CN115987224B - 一种采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路 - Google Patents

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Abstract

一种采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,自举电路中通过引入高压NJFET和PJFET、高压NMOS管、高压PMOS管、低压耗尽管、低压NMOS和低压PMOS管,结合低压耗尽管提供偏置电流,既可以实现偏置偏置电流不随电源电压波动,提升电源抑制比,同时还容易实现上下电流源的平衡,不会对运放输出造成失调的影响。因此,本发明在保证高压性能的情况下,可以显著降低静态功耗,并且提升电源抑制比,电路简单,易于实现性能和成本的最佳结合。

Description

一种采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路
技术领域
本发明涉及电源管理电路,尤其是一种采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,属于集成电路技术领域。
背景技术
当现成的运算放大器(op amp)不能提供特定应用所需的信号摆幅范围时,工程师面临两种选择:使用高压运算放大器或设计分立解决方案,但这两种选择方案的成本可能都很高。对许多应用来说,第三种选择采用自举技术可能是比较廉价的替代方案。除了动态性能要求极为苛刻的应用,自举电源电路的设计是相当简单的。
常规运算放大器要求其输入电压在其电源轨范围内。如果输入信号可能超过电源轨,可以通过电阻衰减过大输入,使这些输入降至电源范围以内的电平。这样处理并不理想,因为它会对输入阻抗、噪声和漂移产生不利影响。同样的电源轨也会限制放大器输出,闭环增益的大小存在一个限值,以避免将输出驱动到饱和状态。
因此,如果要求处理输入和/或输出上的大信号偏离,则需要宽电源轨和能在这些电源轨上工作的放大器。例如工作电压24V 至 220V 高压精密运算放大器是适合这种情况的出色选择,不过自举低压运算放大器也能满足应用要求。如图1所示现有采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路。自举会创建一个自适应双电源,其正负电压不是以地为基准,而是以输出信号的瞬时值为基准。在这种配置中,电源随着运算放大器的输出电压(VOUT) 上下移动。因此,VOUT始终处于中间电源电压,并且电源电压能够相对于地移动。使用自举可以非常容易地实现这种自适应双电源。是否使用自举主要取决于动态要求和功耗限制。
图1为现有技术采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,包括低压运算放大器和自举电路两部分,其中自举电路包含偏置电流源电路和电压钳位电路。偏置电流源由Q1/Q12/R9通路组成,用于给后续钳位电路提供偏置,此电路直接采用高压和电阻产生偏置电流,偏置电流会随电压变化而变化,从而导致整个***的电源电压随之波动,电源抑制特性差。电压钳位电路由Q2/Q3/Q4/D1/D2/Q9/Q10/Q11/Q5/R3/Q6/Q7/R5/Q8,一起来实现。需要数次电压转换,容易出现失调导致精度受损。另外D1和D2分别为分流模式基准电压源。由于D1和D2基准电压之和在8V,再结合Q4/Q6/Q7/Q9的Vbe分压,因此运放的电源到地钳位电压在10V左右,那么对于一些低压运放的使用会有限制,例如5V耐压的运放和3.3V耐压的运放。最后,当前自举技术采用三极管,结合二极管以及电阻实现。众所周知,三极管为电流型器件,其基极需要电流来驱动,因此其静态功耗比较大,因此目前的自举技术静态功耗很大。
发明内容
