CN115338132B - 一种桌面级小型芯片测试分选设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及芯片测试技术领域，提出了一种桌面级小型芯片测试分选设备，包括底板、壳体、取料机构、测试组件、分选机构和控制器，底板和壳体形成容纳腔，取料机构和分选机构均设于容纳腔内，取料机构、测试组件和分选机构均电连接控制器，取料机构包括第一推顶件、第一支架、真空吸盘、传动件、送料盘和调姿杆，第一支架设于底板上，第一推顶件设于第一支架上，真空吸盘设于第一推顶件的推顶端，第一推顶件借助传动件推动送料盘往复摆动，送料盘与传动件转动连接，调姿杆设置在底板上，调姿杆在送料盘的摆动中调整送料盘的姿态以实现下料或盛料。通过上述技术方案，解决了现有的芯片测试装置存在造价昂贵和占地面积大的问题。

Description

一种桌面级小型芯片测试分选设备

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体的，涉及一种桌面级小型芯片测试分选设备。

背景技术

芯片，又称微电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分。由于芯片结构精细、制造工艺复杂、流程繁琐，不可避免地会在生产过程中留下潜在的缺陷，使制造完成的芯片不能达到标准要求，随时可能因为各种原因而出现故障。因此，为了确保芯片质量，通常会对芯片进行测试，以便将合格品和不良品区分开。

在一些芯片设计厂家里，由于最新式的芯片往往采用小批量的生产，通过对小批量芯片的验证，以达到对最终芯片的优化的目的。但是市场上已有的芯片测试装置，结构复杂、造价昂贵、占地面积大，适合大批量生产的芯片的测试需求。因此，亟需一种小型的芯片测试分选设备，专门针对于小批量生产的芯片的测试需求。

发明内容

本发明提出一种桌面级小型芯片测试分选设备，能满足小批量生产的芯片对测试和自动分选的要求，解决了现有的芯片测试装置存在造价昂贵和占地面积大的问题。

本发明的技术方案如下：一种桌面级小型芯片测试分选设备，包括底板、壳体、取料机构、测试组件、分选机构和控制器，所述底板和所述壳体形成容纳腔，所述取料机构和所述分选机构均设于所述容纳腔内，所述取料机构、所述测试组件和所述分选机构均电连接所述控制器，所述取料机构包括第一推顶件、第一支架、真空吸盘、传动件、送料盘和调姿杆，所述第一支架设于所述底板上，所述第一推顶件设于所述第一支架上，所述真空吸盘设于所述第一推顶件的推顶端，所述第一推顶件的推顶端沿竖直方向移动，所述第一推顶件借助与自身紧凑连接的所述传动件推动所述送料盘在水平面内往复摆动，所述送料盘与所述传动件转动连接，所述调姿杆为两个且均设置在所述底板上，所述调姿杆在所述送料盘的摆动中调整所述送料盘的姿态以实现下料或盛料，所述送料盘在下料状态时，使芯片在自身的重力下滑进所述测试组件内。

作为进一步的技术方案，所述传动件包括转柱、扭簧、传动杆和推板，所述转柱的底端转动设于所述底板上，所述转柱的轴线垂直于水平面，所述转柱的顶端设置有第一从动杆和第二从动杆，所述第一从动杆的轴线与所述第二从动杆的轴线平面垂直，所述第二从动杆与所述送料盘转动连接，所述传动杆一端与所述第一推顶件的推顶轴固定连接，另一端连接推板，所述推板具有斜面且所述斜面与所述第一从动杆始终保持接触，所述传动杆位于所述送料盘的上方，所述扭簧套设在所述转柱的外部，所述扭簧的一端连接所述底板，另一端连接所述第二从动杆。

作为进一步的技术方案，所述取料机构还包括驱动件、丝杠和滑板，所述驱动件设于所述底板上且动力输出端连接所述丝杠，所述滑板滑动设于所述底板上且开设有螺纹孔，所述丝杠穿设于所述螺纹孔内，所述壳体开设有入料口，所述滑板滑动至所述入料口接收芯片。

作为进一步的技术方案，所述取料机构还包括滑块和支撑板，所述滑块滑动设于所述底板上，所述支撑板设于所述滑块上，所述调姿杆设于所述支撑板上，两个所述调姿杆平行设置，所述送料盘连接有牵引杆，所述送料盘借助所述牵引杆与两个所述调姿杆的接触实现自身姿态的调整。

