CN115834432A - 数据链路的检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供的一种数据链路的检测方法、装置、设备及存储介质,应用于第一器件,第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述方法包括:确定至少一个采样周期的采样时间,并基于至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;针对每个采样周期的采样时间,根据在所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;根据确定出的第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量。用以提高成品质量。
Description
技术领域
本申请涉及通信技术领域,具体地涉及一种数据链路的检测方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
在移动设备的电路中通常会使用SDIO总线将移动设备的控制端与外部通信模块连接。其中,SDIO总线通常包括一根控制信号线和四根数据信号线。由于数据在数据信号线的传输过程中,为了提高数据的传输速度,通常将数据划分至多个数据块,将多个数据块分别在不同的数据信号线中传输。基于此在设计电路时,需要保证SDIO总线中的每根数据线走线等长,使得控制端与外部通信模块之间的数据块能够同步,即为控制端或者外部通信模块可以通过四根数据信号线同时接收到正确的数据块,以便传输高速信号时具有较好的完整性,使对端能够更容易更准确的获取到相应的信号。
但是,在实际应用中,由于存在多种因素,例如连接点焊接不同、噪声干扰或者数据线不等长等,造成数据在不同数据信号线上传输时延不同,导致一个时钟周期内不同数据信号线间在数据传输时能够同步的时刻降低了,通过数据信号线传输数据的模块间在一个时钟周期内能够正确解析出数据的时刻减少了,即为数据信号线的信号传输质量变差了。基于此,需要在移动设备生产过程中,对移动设备的不同模块间的数据信号线的信号传输质量进行测试,将数据信号线中信号传输质量较差的移动设备找出,防止流入市场,降低成品质量。
发明内容
有鉴于此,本申请提供一种数据链路的检测方法、装置、设备及存储介质,用以通过检测数据线的信号传输质量,降低问题产品流入市场,提高成品质量。
第一方面,本申请实施例提供了一种数据链路的检测方法,应用于第一器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述方法包括:
确定至少一个采样周期的采样时间,并基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;
针对每个采样周期的采样时间,根据在所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;
根据确定出的第一有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量。
优选地,在所述基于所述至少一个采样周期的采样时间在所述至少两根数据信号线中采样测试数据块之前,还包括:
通过所述控制信号线向所述第二器件发送测试指令消息;
通过所述控制信号线接收所述第二器件发送的测试响应消息。
优选地,在所述基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块之前,还包括:
确定目标总线的传输模式为第一模式;
基于所述至少一个采样周期的采样时间在目标数据信号线中采样测试数据;其中,所述目标信号线是所述至少两根数据信号线中的任一根数据信号线;
针对每个采样周期的采样时间,检测在所述目标数据线中采样的测试数据是否正确,且将正确的测试数据对应的采样时间确定为第二有效采样时间;
将所述目标总线的传输模式更新为第二模式;
所述基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块包括:
在所述目标总线的传输模式为第二模式时,基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;
所述根据确定出的第一有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量包括:
根据确定出的第一有效采样时间及第二有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量。
优选地,还包括:
获取测试数据的预设采样次数;
获取测试数据的已采样次数,并检测所述测试数据的已采样次数是否达到所述测试数据的预设采样次数;
所述确定至少一个采样周期的采样时间,并基于所述至少一个采样周期的采样时间采样测试数据块包括:
在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间;在第i个采样周期中,基于所述第i个采样周期的采样时间在所述至少两根数据信号线中采样测试数据;其中,i的值为已采样次数与1之和;
所述针对每个采样周期的采样时间,利用所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间包括:
针对第i个采样周期的采样时间,根据所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;
在测试数据正确时,将所述第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间之后,还包括:
根据所述i的值更新所述已采样次数,并重新执行步骤获取测试数据的已采样次数,并检测所述测试数据的已采样次数是否达到所述测试数据的预设采样次数,至步骤针对第i个采样周期的采样时间,根据所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间,直至所述测试数据的已采样次数达到所述测试数据的预设采样次数。
优选地,所述在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间包括:
根据所述测试数据的预设采样次数,确定采样基准值,并获取采样时间的第一预设间隔时间;
在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据所述采样基准值,及采样时间的第一预设间隔时间,确定第i个采样周期的采样时间。
优选地,所述在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间包括:
获取采样时间的第二预设间隔时间;
在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据采样时间的第二预设间隔时间及第i-1个采样周期的采样时间,确定第i个采样周期的采样时间。
优选地,所述目标总线包括:安全数字输入输出接口SDIO总线。
第二方面,本申请实施例提供了一种数据链路的检测方法,应用于第二器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述方法包括:
根据所述至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块;
通过所述至少两根数据信号线,分别向第一器件发送所述至少两个测试数据块;其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
