CN109240865A - 一种aep内存的ac测试方法、装置、终端及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本申请实施例提供一种AEP内存的AC测试方法、装置、终端及存储介质，包括：设置AEP内存标准参数；利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；判断所述测试参数是否与标准参数保持一致：是，则判定所述AEP内存正常；否，则判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。本发明能够自动对AEP内存进行AC测试，无需人工操作，提高了测试效率和准确率，同时也节省了服务器开发中的人力资源。

Description

一种AEP内存的AC测试方法、装置、终端及存储介质
技术领域
本发明属于AEP内存性能测试技术领域，具体涉及一种AEP内存的AC测试方法、装置、终端及存储介质。
背景技术
AEP内存简称Apache Pass DIMMs，用于替代DRAM，支撑持久Memory或In-Memory应用，AEP内存的特性有三种模式Memory mode、APD mode、Mix mode，Memory mode可以等同于普通测试测试；APD mode是在传统内存的基础上加入数据空间的概念，也就是具备存储功能；Mix mode就是前两者的混合模式。而AC测试是一项重要的可靠性测试项目，所谓的AC测试就是对服务器不断做通断电重启动作。即根据用户需求，对服务器进行通断电重启操作，在不断的通断电重启过程中，验证AEP内存的各项检测结果是否正常。为了验证AEP内存在服务器***中的使用稳定可靠特性，需要对AEP内存做500次或更多次AC测试，以保证AEP内存在AC测试过程中，其适配特性正常可用，从而保证服务器AEP内存应用的有效性。
现有AEP内存的AC测试中，大部分服务器厂商缺乏有效的模拟方法，往往没有该项测试，或者即使有，也需要人工进行测试机器的通断电重启操作，同时需要检测AEP内存的数量、健康、空间数据块变化等非常重要的信息，整个过程中需要测试人员不停的重复操作，造成人工成本巨大，且对于测试结果的准确性不能保证。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供一种AEP内存的AC测试方法、装置、终端及存储介质，以解决上述技术问题。
第一方面，本申请实施例提供一种AEP内存的AC测试方法，所述方法包括：
设置AEP内存标准参数；
利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；
利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；
判断所述测试参数是否与标准参数保持一致：
是，则判定所述AEP内存正常；
否，则判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试包括：
扫描监测电源电位信号；
判断电源状态是否为关机电路低电位信号：
是，则在断电时间达到时间阈值时通电并启动被测试机台；
设置被测试机台启动后立即执行测试脚本；
获取所述AEP内存判定结果后关闭被测试机台并断电。
结合第一方面，在第一方面的第二种实施方式中，所述利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数包括：
调用ipmctl工具获取AEP内存数目；
调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socket ID检索AEP内存健康状态；
调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息。
结合第一方面，在第一方面的第三种实施方式中，所述方法还包括：
设置所述AEP内存的AC测试次数；
判断当前执行次数是否达到设置次数：
是，则终止测试并输出测试结果；
否，则循环执行所述AEP内存的AC测试。
第二方面，本申请实施例提供一种AEP内存的AC测试装置，所述装置包括：
标准设置单元，配置用于设置AEP内存标准参数；
AC测试单元，配置用于利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；
参数获取单元，配置用于利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；
状态判断单元，配置用于判断所述测试参数是否与标准参数保持一致；
正常判定单元，配置用于判定所述AEP内存正常；
异常判定单元，配置用于判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，所述AC测试单元包括：
信号扫描模块，配置用于扫描监测电源电位信号；
电源判断模块，配置用于判断电源状态是否为关机电路低电位信号；
通电启动模块，配置用于在断电时间达到时间阈值时通电并启动被测试机台；
脚本执行模块，配置用于设置被测试机台启动后立即执行测试脚本；
关机断电模块，配置用于获取所述AEP内存判定结果后关闭被测试机台并断电。
结合第二方面，在第二方面的第二种实施方式中，所述参数获取单元包括：
数目获取模块，配置用于调用ipmctl工具获取AEP内存数目；
状态获取模块，配置用于调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socket ID检索AEP内存健康状态；
空间块获取模块，配置用于调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息。
结合第二方面，在第二方面的第三种实施方式中，所述装置还包括：
次数设置单元，配置用于设置所述AEP内存的AC测试次数；
次数判断单元，配置用于判断当前执行次数是否达到设置次数；
测试终止单元，配置用于终止测试并输出测试结果；
循环执行单元，配置用于循环执行所述AEP内存的AC测试。
第三方面，提供一种终端，包括：
处理器、存储器，其中，
该存储器用于存储计算机程序，
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端终端执行上述的终端终端的方法。
第四方面，提供了一种计算机存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。
第五方面，提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。
本发明的有益效果在于，
本发明提供的AEP内存的AC测试方法、装置、终端及存储介质，通过设置AEP内存标准参数，在利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行断电重启后，获取AEP内存的测试参数，通过对比测试参数和标准参数是否一致获取被测试AEP内存的性能状态。本发明能够自动对AEP内存进行AC测试，无需人工操作，提高了测试效率和准确率，同时也节省了服务器开发中的人力资源。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。
