CN115574854A - 故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序 - Google Patents

故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序 Download PDF

Info

Publication number
CN115574854A
CN115574854A CN202211545363.4A CN202211545363A CN115574854A CN 115574854 A CN115574854 A CN 115574854A CN 202211545363 A CN202211545363 A CN 202211545363A CN 115574854 A CN115574854 A CN 115574854A
Authority
CN
China
Prior art keywords
comparator
bridge
bridge type
sensor
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202211545363.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN115574854B (zh
Inventor
陈宏雷
钟美庆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Quanzhou Kuntaixin Microelectronic Technology Co ltd
Original Assignee
Quanzhou Kuntaixin Microelectronic Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Quanzhou Kuntaixin Microelectronic Technology Co ltd filed Critical Quanzhou Kuntaixin Microelectronic Technology Co ltd
Priority to CN202211545363.4A priority Critical patent/CN115574854B/zh
Publication of CN115574854A publication Critical patent/CN115574854A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN115574854B publication Critical patent/CN115574854B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/30Structural combination of electric measuring instruments with basic electronic circuits, e.g. with amplifier
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2812Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/22Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
    • H03K5/24Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02TCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
    • Y02T10/00Road transport of goods or passengers
    • Y02T10/10Internal combustion engine [ICE] based vehicles
    • Y02T10/40Engine management systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及桥式电阻式传感器技术领域,公开一种故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序,其信号处理单元包括故障检测电路,故障检测电路包括第一比较器、第二比较器;桥式电阻式传感器的两输出端分别连接第一比较器、第二比较器的正输入端,两比较器的负输入端均连接第一基准电压;信号处理单元调整桥式电阻式传感器的激励电压的大小,以使桥式电阻式传感器的两输出端所输出的差分电压产生变化,且差分电压分别通过第一比较器、第二比较器与第一基准电压进行比较,第一比较器、第二比较器分别输出第一结果、第二结果,并判断桥式电阻式传感器正常或异常。本发明最大限度的减小对正常电路的影响,提高性能、效率,节约成本。

Description

故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序
技术领域
本发明涉及桥式电阻式传感器技术领域,尤其涉及一种桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置、故障诊断方法、计算机、存储介质及计算机可读的程序。
背景技术
目前该类桥式电路的检测方法包括:1、使用多个比较器,多个比较阈值,通过判断桥式电阻式传感器的输出是否在阈值范围内来判断传感器是否正常工作,该方法一般需要4个比较器,且需要根据传感器的特性进行比较器阈值设置,否则会出现较大概率的误判,而且不能有效判断传感器的短路状态;2、增加额外的电阻网络,通过改变传感器的连接网络关系,如果是正常状态的桥传感器会产生对应的输出状态,出现开路短路等异常状态时,将会被快速检测出来,该方法需要较大的电阻否则会对原本的桥式电路产生影响;
上述第1中方法:桥式电阻式传感器(图1中的桥式电阻式传感器部分)在日常生活和生产中均有大量的应用,但是桥式电阻式传感器一般信号不是很大,且本身驱动能力较弱,一般不会将桥式电阻式传感器的信号拿来直接使用,而是会将桥式电阻式传感器的输出信号通过信号处理单元(图1中的信号处理单元部分)来进行处理。在生产过程中传感器调理芯片需要对桥式电阻式传感器的状态进行判断,防止连接过程中存在开路、短路等一系列异常情况,这部分电路称为故障检测电路。该方法一般需要4个比较器,且需要根据传感器的特性进行比较器阈值设置,否则会出现较大概率的误判,而且不能有效判断传感器的短路状态。
上述第2中方法中比较典型的现有技术是:公开号为:CN 101732044 B,专利号为:200810217325.X,名称为:一种桥型压力传感器检测电路、检测方法及监护仪的专利,提供一种桥型压力传感器检测电路,所述电路包括导联 检测网络、电压导出电路和判断单元,所述导联检测网络至少一端连接电势点,所述导联检 测网络用于与桥型压力传感器的两输出端连接,所述电压导出电路的输入端与导联检测网 络相连,所述电压导出电路的输出端与判断单元相连,所述电压导出电路用于将所述桥型 压力传感器的两输出端电压或电压相关量传导到所述判断单元,所述判断单元将桥型压力 传感器两输出点的电压或电压相关量与设定条件进行比较,判断所述桥型压力传感器的故障。
桥型压力传感器采用经典的惠斯顿电桥结构,桥臂电阻 R1=R2=R3,通常为 300Ω~10K 范围 ( 不同品牌传感器的桥臂电阻有所不同 ),其中可变电阻 Rx 是一个压敏 电阻,它的阻值会随着外部压力的变化而变化,外部压力越大,压敏电阻的阻值越小,表现 出来就是电桥输出的 IBP+ 与 IBP- 的差模电压越大。常见传感器的精度为 5uV/V/mmHg,在5V 供电时,1mmHg 压力对应电桥输出的差模电压为 5*5=25uV。导联脱落检测电路是一个简单的电阻分压结构,其中 R4,R5,R6 都远大于电桥的 桥臂电阻。在该电路中,IBP 压力测量值与导联脱落检测结果都是通过对仪表放大器输出 电压进行分析处理得到的。IBP导联脱落与导联连接这两种状态分别对应仪表放大器输出电压的不同范围。该方法增加额外的电阻网络,通过改变传感器的连接网络关系,如果是正常状态的桥传感器会产生对应的输出状态,出现开路短路等异常状态时,将会被快速检测出来,但是该方法需要较大的电阻否则会对原本的桥式电路产生影响,而较大的电阻则对整个电路的成本和体积造成极大的增加,极大地降低了其适用范围。
发明内容
本发明的目的是提供一种桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置、故障诊断方法、计算机、存储介质及计算机可读的程序。
为了实现上述目的,第一方面,本发明提供的技术方案为:提供一种桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,用于对所述桥式电阻式传感器的故障进行诊断,包括:
信号处理单元,所述信号处理单元包括故障检测电路,所述故障检测电路包括第一比较器、第二比较器;
所述桥式电阻式传感器的输入端连接一激励电压VB,且所述激励电压VB大小可调;
所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的正输入端,所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的正输入端,所述第一比较器、第二比较器的负输入端连接第一基准电压REF;或