优选地,在所述根据所述至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块之前,还包括:
通过所述控制信号线接收所述第一器件发送的测试指令消息;
通过所述控制信号线向所述第一器件发送测试响应消息。
第三方面,本申请实施例提供了一种数据链路的检测装置,应用于第一器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述装置包括:
处理单元,用于确定至少一个采样周期的采样时间,并基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;
所述处理单元,还用于针对每个采样周期的采样时间,根据在所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;
确定单元,用于根据确定出的第一有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量。
第四方面,本申请实施例提供了一种数据链路的检测装置,应用于第二器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述装置包括:
处理单元,用于根据所述至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块;
发送单元,用于通过所述至少两根数据信号线,分别向第一器件发送所述至少两个测试数据块;其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
第五方面,本申请实施例提供了一种电子设备,包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器,其中,当该计算机程序指令被所述处理器执行时,触发所述电子设备执行上述第一方面任一项所述的方法或第二方面任一项所述的方法。
第六方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行上述第一方面任一项所述的方法或第二方面任一项所述的方法。
采用本申请实施例所提供的方案,可以先确定至少一个采样时间,并基于至少一个采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块,针对每个采样时间,根据该采样时间在每根数据信号线中采样的测试数据块获取测试数据,并检测测试数据是否正确,在测试数据正确时,将正确的测试数据对应的采样时间确定为第一有效采样时间。由于第一有效采样时间的个数越多,说明不同根数据信号线可以同时传输信号的时刻越多,则可以正确获取数据的概率越大,即为信号传输质量越好,基于此在本申请实施例中,可以根据第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量,实现对至少两根数据信号线的传输质量的检测,从而可以查找出至少两根数据信号线中信号传输质量较差的产品,进而可以降低问题产品流入市场的概率,提高成品质量。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本申请实施例提供的一种数据链路的检测方法的场景示意图;
图2为本申请实施例提供的一种数据链路的检测方法的流程示意图;
图3a为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的场景示意图;
图3b为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的场景示意图;
图4a为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的场景示意图;
图4b为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的场景示意图;
图5为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的流程示意图;
图6为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的流程示意图;
图7为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测方法的流程示意图;
图8为本申请实施例提供的一种数据链路的检测装置的结构示意图;
图9为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测装置的结构示意图;
图10为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测装置的结构示意图;
图11为本申请实施例提供的另一种数据链路的检测装置的结构示意图;
图12为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了更好的理解本申请的技术方案,下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。
应当明确,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
应当理解,本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,甲和/或乙,可以表示:单独存在甲,同时存在甲和乙,单独存在乙这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
在对本申请实施例进行具体介绍之前,首先对本申请实施例应用或可能应用的术语进行解释。
SDIO(Secure Digital Input and Output,安全数字输入输出),一种外接接口。
CLK(Clock signal),时钟信号。
CMD(Command line),控制信号线。
DAT(Data line),数据信号线。
在移动设备的电路中通常会使用SDIO总线将移动设备的控制端与外部通信模块连接。其中,SDIO总线通常包括一根控制信号线和四根数据信号线。由于数据在数据信号线的传输过程中,为了提高数据的传输速度,通常将数据划分至多个数据块,将多个数据块分别在不同的数据信号线中传输。基于此在设计电路时,需要保证SDIO总线中的每根数据线走线等长,使得控制端与外部通信模块之间的数据块能够同步,即为控制端或者外部通信模块可以通过四根数据信号线同时接收到正确的数据块,以便传输高速信号时具有较好的完整性,使对端能够更容易更准确的获取到相应的信号。
但是,在实际应用中,由于存在多种因素,例如连接点焊接不同、噪声干扰或者数据线不等长等,造成数据在不同数据信号线上传输时延不同,导致一个时钟周期内不同数据信号线间在数据传输时能够同步的时刻降低了,通过数据信号线传输数据的模块间在一个时钟周期内能够正确解析出数据的时刻减少了,参考图4b所示,即为数据信号线的信号传输质量变差了。基于此,需要在移动设备生产过程中,对移动设备的不同模块间的数据信号线的信号传输质量进行测试,将数据信号线中信号传输质量较差的移动设备找出,防止流入市场,降低成品质量。