作为进一步的技术方案，所述测试组件包括过渡通道、支腿、检测器和第二支架，所述过渡通道倾斜设置且入料端朝向下料姿态的所述送料盘的出料口，所述支腿一端设于所述底板上，另一端连接所述过渡通道，所述第二支架设于所述底板上，所述检测器设于所述第二支架上且电连接所述控制器，所述检测器用于对芯片进行检测，并且信号传递给所述控制器。

作为进一步的技术方案，所述过渡通道与下料姿态的所述送料盘间隔设置。

作为进一步的技术方案，所述分选机构包括分选通道、支撑台、第一出料通道、第二出料通道和第二推顶件，所述支撑台设于所述底板上，所述分选通道滑动设于所述支撑台上，所述分选通道的滑动方向与芯片的移动方向相互垂直，所述分选通道具有两个子通道，两个所述子通道之间具有连接部，所述连接部用于定位芯片并与所述第二推顶件的推顶端铰接，所述第二推顶件电连接所述控制器，所述第二推顶件推顶所述分选通道往复移动，两个所述子通道借助滑动可分别与所述第一出料通道和所述第二出料通道连通，所述壳体开设有第一出料口和第二出料口，所述第一出料通道连通所述第一出料口，所述第二出料通道连通所述第二出料口。

作为进一步的技术方案，所述分选通道倾斜设置，所述第一出料通道和所述第二出料通道均折弯设置，所述第一出料通道和所述第二出料通道的末端均水平设置，所述第一出料通道和所述第二出料通道的前端均与滑动后的所述分选通道齐平设置。

作为进一步的技术方案，所述子通道呈S弯设置。

作为进一步的技术方案，所述壳体上连接有操作面板，所述操作面板带有显示屏且电连接所述控制器，所述壳体的顶部还设置有观察窗。

本发明的工作原理及有益效果为：与现有技术相比，壳体设置在底板上，并且壳体与底板组合形成容纳腔，取料机构用于将芯片拿取后传递给测试组件，测试组件用于对芯片的功能进行测试，以判断其是否为合格的产品；分选机构设置在测试组件的逻辑后方，即通过测试组件后的芯片会进入到分选机构中，分选机构用于筛分出合格品和不良品；取料机构、测试组件和分选机构都电连接控制器，因此，只需要将芯片放入到取料机构中，就可以自动将放置的少量芯片区分出合格品和不良品；取料机构包括第一推顶件、第一支架、真空吸盘、传动件、送料盘和调姿杆，第一推顶件设置在第一支架的顶端，第一支架的底端设置在底板上，第一推顶件的推顶端可以沿竖直方向升降，真空吸盘设置在第一推顶件的推顶端上，并且真空吸盘的动力源电连接控制器，当第一推顶件通过下降实现靠近芯片后，真空吸盘动作并将芯片吸住，采用这些的取料方式，避免了对芯片的表面造成损伤；第一推顶件与传动件紧凑连接，即第一推顶件和传动件组合在一起后占用的空间比较小，送料盘转动设置在传动件上，第一推顶件可以借助传动件实现对送料盘的摆动，配合自身对芯片的抓取，因此可以实现芯片抓取时，送料盘摆动到一侧，当抓取完毕后，送料盘位于真空吸盘的下方，这样真空吸盘松开芯片后，芯片可以进入到送料盘内，并且伴随这送料盘的摆动动作，再加上调姿杆对送料盘摆动过程中的姿态的调整，可以实现送料盘呈现下料姿态，送料盘下料姿态时，送料盘内的芯片可以考自身的重力滑动进入到测试组件内；当送料盘在复位的摆动过程中，由于另外一个调姿杆的存在，会使送料盘的姿态进行再次调整，进入到盛料的姿态，盛料姿态下的送料盘呈水平，下料状态下的送料盘呈倾斜。由于取料机构中存在紧凑的连接关系，并且取料机构逻辑后方是测试机构和分选机构，大大降低了设备的复杂程度，又由于整体设备涉及较高的自动化，因此，对于小批量生产的芯片，测试更加简单方便。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1为本发明提供的整体外部的等轴测示意图；