所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的负输入端,所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的负输入端,所述第一比较器、第二比较器的正输入端连接第一基准电压REF;
中央处理单元,所述中央处理单元用于通过所述信号处理单元调整所述激励电压VB的大小,以使所述桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器、第二比较器与所述第一基准电压REF进行比较,所述第一比较器、第二比较器分别输出第一结果FL、第二结果FR,所述中央处理单元通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器正常或异常。
所述信号处理单元还包括第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
所述桥式电阻式传感器的地端VG与所述信号处理单元的地端连接在一起。
所述桥式电阻式传感器包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述电阻R1L、电阻R1R的正极连接在一起并与所述激励电压VB连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接并形成所述第一输出端,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接并形成所述第二输出端,所述电阻R2L、电阻R2R的负极连接在一起形成所述桥式电阻式传感器的地端。
所述中央处理单元还用于通过所述信号处理单元控制所述第一基准电压REF、第二基准电压VREF均同时工作在第一时间段Φ1或第二时间段Φ2,其中所述第一时间段Φ1为低电平的时间段、第二时间段Φ2为高电平的时间段:
在Φ1内使得
Figure 492829DEST_PATH_IMAGE001
,在Φ2内使得
Figure 808404DEST_PATH_IMAGE002
在Φ1内使得
Figure 409150DEST_PATH_IMAGE003
,在Φ2内使得
Figure 810175DEST_PATH_IMAGE004
则在Φ1期间,
Figure 154569DEST_PATH_IMAGE005
Figure 855809DEST_PATH_IMAGE006
在Φ2期间,
Figure 801024DEST_PATH_IMAGE007
Figure 17242DEST_PATH_IMAGE008
且所述桥式电阻式传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,R1L=R1R、R2L=R2R,令:
Figure 837430DEST_PATH_IMAGE009
若在Φ1期间
Figure 189914DEST_PATH_IMAGE010
,在Φ2期间,
Figure 804567DEST_PATH_IMAGE011
,即
Figure 242501DEST_PATH_IMAGE012
,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作;当设定k3=k4=
Figure 866380DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 73371DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 623039DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 548269DEST_PATH_IMAGE016
认为桥式电阻式传感器工作正常;
若Φ1期间FL、FR>0或者Φ2期间FL、FR<0,得到
Figure 975840DEST_PATH_IMAGE017
Figure 302916DEST_PATH_IMAGE018
,则判断所述桥式电阻式传感器异常;
其中,其中偏差值
Figure 524950DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1。
当设定k3=k4=
Figure 671897DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 637579DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 819162DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 713562DEST_PATH_IMAGE020
认为桥式电阻式传感器存在异常,比如存在VB、VR、VL、VG脱落情况或者R1L、R2L之间,R1R、R2R之间存在较大的偏差,其中偏差值
Figure 551068DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1,对设计者来说具有较大的自由度。
为了实现上述第二个目的,第二方面,本发明提供一种桥式电阻式传感器的故障诊断方法,用于通过中央处理单元控制信号处理单元对桥式电阻式传感器是否存在故障进行诊断,其中所述信号处理单元包括故障检测电路,且所述故障检测电路包括第一比较器、第二比较器,包括如下步骤:将所述桥式电阻式传感器的输入端连接至一激励电压VB,且所述激励电压VB大小可调;
将所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的正输入端,将所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的正输入端,将所述第一比较器、第二比较器的负输入端连接第一基准电压REF;或
将所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的负输入端,将所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的负输入端,将所述第一比较器、第二比较器的正输入端连接第一基准电压REF;
所述中央处理单元通过所述信号处理单元调整所述激励电压VB的大小,以使所述桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且将所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器、第二比较器与所述第一基准电压REF进行比较后,并通过所述第一比较器、第二比较器分别输出第一结果FL、第二结果FR
所述中央处理单元通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器正常或异常。
所述信号处理单元连接至第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
所述桥式电阻式传感器的地端VG与所述信号处理单元的地端连接在一起。
所述桥式电阻式传感器包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述电阻R1L、电阻R1R的正极连接在一起并与所述激励电压VB连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接并形成所述第一输出端,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接并形成所述第二输出端,所述电阻R2L、电阻R2R的负极连接在一起形成所述桥式电阻式传感器的地端。
所述中央处理单元还通过所述信号处理单元控制所述第一基准电压REF、第二基准电压VREF均同时工作在第一时间段Φ1或第二时间段Φ2,其中所述第一时间段Φ1为低电平的时间段、第二时间段Φ2为高电平的时间段:
在Φ1内使得
Figure 117178DEST_PATH_IMAGE001
,在Φ2内使得
Figure 90951DEST_PATH_IMAGE002
在Φ1内使得
Figure 717104DEST_PATH_IMAGE003
,在Φ2内使得
Figure 776327DEST_PATH_IMAGE004
则在Φ1期间,
Figure 146128DEST_PATH_IMAGE005
Figure 505566DEST_PATH_IMAGE006
在Φ2期间,
Figure 302620DEST_PATH_IMAGE007
Figure 347674DEST_PATH_IMAGE008
且所述桥式电阻式传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,R1L=R1R、R2L=R2R,令:
Figure 255588DEST_PATH_IMAGE009
若在Φ1期间
Figure 938373DEST_PATH_IMAGE010
,在Φ2期间,
Figure 375170DEST_PATH_IMAGE011
,即
Figure 940144DEST_PATH_IMAGE012
,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作;当设定k3=k4=
Figure 120589DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 956084DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 94941DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 616052DEST_PATH_IMAGE016