针对上述问题,本申请实施例提供了一种数据链路的检测方法、装置、设备及存储介质,可以先确定至少一个采样时间,并基于至少一个采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块,针对每个采样时间,根据在每根数据信号线中采样的测试数据块获取测试数据,并检测测试数据是否正确,在测试数据正确时,将正确的测试数据对应的采样时间确定为第一有效采样时间。由于第一有效采样时间的个数越多,说明不同根数据信号线可以同时传输信号的时刻越多,则可以正确获取数据的概率越大,即为信号传输质量越好,基于此在本申请实施例中,可以根据第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量,实现对至少两根数据信号线的传输质量的检测,从而可以查找出至少两根数据信号线中信号传输质量较差的产品,进而可以降低问题产品流入市场的概率,提高成品质量。以下进行详细说明。
参见图1,为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。如图1所示,该电子设备包括第一器件10及第二器件11。第一器件10与第二器件11之间通过目标总线12连接。例如,目标总线为SDIO总线。目标总线包括控制信号线121及至少两根数据信号线122。其中,在目标总线为SDIO总线时,SDIO总线中包括四根数据信号线122。
其中,第一器件10可以为处理器,为存储设备的控制中心,利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分,通过运行或执行存储在存储器内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,以执行电子设备的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(integrated circuit,IC)组成,例如可以由单颗封装的IC所组成,也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说,第一器件10可以仅包括中央处理器(central processing unit,CPU)。在本发明实施方式中,CPU可以是单运算核心,也可以包括多运算核心。
第二器件11可以是与处理器进行通信的其他器件,例如,可以是无线网络通信器件,或其他需与第一器件10通过数据信号线传输数据的器件。
在实际电路设计时,通常要求第一器件10与第二器件11间的至少两根数据信号线走线等长,且第一器件10与第二器件11件的距离不能太远,否则信号传输质量较差。为了保证第一器件10与第二器件11间的通信质量,可以检测第一器件10与第二器件11间的数据信号线的传输质量。在本申请中可以通过检测在一个采样周期内第一器件10与第二器件11间的至少两根数据信号线中可以同步传输信号的时间,来确定至少两根数据信号间信号传输质量。
参见图2,为本申请实施例提供的一种数据链路的检测方法的流程示意图。所述检测方法应用于上述图1所示的第一器件10中。如图2所示,所述方法包括:
步骤S201、确定至少一个采样周期的采样时间,并基于至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块。
应理解的是,在数据信号线的传输过程中,数据以模拟信号的方式传输。根据传输的数据的具体数值不同,模拟信号的电平信号也不同,例如为高电平信号或者低电平信号。在数据块的传输过程中,存在电平信号切换的过程,如图3a所示。在进行数据解析时,通常是根据模拟信号为高电平还是低电平信号进行数据的解析。在电平信号的切换过程,由于无法解析出电平信号为高电平信号还是低电平信号,因此,此部分数据为无效数据。因此,在数据的传输过程中,数据信号线传输的数据块中存在能被器件解析出数据的有效数据部分及无法被器件解析出数据的无效数据部分,如图3b所示。器件在数据信号线中采集数据时,若当前采集时间采集的数据为有效数据部分,则可以正确解析出对端传输的数据,若当前采集时间采集的数据为无效数据部分,则无法正确解析出对端传输的数据。在一个采样周期中,能够采集到有效数据部分的时间越长,则说明获取到有效数据部分的概率越大,可以认为该数据信号线传输的信号质量越好。在将数据划分为多个数据块,分别通过不同的数据信号线同时传输时,则一个采样周期中,不同数据信号线间能够同时采集到有效数据部分的时间越长,则说明正确获取到对端传输的数据的概率越大,可以认为不同数据信号线间的信号传输质量越好。
示例性的,假设第一器件与第二器件间通过SDIO总线连接,此时第一器件与第二器件间具有四根数据信号线。在理想状态下,在四根数据信号线等长的情况下,可以认为四根数据信号线间对应的有效数据的采集时间是完全相同的,如图4a所示。但是在实际实现中,由于存在多种因素,导致不同的数据信号线间传输数据时存在不同的延时,导致不同数据信号对应的有效数据部分的采集时间不完全相同,如图4b所示。由于传输的数据被划分至不同的数据块,且分别通过不同的数据信号线传输,因此在对四根数据信号线进行数据采集时,只有四根数据信号线同时采集到有效数据部分时,才能正确解析出对端发送的数据。一个采样周期内四根数据信号线同时采集到有效数据部分的时间越长,则说明正确获取到对端传输的数据的概率越大,可以认为不同数据信号线间的信号传输质量越好。
在本申请实施了中,为了检测第一器件与第二器件间数据信号线的信号传输质量,可以通过检测一个采样周期内不同数据信号线中同时采集到有效数据部分的采集时间来确定第一器件与第二器件间数据信号线的信号传输质量。由于在一个采样周期内仅能采样一次,且在不同采样周期的相同采样时刻采集数据时,在不同采样周期采集到有效部分或者无效部分是相同的。因此为了检测出一个采样周期中在不同数据信号线同时采集到有效数据部分的时间,可以通过多个采样周期,且每个采样周期的采样时间不同来确定不同数据信号线中同时采集到有效数据部分的时间。
基于此,第一器件需要确定每个采样周期的采样时间,此时可以按照采样时间的预设间隔时间确定至少一个采样时间,即为按照采样时间的预设间隔时间确定至少一个采样周期的采样时间。基于每个采样周期的采样时间,在每个采样周期的采样时间采样测试数据块。其中,该预设间隔时间可以是相邻采样周期的采样时间间的间隔时间,也可以是预先设定采样基准时间,该预设间隔时间是采样时间与采样基准时间间的间隔时间。当然,还可以通过其他方式确定每个采样周期的采样时间,本申请对此不作限制。
由于需要确定一个采样周期内不同数据信号线中采集到有效数据部分的时间,可以将采样周期划分为m个采样时间,m个采样时间中每相邻两个采样时间的时间间隔相同,其中m为大于0的整数。由于每个采样周期仅能进行一次采样,因此为了验证m个采样时间哪些采样时间能够采集到有效数据部分,哪些采样时间能够采集到无效数据部分,可以通过m个采样周期分别在不同的采样时间中进行数据块的采集。这样可以确定m个采样周期中每个采样周期的采样时间。
应理解的是,m是根据实际需要预先设置的采样次数。m越大则采集时间确定的月精确。例如,m为256,128,1024等。
作为一种可能的实现方式,第一器件确定至少一个采样周期的采样时间时,可以根据上一采样周期的采样时间来确定当前采样周期的采样时间。此时,第一器件可以获取采样时间的第二预设间隔时间。第二预设间隔时间是预先设置的采样时间的间隔时间。此时,需要预先设置第一个采样周期的采样时间。例如,可以预先设置第一个采样周期的采样时间为T/256,预先设置第二预设间隔时间为T/256。这样,在确定出第一个采样周期的采样时间为T/256时,可以按照第二预设间隔时间T/256,确定第二个采样周期的采样时间为2T/256,第三个采样周期周期的采样时间为3T/256,第q个采样周期的采样时间为qT/256,其中q为大于0且不大于256的整数,T表示采样周期。通过分别确定每个采样周期的采样时间,可以在每个采样周期中,基于该采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中进行数据块的采集。