图2为图1在另一个角度上的结构示意图；

图3为图1隐藏了壳体后的结构示意图；

图4为图3在另一个角度上的结构示意图；

图5为图1的俯视图；

图6为本发明提供的取料机构的部分结构的示意图；

图7为图6的前视图；

图8为本发明中送料盘在盛料姿态下取料机构部分结构的示意图；

图9为本发明中分选通道的连接部定位芯片的结构示意图；

图10为本发明提供的送料盘的结构示意图；

图中：

1、底板，2、壳体，3、取料机构，4、测试组件，5、分选机构，6、第一推顶件，7、第一支架，8、真空吸盘，9、送料盘，10、调姿杆，11、转柱，12、扭簧，13、传动杆，14、推板，15、第一从动杆，16、第二从动杆，17、驱动件，18、丝杠，19、滑板，20、滑块，21、支撑板，22、牵引杆，23、过渡通道，24、支腿，25、检测器，26、第二支架，27、分选通道，28、支撑台，29、第一出料通道，30、第二出料通道，31、第二推顶件，32、操作面板，33、观察窗。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都涉及本发明保护的范围。

如图1～图5所示，本实施例提出了一种桌面级小型芯片测试分选设备，包括底板1、壳体2、取料机构3、测试组件4、分选机构5和控制器，底板1和壳体2形成容纳腔，取料机构3和分选机构5均设于容纳腔内，取料机构3、测试组件4和分选机构5均电连接控制器，取料机构3包括第一推顶件6、第一支架7、真空吸盘8、传动件、送料盘9和调姿杆10，第一支架7设于底板1上，第一推顶件6设于第一支架7上，真空吸盘8设于第一推顶件6的推顶端，第一推顶件6的推顶端沿竖直方向移动，第一推顶件6借助与自身紧凑连接的传动件推动送料盘9在水平面内往复摆动，送料盘9与传动件转动连接，调姿杆10为两个且均设置在底板1上，调姿杆10在送料盘9的摆动中调整送料盘9的姿态以实现下料或盛料，送料盘9在下料状态时，使芯片在自身的重力下滑进测试组件4内。

本实施例中，壳体2设置在底板1上，并且壳体2与底板1组合形成容纳腔，取料机构3用于将芯片拿取后传递给测试组件4，测试组件4用于对芯片的功能进行测试，以判断其是否为合格的产品；分选机构5设置在测试组件4的逻辑后方，即通过测试组件4后的芯片会进入到分选机构5中，分选机构5用于筛分出合格品和不良品；取料机构3、测试组件4和分选机构5都电连接控制器，因此，只需要将芯片放入到取料机构3中，就可以自动将放置的少量芯片区分出合格品和不良品；取料机构3包括第一推顶件6、第一支架7、真空吸盘8、传动件、送料盘9和调姿杆10，第一推顶件6设置在第一支架7的顶端，第一支架7的底端设置在底板1上，第一推顶件6的推顶端可以沿竖直方向升降，真空吸盘8设置在第一推顶件6的推顶端上，并且真空吸盘8的动力源电连接控制器，当第一推顶件6通过下降实现靠近芯片后，真空吸盘8动作并将芯片吸住，采用这些的取料方式，避免了对芯片的表面造成损伤；第一推顶件6与传动件紧凑连接，即第一推顶件6和传动件组合在一起后占用的空间比较小，送料盘9转动设置在传动件上，第一推顶件6可以借助传动件实现对送料盘9的摆动，配合自身对芯片的抓取，因此可以实现芯片抓取时，送料盘9摆动到一侧，当抓取完毕后，送料盘9位于真空吸盘8的下方，这样真空吸盘8松开芯片后，芯片可以进入到送料盘9内，并且伴随这送料盘9的摆动动作，再加上调姿杆10对送料盘9摆动过程中的姿态的调整，可以实现送料盘9呈现下料姿态，送料盘9下料姿态时，送料盘9内的芯片可以考自身的重力滑动进入到测试组件4内；当送料盘9在复位的摆动过程中，由于另外一个调姿杆10的存在，会使送料盘9的姿态进行再次调整，进入到盛料的姿态，盛料姿态下的送料盘9呈水平，下料状态下的送料盘9呈倾斜。由于取料机构3中存在紧凑的连接关系，并且取料机构3逻辑后方是测试机构和分选机构5，大大降低了设备的复杂程度，又由于整体设备涉及较高的自动化，因此，对于小批量生产的芯片，测试更加简单方便。

