CN116030877A - 基于固态硬盘的全功能测试***、实现方法和计算机设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种基于固态硬盘的全功能测试***、实现方法、计算机设备和存储介质，其中该***包括：主机端、测试端以及控制端，所述主机端通过网口与测试端的主板连接通讯，所述主板通过M.2接口和M.2延长线连接到控制端的测试板；所述主机端用于显示测试界面，保存测试结果，并通过网络对测试端进行任务发送，监听测试结果以及中断控制；所述测试端用于监听并执行主机端下发的测试任务，更新测试结果，异常处理以及对保存测试记录；待测固态硬盘通过连接器***测试板中进行测试，所述控制端通过STM32芯片和电源芯片实现测试控制。本发明可以实现固态硬盘测试方案的测试功能全覆盖。

Description

基于固态硬盘的全功能测试***、实现方法和计算机设备

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域，特别是涉及一种基于固态硬盘的全功能测试***、实现方法、计算机设备和存储介质。

背景技术

目前，现有的SSD***测试方案一般基于国外专用的测试平台进行测试。专用的测试设备昂贵，以韩国主流设备厂商Unitest和Neosem为例，满足高低温测试的单端口价格基本在15000RMB以上，测试成本高，如果涉及升级换代(例如PCIE4.0到5.0)，设备改造和模块升级的费用还需要另外付费，部分设备厂商的设备甚至不支持模块升级只能整机更换，升级维护不便。

此外，由于一些测试开发技术不公开，所有的测试平台基本只开放上层的应用接口，底层驱动、协议、命令封装不支持用户自行修改，测试方案更新和技术改进更多的依赖设备厂商，开发时间和结果往往不能满足需求，进而也难以保证测试多样性的需求。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于固态硬盘的全功能测试***、实现方法、计算机设备和存储介质。

一种基于固态硬盘的全功能测试***，所述***包括：

主机端、测试端以及控制端，所述主机端通过网口与测试端的主板连接通讯，所述主板通过M.2接口和M.2延长线连接到控制端的测试板；

所述主机端用于显示测试界面，保存测试结果，并通过网络对测试端进行任务发送，监听测试结果以及中断控制；

所述测试端用于监听并执行主机端下发的测试任务，更新测试结果，异常处理以及对保存测试记录；

待测固态硬盘通过连接器***测试板中进行测试，所述控制端通过STM32芯片和电源芯片实现测试控制。

在其中一个实施例中，所述主机端包括测试端管理模块，用户管理模块，配置管理模块，测试中心模块，日志管理模块，分析管理模块，设备管理模块以及数据库管理模块；

所述测试端管理模块用于：测试脚本和配置下发，测试端实时监控，测试端测试过程控制以及网络启动测试端开关机；

所述数据库管理模块用于量产数据库连接，产品信息获取，生产服务器连接以及测试日志保存；

所述用户管理模块用于账户管理，权限管理，用户注册，用户查询以及权限修改；

所述配置管理模块用于程序查询，程序配置以及参数配置；

所述日志管理模块用于单个查询以及批量导出；

所述分析管理模块用于分析查询以及分析上传；

所述设备管理模块用于温度曲线查询以及电压校准；

所述测试中心模块用于测试信息显示，测试状态监控以及测试过程控制。

在其中一个实施例中，所述测试端包括控制端管理模块，测试脚本运行模块，主机端管理模块以及驱动层；

所述控制端管理模块用于串口通信，电源上下电控制，电压电流检测，电压拉偏，DAS检测，PLP控制以及SMBUS通信；

所述主机端管理模块用于将测试状态更新反馈主机端以及主机端行为监控；

所述测试脚本运行模块用于执行测试流程，更新测试状态以及测试结果保存。

在其中一个实施例中，所述控制端包括I2C模块，SMBUS模块，串口接口，ADC模块以及GPIO模块；

所述I2C模块用于通过I2C通讯调整电位计挡位以及调整对应的输入电压；

所述SMBUS模块用于通过SMBUS命令对待测固态硬盘进行数据传输和查询，实现SMBUS功能测试测试脚本运行；

所述串口接口用于测试端监控，串口命令收发以及测试数据传输；

所述ADC模块用于电压电流检测以实现ADC数据转换；

所述GPIO模块用于电源上下电控制，DAS输入检测以及PLP输出检测。

在其中一个实施例中，所述***还包括服务器以及交换机，所述交换机分别通过网线与主机端、测试端以及服务器进行网络通讯。

在其中一个实施例中，所述***还包括电源模块，所述电源模块用于给主板和测试板供电。

一种基于固态硬盘的全功能测试实现方法，所述方法应用于如上述任一项所述基于固态硬盘的全功能测试***中，将待测固态硬盘插在所述测试板上进行测试，通过测试板设计测试模块功能实现对固态硬盘的控制。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