作为另一种可能的实现方式,第一器件在确定至少一个采样周期的采样时间时,可以预先设定一个基准时间,即为采样基准值。每个采样周期的采样时间均是相对于该采样基准值来确定的。此时,第一器件可以先确定采样基准值。并且获取采样时间的第一预设间隔时间。第一预设间隔时间是采样时间相对于采样基准值的间隔时间。此时,第一器件可以根据采样基准值及第一预设间隔时间确定每个采样周期的采样时间。例如,假设预先设定采样基准值为T/128,第一预设间隔时间为T/128,则第i个采样周期的采样时间为a+(i-1)*b,其中,a表示采样基准值,b表示第一预设间隔时间。即为,第i个采样周期的采样时间为T/128+(i-1)*T/128。
第一器件在确定出至少一个采样周期的采样时间后,基于至少一个采样周期的采样时间,在每个采样周期中按照其对应的采样时间,在至少两根数据信号中进行测试数据块的采样。
需要说明的是,第一器件在确定至少一个采样周期的采样时间时,可以将所有采样周期的采样时间确定出。也可以确定每次仅确定当前采样周期的采样时间,在确定出当前采样周期的采样时间是否为第一有效采样时间后,进入下一采样周期时,再确定下一采样周期的采样时间。本申请对此不作限制。
步骤S202、针对每个采样周期的采样时间,根据在至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间。
在本申请实施例中,在进行第一器件与第二器件间的数据信号线的质量检测时,第二器件可以通过与第一器件间的至少两根数据信号线向第一器件传输测试数据块。其中,第二器件可以将测试数据划分为至少两个测试数据块,分别通过至少两根数据信号线向第一器件发送至少两个测试数据块。第一器件在至少两根数据信号线中采集数据时,由于至少两根数据信号线中传输的测试数据块分别为测试数据中不同部分的数据,因此在第一器件中需要在至少两根数据信号线中均采集到有效数据部分才能获取到测试数据的不同部分的数据,合成测试数据。
基于此,第一器件针对每个采样周期的采样时间,根据在至少两根数据信号中采集测试数据块,获取到至少两个采集数据块后,第一器件对采集的测试数据块进行解析,确定每个测试数据块在测试数据中的位置,利用采集的每个测试数据块合成测试数据。在本申请实施例中,第二器件在向第一器件发送测试数据时,该测试数据是预设固定格式的数据。即为,是用于测试的数据格式的数据。第一器件在将采集的数据块合成为测试数据后,需要检测该测试数据是否正确,此时第一器件可以检测测试数据的数据格式是否为预设固定格式的数据,若是,则可以确定该测试数据正确。若不是,则确定该测试数据错误。
第一器件在确定出测试数据正确时,则说明第一器件在至少两根数据信号线中采集的测试数据块均为有效数据部分,可以将该采样周期的采样时间确定为第一有效时间。
或者,第一器件在确定出测试数据错误时,则说明第一器件在至少两根数据信号线中采集的测试数据块存在无效数据部分,可以将该采样周期的采样时间确定为无效时间。
作为一种可能的实现方式,为了防止传输过程中数据块被篡改,第二器件在将测试数据划分为至少两个测试数据块时,在每个测试数据块中添加校验信息。例如,在每个测试数据块中增加CRC校验码。此时,第一器件基于当前采样周期的采样时间在至少两根数据信号线采集到测试数据块后,需先解析每个测试数据块,并根据每个测试数据块内携带的校验信息对测试数据块进行校验,若存在至少一个测试数据块的校验信息错误,则说明当前采集的测试数据块不正确,此时,可以直接将当前采样周期的采样时间确定为无效时间。或者,若检测出每个测试数据块的校验信息均正确,则可以将测试数据块合成为测试数据,进一步检测测试数据是否为确定。具体检测过程可以参考上述描述,在此不再赘述。
示例性的,第一器件与第二器件间通过四根数据信号线连接。第一器件针对每个采样周期的采样时间,根据在四根数据信号线中采集测试数据块,分别为测试数据块a,b,c,d。第一器件在采集到测试数据块a,b,c,d后,可以分析解析测试数据块a,b,c,d,获取测试数据块a,b,c,d中的校验信息,假设测试数据块a,b,c,d的校验信息为CRC校验码。第一器件可以分别检测测试数据块a,b,c,d的CRC校验码是否正确。若测试数据块a,b,c,d的CRC校验码均正确,则第一器件可以根据测试数据块在测试数据中的位置,合成测试数据。第一器件可以进一步检测合成的测试数据是否为预设固定格式的数据,若是预设固定格式的数据,则确定测试数据正确,此时将该采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间。
基于上述过程,第一器件可以将每个采样周期的采样时间是否为第一有效采样时间确定出。
步骤S203、根据确定出的第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量。
在本申请实施例中,第一器件确定出每个采样周期的采样时间是否为第一有效采样时间后,可以获取到所有第一有效采样时间。由于第一有效采样时间是至少两根数据信号线同时采集大有效数据部分的时间,因此第一器件可以根据确定出的所有第一有效采样时间确定至少两根数据信号线的信号传输质量。
作为一种可能的实现方式,第一器件可以根据确定所有第一有效采样时间的时间总长与一个采样周期时间间的比值来确定至少两根数据信号线的信号传输质量。例如,在所有第一有效采样时间的时间总长与一个采样周期时间间的比值大于第一预设阈值时,则说明采样周期内第一有效采样时间占比较大,可以确定至少两根数据信号线的信号传输质量较好。若所有第一有效采样时间的时间总长与一个采样周期时间间的比值不大于第一预设阈值,则说明采样周期内第一有效采样时间占比较小,可以确定至少两根数据信号线的信号传输质量较差。
作为一种可能的实现方式,第一器件还可以先确定出第二有效采样时间。即为,第一器件与第二器件采用一根数据信号线进行数据传输时,第一器件确定通过一根数据信号线进行数据传输时,对应的能够采集到有效数据部分的采集时间为第二有效采样时间。此时,第一器件可以计算第一有效采样时间总长与第二有效采样时间总长间的占比,根据该占比确定至少两根数据信号线的信号传输质量。例如,该占比大于第二预设阈值时,则说明采样周期内第一有效采样时间占比较大,可以确定至少两根数据信号线的信号传输质量较好。若该占比不大于第二预设阈值,则说明采样周期内第一有效采样时间占比较小,可以确定至少两根数据信号线的信号传输质量较差。
这样一来,可以先确定至少一个采样时间,并基于至少一个采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块,针对每个采样时间,根据在每根数据信号线中采样的测试数据块获取测试数据,并检测测试数据是否正确,在测试数据正确时,将正确的测试数据对应的采样时间确定为第一有效采样时间。由于第一有效采样时间的个数越多,说明不同根数据信号线可以同时传输信号的时刻越多,则可以正确获取数据的概率越大,即为信号传输质量越好,基于此在本申请实施例中,可以根据第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量,实现对至少两根数据信号线的传输质量的检测,从而可以查找出至少两根数据信号线中信号传输质量较差的产品,进而可以降低问题产品流入市场的概率,提高成品质量。
参见图5,为本申请实施例提供的一种数据链路的检测方法。该方法应用于附图1所述的第二器件。其中,第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线。如图5所示,所述方法包括:
步骤S501、根据至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块。