本实施例中，为了避免送料盘9随意的进行转动，可以将送料盘9与传动件之间的转动设置为阻尼转动形式，即在没有外力的作用下，送料盘9相对于传动件不会出现转动，只有在调姿杆10的干预下，送料盘9能克服阻尼力，出现转动，并最终实现姿态上的调整。

本发明提供的桌面级小型芯片测试分选设备，不仅结构简单，便于制造，并且由于内部机构之间采用紧凑的连接方式，因此占地面积小，制造成本低。

本发明中，为了避免芯片在滑动过程中受到损伤，可以在芯片的四个角上装上护角。护角的材质采取表面摩擦系数小的材质。

需要说明的是，对于芯片的测试是现有技术，又由于测试组件4不属于本发明的核心构思，因此，测试组件4在本发明中仅仅是用于其原理，不再进行过多的原理和结构上的论述。

如图3～图8所示，进一步，传动件包括转柱11、扭簧12、传动杆13和推板14，转柱11的底端转动设于底板1上，转柱11的轴线垂直于水平面，转柱11的顶端设置有第一从动杆15和第二从动杆16，第一从动杆15的轴线与第二从动杆16的轴线平面垂直，第二从动杆16与送料盘9转动连接，传动杆13一端与第一推顶件6的推顶轴固定连接，另一端连接推板14，推板14具有斜面且斜面与第一从动杆15始终保持接触，传动杆13位于送料盘9的上方，扭簧12套设在转柱11的外部，扭簧12的一端连接底板1，另一端连接第二从动杆16。

本实施例中，为了降低整体的复杂程度，并且进一步提高整体的小型化程度，传动件包括转柱11、扭簧12、传动杆13和推板14，转柱11的底端转动设置在底板1上，转柱11的顶端设置有第一从动杆15和第二从动杆16，第一从动杆15和第二从动杆16均为圆柱杆，第一从动杆15和第二从动杆16的轴线相互垂直，并且第二从动杆16的高度低于第一从动杆15，第二从动杆16的端部与送料盘9转动连接，即在送料盘9上开设转孔，第二从动杆16穿设进入到转孔内，为了实现第二从动杆16与送料盘9之间的阻尼转动，可以在第二从动杆16和送料盘9之间设置旋转阻尼器，传动杆13一端与第一推顶件6的推顶轴连接，另一端与推板14连接，推板14具有斜面，第一从动杆15的外缘与斜面始终保持接触；如图6所示，当传动杆13随着第一推顶件6的推顶向下移动时，推板14向下移动，推板14借助斜面推顶第一从动杆15转动，进而实现转柱11出现逆时针转动杆，送料盘9随之进行逆时针摆动，在摆动过程中，送料盘9会接触到调姿杆10，进而由调姿杆10实现对送料盘9调整姿态直至最终稿呈现下料的姿态，并且此时扭簧12受力；当传动杆13上移时，如图8所示，推板14上移，斜面对第一从动杆15出现避让，在扭簧12复位的驱动下，第一从动杆15还是始终与斜面保持接触，此时转柱11出现图中顺时针的转动，送料盘9随之进行顺时针摆动，在此过程中，送料盘9接触另外一个调姿杆10，直至调姿杆10使送料盘9呈现盛料的姿态。送料盘9在下料姿态时，传动杆13在最低的位置上，如图6所示，此时真空吸盘8取料；反之，送料盘9在盛料姿态时，传动杆13在最高的位置上，如图8所示，真空吸盘8放料；将真空吸盘8的取料、放料动作跟送料盘9的下料、盛料关联起来，从结构上实现联动，减少了感应装置和动力转置的数量，提高了整体结构的紧凑型，并且还大大降低了电气装置引起的故障率。

如图3～图5所示，进一步，取料机构3还包括驱动件17、丝杠18和滑板19，驱动件17设于底板1上且动力输出端连接丝杠18，滑板19滑动设于底板1上且开设有螺纹孔，丝杠18穿设于螺纹孔内，壳体2开设有入料口，滑板19滑动至入料口接收芯片。