在高低温批量测试下增加高低温温箱，并将所述测试板置于前腔温变环境中，将所述主板置于隔离后的后腔常温环境中，中间通过延长线连接并做密封处理以实现批量温循测试。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。

上述基于固态硬盘的全功能测试***、实现方法、计算机设备和存储介质，能够实现测试方案的测试功能全覆盖，测试通讯信号通过主板直连到SSD可以完成所有数据读写功能的测试，通过在测试板上设计相应的功能模块实现对SSD的其他测试，例如正常和异常上下电，功耗检测，电压拉偏等。此外，该测试方案可实现完全国产化，测试方案硬件主要包括主机，交换机，主板，测试板，电源和连接线材，主板选型一般选择支持M.2的商用主板有国产化应用，测试板可以根据实现的功能进行自主设计和制造，通过物料选型和加工实现完全国产化。

附图说明

图1为一个实施例中基于固态硬盘的全功能测试***的结构框图；

图2为一个实施例中基于固态硬盘的全功能测试***的框架构架图；

图3为另一个实施例中基于固态硬盘的全功能测试***的结构框图；

图4为再一个实施例中基于固态硬盘的全功能测试***的结构框图；

图5为一个实施例中基于固态硬盘的全功能测试***的整体框架图；

图6为一个实施例中主机端的功能模块示意图；

图7为一个实施例中测试端的功能模块示意图；

图8为一个实施例中控制端的功能模块示意图；

图9为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

目前，现有的SSD***测试方案一般基于国外专用的测试平台进行测试。专用的测试设备昂贵，以韩国主流设备厂商Unitest和Neosem为例，满足高低温测试的单端口价格基本在15000RMB以上，测试成本高，如果涉及升级换代(例如PCIE4.0到5.0)，设备改造和模块升级的费用还需要另外付费，部分设备厂商的设备甚至不支持模块升级只能整机更换，升级维护不便。此外，由于一些测试开发技术不公开，所有的测试平台基本只开放上层的应用接口，底层驱动、协议、命令封装不支持用户自行修改，测试方案更新和技术改进更多的依赖设备厂商，开发时间和结果往往不能满足需求，进而也难以保证测试多样性的需求。

基于此，本发明提出了一种基于固态硬盘的全功能测试方法，旨在能够可以满足SSD***所有测试功能全覆盖，实现技术自主可控，降低测试成本，可扩展性强。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种基于固态硬盘的全功能测试***100，该***包括：

主机端101、测试端102以及控制端103，主机端101通过网口与测试端102的主板连接通讯，主板通过M.2接口和M.2延长线连接到控制端103的测试板；

主机端101用于显示测试界面，保存测试结果，并通过网络对测试端102进行任务发送，监听测试结果以及中断控制；

测试端102用于监听并执行主机端101下发的测试任务，更新测试结果，异常处理以及对保存测试记录；

待测固态硬盘通过连接器***测试板中进行测试，控制端103通过STM32芯片和电源芯片实现测试控制。

具体地，可参考图2所示的框架构架图，包括：主机端、测试端以及控制端三个部分实现：

在主机端中具体包括UI模块：测试界面显示，结果显示，量产服务器通讯；Watchdog模块：对测试端进行任务执行发送，监听测试结果，中断控制；Power Control模块：网口控制测试端上下电，实现远程重启。

在测试端中具体包括：Watchdog模块：监听主机端的任务并执行，测试结果更新，异常处理；Log模块：测试记录保存，显示；PCIE模块：PCIE命令，数据读写；UART模块：串口通讯；控制端控制。

在控制端中具体包括：PowerControl模块：对SSD进行上下电控制，在位检测；Consumption模块：功耗检测；SMBUS模块：模拟SMBUS测试；DAS模块：DAS信号检测；PLP模块：PLP引脚控制；UART模块：控制端和测试端通讯。