在本申请实施例中,第二器件需要向第一器件发送测试数据。为了提高数据的发送速度,在第二器件向第一器件传输数据时,通常需要将数据划分为不同的数据块,通过不同的数据信号线传输不同的数据块。因此,第二器件可以将预设固定格式的测试数据根据至少两根数据信号线的数量,划分为至少两个测试数据块。
作为一种可能的实现方式,测试数据块的数量与至少两根数据信号线的数量相同。
例如,第二器件与第一器件间有4根数据信号线,假设预设固定格式的测试数据为8字节,此时,第二器件可以将8字节的测试数据划分为4个2字节的测试数据块。
作为一种可能的实现方式,第二器件为了方式测试数据块在数据信号线传输过程中被篡改,可以在每个测试数据块中添加校验信息,例如添加CRC校验码。此时,每个测试数据块中均携带有CRC校验码。
步骤S502、通过至少两根数据信号线,分别向第一器件发送所述至少两个测试数据块。
其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
在本申请实施例中,第二器件在将测试数据划分为不同的测试数据块后,可以分别通过不同的数据信号线分别向第一器件发送测试数据块。其中,不同的测试数据块通过不同的数据信号线传输。
参见图6,为本申请实施例提供的一种数据链路的检测方法的流程示意图。如图6所示,所述方法包括:
步骤S601、第一器件获取测试数据的预设采样次数。
在本申请实施例中,测试数据采集的次数就是一个采样周期划分的采样时间的个数。第一器件可以获取测试数据的预设采样次数。第一器件可以响应于用户的设置操作,获取到采样次数。采样次数可以是预先设置或者默认设置,并存储在存储器件中,第一器件可以从存储器件中获取预设采样次数。
步骤S602、第一器件获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数。
在本申请实施例中,第一器件获取到测试数据的预设采样次数后,需要检测当前已采样次数是否达到了预设采样次数。此时,第一器件获取测试数据的已采样次数,并将测试数据的已采样次数与预设采样次数进行比较,检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数。
需要说明的是,第一器件根据检测结果的不同,下面执行的步骤不同,在测试数据的已采样此时达到预设次数时,则直接执行步骤S610,若测试数据的已采样次数未达到预设次数,需要进行测试数据的采样,此时执行下述步骤S603。
步骤S603、第一器件确定至少一个采样周期的采样时间。
在本申请实施例中,在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间。
其中,i的值为已采样次数与1之和。
即为,第一器件在确定出测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,说明需要继续采集测试数据。也就是说,在将采样周期划分为m个采样时间时,预设采样次数即为m次。第一器件在出测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,则说明第一器件采样测试数据的采样周期并未达到m个采样周期。此时,第一器件需要进行采集。在当前采样周期为第i个采样周期时,第一器件需要先确定第i个采样周期的采样时间。
作为一种可能的实现方式,在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间包括:根据测试数据的预设采样次数,确定采样基准值,并获取采样时间的第一预设间隔时间;在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据采样基准值,及采样时间的第一预设间隔时间,确定第i个采样周期的采样时间。
在本申请实施例中,第一预设间隔时间是采样时间与采样基准值间的时间间隔。每个采样周期的采样时间均是基于采样基准时间确定的。第一器件在确定出测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,在当前采样周期为第i个采样周期时,需要先确定第i个采样周期的采样时间。此时,第一器件可以根据测试数据的预设采样次数,确定采样基准值,即为将采样基准值确定为预设采样次数相同的时间值,例如,可以将采样基准值确定为T/预设采样次数。第一器件在确定出采样基准值后,可以按照第一预设间隔时间确定出每个周期的采样时间。例如,第一预设间隔时间包括:(p-1)×T/m,其中,p表示第p个采样周期,p为大于0的整数;T表示采样周期,m表示测试数据的预设采样次数。在确定第i个采样周期的采样时间时,第一器件根据采样基准值,及第一预设间隔时间可以计算出第i个采样周期的采样时间。此时,第一器件确定出第i个采样周期的采样时间为T/m+(p-1)×T/m。具体可参考步骤S201在此不再赘述。
应理解的是,上述第一预设间隔时间与采样周期有关,是随着采样周期的增加而逐渐变大的。
作为另一种可能的实现方式,在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间包括:
获取采样时间的第二预设间隔时间;在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据采样时间的第二预设间隔时间及第i-1个采样周期的采样时间,确定第i个采样周期的采样时间。
即为,第二预设间隔时间是两个相邻采样周期中采样时间的时间间隔。此时第一器件可以根据前一个采样周期的采样时间及第二预设间隔时间来确定当前采样周期的采样时间。也就是说,第一器件仅需获取第i-1个采样周期的采样时间及第二预设间隔时间即可计算出第i个采样周期的采样时间。具体的确定过程可参考步骤S201在此不再赘述。
应理解的是,第二预设间隔时间可以是固定的,其仅是采样时间的间隔时间。
通过上述不同的方式,均可以第一器件均可以确定出第i个采样周期的采样时间。
步骤S604、在第i个采样周期中,第一器件通过控制信号线向第二器件发送测试指令消息。第二器件通过控制信号线接收第一器件发送的测试指令消息。
其中,测试指令消息用于指示第二器件发送测试数据。
在本申请实施例中,在第i个采样周期中,第一器件需要获取测试数据,第一器件需要向第二器件发送测试指令消息,以告知第二器件向第一器件发送测试数据。第二器件通过控制信号线接收测试指令消息。
例如,在进入***下载流程时,第一器件需自动检测与第二器件间的数据传输质量。此时,第一器件需要在测试过程中的第i个采样周期中,向第二器件发送测试指令消息,以便告知第二器件发送测试数据。第二器件通过控制信号线接收测试指令消息。
步骤S605、第二器件通过控制信号线向第一器件发送测试响应消息。第一器件通过控制信号线接收第二器件发送的测试响应消息。
在本申请实施例中,第二器件在接收到第一器件通过控制信号线传输的测试指令消息后,可以通过测试指令消息获知其需向第一器件发送测试数据。第二器件在可以向第一器件发送测试数据时,通过控制信号线向第一器件发送测试响应消息。第一器件在通过控制信号线接收到测试响应消息后,获知第二器件可以发送测试数据。此时,第一器件可以在采样周期的采样时间到达时,进行测试数据块的采样。
步骤S606、第二器件根据至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块。
具体可参考步骤S501在此不再赘述。
步骤S607、第二器件通过至少两根数据信号线,分别向第一器件发送至少两个测试数据块。第一器件基于第i个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块。