认为桥式电阻式传感器工作正常;
若Φ1期间FL、FR>0或者Φ2期间FL、FR<0,得到
Figure 131347DEST_PATH_IMAGE017
Figure 54304DEST_PATH_IMAGE018
,则判断所述桥式电阻式传感器异常;
其中,其中偏差值
Figure 364062DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1。
当设定k3=k4=
Figure 106890DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 160297DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 436295DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 916955DEST_PATH_IMAGE020
认为桥式电阻式传感器存在异常,比如存在VB、VR、VL、VG脱落情况或者R1L、R2L之间,R1R、R2R之间存在较大的偏差,其中偏差值
Figure 412659DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1,对设计者来说具有较大的自由度。
第三方面,本发明提供了一种计算机,所述计算机包括至少一个处理器、存储介质,所述计算机还包括有操作***,所述操作***存储于存储介质; 所述至少一个处理器与所述存储介质连接; 所述存储介质用于存储程序,所述处理器用于执行所述程序,所述程序在被所述至少一个处理器执行时,使所述至少一个处理器执行所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
第四方面,本发明提供一种存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,所述存储介质存储有程序,所述程序使得所述计算机执行所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
第五方面,本发明提供一种计算机可读的程序,当所述计算机可读的程序被一个或多个处理器执行时所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
本发明的有益效果:
1、硬件简单,需要额外增加两个比较器就能够实现诊断功能,极大的节约了成本;
2、本发明不仅可以检测桥式电阻式传感器的开路异常,而且可以对特性较差的桥传感器进行筛除,极大的提高了效率;
3、本发明不会对桥式电阻式传感器产生负载效应,最大限度的减小对正常电路的影响,极大的提高了性能。
通过以下的描述并结合附图,本发明将变得更加清晰,这些附图用于解释本发明的实施例。
附图说明
图1所示为本发明桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置的***框图。
图2所示为如图1所示的桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置的电路原理图。
图3所示为如图2所示的桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置的电平时序图。
图4所示为本发明桥式电阻式传感器的故障诊断方法的流程框图。
图5所示为本发明计算机的***框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在下文中,若在本发明的各种实施例中使用的术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合,并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
此外,若本发明涉及到术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
除非另有限定,否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义,除非在本发明的各种实施例中被清楚地限定。
需要说明的是,桥式电阻式传感器,又称为惠斯通电桥,是由四个电阻组成的电桥电路,桥式电阻式传感器利用电阻的变化来测量物理量的变化,可通过单片机采集可变电阻两端的电压然后处理,就可以计算出相应的物理量的变化,是一种精度很高的测量手段。桥式电阻式传感器的应用范围很广,通常应用于:
(1)用于精确测量非常低的电阻值;
(2)与运算放大器一起用于测量温度、压力、电、光等物理量。
参考图2,桥式电阻式传感器包括连接成电桥的四个电阻,即电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R。电阻R1L、电阻R1R之间的节点连接激励电压VB,电阻R2L、电阻R2R之间的节点接地VG,电阻R1L、电阻R2L之间的节点为第一输出端VL,电阻R1R、电阻R2R之间的节点为第二输出端VR。在理想状态下,第一输出端VL,第二输出端VR的差模电压为0,在实际的使用过程中,第一输出端VL,第二输出端VR的差模电压不为0,该差模电压是我们需要采集和放大的信号。桥式电阻式传感器在出厂之前需要经过故障诊断,或者叫故障测试,在本发明提供是技术方案中,本发明桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置包括:桥式电阻式传感器、信号处理单元、中央处理单元。所述信号处理单元包括故障检测电路,所述故障检测电路包括第一比较器、第二比较器;所述桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器、第二比较器与所述第一基准电压REF进行比较,所述第一比较器、第二比较器分别输出第一结果FL、第二结果FR,所述中央处理单元通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器正常或异常。
需要说明的是,桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR连接至第一比较器及第二比较器,因此为了减小对桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR的影响,因此第一比较器及第二比较器通常采用高输入和低输出阻抗的比较器,以尽可能地减小对差分电压VL、VR的影响,以使第一比较器及第二比较器所采集到的是更接近实际的差分电压VL、VR
参考图2,现对桥式电阻式传感器的工作点进行说明,以激励电压VB为5V, VG接地,电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R均处于理想状态,例如电阻R1L、电阻R2L相等,电阻R1R、电阻R2R相等,来说明桥式电阻式传感器工作过程中的几种具体情况:
①与信号处理单元正常连接,第一输出端VL,第二输出端VR均输出2.5V;
② 与信号处理单元断路,第一输出端VL,第二输出端VR均输出2.5V;
③激励电压VB 断路,第一输出端VL,第二输出端VR均输出0V;
④地端VG断路,第一输出端VL,第二输出端VR均输出2.5V;
⑤第一输出端VL断路,第一输出端VL悬空,第二输出端VR输出2.5V;
⑥第二输出端VR断路,第二输出端VR悬空,第一输出端VL输出2.5V;
⑦激励电压VB与第一输出端VL短路,第一输出端VL输出5V,第二输出端VR输出2.5V;
⑧ 激励电压VB与第二输出端VR短路,第一输出端VL输出2.5V,第二输出端VR输出5V;
⑨ 地端VG与第一输出端VL短路,第一输出端VL输出0V,第二输出端VR输出2.5V;
⑩ 地端VG与第二输出端VR短路,第一输出端VL输出2.5V,第二输出端VR输出0V;
⑪第一输出端VL与第二输出端VR短路,桥式电阻式传感器输出的差模电压始终是0。
⑫激励电压VB与地端VG短路,电路出现故障,需要由硬件电路实现过流保护。
参考图1、2,本发明实施例提供的技术方案为:提供一种桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,用于对所述桥式电阻式传感器10的故障进行诊断,例如包括出厂前的故障诊断,与其他电子元器件封装到电路板后的生产测试,使用过程中的故障诊断等等,包括:
信号处理单元20,所述信号处理单元20包括故障检测电路21,所述故障检测电路21包括第一比较器211、第二比较器212;
所述桥式电阻式传感器10的输入端连接一激励电压VB,且所述激励电压VB大小可调;
参考图2所示的实施例中,所述桥式电阻式传感器10包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述桥式电阻式传感器10的输入端即为电阻R1L、电阻R1R之间的节点,并连接所述激励电压VB,所述激励电压VB的大小可调,以适应不同型号的桥式电阻式传感器的故障诊断。
所述桥式电阻式传感器10的第一输出端连接所述第一比较器211的正输入端,所述桥式电阻式传感器10的第二输出端连接所述第二比较器212的正输入端,所述第一比较器211、第二比较器212的负输入端连接第一基准电压REF;或
所述桥式电阻式传感器10的第一输出端连接所述第一比较器211的负输入端,所述桥式电阻式传感器10的第二输出端连接所述第二比较器212的负输入端,所述第一比较器211、第二比较器212的正输入端连接第一基准电压REF;