图2是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。
图3是本申请一个实施例的装置的示意性框图。
图4为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
下面对本申请中出现的关键术语进行解释。
图1是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。其中，图1执行主体可以为一种AEP内存的AC测试装置。
如图1所示，该方法100包括：
步骤110，设置AEP内存标准参数；
步骤120，利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；
步骤130，利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；
步骤140，判断所述测试参数是否与标准参数保持一致：
是，则判定所述AEP内存正常；
否，则判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
为了便于对本发明的理解，下面以本发明提供的AEP内存的AC测试方法的原理，结合实施例中AEP内存对进行AC测试的过程，对本发明提供的AEP内存的AC测试方法做进一步的描述。
可选地，作为本申请一个实施例，所述利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试包括：
扫描监测电源电位信号；
判断电源状态是否为关机电路低电位信号：
是，则在断电时间达到时间阈值时通电并启动被测试机台；
设置被测试机台启动后立即执行测试脚本；
获取所述AEP内存判定结果后关闭被测试机台并断电。
可选地，作为本申请一个实施例，所述利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数包括：
调用ipmctl工具获取AEP内存数目；
调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socket ID检索AEP内存健康状态；
调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息。
可选地，作为本申请一个实施例，所述方法还包括：
设置所述AEP内存的AC测试次数；
判断当前执行次数是否达到设置次数：
是，则终止测试并输出测试结果；
否，则循环执行所述AEP内存的AC测试。
请参考图2，具体的，所述AEP内存的AC测试方法包括：
S1、设置AEP内存标准参数。
搜集标准AEP内存的数量、空间数据块建立和健康状态。
S2、利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试。
通过AC疲劳机测试治具连接被测试机台，使用AC疲劳机测试治具监控电源的开关电路信号，当AC疲劳机治具收到被测试机台的关机电路低电位信号时，断开电源一分钟后，再加电使被测试机台进行通电开机的功能。
在被测试机台中，加入***的自动检测脚本，当服务器***开机进入***OS后，自动启动检测程序，搜索AEP内存特性信息，如果搜索到设备，***自动记录临时设备信息，对比SPEC文件自动分析现状，如果异常则记录检测设备信息并存储Log文件，如果Pass则显示Pass图案屏幕输出。获得分析结果后关机断电。
S3、利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数。
调用ipmctl工具获取AEP内存数目：
ipmctl show-topology|awk'/DCPMEM/{print$1}'|wc-l|tee-a dimmnum
DCPMEM为AEP内存的标志，通过关键词DCPMEM检索输出的第一列，接着通过wc计算出AEP内存接入服务器的数目，生成SPEC文件dimmnum。
调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socket ID检索AEP内存健康状态：
调用厂商提供的ipmctl工具捕获AEP内存socket ID列表dimmidl如下
dimmidl＝$(ipmctl show-dimm|awk'/0x/{print$1}')
在经过逐条AEP内存，也就是说根据socket ID分析判断
调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息：
S4、判断所述测试参数是否与标准参数保持一致：若一致，则判定所述AEP内存正常；若不一致，则判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
将每次断电重启后的AEP内存信息同标准信息进行比对，如果一致，则判断为pass，如果不一致，则判断为fail，不管是pass还是fail，均会进行保存记录。具体说就是，先通过步骤S3中的方法取得dimmnum数量标准文件，md5pmem空间数据块标准文件，将上述文件作为比对标准。之后每次断电重启重启后都自动扫描比对
S5、设置所述AEP内存的AC测试次数，本实施例设置为500次；判断当前执行次数是否达到设置次数：是，则终止测试并输出测试结果；否，则循环执行所述AEP内存的AC测试。
如图3示，该装置300包括：
标准设置单元310，所述标准设置单元210用于设置AEP内存标准参数；
AC测试单元320，所述AC测试单元220用于利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；
参数获取单元330，所述参数获取单元230用于利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；
状态判断单元340，所述状态判断单元240用于判断所述测试参数是否与标准参数保持一致；
正常判定单元350，所述正常判定单元250用于判定所述AEP内存正常；
异常判定单元360，所述异常判定单元260用于判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
可选地，作为本申请一个实施例，所述AC测试单元包括：
信号扫描模块，配置用于扫描监测电源电位信号；
电源判断模块，配置用于判断电源状态是否为关机电路低电位信号；
通电启动模块，配置用于在断电时间达到时间阈值时通电并启动被测试机台；
脚本执行模块，配置用于设置被测试机台启动后立即执行测试脚本；
关机断电模块，配置用于获取所述AEP内存判定结果后关闭被测试机台并断电。
可选地，作为本申请一个实施例，所述参数获取单元包括：
数目获取模块，配置用于调用ipmctl工具获取AEP内存数目；
状态获取模块，配置用于调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socket ID检索AEP内存健康状态；
空间块获取模块，配置用于调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息。
可选地，作为本申请一个实施例，所述装置还包括：
次数设置单元，配置用于设置所述AEP内存的AC测试次数；
次数判断单元，配置用于判断当前执行次数是否达到设置次数；