其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
具体可参考步骤S502及步骤S201在此不再赘述。
步骤S608、针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间。
具体可参考步骤S202在此不再赘述。
步骤S609、第一器件根据i的值更新已采样次数,并重新执行步骤获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数,至步骤针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间,直至测试数据的已采样次数达到测试数据的预设采样次数。
在本申请实施例中,第一器件在第i个采样周期采样完测试数据,并确定出第i个采样周期的采样时间是否为第一有效采样时间后,则当前第i个采样周期可以结束,进入一个采样周期。此时,第一器件将已采样次数进行更新。第一器件可以将上述步骤S602中获取的已采样次数自动加1,也可以直接将i值更新为已采样数据。在更新完已采样次数后,可以重新执行步骤S602至步骤S608,直至已采样次数达到预设采样次数。此时可以完成对m个采样时间中哪些采样时间为第一有效采样时间哪些时间为无效时间进行确定。
步骤S610、第一器件根据确定出的第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量。
具体可参考步骤S203在此不再赘述。
参见图7,为本申请实施例提供了一种数据链路的检测方法的流程示意图。本申请实施例相对于图6所示的方法,增加了确定一根数据信号线对应的有效采样时间的相关步骤。如图7所示,所述方法包括:
步骤S701、第一器件确定目标总线的传输模式为第一模式。
在本申请实施例中,目标总线具有两种传输模式,分别为第一模式及第二模式。在目标总线的传输模式为第一模式时,则第一器件与第二器件间通过目标数据信号线传输数据。其中,目标数据信号线可以是至少两根数据信号线中的任一根数据信号线。也可以是至少两根数据信号线中预先设定的一根数据信号线。在目标总线的传输模式为第二模式时,则第一器件与第二器件间通过至少两根数据信号线传输数据。
为了更准确的判断出第一器件与第二器件间的至少两根数据信号线的信号传输质量。可以先确定出第一器件与第二器件间的一根数据信号线传输数据时,在一个采样周期中的第二有效采样时间。然后在确定出第一器件与第二器件间的至少两根数据信号线同时传输数据时,在一个采样周期内的第一有效采样时间,根据第一有效采样时间及第二有效采样时间确定至少两根数据信号线的信号传输质量。基于此,需要先确定出第一器件与第二器件间的一根数据信号线传输数据时,在一个采样周期中的第二有效采样时间。此时,第一器件可以将目标总线的传输模式设置为第一模式,以便第一器件与第二器件间通过目标数据信号线传输测试数据。
步骤S702、第一器件获取测试数据的预设采样次数。
具体可参考步骤S601在此不再赘述。
步骤S703、第一器件获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数。
具体可参考步骤S602在此不再赘述。
步骤S704、第一器件确定至少一个采样周期的采样时间。
具体可参考步骤S603在此不再赘述。
步骤S705、在第i个采样周期中,第一器件通过控制信号线向第二器件发送测试指令消息。第二器件通过控制信号线接收第一器件发送的测试指令消息。
其中,测试指令消息中携带有目标总线的传输模式,且目标总线的传输模式为第一模式。
在本申请实施例中,第一器件向第二器件发送测试指令消息时,可以将目标总线的传输模式添加至该消息中,以便第二器件按照指定的传输模式进行数据的传输。此时,第二器件获取到测试指令消息,解析测试指令消息获取其内携带的目标总线的传输模式。具体可参考步骤S604在此不再赘述。
步骤S706、第二器件通过控制信号线向第一器件发送测试响应消息。第一器件通过控制信号线接收第二器件发送的测试响应消息。
具体可参考步骤S605在此不再赘述。
步骤S707、第二器件将测试数据通过目标数据信号线发送至第一器件。第一器件基于第i个采样周期的采样时间在目标数据信号线中采样测试数据。
在本申请实施例中,第二器件在接收到测试指令消息后,需要向第一器件发送测试数据。此时,由于目标总线的传输模式为第一模式,因此第二器件可以将测试数据通过目标数据信号线发送至第一器件。第一器件在第i个采样周期的采样时间,在目标数据信号线中采样测试数据。
步骤S708、第一器件针对第i个采样周期的采样时间,检测在目标数据线中采样的测试数据是否正确,且将正确的测试数据对应的采样时间确定为第二有效采样时间。
在本申请实施例中,第一器件在获取到测试数据后,需要检测测试数据是否正确,在检测到测试数据正确时,可以将第i个采样周期的采样时间确定为第二有效采样时间。第一器件检测测试数据是否正确可参考步骤S608在此不再赘述。
步骤S709、根据i的值更新所述已采样次数,并重新执行步骤获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数,至步骤针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间,直至测试数据的已采样次数达到测试数据的预设采样次数。
具体可参考步骤S609在此不再赘述。
步骤S710、在测试数据的已采样次数达到测试数据的预设采样次数时,第一器件将目标总线的传输模式更新为第二模式。
在本申请实施例,在目标总线的传输模式为第一模式,若测试数据的已采样次数达到测试数据的预设采样次数,则需要进行目标总线的传输模式为第二模式时,一个采样周期中的有效采样时间的确定。此时,第一器件将目标总线的传输模式设置为第二模式。
步骤S711、第一器件获取测试数据的预设采样次数。
具体可参考步骤S601在此不再赘述。
步骤S712、第一器件获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数。
具体可参考步骤S602在此不再赘述。
步骤S713、第一器件确定至少一个采样周期的采样时间。
具体可参考步骤S603在此不再赘述。
步骤S714、在第i个采样周期中,第一器件通过控制信号线向第二器件发送测试指令消息。第二器件通过控制信号线接收第一器件发送的测试指令消息。
其中,测试指令消息用于指示第二器件发送测试数据。
具体可参考步骤S604在此不再赘述。
步骤S715、第二器件通过控制信号线向第一器件发送测试响应消息。第一器件通过控制信号线接收第二器件发送的测试响应消息。
具体可参考步骤S605在此不再赘述。
步骤S716、第二器件根据至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块。
具体可参考步骤S606在此不再赘述。
步骤S717、第二器件通过至少两根数据信号线,分别向第一器件发送至少两个测试数据块。第一器件基于第i个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块。
其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
具体可参考步骤S607在此不再赘述。
步骤S718、针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间。
具体可参考步骤S608在此不再赘述。