需要说明的是,电阻R1L、电阻R2L之间的节点为第一输出端VL,电阻R1R、电阻R2R之间的节点为第二输出端VR。上述两种方案中,无论所述桥式电阻式传感器10的第一输出端、第二输出端连接至所述第一比较器211、第二比较器212的哪个输入端,均是等效的。两种连接方案均可以实现对桥式电阻式传感器的故障诊断的诊断要求。且其中所述第一基准电压REF可以通过一基准电压源进行提供,能够确保提供稳定的基准电压,对该基准电压源的使用要求是,在电源电压、负载、温度在一定变化范围时,能够提供稳定输出电压的电路。
中央处理单元30,所述中央处理单元30用于通过所述信号处理单元20调整所述激励电压VB的大小,以使所述桥式电阻式传感器10的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器211、第二比较器212与所述第一基准电压REF进行比较,所述第一比较器211、第二比较器212分别输出第一结果FL、第二结果FR,所述中央处理单元30通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
上述实施例中,所述中央处理单元30的作用是调整激励电压VB的大小,及对所述第一比较器211、第二比较器212分别输出第一结果FL、第二结果FR进行分析处理,判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
上述实施例中,所述中央处理单元30可以是单片机、MCU、CPU等信息处理、程序运行的最终执行单元。在一定程度上,当故障诊断的任务量不大时,所述中央处理单元30的工作可以通过人工替代,即是通过人为调整激励电压VB的大小、人为通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
需要说明的是,为了更准确地测试所述桥式电阻式传感器10的正常或异常,所述激励电压VB应能够输出多种不同的电压大小,例如激励电压VB=5V或6V或7V、10V等等,通过所述中央处理单元30能够方便地调整激励电压VB在测试所需要的电压大小。
需要说明的是,比较器是将一个模拟电压信号与一个基准电压相比较的电路。比较器的两路输入为模拟信号,输出则为二进制信号0或1,当输入电压的差值增大或减小且正负符号不变时,其输出保持恒定。在本实施例中,所述第一比较器211将所述桥式电阻式传感器10的第一输出端所输出的差分电压VL与第一基准电压REF进行比较;所述第二比较器212将所述桥式电阻式传感器10的第二输出端所输出的差分电压VR与第一基准电压REF进行比较。且所述第一比较器211、第二比较器212分别输出第一结果FL、第二结果FR,所述中央处理单元30通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常,且由于所述第一结果FL、第二结果FR为二进制信号0或1,并以此来判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
因此,所述中央处理单元30的功能应该包括能够通过所述信号处理单元20调整所述激励电压VB的大小,以满足所述桥式电阻式传感器10在不同的所述激励电压VB下进行故障诊断。
参考图2,所述信号处理单元20还包括第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
需要说明的是,所述第二基准电压VREF可以通过一基准电压源进行提供,能够确保提供稳定的基准电压,对该基准电压源的使用要求是,在电源电压、负载、温度在一定变化范围时,能够提供稳定输出电压的电路。
一些实施例中,所述第一基准电压REF和第二基准电压VREF可以是通过两个不同的基准电压源提供;也可以通过同一个基准电压源配置电阻分压网络提供。
一个实施例中,参考图2,所述桥式电阻式传感器10的地端VG与所述信号处理单元20的地端连接在一起。如此能够方便电路的走线设计方便,能够更好地减小电路的体积。
一个实施例中,参考图2,所述桥式电阻式传感器10包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述电阻R1L、电阻R1R的正极连接在一起并与所述激励电压VB连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接并形成所述第一输出端,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接并形成所述第二输出端,所述电阻R2L、电阻R2R的负极连接在一起形成所述桥式电阻式传感器的地端。
一个实施例中,参考图2、3,所述中央处理单元30还用于通过所述信号处理单元20控制所述第一基准电压REF、第二基准电压VREF均同时工作在第一时间段Φ1或第二时间段Φ2,其中所述第一时间段Φ1为低电平的时间段、第二时间段Φ2为高电平的时间段:
在Φ1内使得
Figure 4177DEST_PATH_IMAGE001
,在Φ2内使得
Figure 901726DEST_PATH_IMAGE002
在Φ1内使得
Figure 553287DEST_PATH_IMAGE003
,在Φ2内使得
Figure 536287DEST_PATH_IMAGE004
则在Φ1期间,
Figure 931496DEST_PATH_IMAGE005
Figure 683551DEST_PATH_IMAGE006
在Φ2期间,
Figure 506014DEST_PATH_IMAGE007
Figure 223914DEST_PATH_IMAGE008
且所述桥式电阻式传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,R1L=R1R、R2L=R2R,令:
Figure 422814DEST_PATH_IMAGE009
若在Φ1期间
Figure 29376DEST_PATH_IMAGE010
,在Φ2期间,
Figure 22740DEST_PATH_IMAGE011
,即
Figure 714752DEST_PATH_IMAGE012
,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作;当设定k3=k4=
Figure 717343DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 178411DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 342677DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 286099DEST_PATH_IMAGE016
认为桥式电阻式传感器工作正常;
若Φ1期间FL、FR>0或者Φ2期间FL、FR<0,得到
Figure 826802DEST_PATH_IMAGE017
Figure 142377DEST_PATH_IMAGE018
,则判断所述桥式电阻式传感器异常;
其中,其中偏差值
Figure 743123DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1。
当设定k3=k4=
Figure 144148DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 488542DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 658623DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 869418DEST_PATH_IMAGE020
认为桥式电阻式传感器存在异常,比如存在VB、VR、VL、VG脱落情况或者R1L、R2L之间,R1R、R2R之间存在较大的偏差,其中偏差值
Figure 820056DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1,对设计者来说具有较大的自由度。
为了更好地理解上述实施例中的技术方案,现用比较具体的参数进行说明:具体地,当R1L、R2L、R1R、R2R的电阻值大小分别为:5Kohm、5Kohm、5Kohm、5Kohm;
第二基准电压VREF的大小为:5V;
k1、k2、k3、k4分别为:0.25、0.75、0.1875、0.1875;
在Φ1内使得
Figure 640245DEST_PATH_IMAGE001
=1.25V,在Φ2内使得
Figure 992729DEST_PATH_IMAGE002
=3.75V;
在Φ1内使得
Figure 138539DEST_PATH_IMAGE003
=0.9375V,在Φ2内使得
Figure 576474DEST_PATH_IMAGE004
=0.9375V;
则在Φ1期间,
Figure 200353DEST_PATH_IMAGE005
Figure 407344DEST_PATH_IMAGE006
即:
Figure 957012DEST_PATH_IMAGE021
Figure 882242DEST_PATH_IMAGE022
在Φ2期间,
Figure 44233DEST_PATH_IMAGE007
Figure 371309DEST_PATH_IMAGE008
即在Φ2期间,
Figure 327764DEST_PATH_IMAGE023
1.875V,
Figure 740291DEST_PATH_IMAGE024
1.875V;
这里
Figure 705973DEST_PATH_IMAGE025
满足
Figure 887556DEST_PATH_IMAGE012
,即:-0.5
Figure 781956DEST_PATH_IMAGE026
0.5,传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,实际传感器正常。
