CN115237694A - 异常检测方法、装置、应用处理器、驱动芯片及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种异常检测方法、装置、应用处理器、驱动芯片及电子设备，该异常检测方法应用于应用处理器AP，所述AP通过移动产业处理器接口MIPI与显示驱动芯片DDIC连接，该异常检测方法包括：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据；将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。本方法可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并保存用于分析MIPI异常的相关数据。

Description

异常检测方法、装置、应用处理器、驱动芯片及电子设备

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，更具体地，涉及一种异常检测方法、装置、应用处理器、驱动芯片及电子设备。

背景技术

电子设备，例如手机、平板电脑等，已经成为人们日常生活中最常用的消费型电子产品之一。显示屏是电子设备上用于显示用户界面的部分，应用处理器(ApplicationProcessor，AP)通常通过移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)与显示驱动芯片(Display Driver Integrated Circuit，DDIC)进行交互，从而控制显示屏的显示。但是，电子设备在实际的运行过程中，MIPI的数据传输可能出现异常，进而影响显示屏的正常显示。

发明内容

本申请提出了一种异常检测方法、装置、应用处理器、驱动芯片及电子设备，可以实现电子设备对MIPI的异常的自主检测，并保存用于分析MIPI异常的相关数据。

第一方面，本申请实施例提供了一种异常检测方法，应用于应用处理器AP，所述AP通过移动产业处理器接口MIPI与显示驱动芯片DDIC连接，所述方法包括：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据；将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

第二方面，本申请实施例提供了一种异常检测方法，应用于DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述方法包括：对所述MIPI的异常进行检测；在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，所述AP用于响应于所述预设电平信号，将所述MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

第三方面，本申请实施例提供了一种异常检测装置，应用于AP，所述AP通过MIPI与DDIC连接，所述装置包括：异常响应模块以及数据保存模块，其中，所述异常响应模块用于响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据；所述数据保存模块用于将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

第四方面，本申请实施例提供了一种异常检测装置，应用于DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述装置包括状态检测模块以及信号输出模块，其中，所述状态检测模块用于对所述MIPI的异常进行检测；所述信号输出模块用于在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，所述AP用于响应于所述预设电平信号，将所述MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

第五方面，本申请实施例提供了一种应用处理器AP，所述AP通过MIPI与DDIC连接，所述AP用于实现上述第一方面提供的异常检测方法。

第六方面，本申请实施例提供了一种显示驱动芯片DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述DDIC用于实现上述第二方面提供的异常检测方法。

第七方面，本申请实施例提供了一种电子设备，其特征在于，包括AP以及DDIC，所述AP通过MIPI与所述DDIC连接，所述AP用于实现上述第一方面提供的异常检测方法，所述DDIC用于实现上述第二方面提供的异常检测方法。

第八方面，本申请实施例提供了一种计算机可读取存储介质，所述计算机可读取存储介质中存储有程序代码，所述程序代码可被处理器调用执行上述第一方面提供的异常检测方法，或者第二方面提供的异常检测方法。

本申请提供的方案，AP通过响应于检测到DDIC输出的预设电平信号，获取MIPI对应的寄存器数据，该预设电平信号由DDIC检测到MIPI异常时输出至AP，寄存器数据包括AP与DDIC之间通过MIPI传输的数据，将寄存器数据保存至目标日志文件，目标日志文件用于MIPI异常的分析。由此，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请实施例提供的图像显示过程的原理示意图。

图2示出了本申请实施例提供的应用环境的示意图。

图3示出了根据本申请一个实施例的异常检测方法流程图。

图4示出了根据本申请另一个实施例的异常检测方法流程图。

图5示出了根据本申请又一个实施例的异常检测方法流程图。

图6示出了根据本申请再一个实施例的异常检测方法流程图。

图7示出了根据本申请又再一个实施例的异常检测方法流程图。

图8示出了根据本申请又另一个实施例的异常检测方法流程图。

图9示出了根据本申请一个实施例的异常检测装置的一种框图。

图10示出了根据本申请另一个实施例的异常检测装置的一种框图。

图11是本申请实施例的用于执行根据本申请实施例的异常检测方法的电子设备的框图。

图12是本申请实施例的用于保存或者携带实现根据本申请实施例的异常检测方法的程序代码的存储单元。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

在目前的电子设备中，应用处理器(Application Processor，AP)通常通过移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)与显示驱动芯片(DisplayDriver Integrated Circuit，DDIC)进行交互，从而控制显示屏的显示。