步骤S719、第一器件根据i的值更新已采样次数,并重新执行步骤获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数,至步骤针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间,直至测试数据的已采样次数达到测试数据的预设采样次数。
具体可参考步骤S609在此不再赘述。
步骤S720、第一器件根据确定出的第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量。
具体可参考步骤S203在此不再赘述。
参见图8,为本申请实施例提供的一种数据链路的检测装置的结构示意图。所述检测装置应用于第一器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线。如图8所示,所述检测装置包括:
处理单元801,用于确定至少一个采样周期的采样时间,并基于至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块。
处理单元801,还用于针对每个采样周期的采样时间,根据在至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间。
确定单元802,用于根据确定出的第一有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量。
作为一种可能的实现方式,如图9所示,上述检测装置还包括:
发送单元803,用于通过控制信号线向第二器件发送测试指令消息。
接收单元804,用于通过控制信号线接收第二器件发送的测试响应消息。
作为一种可能的实现方式,确定单元802,还用于确定目标总线的传输模式为第一模式。
处理单元801,还用于基于至少一个采样周期的采样时间在目标数据信号线中采样测试数据;及针对每个采样周期的采样时间,检测在目标数据线中采样的测试数据是否正确,且将正确的测试数据对应的采样时间确定为第二有效采样时间。
其中,目标信号线是至少两根数据信号线中的任一根数据信号线。
处理单元801,还用于将目标总线的传输模式更新为第二模式。
处理单元801,具体用于在目标总线的传输模式为第二模式时,基于至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块。
确定单元802,具体用于根据确定出的第一有效采样时间及第二有效采样时间,确定至少两根数据信号线的信号传输质量。
作为一种可能的实现方式,处理单元801,还用于获取测试数据的预设采样次数;以及获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数。
处理单元801,具体用于在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间;在第i个采样周期中,基于第i个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据。其中,i的值为已采样次数与1之和。
针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间。
处理单元801,还用于根据i的值更新所述已采样次数,并重新执行步骤获取测试数据的已采样次数,并检测测试数据的已采样次数是否达到测试数据的预设采样次数,至步骤针对第i个采样周期的采样时间,根据至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测测试数据是否正确;在测试数据正确时,将第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间,直至测试数据的已采样次数达到测试数据的预设采样次数。
作为一种可能的实现方式,处理单元801,具体用于根据测试数据的预设采样次数,确定采样基准值,并获取采样时间的第一预设间隔时间;在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据所述采样基准值,及采样时间的第一预设间隔时间,确定第i个采样周期的采样时间。
作为一种可能的实现方式,处理单元801,具体用于获取采样时间的第二预设间隔时间;在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据所述采样时间的第二预设间隔时间及第i-1个采样周期的采样时间,确定第i个采样周期的采样时间。
作为一种可能的实现方式,目标总线包括:安全数字输入输出接口SDIO总线。
参见图10,为本申请实施例提供的一种数据链路的检测装置的结构示意图。所述检测装置应用于第二器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线。如图10所示,所述检测装置包括:
处理单元1001,用于根据至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块。
发送单元1002,用于通过至少两根数据信号线,分别向第一器件发送至少两个测试数据块。其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
作为一种可能的实现方式,如图11所示,所述检测装置还包括:
接收单元1003,用于通过控制信号线接收第一器件发送的测试指令消息。
发送单元1002,还用于通过控制信号线向第一器件发送测试响应消息。
与上述实施例相对应,本申请还提供了一种电子设备。图12为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图,所述电子设备1200可以包括:处理器1201、存储器1202及通信单元1203。这些组件通过一条或多条总线进行通信,本领域技术人员可以理解,图中示出的服务器的结构并不构成对本发明实施例的限定,它既可以是总线形结构,也可以是星型结构,还可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
其中,所述通信单元1203,用于建立通信信道,从而使所述存储设备可以与其它设备进行通信。接收其他设备发是的用户数据或者向其他设备发送用户数据。
所述处理器1201,为存储设备的控制中心,利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分,通过运行或执行存储在存储器1202内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,以执行电子设备的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(integrated circuit,IC)组成,例如可以由单颗封装的IC所组成,也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说,处理器1201可以仅包括中央处理器(central processing unit,CPU)。在本发明实施方式中,CPU可以是单运算核心,也可以包括多运算核心。
所述存储器1202,用于存储处理器1201的执行指令,存储器1202可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
当存储器1202中的执行指令由处理器1201执行时,使得电子设备1200能够执行图7所示实施例中的部分或全部步骤。