根据比较器特性可知,在Φ1内FL<0、FR<0,且在Φ2内FL>0、FR>0,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作,与实际情况吻合;
另一个实施例中,具体地,当R1L、R2L、R1R、R2R的电阻值大小分别为:5Kohm、5Kohm、1Kohm、9Kohm;
第二基准电压VREF的大小为:5V;
k1、k2、k3、k4分别为:0.25、0.75、0.1875、0.1875;
在Φ1内使得
Figure 416199DEST_PATH_IMAGE001
=1.25V,在Φ2内使得
Figure 185572DEST_PATH_IMAGE002
=3.75V;
在Φ1内使得
Figure 424924DEST_PATH_IMAGE003
=0.9375V,在Φ2内使得
Figure 51077DEST_PATH_IMAGE004
=0.9375V;
则在Φ1期间,
Figure 110300DEST_PATH_IMAGE005
Figure 480101DEST_PATH_IMAGE006
即:
Figure 72494DEST_PATH_IMAGE021
Figure 869549DEST_PATH_IMAGE027
在Φ2期间,
Figure 416068DEST_PATH_IMAGE007
Figure 323981DEST_PATH_IMAGE008
即在Φ2期间,
Figure 272346DEST_PATH_IMAGE023
1.875V,
Figure 240302DEST_PATH_IMAGE024
3.375V;
这里
Figure 539696DEST_PATH_IMAGE028
不满足
Figure 251300DEST_PATH_IMAGE012
,即:不满足-0.5
Figure 24477DEST_PATH_IMAGE026
0.5,传感器的R1R、R2R失配很严重,认为实际传感器不正常。
根据比较器特性可知,在Φ1内FL<0、FR>0,在Φ2内FL>0、FR>0,则判断所述桥式电阻式传感器工作异常,与实际情况吻合。
如果Φ1、Φ2时间比较短暂 ,可以将所述第一比较器、第二比较器合并为一个比较器, 时序扩展为Φ1、Φ2检测VL电压,Φ3、Φ4检测VR电压,这样可以最大限度的节省硬件空间。
参考图4,本发明提供一种桥式电阻式传感器的故障诊断方法,用于通过中央处理单元控制信号处理单元对桥式电阻式传感器是否存在故障进行诊断,其中所述信号处理单元包括故障检测电路,且所述故障检测电路包括第一比较器、第二比较器,
包括如下步骤:
S001将所述桥式电阻式传感器的输入端连接至一激励电压VB,且所述激励电压VB大小可调;
参考图2所示的实施例中,所述桥式电阻式传感器10包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述桥式电阻式传感器10的输入端即为电阻R1L、电阻R1R之间的节点,并连接所述激励电压VB,所述激励电压VB的大小可调,以适应不同型号的桥式电阻式传感器的故障诊断。
S002,将所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的正输入端,将所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的正输入端,将所述第一比较器、第二比较器的负输入端连接第一基准电压REF;或
将所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的负输入端,将所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的负输入端,将所述第一比较器、第二比较器的正输入端连接第一基准电压REF;
需要说明的是,电阻R1L、电阻R2L之间的节点为第一输出端VL,电阻R1R、电阻R2R之间的节点为第二输出端VR。上述两种方案中,无论所述桥式电阻式传感器10的第一输出端、第二输出端连接至所述第一比较器211、第二比较器212的哪个输入端,均是等效的。两种连接方案均可以实现对桥式电阻式传感器的故障诊断的诊断要求。且其中所述第一基准电压REF可以通过一基准电压源进行提供,能够确保提供稳定的基准电压,对该基准电压源的使用要求是,在电源电压、负载、温度在一定变化范围时,能够提供稳定输出电压的电路。
S003,所述中央处理单元通过所述信号处理单元调整所述激励电压VB的大小,以使所述桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且将所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器、第二比较器与所述第一基准电压REF进行比较后,并通过所述第一比较器、第二比较器分别输出第一结果FL、第二结果FR
S004,所述中央处理单元通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器正常或异常。
上述实施例中,所述中央处理单元30的作用是调整激励电压VB的大小,及对所述第一比较器211、第二比较器212分别输出第一结果FL、第二结果FR进行分析处理,判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
上述实施例中,所述中央处理单元30可以是单片机、MCU、CPU等信息处理、程序运行的最终执行单元。在一定程度上,当故障诊断的任务量不大时,所述中央处理单元30的工作可以通过人工替代,即是通过人为调整激励电压VB的大小、人为通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
需要说明的是,为了更准确地测试所述桥式电阻式传感器10的正常或异常,所述激励电压VB应能够输出多种不同的电压大小,例如激励电压VB=5V或6V或7V、10V等等,通过所述中央处理单元30能够方便地调整激励电压VB在测试所需要的电压大小。
需要说明的是, 比较器是将一个模拟电压信号与一个基准电压相比较的电路。比较器的两路输入为模拟信号,输出则为二进制信号0或1,当输入电压的差值增大或减小且正负符号不变时,其输出保持恒定。在本实施例中,所述第一比较器211将所述桥式电阻式传感器10的第一输出端所输出的差分电压VL与第一基准电压REF进行比较;所述第二比较器212将所述桥式电阻式传感器10的第二输出端所输出的差分电压VR与第一基准电压REF进行比较。且所述第一比较器211、第二比较器212分别输出第一结果FL、第二结果FR,所述中央处理单元30通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常,且由于所述第一结果FL、第二结果FR为二进制信号0或1,并以此来判断所述桥式电阻式传感器10正常或异常。
因此,所述中央处理单元30的功能应该包括能够通过所述信号处理单元20调整所述激励电压VB的大小,以满足所述桥式电阻式传感器10在不同的所述激励电压VB下进行故障诊断。
所述信号处理单元连接至第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
参考图2,所述信号处理单元20还包括第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
需要说明的是,所述第二基准电压VREF可以通过一基准电压源进行提供,能够确保提供稳定的基准电压,对该基准电压源的使用要求是,在电源电压、负载、温度在一定变化范围时,能够提供稳定输出电压的电路。
一些实施例中,所述第一基准电压REF和第二基准电压VREF可以是通过两个不同的基准电压源提供;也可以通过同一个基准电压源配置电阻分压网络提供。
一个实施例中,参考图2,所述桥式电阻式传感器10的地端VG与所述信号处理单元20的地端连接在一起。如此能够方便电路的走线设计方便,能够更好地减小电路的体积。
一个实施例中,参考图2,所述桥式电阻式传感器10包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述电阻R1L、电阻R1R的正极连接在一起并与所述激励电压VB连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接并形成所述第一输出端,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接并形成所述第二输出端,所述电阻R2L、电阻R2R的负极连接在一起形成所述桥式电阻式传感器的地端。
一个实施例中,参考图2、3,所述中央处理单元还通过所述信号处理单元控制所述第一基准电压REF、第二基准电压VREF均同时工作在第一时间段Φ1或第二时间段Φ2,其中所述第一时间段Φ1为低电平的时间段、第二时间段Φ2为高电平的时间段:
在Φ1内使得
Figure 632176DEST_PATH_IMAGE001
,在Φ2内使得
Figure 684446DEST_PATH_IMAGE002
在Φ1内使得
Figure 668582DEST_PATH_IMAGE003
,在Φ2内使得
Figure 857118DEST_PATH_IMAGE004
则在Φ1期间,
Figure 166877DEST_PATH_IMAGE005
Figure 175284DEST_PATH_IMAGE006
在Φ2期间,
Figure 697532DEST_PATH_IMAGE007
Figure 537312DEST_PATH_IMAGE008