具体地，在AP-DDIC-显示面板(Panel)的驱动架构下，如图1所示，AP端首先通过应用程序(Application，App)进行图层绘制渲染，然后通过Surface Flinger对绘制得到的图层进行图层合成得到图像数据，进而通过移动产业处理器接口(Mobile IndustryProcessor Interface，MIPI)将图像数据送显(写入)DDIC。DDIC将AP送显的图像数据存储在缓存器(Buffer)中，并通过扫描(读取)Buffer中的图像数据，控制Panel进行图像刷新显示(Display)。

当然，AP与DDIC之间除了传输图像数据以外，还会相互传输各种指令，例如频率控制指令、撕裂效应(Tearing Effect，TE)信号等。但是，电子设备在实际的运行过程中，MIPI的数据传输可能出现异常，进而影响显示屏的正常显示。

相关技术中，通常在MIPI信号异常时，使用第三方设备逻辑分析仪或者示波器进行现场复现抓取，抓到部分波形后，分析MIPI行为，进而确定出MIPI是否真正出现异常，以及异常的原因等。但是这样的方式中，需要依赖于第三方工具和设备(示波器、逻辑分析仪等)，无法实现电子设备离线进行检测和抓取，并且只能依赖第三方工具记录，无法保证有效的检测和分析；而且，MIPI的数据传输产生异常为低概率事件，因此这样的方式需要耗费大量人力，并且分析时存在较大难度。

针对上述问题，发明人提出了本申请实施例提供的异常检测方法、装置、应用处理器、驱动芯片及电子设备，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据。其中，具体的异常检测方法在后续的实施例中进行详细的说明。

下面先对本申请实施例提供的异常检测方法所涉及的电子设备进行介绍。

请参阅图2，图2示出了本申请实施例提供的电子设备的结构框图，电子设备包括应用处理器111、MIPI112以及显示屏130。其中，显示屏130包括显示驱动芯片131以及显示面板132，应用处理器111通过MIPI112与显示驱动芯片131连接，显示驱动芯片131与显示面板132连接。应用处理器111通过与显示驱动芯片131进行交互，以相互传输图像数据和指令，进而实现控制显示面板132的显示。可选地，MIPI112与应用处理器111可以集成于同一芯片。

MIPI112中可以包括时钟引脚、数据信号引脚以及异常指示引脚MIPI err。如图2所示，时钟引脚包括引脚clk+和引脚cl-，引脚clk+和引脚cl-构成一对差分时钟信号引脚；数据信号引脚包括引脚d0+、引脚d0-、引脚d1+、引脚d1-、引脚d2+、引脚d2-、引脚d3+和引脚d3-，其中，引脚d0+与引脚d0-构成一对差分数据信号引脚，引脚d1+与引脚d1-构成一对差分数据信号引脚，引脚d2+与引脚d2-构成一对差分数据信号引脚，引脚d3+与引脚d3-构成一对差分数据信号引脚。当然，MIPI112中的差分数据信号引脚的对数可以不做限定。MIPI112的信号采用低压差分信号进行传输，具有传输速率快，抗干扰能力强的特点。

其中，数据信号引脚用于传输数据，时钟信号引脚用于时钟切换，以切换传输状态。可以理解地，MIPI112的数据传输分为高速信号模式和低速信号模式，低速信号模式下用于传输控制命令，高速信号模式下用于数据传输。时钟处于非连续工作状态，根据传输状态进行时钟的切换，这样可以极大地降低功耗。

异常指示引脚MIPI err用于DDIC在检测到MIPI出现异常，例如传输异常时，向该异常指示引脚MIPI err发送相应的电平信号，由此，AP可以检测到该异常指示引脚MIPIerr的电平信号为相应的电平，进而能够触发对转储的MIPI的寄存器数据进行保存，从而能够实现对MIPI异常的检测，以及实时地记录用于分析MIPI异常的数据。

下面再结合附图对本申请实施例提供的异常检测方法进行详细介绍。

请参阅图3，图3示出了本申请一个实施例提供的异常检测方法的流程示意图。该异常检测方法可以由AP执行，该AP通过MIPI与DDIC连接。下面将针对图3所示的流程进行详细的阐述，所述异常检测方法具体可以包括以下步骤：

步骤S110：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

在本申请实施例中，DDIC可以对MIPI产生异常的情况进行检测，并在检测到MIPI异常的情况下，向DDIC输出预设电平信号，该预设电平信号用于指示MIPI出现异常。当AP检测到DDIC输出的预设电平信号，则可以进行响应，获取MIPI对应的寄存器数据。其中，MIPI对应的寄存器数据可以为MIPI对应的寄存器内的数据，MIPI对应的寄存器为预先为MIPI分配的寄存器，其用于暂存AP与DDIC之间传输的数据；可以理解地，AP与DDIC之间传输数据的过程中，可以将发送的数据以及接收的数据暂存至MIPI对应的寄存器，由此，在检测MIPI异常时，可以获取寄存器数据，以便对寄存器数据进行保存。