具体实现中,本发明还提供一种计算机存储介质,其中,该计算机存储介质可存储有程序,该程序执行时可包括本发明提供的数据链路的检测方法的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory,ROM)或随机存储记忆体(random access memory,RAM)等。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其,对于装置实施例和终端实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例中的说明即可。
Claims (13)
1.一种数据链路的检测方法,其特征在于,应用于第一器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述方法包括:
确定至少一个采样周期的采样时间,并基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;
针对每个采样周期的采样时间,根据在所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;
根据确定出的第一有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述基于所述至少一个采样周期的采样时间在所述至少两根数据信号线中采样测试数据块之前,还包括:
通过所述控制信号线向所述第二器件发送测试指令消息;
通过所述控制信号线接收所述第二器件发送的测试响应消息。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块之前,还包括:
确定目标总线的传输模式为第一模式;
基于所述至少一个采样周期的采样时间在目标数据信号线中采样测试数据;其中,所述目标信号线是所述至少两根数据信号线中的任一根数据信号线;
针对每个采样周期的采样时间,检测在所述目标数据线中采样的测试数据是否正确,且将正确的测试数据对应的采样时间确定为第二有效采样时间;
将所述目标总线的传输模式更新为第二模式;
所述基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块包括:
在所述目标总线的传输模式为第二模式时,基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;
所述根据确定出的第一有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量包括:
根据确定出的第一有效采样时间及第二有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
获取测试数据的预设采样次数;
获取测试数据的已采样次数,并检测所述测试数据的已采样次数是否达到所述测试数据的预设采样次数;
所述确定至少一个采样周期的采样时间,并基于所述至少一个采样周期的采样时间采样测试数据块包括:
在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间;在第i个采样周期中,基于所述第i个采样周期的采样时间在所述至少两根数据信号线中采样测试数据;其中,i的值为已采样次数与1之和;
所述针对每个采样周期的采样时间,利用所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间包括:
针对第i个采样周期的采样时间,根据所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;
在测试数据正确时,将所述第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间之后,还包括:
根据所述i的值更新所述已采样次数,并重新执行步骤获取测试数据的已采样次数,并检测所述测试数据的已采样次数是否达到所述测试数据的预设采样次数,至步骤针对第i个采样周期的采样时间,根据所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述第i个采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间,直至所述测试数据的已采样次数达到所述测试数据的预设采样次数。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间包括:
根据所述测试数据的预设采样次数,确定采样基准值,并获取采样时间的第一预设间隔时间;
在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据所述采样基准值,及采样时间的第一预设间隔时间,确定第i个采样周期的采样时间。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,确定第i个采样周期的采样时间包括:
获取采样时间的第二预设间隔时间;
在测试数据的已采样次数未达到测试数据的预设采样次数时,根据所述采样时间的第二预设间隔时间及第i-1个采样周期的采样时间,确定第i个采样周期的采样时间。
7.根据权利要求1-6任一项所述的方法,其特征在于,所述目标总线包括:安全数字输入输出接口SDIO总线。
8.一种数据链路的检测方法,其特征在于,应用于第二器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述方法包括:
根据所述至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块;
通过所述至少两根数据信号线,分别向第一器件发送所述至少两个测试数据块;其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述根据所述至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块之前,还包括:
通过所述控制信号线接收所述第一器件发送的测试指令消息;
通过所述控制信号线向所述第一器件发送测试响应消息。
10.一种数据链路的检测装置,其特征在于,应用于第一器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述装置包括:
处理单元,用于确定至少一个采样周期的采样时间,并基于所述至少一个采样周期的采样时间在至少两根数据信号线中采样测试数据块;
所述处理单元,还用于针对每个采样周期的采样时间,根据在所述至少两根数据信号线中采样的测试数据块,获取测试数据,并检测所述测试数据是否正确;在测试数据正确时,将所述采样周期的采样时间确定为第一有效采样时间;
确定单元,用于根据确定出的第一有效采样时间,确定所述至少两根数据信号线的信号传输质量。
11.一种数据链路的检测装置,其特征在于,应用于第二器件,所述第一器件通过目标总线与第二器件连接,其中,所述目标总线包括控制信号线及至少两根数据信号线,所述装置包括:
处理单元,用于根据所述至少两根数据信号线,将测试数据划分为至少两个测试数据块;
发送单元,用于通过所述至少两根数据信号线,分别向第一器件发送所述至少两个测试数据块;其中,不同数据信号线传输不同的测试数据块。
12.一种电子设备,其特征在于,包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器,其中,当该计算机程序指令被所述处理器执行时,触发所述电子设备执行权利要求1-7任一项所述的方法或8-9任一项所述的方法。
13.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行权利要求1-7中任意一项所述的方法或8-9任一项所述的方法。
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