具体地，采用主板和SSD直连的方式，主板通过M.2接口和M.2延长线连接到测试板，SSD插在测试板上进行测试，测试板设计相关测试模块功能实现对SSD的控制，一个主板实现1托4测试，此方案可以满足SSD***级所有测试功能全覆盖，并实现完全国产化，技术自主可控，有效降低测试成本。

在本实施例中，能够实现测试方案的测试功能全覆盖，测试通讯信号通过主板直连到SSD可以完成所有数据读写功能的测试，通过在测试板上设计相应的功能模块实现对SSD的其他测试，例如正常和异常上下电，功耗检测，电压拉偏等。此外，该测试方案可实现完全国产化，测试方案硬件主要包括主机，交换机，主板，测试板，电源和连接线材，主板选型一般选择支持M.2的商用主板有国产化应用，测试板可以根据实现的功能进行自主设计和制造，通过物料选型和加工实现完全国产化。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种基于固态硬盘的全功能测试***100，该***还包括服务器104以及交换机105，交换机105分别通过网线与主机端101、测试端102以及服务器104进行网络通讯。

在一个实施例中，如图4所示，提供了一种基于固态硬盘的全功能测试***100，该***还包括电源模块106，电源模块106用于给主板和测试板供电。

具体地，参考图5所示的整体框架图，总体方案采用主板和SSD直连的方式，主板通过M.2接口和M.2延长线连接到测试板，SSD插在测试板上进行测试，测试板设计相关测试模块功能实现对SSD的控制，一个主板实现1托4测试。

服务器：生产测试流程和测试数据管控***，通过网络连接主机。

主机：测试主机，界面显示，结果保存，通过网口对主板控制开关，通过网络对主板连接通讯。

交换机：网络中转，方便扩展。

主板：测试脚本执行，4个M.2接口与4个SSD相连实现SSD的通讯测试，通过串口和SSD串口连接实现串口显示和调试，通过串口与扩展卡的STM32芯片连接实现电源控制，电压电流检测等。

测试板：M.2连接器接口测试板，SSD通过连接器***，STM32芯片和电源芯片实现控制。

电源：主板和测试板电源供电。

在本实施例中，可实现完全国产化，测试方案硬件主要包括服务器，主机，交换机，主板，测试板，电源和连接线材，其中服务器，主机，交换机，电源，和连接线材为行业通用都有国产化的供应，主板选型一般选择支持M.2的商用主板有国产化应用，测试板可以根据实现的功能进行自主设计和制造，通过物料选型和加工实现完全国产化。

其次，测试方案的技术自主可控，测试方案的软件开发应用部分采用C++编程实现，底层采用NVME开源的工具和C开发实现，通过参数和接口配置实现不同测试用例的实现。

再次，测试方案的测试成本有效降低，通过方案选型和市场调研，硬件的单端口成本对比国外的测试设备，可以降低一半以上。

在一个实施例中，主机端包括测试端管理模块，用户管理模块，配置管理模块，测试中心模块，日志管理模块，分析管理模块，设备管理模块以及数据库管理模块；

测试端管理模块用于：测试脚本和配置下发，测试端实时监控，测试端测试过程控制以及网络启动测试端开关机；

数据库管理模块用于量产数据库连接，产品信息获取，生产服务器连接以及测试日志保存；

用户管理模块用于账户管理，权限管理，用户注册，用户查询以及权限修改；

配置管理模块用于程序查询，程序配置以及参数配置；

日志管理模块用于单个查询以及批量导出；

分析管理模块用于分析查询以及分析上传；

设备管理模块用于温度曲线查询以及电压校准；

测试中心模块用于测试信息显示，测试状态监控以及测试过程控制。

具体地，参考图6所示的主机端的功能模块示意图，主机端功能主要包括：测试端管理，用户管理，配置管理，测试中心，日志管理，分析管理，设备管理，数据库管理；测试端管理和数据库管理属于后端实现，其他模块在前端实现有界面配置或显示功能。