在一些实施方式中，AP获取以上寄存器数据，可以是DDIC检测到MIPI异常而输出预设电平信号之前，获取AP从以上寄存器中转储至其他存储位置的寄存器数据；也可以是，DDIC检测到MIPI异常而输出预设电平信号时，从MIPI对应的寄存器中获取以上寄存器数据。在此不做限定。

在一些实施方式中，请再次参阅图2，MIPI包括异常指示引脚-MIPI err，该异常指示引脚用于DDIC在检测到MIPI出现异常，例如传输异常时，向该异常指示引脚发送相应的电平信号；AP根据该异常指示引脚的预设电平信号为相应电平时，确定出MIPI出现异常，并获取MIPI对应的寄存器数据。其中，该预设电平信号可以为高电平信号，也可以为低电平信号，在此不做限定。

在一些实施方式中，DDIC可以根据预先配置的异常检测的配置信息，对MIPI的异常进行检测。该配置信息可以包括MIPI出现异常所满足的条件，该条件可以根据显示屏的类型、设备型号等进行设置，以满足不同电子设备的异常检测需求。可选地，DDIC中配置有MIPI异常的标志位，例如MIPI err flag，在检测到MIPI异常时，该标志位被触发，进而向AP输出预设电平信号。

在一些实施方式中，MIPI的数据传输分为高速信号模式和低速信号模式。低速信号模式下用于传输控制命令，高速信号模式下用于数据传输。时钟处于非连续工作状态，根据传输状态进行时钟的切换，这样可以极大地降低功耗。在检测MIPI异常时，由于高速信号模式下通常传输的数据为图像数据等，因此传输的数据量大，不便记录和用于MIPI异常的分析，因此，AP获取的寄存器数据可以为低速模式下，AP与DDIC之间传输的控制命令等。也就是说，以上寄存器数据所包括的AP与DDIC之间通过MIPI传输的数据，为低速模式下所传输的控制命令。

在一些实施方式中，AP可以在DDIC应用的显示屏处于亮屏状态下，进行本申请实施例提供的异常检测方法，即执行步骤S110至步骤S120的过程。显示屏的状态包括熄屏状态和亮屏状态。熄屏状态表示显示屏被关闭，而亮屏状态表示显示屏被开启，其中，熄屏状态和亮屏状态为相对的两个状态，只要不是熄屏状态就可以理解为显示屏处于亮屏状态。

在一种可能的实施方式中，显示屏的熄屏状态和亮屏状态，可以由AP应用的电子设备的***内的模块监听，具体地，可以通过PowerManager的isScreenOn函数获取DDIC应用的显示屏处于熄屏状态还是亮屏状态。

步骤S120：将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

在本申请实施例中，AP在检测到DDIC输出的预设电平信号时，则可以将获取的寄存器数据进行保存。其中，AP可以将以上寄存器数据保存至目标日志文件，以提供用于分析MIPI异常的依据。可以理解地，由于以上寄存器数据为MIPI产生异常时AP与DDIC之间通过MIPI传输的数据，因此可以为MIPI异常的分析依据。具体地，开发者可以根据MIPI协议，对以上目标日志文件中的寄存器数据进行分析，以分析出MIPI行为、产生异常的时间、异常原因等；当然，也可以将以上目标日志文件中的寄存器数据输入至MIPI分析软件，以得到分析结果，分析结果包括但不限于MIPI行为、产生异常的时间、异常原因等。

在一些实施方式中，若AP所应用的电子设备的操作***为安卓(Android)***，则AP可以基于安卓***的log机制，将寄存器数据保存至***的日志文件中。

本申请实施例提供的异常检测方法，通过在DDIC检测到MIPI异常而输出预设电平信号至AP的情况下，获取MIPI对应的寄存器数据并保存至目标日志文件，以便用于MIPI异常的分析，由此，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据，并且能够在低概率甚至极低概率的情况下保留异常信息，提供分析依据。

请参阅图4，图4示出了本申请另一个实施例提供的异常检测方法的流程示意图。该异常检测方法应用于上述AP，该AP通过MIPI与DDIC连接。下面将针对图4所示的流程进行详细的阐述，所述异常检测方法具体可以包括以下步骤：

步骤S210：将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

在本申请实施例中，在检测MIPI异常的过程中，AP可以对MIPI对一个的寄存器中的寄存器数据进行转储(Dump)，以将寄存器数据转储至目标存储位置。其中，目标存储位置为预先分配的存储空间，AP将当前的寄存器数据转储至该目标存储位置，以便在当前检测到MIPI异常时将目标存储位置中的数据进行保存，进而提供分析MIPI异常的依据。