且所述桥式电阻式传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,R1L=R1R、R2L=R2R,令:
Figure 985349DEST_PATH_IMAGE029
若在Φ1期间
Figure 12211DEST_PATH_IMAGE010
,在Φ2期间,
Figure 603729DEST_PATH_IMAGE011
,即
Figure 235699DEST_PATH_IMAGE012
,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作;当设定k3=k4=
Figure 356102DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 135839DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 468731DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 283103DEST_PATH_IMAGE016
认为桥式电阻式传感器工作正常;
若Φ1期间FL、FR>0或者Φ2期间FL、FR<0,得到
Figure 532995DEST_PATH_IMAGE017
Figure 800028DEST_PATH_IMAGE018
,则判断所述桥式电阻式传感器异常;
其中,其中偏差值
Figure 936612DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1。
当设定k3=k4=
Figure 605490DEST_PATH_IMAGE013
,k1=
Figure 536537DEST_PATH_IMAGE014
,k2=
Figure 290867DEST_PATH_IMAGE015
,则判断
Figure 965562DEST_PATH_IMAGE020
认为桥式电阻式传感器存在异常,比如存在VB、VR、VL、VG脱落情况或者R1L、R2L之间,R1R、R2R之间存在较大的偏差,其中偏差值
Figure 488947DEST_PATH_IMAGE019
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1,对设计者来说具有较大的自由度。
为了更好地理解上述实施例中的技术方案,现用比较具体的参数进行说明:具体地,当R1L、R2L、R1R、R2R的电阻值大小分别为:5Kohm、5Kohm、5Kohm、5Kohm;
第二基准电压VREF的大小为:5V;
k1、k2、k3、k4分别为:0.25、0.75、0.1875、0.1875;
在Φ1内使得
Figure 620589DEST_PATH_IMAGE001
=1.25V,在Φ2内使得
Figure 862214DEST_PATH_IMAGE002
=3.75V;
在Φ1内使得
Figure 75021DEST_PATH_IMAGE003
=0.9375V,在Φ2内使得
Figure 718492DEST_PATH_IMAGE004
=0.9375V;
则在Φ1期间,
Figure 991341DEST_PATH_IMAGE005
Figure 720263DEST_PATH_IMAGE006
即:
Figure 736760DEST_PATH_IMAGE021
Figure 234738DEST_PATH_IMAGE022
在Φ2期间,
Figure 445533DEST_PATH_IMAGE007
Figure 396171DEST_PATH_IMAGE008
即在Φ2期间,
Figure 216360DEST_PATH_IMAGE023
1.875V,
Figure 568844DEST_PATH_IMAGE024
1.875V;
这里
Figure 714654DEST_PATH_IMAGE030
满足
Figure 90272DEST_PATH_IMAGE012
,即:-0.5
Figure 510889DEST_PATH_IMAGE026
0.5,传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,实际传感器正常。
根据比较器特性可知,在Φ1内FL<0、FR<0,且在Φ2内FL>0、FR>0,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作,与实际情况吻合;
另一个实施例中,具体地,当R1L、R2L、R1R、R2R的电阻值大小分别为:5Kohm、5Kohm、1Kohm、9Kohm;
第二基准电压VREF的大小为:5V;
k1、k2、k3、k4分别为:0.25、0.75、0.1875、0.1875;
在Φ1内使得
Figure 419677DEST_PATH_IMAGE001
=1.25V,在Φ2内使得
Figure 533126DEST_PATH_IMAGE002
=3.75V;
在Φ1内使得
Figure 396040DEST_PATH_IMAGE003
=0.9375V,在Φ2内使得
Figure 620348DEST_PATH_IMAGE004
=0.9375V;
则在Φ1期间,
Figure 619528DEST_PATH_IMAGE005
Figure 903879DEST_PATH_IMAGE006
即:
Figure 254089DEST_PATH_IMAGE021
Figure 282088DEST_PATH_IMAGE027
在Φ2期间,
Figure 666933DEST_PATH_IMAGE007
Figure 856605DEST_PATH_IMAGE008
即在Φ2期间,
Figure 195576DEST_PATH_IMAGE023
1.875V,
Figure 761687DEST_PATH_IMAGE024
3.375V;
这里
Figure 1038DEST_PATH_IMAGE031
不满足
Figure 299296DEST_PATH_IMAGE012
,即:不满足-0.5
Figure 686415DEST_PATH_IMAGE026
0.5,传感器的R1R、R2R失配很严重,认为实际传感器不正常。
根据比较器特性可知,在Φ1内FL<0、FR>0,在Φ2内FL>0、FR>0,则判断所述桥式电阻式传感器工作异常,与实际情况吻合。
参考图5,本发明提供了一种计算机100,所述计算机包括至少一个处理器101、存储介质102及内存储器105,所述计算机100还包括有操作***104,所述操作***104存储于存储介质102; 所述至少一个处理器101与所述存储介质102连接; 所述存储介质102用于存储程序103,所述处理器101用于执行所述程序103,所述程序103在被所述至少一个处理器101执行时,使所述至少一个处理器101执行所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
参考图5,本发明提供一种存储介质102,所述存储介质102为计算机100可读存储介质,所述存储介质102存储有程序103,所述程序103使得所述计算机100执行所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
参考图5,本发明提供一种计算机可读的程序103,当所述计算机100可读的程序被一个或多个处理器101执行时所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
以上所揭露的仅为本发明的优选实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明申请专利范围所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (13)

1.一种桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,用于对所述桥式电阻式传感器的故障进行诊断,其特征在于,包括:
信号处理单元,所述信号处理单元包括故障检测电路,所述故障检测电路包括第一比较器、第二比较器;
所述桥式电阻式传感器的输入端连接一激励电压VB,且所述激励电压VB大小可调;
所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的正输入端,所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的正输入端,所述第一比较器、第二比较器的负输入端连接第一基准电压REF;或
所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的负输入端,所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的负输入端,所述第一比较器、第二比较器的正输入端连接第一基准电压REF;
中央处理单元,所述中央处理单元用于通过所述信号处理单元调整所述激励电压VB的大小,以使所述桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器、第二比较器与所述第一基准电压REF进行比较,所述第一比较器、第二比较器分别输出第一结果FL、第二结果FR,所述中央处理单元通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器正常或异常。
2.如权利要求1所述的桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,其特征在于,所述信号处理单元还包括第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