测试端管理(后端)：试端测试脚本和配置下发，测试端实时监控，测试端测试过程控制，网络启动测试端开关机。

数据库管理(后端)：量产数据库连接，产品信息获取，生产服务器连接，测试日志保存。

用户管理：账户管理，权限管理，用户注册，用户查询，权限修改。

配置管理：程序查询，程序配置，参数配置。

日志管理：单个查询，批量导出。

分析管理：分析查询，分析上传。

设备管理：温度曲线查询，电压校准。

测试中心:测试信息显示,测试状态监控,测试过程控制。

在一个实施例中，测试端包括控制端管理模块，测试脚本运行模块，主机端管理模块以及驱动层；

控制端管理模块用于串口通信，电源上下电控制，电压电流检测，电压拉偏，DAS检测，PLP控制以及SMBUS通信；

主机端管理模块用于将测试状态更新反馈主机端以及主机端行为监控；

测试脚本运行模块用于执行测试流程，更新测试状态以及测试结果保存。

具体地，参考图7所示的测试端的功能模块示意图，测试端功能主要包括：控制端管理，测试脚本运行，主机端管理，驱动层；测试端都在后端实现，没有显示界面，脚本运行调试可使用LinuxVScode软件环境进行。

1、控制端管理

串口通信：测试端通过串口下发串口命令，对控制端进行控制。

电源上下电控制：串口命令执行，带参数控制下电和上电。

电压电流检测：串口命令执行，带参数控制电压和电流检测，结果返回测试数据。

电压拉偏：串口命令执行，带参数控制拉偏值。

DAS检测：串口命令执行，结果返回检测数据。

PLP控制：串口命令执行，带参数控制。

SMBUS通信(保留)：串口命令执行，控制数据读写。

2、主机端管理

测试状态更新反馈主机端：测试结果和测试状态实时更新，主机端通过监控获取。

主机端行为监控：获取主机端行为，例如测试中止，上下电，等操作时测试端测试停止并执行主机端的行为操作。

3、测试脚本运行

测试流程执行:测试开始时，按照测试流程执行测试项，初始化->老化测试->电压测试->PLP测试…。

测试状态更新：测试过中，测试结果实时更新保存，以便主机端查询。

测试结果保存：测试结果先保存在本地文件路径，测试完成后统一上传给主机端。

4、驱动层

驱动1：使用NVMECLI工具，支持所有NVME协议命令操作和用户命令操作。

驱动2：Pynvme开源版本工具，提供了NVME常用操作的Python封装接口。

在一个实施例中，控制端包括I2C模块，SMBUS模块，串口接口，ADC模块以及GPIO模块；

I2C模块用于通过I2C通讯调整电位计挡位以及调整对应的输入电压；

SMBUS模块用于通过SMBUS命令对待测固态硬盘进行数据传输和查询，实现SMBUS功能测试测试脚本运行；

串口接口用于测试端监控，串口命令收发以及测试数据传输；

ADC模块用于电压电流检测以实现ADC数据转换；

GPIO模块用于电源上下电控制，DAS输入检测以及PLP输出检测。

具体地，参考图8所示的控制端的功能模块示意图，控制端采用STM32MCU，功能主要包括：I2C模块，SMBUS模块，串口接口，SPI模块，GPIO模块，所有模块在后端运行，通过串口进行调试验证。

1、I2C模块:电压拉偏，电位计调整，通过I2C通讯，调整电位计挡位，调整对应的输入电压。

2、SMBUS模块:配置SMBUS通讯模式，通过SMBUS命令对SSD进行数据传输和查询，实现SMBUS功能测试测试脚本运行。

3、串口接口：

测试端监控：对测试端的命令进行监控并执行。

串口命令收发：串口命令接收和发送，参数传递。

测试数据传输：测试数据接收和发送。

4、ADC模块：电压电流检测：MCU上的ADC直接接到M.2连接器3.3V上进行电压采样，实现ADC数据转换。

5、GPIO模块：

电源上下电，电源的使能脚控制由MCU控制，MCU通过GPIO控制电源开关。

DAS输入检测：MCU通过GPIO对DAS输入电平进行判断。

PLP输出检测：MCU通过GPIO控制PLP管脚，进行相应的电平控制，控制PLP执行。

在一个实施例中，提供了一种基于固态硬盘的全功能测试实现方法，该方法应用于上述任一项所述基于固态硬盘的全功能测试***中，将待测固态硬盘插在所述测试板上进行测试，通过测试板设计测试模块功能实现对固态硬盘的控制。