本实施例中，为了进一步提高整体设备的自动化，取料机构3还包括驱动件17、丝杠18和滑板19，驱动件17设置在底板1上，驱动件17的动力输出端连接丝杠18，底板1上设置用于导向的凹槽，滑板19借助凹槽滑动设置在底板1上，丝杠18位于凹槽内，保证丝杠18的外缘最高处低于底板1的平面，这样避免丝杠18与其他零部件出现干涉，滑板19上开设螺纹孔，丝杠18穿设在螺纹孔内，丝杠18借助螺纹孔与滑板19螺纹连接，这样就能保证驱动件17驱动丝杠18转动的同时实现滑板19的移动，驱动件17与控制器电连接，这样就能通过控制器实现自动控制。操作人员只需要将待测的芯片叠放在滑板19上，然后通过控制器，就可以将滑板19上的芯片移动到指定位置上。

如图3～图5和图10所示，进一步，取料机构3还包括滑块20和支撑板21，滑块20滑动设于底板1上，支撑板21设于滑块20上，调姿杆10设于支撑板21上，两个调姿杆10平行设置，送料盘9连接有牵引杆22，送料盘9借助牵引杆22与两个调姿杆10的接触实现自身姿态的调整。

本实施例中，对于不同的芯片，有时需要使放料盘在下料姿态下倾斜的角度大一些才能顺利的滑进测试组件4内，因此，需要可以对放料盘的姿态进行调整，而调整放料盘的姿态倾角又需要调姿杆10，因此，取料机构3还设置了滑块20和支撑板21，滑块20滑动设置在底板1上，并且滑块20在底板1上的位置可以固定，支撑板21设置在滑块20上，这样通过设置调整滑块20的位置就可以调整调姿杆10的位置。

本实施例中，为了使调姿杆10不会干涉到真空吸盘8的取料动作，可以在送料盘9上设置牵引杆22，牵引杆22延伸到两个调姿杆10之间，这样就能保证调姿杆10为比较小的尺寸，由于送料盘9与真空吸盘8的取料动作联动，因此，送料盘9更容易避免出现干涉。

如图3～图5和图9所示，进一步，测试组件4包括过渡通道23、支腿24、检测器25和第二支架26，过渡通道23倾斜设置且入料端朝向下料姿态的送料盘9的出料口，支腿24一端设于底板1上，另一端连接过渡通道23，第二支架26设于底板1上，检测器25设于第二支架26上且电连接控制器，检测器25用于对芯片进行检测，并且信号传递给控制器。

本实施例中，测试组件4包括过渡通道23、支腿24、检测器25和第二支架26；为了保证芯片可以稳定的从送料盘9内滑进过渡通道23内，可以将过渡通道23倾斜设置，过渡通道23的入料端朝向位于下料姿态的送料盘9的出料口，即芯片在过渡通道23内接触到的平面和芯片在送料盘9内接触的平面在同一个平面内；支腿24设置在底板1上，并且支腿24的顶部与过渡通道23连接，支腿24用于给过渡通道23提供支撑；第二支架26设置在底板1上，检测器25设置在第二支架26上，并且检测器25电连接控制器，检测器25用于对过渡通道23内的芯片进行检测，并且将检测结果传递给控制器。正常工作的时候，当检测器25感应到芯片后，检测器25先给控制器一个信号，控制器接收到此信号后，暂停对第一推顶件6的动作，当检测器25对芯片检测完后，再传递给另外的信号给控制器，控制器接收此信号后，使分选机构5工作以接受芯片，并且控制器给第一推顶件6发出信号，使第一推顶件6动作，完成新一次的取料、放料和检测新的一轮。

如图5所示，进一步，过渡通道23与下料姿态的送料盘9间隔设置。

本实施例中，由于送料盘9需要进行转动，为了避免过渡通道23与送料盘9之间出现干涉，需要在过渡通道23与下料姿态下的送料盘9之间设置间隙，间隙的宽度为送料盘9厚度的0.5-0.85倍。

如图3～图5和图9所示，进一步，分选机构5包括分选通道27、支撑台28、第一出料通道29、第二出料通道30和第二推顶件31，支撑台28设于底板1上，分选通道27滑动设于支撑台28上，分选通道27的滑动方向与芯片的移动方向相互垂直，分选通道27具有两个子通道，两个子通道之间具有连接部，连接部用于定位芯片并与第二推顶件31的推顶端铰接，第二推顶件31电连接控制器，第二推顶件31推顶分选通道27往复移动，两个子通道借助滑动可分别与第一出料通道29和第二出料通道30连通，壳体2开设有第一出料口和第二出料口，第一出料通道29连通第一出料口，第二出料通道30连通第二出料口。

本实施例中，分选机构5包括分选通道27、支撑台28、第一出料通道29、第二出料通道30和第二推顶件31，支撑台28设置在底板1上，分选通道27设置在支撑台28的顶端，分选通道27可以在支撑台28上滑动，分选通道27具有两个子通道，两个子通道分别用于输送合格品和不良品，两个子通道之间为连接部，第二推顶件31的推顶端与连接部连接，第二推顶件31给分选通道27提供在支撑台28上滑动的动力，第二推顶件31电连接控制器，因此，控制器可以实现两个子通道分别与过渡通道23连通，分选通道27通过向两个方向上的滑动，可以分别实现子通道与第一出料通道29和第二出料通道30的连通，第一出料通道29和第二出料通道30都设置在底板1上，在壳体2上开设第一出料口和第二出料口，第一出料通道29的末端与第一出料口连通，第二出料通道30的末端与第二出料口连通，为了区分方便，可以在壳体2上贴上铭牌，写有合格品的铭牌贴在第一出料口的上方，写有不良品的铭牌贴在第二出料口的上方。

正常工作时，分选通道27的连接部挡在分选通道27的出料端，芯片进入到过渡通道23内与连接部接触，连接部用于给芯片起到定位的作用，检测器25对芯片进行检测，只有在芯片给控制器传递的信号是反馈芯片为合格品或者不良品的时候，控制器才会给第二推顶件31信号，并且第二推顶件31根据传递来的信号选择推顶还是收回，进而实现芯片进入到第一出料通道29还是第二出料通道30，这种结构实现了芯片的自动分选，并且操作人员在装置的外部，根据不同的出料口就可以判断芯片是否为合格品，不会造成混乱。

如图9所示，进一步，分选通道27倾斜设置，第一出料通道29和第二出料通道30均折弯设置，第一出料通道29和第二出料通道30的末端均水平设置，第一出料通道29和第二出料通道30的前端均与滑动后的分选通道27齐平设置。

本实施例中，由于过渡通道23倾斜设置，为了保证芯片稳定进入到分选通道27内，可以将分选通道27设置为倾斜的形式，并且将第一出料通道29和第二出料通道30都设置成折弯的形式，即第一出料通道29具有倾斜部和水平部，倾斜部用于对接分选通道27，水平部用于对接第一出料口，同理，第二出料通道30的结构和设置形式。

如图9所示，进一步，子通道呈S弯设置。

本实施例中，由于过渡通道23和分选通道27为对齐设置，为了降低芯片进入第一出料通道29或者第二出料通道30的速度，可以将分选通道27内的子通道设置成S弯的形式，这样就能降低芯片的下滑速度，并且S弯的形式在拐弯处设置有圆角，可以使芯片顺利的度过。

如图1所示，进一步，壳体2上连接有操作面板32，操作面板32带有显示屏且电连接控制器，壳体2的顶部还设置有观察窗33。

本实施例中，为了方便进行操作和参数的设定，以及对结果的监测，壳体2的外部连接了操作面板32，操作面板32电连接控制器，操作面板32上还是设置有显示屏。为了使操作人员观察到壳体2内部的工作状况，可以在壳体2的顶部设置观察窗33。

以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种桌面级小型芯片测试分选设备，包括底板(1)、壳体(2)、取料机构(3)、测试组件(4)、分选机构(5)和控制器，所述底板(1)和所述壳体(2)形成容纳腔，所述取料机构(3)和所述分选机构(5)均设于所述容纳腔内，所述取料机构(3)、所述测试组件(4)和所述分选机构(5)均电连接所述控制器，所述取料机构(3)包括第一推顶件(6)、第一支架(7)、真空吸盘(8)、传动件、送料盘(9)和调姿杆(10)，所述第一支架(7)设于所述底板(1)上，所述第一推顶件(6)设于所述第一支架(7)上，所述真空吸盘(8)设于所述第一推顶件(6)的推顶端，所述第一推顶件(6)的推顶端沿竖直方向移动，其特征在于，所述第一推顶件(6)借助与自身紧凑连接的所述传动件推动所述送料盘(9)在水平面内往复摆动，所述送料盘(9)与所述传动件转动连接，所述调姿杆(10)为两个且均设置在所述底板(1)上，所述调姿杆(10)在所述送料盘(9)的摆动中调整所述送料盘(9)的姿态以实现下料或盛料，所述送料盘(9)在下料状态时，使芯片在自身的重力下滑进所述测试组件(4)内；

所述传动件包括转柱(11)、扭簧(12)、传动杆(13)和推板(14)，所述转柱(11)的底端转动设于所述底板(1)上，所述转柱(11)的轴线垂直于水平面，所述转柱(11)的顶端设置有第一从动杆(15)和第二从动杆(16)，所述第一从动杆(15)的轴线与所述第二从动杆(16)的轴线平面垂直，所述第二从动杆(16)与所述送料盘(9)转动连接，所述传动杆(13)一端与所述第一推顶件(6)的推顶轴固定连接，另一端连接推板(14)，所述推板(14)具有斜面且所述斜面与所述第一从动杆(15)始终保持接触，所述传动杆(13)位于所述送料盘(9)的上方，所述扭簧(12)套设在所述转柱(11)的外部，所述扭簧(12)的一端连接所述底板(1)，另一端连接所述第二从动杆(16)。

2.根据权利要求1所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述取料机构(3)还包括驱动件(17)、丝杠(18)和滑板(19)，所述驱动件(17)设于所述底板(1)上且动力输出端连接所述丝杠(18)，所述滑板(19)滑动设于所述底板(1)上且开设有螺纹孔，所述丝杠(18)穿设于所述螺纹孔内，所述壳体(2)开设有入料口，所述滑板(19)滑动至所述入料口接收芯片。

3.根据权利要求2所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述取料机构(3)还包括滑块(20)和支撑板(21)，所述滑块(20)滑动设于所述底板(1)上，所述支撑板(21)设于所述滑块(20)上，所述调姿杆(10)设于所述支撑板(21)上，两个所述调姿杆(10)平行设置，所述送料盘(9)连接有牵引杆(22)，所述送料盘(9)借助所述牵引杆(22)与两个所述调姿杆(10)的接触实现自身姿态的调整。

4.根据权利要求3所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述测试组件(4)包括过渡通道(23)、支腿(24)、检测器(25)和第二支架(26)，所述过渡通道(23)倾斜设置且入料端朝向下料姿态的所述送料盘(9)的出料口，所述支腿(24)一端设于所述底板(1)上，另一端连接所述过渡通道(23)，所述第二支架(26)设于所述底板(1)上，所述检测器(25)设于所述第二支架(26)上且电连接所述控制器，所述检测器(25)用于对芯片进行检测，并且信号传递给所述控制器。

5.根据权利要求4所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述过渡通道(23)与下料姿态的所述送料盘(9)间隔设置。

6.根据权利要求4所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述分选机构(5)包括分选通道(27)、支撑台(28)、第一出料通道(29)、第二出料通道(30)和第二推顶件(31)，所述支撑台(28)设于所述底板(1)上，所述分选通道(27)滑动设于所述支撑台(28)上，所述分选通道(27)的滑动方向与芯片的移动方向相互垂直，所述分选通道(27)具有两个子通道，两个所述子通道之间具有连接部，所述连接部用于定位芯片并与所述第二推顶件(31)的推顶端铰接，所述第二推顶件(31)电连接所述控制器，所述第二推顶件(31)推顶所述分选通道(27)往复移动，两个所述子通道借助滑动可分别与所述第一出料通道(29)和所述第二出料通道(30)连通，所述壳体(2)开设有第一出料口和第二出料口，所述第一出料通道(29)连通所述第一出料口，所述第二出料通道(30)连通所述第二出料口。

7.根据权利要求6所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述分选通道(27)倾斜设置，所述第一出料通道(29)和所述第二出料通道(30)均折弯设置，所述第一出料通道(29)和所述第二出料通道(30)的末端均水平设置，所述第一出料通道(29)和所述第二出料通道(30)的前端均与滑动后的所述分选通道(27)齐平设置。

8.根据权利要求7所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述子通道呈S弯设置。

9.根据权利要求1-8任意一项所述的一种桌面级小型芯片测试分选设备，其特征在于，所述壳体(2)上连接有操作面板(32)，所述操作面板(32)带有显示屏且电连接所述控制器，所述壳体(2)的顶部还设置有观察窗(33)。

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