3.如权利要求1所述的桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,其特征在于,所述桥式电阻式传感器的地端VG与所述信号处理单元的地端连接在一起。
4.如权利要求2所述的桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,其特征在于,所述桥式电阻式传感器包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述电阻R1L、电阻R1R的正极连接在一起并与所述激励电压VB连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接并形成所述第一输出端,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接并形成所述第二输出端,所述电阻R2L、电阻R2R的负极连接在一起形成所述桥式电阻式传感器的地端。
5.如权利要求4所述的桥式电阻式传感器的故障诊断电路装置,其特征在于,所述中央处理单元还用于通过所述信号处理单元控制所述第一基准电压REF、第二基准电压VREF均同时工作在第一时间段Φ1或第二时间段Φ2,其中所述第一时间段Φ1为低电平的时间段、第二时间段Φ2为高电平的时间段:
在Φ1内使得
Figure 750372DEST_PATH_IMAGE001
,在Φ2内使得
Figure 15131DEST_PATH_IMAGE002
在Φ1内使得
Figure 299482DEST_PATH_IMAGE003
,在Φ2内使得
Figure 649692DEST_PATH_IMAGE004
则在Φ1期间,
Figure 412112DEST_PATH_IMAGE005
Figure 531377DEST_PATH_IMAGE006
在Φ2期间,
Figure 986629DEST_PATH_IMAGE007
Figure 322671DEST_PATH_IMAGE008
且所述桥式电阻式传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,R1L=R1R、R2L=R2R,令:
Figure 659291DEST_PATH_IMAGE010
若在Φ1期间
Figure 610246DEST_PATH_IMAGE012
,在Φ2期间,
Figure 714469DEST_PATH_IMAGE013
,即
Figure 808327DEST_PATH_IMAGE014
,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作;
当设定k3=k4=
Figure 543064DEST_PATH_IMAGE015
,k1=
Figure 151900DEST_PATH_IMAGE016
,k2=
Figure 764541DEST_PATH_IMAGE017
,则判断
Figure 775222DEST_PATH_IMAGE018
认为桥式电阻式传感器工作正常;
若Φ1期间FL、FR>0或者Φ2期间FL、FR<0,得到
Figure 680861DEST_PATH_IMAGE019
Figure 776993DEST_PATH_IMAGE020
,则判断所述桥式电阻式传感器异常;
其中,其中偏差值
Figure 895122DEST_PATH_IMAGE021
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1;
当设定k3=k4=
Figure 25889DEST_PATH_IMAGE015
,k1=
Figure 102429DEST_PATH_IMAGE016
,k2=
Figure 685857DEST_PATH_IMAGE017
,则判断
Figure 371791DEST_PATH_IMAGE022
认为桥式电阻式传感器存在异常。
6.一种桥式电阻式传感器的故障诊断方法,用于通过中央处理单元控制信号处理单元对桥式电阻式传感器是否存在故障进行诊断,其中所述信号处理单元包括故障检测电路,且所述故障检测电路包括第一比较器、第二比较器,其特征在于,包括如下步骤:将所述桥式电阻式传感器的输入端连接至一激励电压VB,且所述激励电压VB大小可调;
将所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的正输入端,将所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的正输入端,将所述第一比较器、第二比较器的负输入端连接第一基准电压REF;或
将所述桥式电阻式传感器的第一输出端连接所述第一比较器的负输入端,将所述桥式电阻式传感器的第二输出端连接所述第二比较器的负输入端,将所述第一比较器、第二比较器的正输入端连接第一基准电压REF;
所述中央处理单元通过所述信号处理单元调整所述激励电压VB的大小,以使所述桥式电阻式传感器的第一输出端、第二输出端所输出的差分电压VL、VR产生变化,且将所述差分电压VL、VR分别通过所述第一比较器、第二比较器与所述第一基准电压REF进行比较后,并通过所述第一比较器、第二比较器分别输出第一结果FL、第二结果FR
所述中央处理单元通过所述第一结果FL、第二结果FR判断所述桥式电阻式传感器正常或异常。
7.如权利要求6所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法,其特征在于,所述信号处理单元连接至第二基准电压VREF,所述激励电压VB是通过所述第二基准电压VREF进行输出。
8.如权利要求6所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法,其特征在于,所述桥式电阻式传感器的地端VG与所述信号处理单元的地端连接在一起。
9.如权利要求7所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法,其特征在于,所述桥式电阻式传感器包括电阻R1L、电阻R2L、电阻R1R、电阻R2R,所述电阻R1L、电阻R1R的正极连接在一起并与所述激励电压VB连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接,所述电阻R1L的负极与电阻R2L的正极连接并形成所述第一输出端,所述电阻R1R的负极与电阻R2R的正极连接并形成所述第二输出端,所述电阻R2L、电阻R2R的负极连接在一起形成所述桥式电阻式传感器的地端。
10.如权利要求9所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法,其特征在于,所述中央处理单元还通过所述信号处理单元控制所述第一基准电压REF、第二基准电压VREF均同时工作在第一时间段Φ1或第二时间段Φ2,其中所述第一时间段Φ1为低电平的时间段、第二时间段Φ2为高电平的时间段:
在Φ1内使得
Figure 357065DEST_PATH_IMAGE001
,在Φ2内使得
Figure 604507DEST_PATH_IMAGE002
在Φ1内使得
Figure 675231DEST_PATH_IMAGE003
,在Φ2内使得
Figure 666321DEST_PATH_IMAGE004
则在Φ1期间,
Figure 506101DEST_PATH_IMAGE005
Figure 924444DEST_PATH_IMAGE006
在Φ2期间,
Figure 656033DEST_PATH_IMAGE007
Figure 513130DEST_PATH_IMAGE008
且所述桥式电阻式传感器的R1L、R2L和R1R、R2R完全等效,R1L=R1R、R2L=R2R,令:
Figure 941837DEST_PATH_IMAGE010
若在Φ1期间
Figure 593399DEST_PATH_IMAGE012
,在Φ2期间,
Figure 576398DEST_PATH_IMAGE013
,即
Figure 971607DEST_PATH_IMAGE014
,则判断所述桥式电阻式传感器正常工作;
当设定k3=k4=
Figure 458084DEST_PATH_IMAGE015
,k1=
Figure 546125DEST_PATH_IMAGE016
,k2=
Figure 249377DEST_PATH_IMAGE017
,则判断
Figure 182698DEST_PATH_IMAGE018
认为桥式电阻式传感器工作正常;
若Φ1期间FL、FR>0或者Φ2期间FL、FR<0,得到
Figure 789260DEST_PATH_IMAGE019
Figure 48203DEST_PATH_IMAGE020
,则判断所述桥式电阻式传感器异常;
其中,其中偏差值
Figure 474636DEST_PATH_IMAGE021
可以通过设定不同的k1、k2、k3、k4来实现,其中,0<k1<1、0<k2<1、0<k3<1、0<k4<1;
当设定k3=k4=
Figure 477227DEST_PATH_IMAGE015
,k1=
Figure 672716DEST_PATH_IMAGE016
,k2=
Figure 276129DEST_PATH_IMAGE017
,则判断
Figure 517755DEST_PATH_IMAGE022
认为桥式电阻式传感器存在异常。
11. 一种计算机,其特征在于,所述计算机包括至少一个处理器、存储介质,所述计算机还包括有操作***,所述操作***存储于存储介质; 所述至少一个处理器与所述存储介质连接; 所述存储介质用于存储程序,所述处理器用于执行所述程序,所述程序在被所述至少一个处理器执行时,使所述至少一个处理器执行如权利要求6-10任一项所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