关于基于固态硬盘的全功能测试***的具体限定可以参见上文各个实施例中的描述，在此不再赘述。

在一个实施例中，提供了一种基于固态硬盘的全功能测试实现方法，该方法还包括：

在高低温批量测试下增加高低温温箱，并将所述测试板置于前腔温变环境中，将所述主板置于隔离后的后腔常温环境中，中间通过延长线连接并做密封处理以实现批量温循测试。

具体地，在本实施例中，测试方案的扩展性强，如果需要实现常温小型化机台测试增加相应的结构设计进行固定和布局就可以实现，如果需要实现高低温批量测试，通过复制主板+测试板一套，增加高低温温箱设计，并将测试板置于前腔温变环境中，将主板置于隔离后的后腔常温环境中，中间通过延长线连接并做密封处理，就可以实现批量温循测试。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括通过***总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作***、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作***和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种基于固态硬盘的全功能测试方法。

本领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一种非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种基于固态硬盘的全功能测试***，其特征在于，所述***包括：

主机端、测试端以及控制端，所述主机端通过网口与测试端的主板连接通讯，所述主板通过M.2接口和M.2延长线连接到控制端的测试板；

所述主机端用于显示测试界面，保存测试结果，并通过网络对测试端进行任务发送，监听测试结果以及中断控制；

所述测试端用于监听并执行主机端下发的测试任务，更新测试结果，异常处理以及对保存测试记录；

待测固态硬盘通过连接器***测试板中进行测试，所述控制端通过STM32芯片和电源芯片实现测试控制。

2.根据权利要求1所述的基于固态硬盘的全功能测试***，其特征在于，所述主机端包括测试端管理模块，用户管理模块，配置管理模块，测试中心模块，日志管理模块，分析管理模块，设备管理模块以及数据库管理模块；

所述测试端管理模块用于：测试脚本和配置下发，测试端实时监控，测试端测试过程控制以及网络启动测试端开关机；

所述数据库管理模块用于量产数据库连接，产品信息获取，生产服务器连接以及测试日志保存；

所述用户管理模块用于账户管理，权限管理，用户注册，用户查询以及权限修改；

所述配置管理模块用于程序查询，程序配置以及参数配置；

所述日志管理模块用于单个查询以及批量导出；

所述分析管理模块用于分析查询以及分析上传；

所述设备管理模块用于温度曲线查询以及电压校准；

所述测试中心模块用于测试信息显示，测试状态监控以及测试过程控制。

3.根据权利要求2所述的基于固态硬盘的全功能测试***，其特征在于，所述测试端包括控制端管理模块，测试脚本运行模块，主机端管理模块以及驱动层；

所述控制端管理模块用于串口通信，电源上下电控制，电压电流检测，电压拉偏，DAS检测，PLP控制以及SMBUS通信；

所述主机端管理模块用于将测试状态更新反馈主机端以及主机端行为监控；

所述测试脚本运行模块用于执行测试流程，更新测试状态以及测试结果保存。

4.根据权利要求3所述的基于固态硬盘的全功能测试***，其特征在于，所述控制端包括I2C模块，SMBUS模块，串口接口，ADC模块以及GPIO模块；

所述I2C模块用于通过I2C通讯调整电位计挡位以及调整对应的输入电压；

所述SMBUS模块用于通过SMBUS命令对待测固态硬盘进行数据传输和查询，实现SMBUS功能测试测试脚本运行；

所述串口接口用于测试端监控，串口命令收发以及测试数据传输；

所述ADC模块用于电压电流检测以实现ADC数据转换；

所述GPIO模块用于电源上下电控制，DAS输入检测以及PLP输出检测。

5.根据权利要求4所述的基于固态硬盘的全功能测试***，其特征在于，所述***还包括服务器以及交换机，所述交换机分别通过网线与主机端、测试端以及服务器进行网络通讯。

6.根据权利要求5所述的基于固态硬盘的全功能测试***，其特征在于，所述***还包括电源模块，所述电源模块用于给主板和测试板供电。

7.一种基于固态硬盘的全功能测试实现方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1-6任一项所述基于固态硬盘的全功能测试***中，将待测固态硬盘插在所述测试板上进行测试，通过测试板设计测试模块功能实现对固态硬盘的控制。

8.根据权利要求7所述的基于固态硬盘的全功能测试实现方法，其特征在于，所述方法还包括：

在高低温批量测试下增加高低温温箱，并将所述测试板置于前腔温变环境中，将所述主板置于隔离后的后腔常温环境中，中间通过延长线连接并做密封处理以实现批量温循测试。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求7或8所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求7或8所述方法的步骤。

Images