测试终止单元，配置用于终止测试并输出测试结果；
循环执行单元，配置用于循环执行所述AEP内存的AC测试。
图4为本发明实施例提供的一种终端装置400的结构示意图，该终端装置400可以用于执行本申请实施例提供的更新散热策略参数的方法。
其中，该终端装置400可以包括：处理器410、存储器420及通信单元430。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本申请的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
其中，该存储器420可以用于存储处理器410的执行指令，存储器420可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器420中的执行指令由处理器410执行时，使得终端400能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
处理器410为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器420内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(Integrated Circuit，简称IC)组成，例如可以由单颗封装的IC所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说，处理器410可以仅包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)。在本申请实施方式中，CPU可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。
通信单元430，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
本申请还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质可存储有程序，该程序执行时可包括本申请提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文：read-only memory，简称：ROM)或随机存储记忆体(英文：random access memory，简称：RAM)等。
因此，本申请通过设置AEP内存标准参数，在利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行断电重启后，获取AEP内存的测试参数，通过对比测试参数和标准参数是否一致获取被测试AEP内存的性能状态。本发明能够自动对AEP内存进行AC测试，无需人工操作，提高了测试效率和准确率，同时也节省了服务器开发中的人力资源，本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述，此处不再赘述。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中如U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机，服务器，或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种AEP内存的AC测试方法，其特征在于，所述方法包括：
设置AEP内存标准参数；
利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；
利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；
判断所述测试参数是否与标准参数保持一致：
是，则判定所述AEP内存正常；
否，则判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试包括：
扫描监测电源电位信号；
判断电源状态是否为关机电路低电位信号：
是，则在断电时间达到时间阈值时通电并启动被测试机台；
设置被测试机台启动后立即执行测试脚本；
获取所述AEP内存判定结果后关闭被测试机台并断电。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数包括：
调用ipmctl工具获取AEP内存数目；
调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socket ID检索AEP内存健康状态；
调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
设置所述AEP内存的AC测试次数；
判断当前执行次数是否达到设置次数：
是，则终止测试并输出测试结果；
否，则循环执行所述AEP内存的AC测试。
5.一种AEP内存的AC测试装置，其特征在于，所述装置包括：
标准设置单元，配置用于设置AEP内存标准参数；
AC测试单元，配置用于利用AC疲劳机测试冶具对装有AEP内存的被测试机台进行AC测试；
参数获取单元，配置用于利用测试脚本获取所述AEP内存的测试参数；
状态判断单元，配置用于判断所述测试参数是否与标准参数保持一致；
正常判定单元，配置用于判定所述AEP内存正常；
异常判定单元，配置用于判定所述AEP内存异常并保存错误日志文件。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述AC测试单元包括：
信号扫描模块，配置用于扫描监测电源电位信号；
电源判断模块，配置用于判断电源状态是否为关机电路低电位信号；
通电启动模块，配置用于在断电时间达到时间阈值时通电并启动被测试机台；
脚本执行模块，配置用于设置被测试机台启动后立即执行测试脚本；
关机断电模块，配置用于获取所述AEP内存判定结果后关闭被测试机台并断电。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述参数获取单元包括：
数目获取模块，配置用于调用ipmctl工具获取AEP内存数目；
状态获取模块，配置用于调用ipmctl工具获取AEP内存socket ID，并根据所述socketID检索AEP内存健康状态；
空间块获取模块，配置用于调用ndctl工具获取AEP内存数据空间块信息。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
次数设置单元，配置用于设置所述AEP内存的AC测试次数；
次数判断单元，配置用于判断当前执行次数是否达到设置次数；
测试终止单元，配置用于终止测试并输出测试结果；
循环执行单元，配置用于循环执行所述AEP内存的AC测试。
9.一种终端，其特征在于，包括：
处理器；
用于存储处理器的执行指令的存储器；
其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-4任一项所述的方法。
10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。
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