为解决现有技术存在的缺陷,一种采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,包括低压运放和自举电路两部分,自举电路基于双电源轨结构,设有偏置电流源电路和电压钳位电路,其特征在于:自举电路包括N型JFET管NJFET、NMOS管ND1、NMOS管ND2、NMOS管HVN和NMOS管NE1~NEn串联,串联个数n=2~6,以及P型JFET管PJFET、PMOS管HVP和PMOS管PE1~PEp串联,串联个数 p=2~6;N型JFET管NJFET的漏极连接高侧电源轨电压VS+和NMOS管HVN的漏极,NJFET的栅极接低压运放op的输出Vout和P型JFET管PJFET的栅极,NJFET的源极连接NMOS管ND1的漏极,当NEn 中的串联个数n=6时,NMOS管ND1的栅极、源极和衬底互连并连接NMOS管NE6的栅极和漏极以及NMOS管HVN的栅极,NMOS管NE6的源极和衬底连接NMOS管NE5的栅极和漏极,NMOS管NE5的源极和衬底连接NMOS管NE4的栅极和漏极,NMOS管NE4的源极和衬底连接NMOS管NE3的栅极和漏极,NMOS管NE3的源极和衬底连接NMOS管NE2的栅极和漏极,NMOS管NE2的源极和衬底连接NMOS管NE1的栅极和漏极;当NEn 中的串联个数n=5时,NMOS管ND1的栅极、源极和衬底互连并连接NMOS管NE5的栅极和漏极以及NMOS管HVN的栅极,NMOS管NE5的源极和衬底连接NMOS管NE4的栅极和漏极,NMOS管NE4的源极和衬底连接NMOS管NE3的栅极和漏极,NMOS管NE3的源极和衬底连接NMOS管NE2的栅极和漏极,NMOS管NE2的源极和衬底连接NMOS管NE1的栅极和漏极,当NEn 中的串联个数n=4、3、2时,以此类推;NMOS管NE1的源极和衬底互连并连接至运放的输出Vout以及PMOS管PE1的源极和衬底;同理,当PEp 中串联个数p=2时,PMOS管PE1的栅极和漏极互连并连接PMOS管PE2的源极和衬底,PMOS管PE2的栅极和漏极互连并连接PMOS管HVP的栅极以及NMOS管ND2的漏极,当PEp 中串联个数p=3时,PMOS管PE1的栅极和漏极互连并连接PMOS管PE2的源极和衬底,PMOS管PE2的栅极和漏极互连并连接PMOS管PE3的源极和衬底,PMOS管PE3的栅极和漏极互连并连接PMOS管HVP的栅极以及NMOS管ND2的漏极,当PEp 中串联个数p=4、5、6时,以此类推;NMOS管ND2的栅极、源极和衬底互连并连接P型JFET管PJFET的源极,P型JFET管PJFET的漏极连接低侧电源轨电压VS-和PMOS管HVP的漏极,PMOS管HVP的源极和衬底互连并连接低压运放op的低电位gnd,NMOS管HVN的源极和衬底互连并连接低压运放op的电源端VDD ,低压运放op的正端连接输入电压Vin,低压运放op的负端与输出端Vout互连。
进一步地,所述NMOS管NEn和PMOS管PEp中的各管的源极和衬底可以不相连接,衬底看连接低压运放op的输出Vout。
优选地,所述NMOS管NE1~NEn中的串联个数和PMOS管PE1~PEp中的串联个数均取值=4。
进一步地,所述NJFET为高耐压的N型JFET管,PJFET为高耐压的P型JFET管。
进一步地,所述NMOS管ND1和NMOS管ND2均为低压耗尽型NMOS场效应管且尺寸相同;NMOS管NE1~ NEn均为低压增强型NMOS场效应管。
进一步地,所述PMOS管PE1~ PEn均为低压增强型PMOS场效应管。
进一步地,所述NMOS管HVN为高耐压增强型NMOS管,PMOS管HVP为高耐压增强型PMOS场效应管。
本发明的优点及显著效果:本发明自举电路中,偏置电流源电路由相同尺寸的耗尽管ND1和ND2组成,钳位电路包括两部分,一部分是NJFET和PJFET分别实现对Vout的高压钳位,另一部分是NE1到NEn给HVN提供低压钳位以及PE1到PEp给HVP实现低压钳位。通过将NJFET、ND1、NE1、NEn、PE1、PEp、ND2、PJFET串联,可以实现将高、低压钳位电路和偏置电流电路合二为一,从而显著降低静态功耗;并且由于采用NJFET和PJFET钳位后,低压耗尽管ND1和ND2的漏源电压受双电源轨的波动影响很小,设置偏置电流的精度很高;还有高压电位和低压钳位串联,等效为只有一级低压钳位,即NE1和NEn直接钳位HVN,PE1和PEp直接钳位HVP,因此钳位电压精度高。通过引入高压NJFET和PJFET、高压NMOS管、高压PMOS管、低压耗尽管、低压NMOS和低压PMOS管,结合低压耗尽管提供偏置电流,既可以实现偏置偏置电流不随电源电压波动,提升电源抑制比,同时还容易实现上下电流源的平衡,不会对运放输出造成失调的影响,并且显著降低静态功耗。因此,本发明在保证高压性能的情况下,可以显著降低静态功耗,并且提升电源抑制比,电路简单,易于实现性能和成本的最佳结合。