12.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质为计算机可读存储介质,所述存储介质存储有程序,所述程序使得所述计算机执行如权利要求6-10任一项所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
13.一种计算机可读的程序,其特征在于,当所述计算机可读的程序被一个或多个处理器执行时,执行如权利要求6-10任一项所述的桥式电阻式传感器的故障诊断方法。
CN202211545363.4A 2022-12-05 2022-12-05 故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序 Active CN115574854B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211545363.4A CN115574854B (zh) 2022-12-05 2022-12-05 故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211545363.4A CN115574854B (zh) 2022-12-05 2022-12-05 故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN115574854A true CN115574854A (zh) 2023-01-06
CN115574854B CN115574854B (zh) 2023-04-11

Family

ID=84590816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202211545363.4A Active CN115574854B (zh) 2022-12-05 2022-12-05 故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115574854B (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5576449A (en) * 1978-12-01 1980-06-09 Hitachi Ltd Fault diagnosis method for signal converter circuit
JPH08247801A (ja) * 1995-03-10 1996-09-27 Omron Corp トランスデューサ及びそれを用いたガスメータ
CN101236113A (zh) * 2007-02-01 2008-08-06 上海飞恩微电子有限公司 全桥型压阻式压力传感器的数字式信号调理芯片
CN101732044A (zh) * 2008-11-13 2010-06-16 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种桥型压力传感器检测电路、检测方法及监护仪
CN101829834A (zh) * 2010-04-15 2010-09-15 江苏科技大学 全桥逆变与单端正激逆变切换式弧焊电源及其控制方法
CN102959411A (zh) * 2010-06-25 2013-03-06 日立汽车***株式会社 桥电路的断路检测电路和具有断路检测单元的***
CN103245372A (zh) * 2012-02-13 2013-08-14 富泰华工业(深圳)有限公司 电桥式传感器侦测电路
CN112254875A (zh) * 2020-10-26 2021-01-22 南通大学 一种电桥式传感器连接状态的判别电路及判别方法
CN112269154A (zh) * 2020-11-13 2021-01-26 广东澳鸿科技有限公司 一种h桥的故障诊断电路
CN113009313A (zh) * 2021-01-29 2021-06-22 南京英锐创电子科技有限公司 传感器诊断装置和传感器检测电路
CN113155159A (zh) * 2020-12-30 2021-07-23 南京英锐创电子科技有限公司 桥式检测器

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5576449A (en) * 1978-12-01 1980-06-09 Hitachi Ltd Fault diagnosis method for signal converter circuit
JPH08247801A (ja) * 1995-03-10 1996-09-27 Omron Corp トランスデューサ及びそれを用いたガスメータ
CN101236113A (zh) * 2007-02-01 2008-08-06 上海飞恩微电子有限公司 全桥型压阻式压力传感器的数字式信号调理芯片
CN101732044A (zh) * 2008-11-13 2010-06-16 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种桥型压力传感器检测电路、检测方法及监护仪
CN101829834A (zh) * 2010-04-15 2010-09-15 江苏科技大学 全桥逆变与单端正激逆变切换式弧焊电源及其控制方法
CN102959411A (zh) * 2010-06-25 2013-03-06 日立汽车***株式会社 桥电路的断路检测电路和具有断路检测单元的***
CN103245372A (zh) * 2012-02-13 2013-08-14 富泰华工业(深圳)有限公司 电桥式传感器侦测电路
CN112254875A (zh) * 2020-10-26 2021-01-22 南通大学 一种电桥式传感器连接状态的判别电路及判别方法
CN112269154A (zh) * 2020-11-13 2021-01-26 广东澳鸿科技有限公司 一种h桥的故障诊断电路
CN113155159A (zh) * 2020-12-30 2021-07-23 南京英锐创电子科技有限公司 桥式检测器
CN113009313A (zh) * 2021-01-29 2021-06-22 南京英锐创电子科技有限公司 传感器诊断装置和传感器检测电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN115574854B (zh) 2023-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8305035B2 (en) Energy storage device
US5611909A (en) Method for detecting source of error in an amperometric measuring cell
US7531990B2 (en) Voltage detector for an assembled battery
EP1922554B1 (en) Current measurement circuit and method of diagnosing faults in same
US11740289B2 (en) Relay examination device and battery management system
CN111551865B (zh) 用于监测电池单元的单元阻抗测量的可靠性的设备和方法
JP5183447B2 (ja) 試験装置および診断方法
CN103048530A (zh) 数字电源电流校准装置
US6777946B2 (en) Cell buffer with built-in test
CN112179949A (zh) 操作气体感测设备的方法以及对应的气体感测设备
CN103455078B (zh) 一种限流电路、装置
US8245562B2 (en) Circuit and method for pressure sensor testing
US7554299B2 (en) Battery monitoring circuit and method
CN115574854B (zh) 故障诊断电路装置、诊断方法、计算机、存储介质及程序
CN112212908B (zh) 一种智能传感器及其智能化方法
US20220308116A1 (en) Battery sensor
CN114981673A (zh) 故障单元诊断方法和使用该方法的电池***
CN101281215B (zh) 主动式电流检测***
KR102035924B1 (ko) 고장진단회로 일체형 브릿지 구조의 압력센서 및 브릿지 구조 압력센서의 고장진단 방법
CN112904229B (zh) 短路检测装置和短路检测方法
CN217484448U (zh) 一种检测电路
CN118112328B (zh) 一种分流器安装点阻抗主动式检测方法
US20240219435A1 (en) Source measure device
JP2003043008A (ja) ガスセンサの接続状態判定方法及び定電位電解式ガス測定器
US10533980B2 (en) Method for correcting measured values of a sensor element

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant