步的，控制模块内储存有待测试光器件每条测试回路的测试项目。
控制模块储存有每条测试回路的测试项目，可以避免测试回路上施加错误的测试项目，使得待测试光器件发生损坏。测试项目包括电阻测试、单向导电性测试以及结电容测试。
在实际测试过程中，电阻测试还会受到线路电阻的影响，以回路COMB>A>B>COMA为例，在测量该线路的电阻时，对于测试结果而言，所需要的测试结果为待测试光器件中，A端口至B端口的电阻，但是在实际测量中，得到的是COMB>A>B>COMA的电阻，所以会存在COMB>A和B>COMA的线路电阻，对于测试线路的影响。
为此，控制模块还记录有每个测试回路的线路电阻。
线路电阻的测试方法为，将每个第一CR接口和第二CR接口短接所形成的回路进行测试，以得到对应的测试回路的线路电阻。
参考图2，下面结合实例，提供一种更为具体的实施方案：
待测试光器件共有A、B、C、D共计4个IO接口，为此在测量仪表上分别设置有4个第一CR接口和4个第二CR接口。每个第一CR接口均与接出点COMA连接，每个第二CR接口均与接入点COMB连接。4个第一CR接口包括CR5、CR6、CR7、CR8。4个第二CR接口包括CR1、CR2、CR3、CR4。每个第一CR接口和第二CR接口上均设置有切换开关。测量仪表为台式万用表；控制模块为电脑；测试电路板为PWBA基板组成的测试电路板。
当需要对待测试光器件进行电阻测试时，具体包括如下步骤：
第一步：测量出所有测试回路的线路电阻。
线路电阻的测试方法为，将每个第一CR接口和第二CR接口短接所形成的回路进行测试，以得到对应的测试回路的线路电阻。例如，需要得到COMB>A>B>COMA的测试回路的线路电阻时，可以先将CR2～4和CR6～8断开，然后将CR5和CR1闭合，最后短接这两个开关，进而能够测量得到线路电阻RX。
第二步：将待测试光器件安装到测试电路板上，控制模块加载待测试光器件的每条测试回路的测试项目，并依次完成所有测试线路的测试项目。
具体的，以COMA>B>A>COMB的测试回路为例，在测试该测试回路的电阻时，控制模块控制CR1和CR6的切换开关闭合，其余的切换开关打开，进而形成接出点COMA至待测试光器件的B端口、至待测试光器件的A端口、至接入点COMB的测试回路，测试得到的电阻为Ry；待测试光器件的B端口、至待测试光器件的A端口为RZ；且，Rz＝Ry-Rx。如此，采用该方法，可以完成所有测试回路的测试项目。
参考图3，本申请还提供了一种光器件静态性能的测试方法，使用上述的光器件静态性能的测试装置。所述的光器件静态性能的测试方法包括如下步骤：
步骤1：将待测试光器件安装在测试电路板上。
步骤1还包括，控制模块加载待测试光器件的每条测试回路的测试项目。
控制模块在加载待测试光器件的每条测试回路的测试项目之后，能够智能的完成所有测试回路的测试项目。
步骤1还包括，测量每条测试回路的线路电阻。
测试回路中线路电阻的测量方法为，将测试回路中对应的开关闭合，其余的开关断开，然后将闭合的开关短接。
步骤2：控制模块控制切换开关的开合，以使得测量仪表和待测试光器件的IO端口形成测试回路。
步骤3：控制模块控制测量仪表在该测试回路下完成电阻测试，然后控制切换开关的闭合，依次完成所有测试回路的电阻测试，并记录测试结果。
步骤3中，在进行电阻测试时，需要将直接测量得到电阻减去线路电阻。
步骤3具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次电阻测试，如果该电阻测试的结果均不在预设的范围内，则将该测试回路按照不合格记录。
步骤4：控制模块控制测量仪表完成所有测试回路的单向导电性测试，并记录测试结果。
步骤4具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次单向导电性测试，如果该测试回路得到的测试结果均不在预设的范围之内，则将该测试回路按照不合格记录下来。
步骤5：控制模块控制测量仪表完成所有测试回路的结电容测试，并记录测试结果。
步骤5具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次结电容测试，如果该测试回路得到的测试结果均不在预设的范围之内，则将该测试回路按照不合格记录下来。
步骤3～5中，在设置测试结果时，一般只会设置三次，所以如果三次测试结果都为不合格，在表示该测试回路在该项目上测试结果为不合格。
步骤6：将步骤3～步骤5中的测试结果汇总，制作为结果文件，并将结果文件进行数据分析，形成数据报表，然后将数据报表通过通信模块发送至服务器或者储存器。
步骤6中，服务器和储存器是指用于储存数据或者分发数据的设备或者装置。
以上描述仅为本公开的一些较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开的实施例中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开的实施例中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (10)

1.一种光器件静态性能的测试装置，其特征在于，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接，控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；
其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。
2.根据权利要求1所述的光器件静态性能的测试装置，其特征在于：CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量。
3.根据权利要求1所述的光器件静态性能的测试装置，其特征在于：测量仪表至少包括接入点和接出点，接入点和接出点分别连接有相同数量的第一CR接口和第二CR接口，测量仪表的接出点至第一CR接口至待测试光器件至第二CR接口最后至接入点，以形成测试回路。
4.根据权利要求3所述的光器件静态性能的测试装置，其特征在于：第一CR接口和第二CR接口组成测量仪表的所有CR接口。
5.根据权利要求3所述的光器件静态性能的测试装置，其特征在于：第一CR接口的数量等于第二CR接口的数量大于或等于待测试光器件IO接口的数量。
6.根据权利要求1所述的光器件静态性能的测试装置，其特征在于：当需要对待测试光器件进行测试时，待测试光器件安装在测试电路板上，控制模块控制切换开关的开合，以给待测试光器件选择不同的测试回路，并依次完成所有测试回路的电阻、单向导电性以及结电容的测试。
7.一种光器件静态性能的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤1：将待测试光器件安装在测试电路板上；
步骤2：控制模块控制切换开关的开合，以使得测量仪表和待测试光器件的IO端口形成测试回路；
步骤3：控制模块控制测量仪表在该测试回路下完成电阻测试，然后控制切换开关的闭合，依次完成所有测试回路的电阻测试，并记录测试结果；
步骤4：控制模块控制测量仪表完成所有测试回路的单向导电性测试，并记录测试结果；
步骤5：控制模块控制测量仪表完成所有测试回路的结电容测试，并记录测试结果；
步骤6：将步骤3～步骤5中的测试结果汇总，制作为结果文件，并将结果文件进行数据分析，形成数据报表，然后将数据报表通过通信模块发送至服务器或者储存器。
8.根据权利要求7所述的光器件静态性能的测试方法，其特征在于：步骤3具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次电阻测试，如果该电阻测试的结果均不在预设的范围内，则将该测试回路按照不合格记录。
9.根据权利要求7所述的光器件静态性能的测试方法，其特征在于：步骤4具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次单向导电性测试，如果该测试回路得到的测试结果均不在预设的范围之内，则将该测试回路按照不合格记录下来。
10.根据权利要求7所述的光器件静态性能的测试方法，其特征在于：步骤5具体为：控制模块控制测量仪表对所有的测试回路依次进行至少三次结电容测试，如果该测试回路得到的测试结果均不在预设的范围之内，则将该测试回路按照不合格记录下来。
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