附图说明
图1为现有技术采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路。
图2为本发明采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路。
具体实施方式
如图2,本发明采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路中,高压指的是根据高压输入信号Vin波动范围设置的耐压范围(因为运放为单位增益的跟随器,Vin=Vout)。例如Vin±50V,VS+为高侧电位,VS-为低侧电位,那么VS+=Vin+50V,VS-=Vin-50V,那么高压器件的最大耐压为(VS+)-(VS-)=100V。而低压指的是低压运放op的耐压范围,例如最高工作电压为5V,那么低压器件的耐压即为5V。
op为常规的低压运放,Vin为运放的输入端,Vout为运放的输出端。VDD为运放的供电电压,gnd为运放的低电位。其中VDD-gnd始终保持低电压差,以保证低压运放能够安全工作,例如5V或者6.5V的耐压。本发明为自适应双电源,其正负电压不是以地为基准,而是以输出信号Vout的瞬时值为基准。由于采用双电源轨,其中VS+为高侧电源轨电位,VS-为低侧电源轨电位。VS+和VS-的压差可以为很高的压差,该压差由自举电路器件耐压决定,例如可以为220V或者700V等等。NJFET为高耐压的N型JFET管,PJFET为高耐压的P型JFET管,ND1和ND2为低压耗尽型NMOS场效应管,并且尺寸相同。NE1/NEn为低压增强型NMOS场效应管,PE1/PEp为低压增强型PMOS场效应管,HVN为高耐压增强型NMOS管,HVP为高耐压增强型PMOS场效应管。
图2中,NJFET、HVN、ND1、NEn、NE1组成针对运放VDD和Vout之间电位的钳位电路,PJFET、HVP、ND2、PEp、PE1组成针对运放gnd和Vout之间电位的钳位电路,用于为运放提供正常工作的工作电压,并且该电压随Vin和Vout电压动态浮动。其中低压耗尽管ND1和ND2的尺寸相同。即使指正负电源轨VS+和VS-连续调整,运放的工作电压差VDD-gnd,始终关于输出电压对称,输出始终位于电源范围平均值波动,从而可以利用低压运放检测到微弱的高压信号,转换成有驱动能力的高压输出信号。
众所周知,由于高耐压的N型JFET管NJFET的稳压作用,通过NJFET的栅极接到最低电位,可以将其源极电位钳位在较低水平电压,通常在6V电压附近,可以有效的保护6V耐压的低压器件。并且高压器件的耐压为(VS+)-(VS-),自身在使用中不会高压损坏。因此在本发明中,在NJFET、HVN、ND1、NEn、NE1组成针对运放VDD和Vout之间电位的钳位电路中,NJFET钳位保护电路的最高电位为VS+,最低电位为Vout。其中NJFET的源极给低压器件ND1、NEn、NE1供电,NJFET漏极承受了VS+的高压,其源极到Vout的电压差最高为6V,因此可以有效保护ND1、NEn、NE3和HVN的栅极不会被高压损坏。ND1给该通路提供偏置电流,由饱和区漏电流公式可得到:
Figure SMS_1
其中VthND为耗尽管的阈值,W/L为耗尽管的尺寸,为工艺常数。
由(1)式可知,根据耗尽管阈值和尺寸,即可设置合适的偏置电流。其中(W/L)ND为耗尽管的尺寸,(W/L)NE为耗尽管的尺寸,VGSND=0为耗尽管的栅源电压,VGSNE为增强管的栅源电压,VthND为耗尽管的阈值,VthNE为增强管的阈值。NEn和NE1采用栅极和漏接连接的二极管接法,根据耗尽管的偏置电流,由饱和电流公式得到:
Figure SMS_2
由式(3)可知,可以实现固定的增强管VGSNE电压,即VGSNE1和VGSNEn。那么此时VDD端的电位即为:
Figure SMS_3
同理,高耐压的P型JFET管PJFET,栅极接到最高电位,可以将其源极钳位在较最高电位低一定水平的电压,通常在6V电压附近,即最高电位和PJFET源极之间压差最大为6V,因此可以有效的保护低压器件。其中在PJFET、HVP、ND2、PEp、PE1组成针对运放gnd和Vout之间电位的钳位电路中,PJFET钳位保护电路的最低电位为VS-,最高电位为Vout。其中PJFET的源极给低压器件ND2、PEp、PE1供电,PJFET漏极承受了VS-的高压差,其源极到Vout的电压差最高为6V,因此可以有效保护ND2、PEp、PE1不会被高压损坏。ND2给该通路提供偏置电流,由以上分析可得,添加到低压运放的VDD和gnd两端的电压差为:
VDD-gnd= Vout+VGSNE1+ VGSNEn- VGSHVN-[ Vout-VSGPEp-VSGPE1+VSGHVP]
= VGSNE1+ VGSNEn+ VSGPEp+VSGPE1- VGSHVN- VSGHVP (5)
从而可以控制低压运放op可以工作在合理的VDD-gnd低压差范围内,不会损坏,同时,由于运放的供电电压可以随高压Vin和Vout波动而波动,因此可以保证其高压性能的可靠性。
还有,由于低压运放的工作电压VDD-gnd,只与耗尽管ND1和ND2的偏置电流,以及VGSNE1、VGSNEn、VSGPEp、VSGPE1、VGSHVN、VSGHVP有关,和实际的电源VS+和VS-无关,因此极大的提升了运放的电源抑制比PSRR性能。此外,由于ND1和ND2的尺寸相同,偏置电流也一样,因此ND1、NEn、NE1和ND2、PEp、PE1通路电流相同,上下电流平衡,不会对运放的输出Vout造成失调的影响。最后,该钳位电压通路需要偏置电流很小,微安级别就可以实现稳定,可方便的利用耗尽管尺寸来设定,因此可以实现低功耗。
发明中,因为NEn和PEn的衬底接Vout电位,会引入衬偏效应而导致阈值增加,因此只会增加钳位电压,并不会显著影响电路性能。同时,低压NMOS管NE1、NEn的串联个数n,可以根据低压NMOS的栅源电压Vgs、耗尽管ND1偏置电流、高压管HVN的栅源电压Vgs(HVN)、低压运放的工作电压(VDD-gnd)和NJFET的钳位电压VNJ来共同决定。例如运放的工作电压为VDD-gnd=∆V,当∆V/2<VNJ,那么该电路就可以正常工作,即NJFET钳位电压可以充足低压NMOS和耗尽管供电,假设所有的低压NMOS管Vgs电压相同,VDD相对Vout的最高电位差满足:
VDD-Vout =Vgs*n- Vgs(HVN)≤∆V/2 (6)
可近似的到得到
n≤(∆V/2+ Vgs(HVN))/ Vgs (7)
而为了保证低压NMOS能够开启高压HVN,并提供至少一个Vgs电压,即
Vgs*n- Vgs(HVN)≥Vgs (8)
那么
n≥2 (9)
综合式(7)和(9),串联低压NMOS管的个数n满足2≤n≤(∆V/2+ Vgs(HVN))/ Vgs,根据低压管HVN阈值和假设低压运放的工作电压最大为6.5V,可以得到n的经验值为2≤n≤6。最佳值可以选择中间数值n=4即可。
同理,低压PMOS管PE1、PEp的串联个数p,根据低压PMOS的栅源电压、耗尽管ND2偏置电流、高压管HVP的栅源电压Vsg(HVP)、低压运放的工作电压和PJFET的钳位电压VPJ来共同决定。例如运放的工作电压为VDD-gnd=∆V,当∆V/2<VPJ, 那么该电路就可以正常工作,假设所有的低压PMOS管Vsg电压相同,gnd相对Vout的最高电位差为:
Vout-gnd =Vsg*p-Vsg(HVP)≤∆V /2 (10)
即:
p≤(∆V /2- Vsg(HVP))/ Vsg (11)
而为了保证低压PMOS能够开启高压HVP,并提供至少一个Vsg电压,即
Vsg*p-Vsg(HVP)≥Vsg (12)
那么
p≥2 (13)
综合式(11)和(13)可得到串联低压PMOS管的个数p满足2≤p≤(∆V /2- Vsg(HVP))/ Vsg,根据低压管HVP阈值和假设低压运放的工作电压最大为6.5V,可以得到p的经验值为2≤p≤6。最佳值可以选择中间数值p=4即可。
需要注意的是,以上经验值是假设低压运放的最大工作电压6.5V,如果运放的最大工作电压升高,串联低压NMOS和PMOS的输出n和p也要相应的增加。

Claims (7)

1.一种采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,包括低压运放和自举电路两部分,自举电路基于双电源轨结构,设有偏置电流源电路和电压钳位电路,其特征在于:自举电路包括N型JFET管NJFET、NMOS管ND1、NMOS管ND2、NMOS管HVN和NMOS管NE1~NEn串联,串联个数n=2~6,以及P型JFET管PJFET、PMOS管HVP和PMOS管PE1~ PEp串联,串联个数 p=2~6;N型JFET管NJFET的漏极连接高侧电源轨电压VS+和NMOS管HVN的漏极,NJFET的栅极接低压运放op的输出Vout和P型JFET管PJFET的栅极,NJFET的源极连接NMOS管ND1的漏极,当NEn 中的串联个数n=6时,NMOS管ND1的栅极、源极和衬底互连并连接NMOS管NE6的栅极和漏极以及NMOS管HVN的栅极,NMOS管NE6的源极和衬底连接NMOS管NE5的栅极和漏极,NMOS管NE5的源极和衬底连接NMOS管NE4的栅极和漏极,NMOS管NE4的源极和衬底连接NMOS管NE3的栅极和漏极,NMOS管NE3的源极和衬底连接NMOS管NE2的栅极和漏极,NMOS管NE2的源极和衬底连接NMOS管NE1的栅极和漏极;当NEn 中的串联个数n=5时,NMOS管ND1的栅极、源极和衬底互连并连接NMOS管NE5的栅极和漏极以及NMOS管HVN的栅极,NMOS管NE5的源极和衬底连接NMOS管NE4的栅极和漏极,NMOS管NE4的源极和衬底连接NMOS管NE3的栅极和漏极,NMOS管NE3的源极和衬底连接NMOS管NE2的栅极和漏极,NMOS管NE2的源极和衬底连接NMOS管NE1的栅极和漏极,当NEn 中的串联个数n=4、3、2时,以此类推;NMOS管NE1的源极和衬底互连并连接至运放的输出Vout以及PMOS管PE1的源极和衬底;同理,当PEp 中串联个数p=2时,PMOS管PE1的栅极和漏极互连并连接PMOS管PE2的源极和衬底,PMOS管PE2的栅极和漏极互连并连接PMOS管HVP的栅极以及NMOS管ND2的漏极,当PEp 中串联个数p=3时,PMOS管PE1的栅极和漏极互连并连接PMOS管PE2的源极和衬底,PMOS管PE2的栅极和漏极互连并连接PMOS管PE3的源极和衬底,PMOS管PE3的栅极和漏极互连并连接PMOS管HVP的栅极以及NMOS管ND2的漏极,当PEp 中串联个数p=4、5、6时,以此类推;NMOS管ND2的栅极、源极和衬底互连并连接P型JFET管PJFET的源极,P型JFET管PJFET的漏极连接低侧电源轨电压VS-和PMOS管HVP的漏极,PMOS管HVP的源极和衬底互连并连接低压运放op的低电位gnd,NMOS管HVN的源极和衬底互连并连接低压运放op的电源端VDD ,低压运放op的正端连接输入电压Vin,低压运放op的负端与输出端Vout互连。
2.根据权利要求1所述的采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,其特征在于:所述NMOS管NEn和PMOS管PEp中的各管的源极和衬底不相连接,衬底连接至低压运放op的输出Vout。
3.根据权利要求1所述的采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,其特征在于:所述NMOS管NE1~NEn中的串联个数n和PMOS管PE1~PEp中的串联个数p均取值为4。
4.根据权利要求1所述的采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,其特征在于:所述NJFET为高耐压的N型JFET管,PJFET为高耐压的P型JFET管。
5.根据权利要求1所述的采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,其特征在于:所述NMOS管ND1和NMOS管ND2均为低压耗尽型NMOS场效应管且尺寸相同;NMOS管NE1~ NEn均为低压增强型NMOS场效应管。
6.根据权利要求1所述的采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,其特征在于:所述PMOS管PE1~ PEp均为低压增强型PMOS场效应管。
7.根据权利要求1所述的采用自举技术实现低压运放应用于高压的电路,其特征在于:所述NMOS管HVN为高耐压增强型NMOS管,PMOS管HVP为高耐压增强型PMOS场效应管。
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