可以理解地，AP与DDIC之间传输的数据通常为AP发送至DDIC的数据，因此以上寄存器中的数据通常为AP发送至DDIC的数据，而MIPI异常也主要是AP通过MIPI发送之间至DDIC时产生异常，并且，由于以上寄存器的数据会随着AP要发送的数据实时更新，而数据由AP发送至DDIC、以及DDIC检测到MIPI异常会耗费一定时间，为保证保存的寄存器数据与检测到DDIC输出的预设电平信号的时间对应，因此在检测MIPI异常的过程中，可以对寄存器中的寄存器数据进行转储，以便检测到MIPI异常时，对该寄存器数据进行保存。也就是说，可以对寄存器数据提前进行转储，以便在检测到异常时，能够获取到准确的寄存器数据进行保存。

其中，转储通常是指把一个存储设备中的全部或部分的内容转录进另一个存储设备之中，通常可认为是复制数据到另一存储设备。在本申请实施例中，则是把当前MIPI对应的寄存器中的数据转储至电子设备中的另一存储位置。

步骤S220：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述目标存储位置中的所述寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP。

在本申请实施例中，当AP检测到DDIC输出的预设电平信号，则可以进行响应，从目标存储位置中获取以上寄存器数据，以便对以上提前转储的寄存器数据进行保存。

步骤S230：将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

在本申请实施例中，步骤S230可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。

步骤S240：若在预设时长内未检测到所述DDIC输入的预设电平信号，将所述目标存储位置中的所述寄存器数据进行清除。

在本申请实施例中，AP在每次将MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置后，可以开始计时，若在计时时长达到预设时长后，即在预设时长内未检测到DDIC输入的预设电平信号，则表示当前MIPI未产生异常，因此，可以将目标存储位置中的寄存器数据进行清除，也就是将转储的寄存器数据进行清除，以减少存储空间的占用，防止***卡顿。其中，预设时长的具体数值可以不做限定，例如，可以为100毫秒、200毫秒、400毫秒等。

在一些实施方式中，DDIC检测到MIPI异常的情况下，可以向前述实施例中的异常指示引脚输出预设电平信号。若该预设电平信号为高电平信号，则表示该异常指示引脚为高电平时，触发AP对转储的寄存器数据进行保存，也即MIPI未异常的情况下，该异常指示引脚的电平为低电平，因此，在将MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置后，若预设时长后该异常指示引脚仍未低电平，则可以对转储的寄存器数据进行清除。

同样地，若该预设电平信号为低电平信号，则表示该异常指示引脚为低电平时，触发AP对转储的寄存器数据进行保存，也即MIPI未异常的情况下，该异常指示引脚的电平为高电平，因此，在将MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置后，若预设时长后该异常指示引脚仍未高电平，则可以对转储的寄存器数据进行清除。

另外，若在预设时长内未检测到所述DDIC输入的预设电平信号，还可以返回步骤S210。如此循环，可以实现对MIPI异常的整个检测过程中，对MIPI异常的实时检测以及对MIPI异常时的相关数据进行保存。

在一些实施方式中，在连续多次检测到DDIC输出的预设电平信号的情况下，还可以输出预设提示信息，以提示用户暂停使用电子设备，以避免造成内部器件的损耗，例如，MIPI传输异常的情况下，若此时AP需要发送相应地控制指令至DDIC，以对显示屏的显示进行相应地控制，但是由于MIPI传输异常，会导致控制指令无法送达，而导致显示屏的显示无法得到准确地控制进而导致显示屏的损耗。

在一些实施方式中，MIPI中可以包括多条传输通路，在连续多次检测到DDIC输出的预设电平信号的情况下，也可以对传输通路进行切换，以保证电子设备的屏幕的正常显示。

本申请实施例提供的异常检测方法，通过对MIPI对应的寄存器中的寄存器数据进行转储，并在DDIC检测到MIPI异常而输出预设电平信号至AP的情况下，获取目标存储位置中的寄存器数据保存至目标日志文件；另外，在转储寄存器数据后，若预设时长内未检测到DDIC输出的预设电平信号，则对转储的寄存器数据进行清除，并再次执行对MIPI对应的寄存器中的寄存器数据进行转储，从而不仅可以实现对MIPI异常的整个检测过程中，对MIPI异常的实时检测以及对MIPI异常时的相关数据进行保存，还能减少存储空间的占用，防止***卡顿。

请参阅图5，图5示出了本申请又一个实施例提供的异常检测方法的流程示意图。该异常检测方法应用于上述AP，该AP通过MIPI与DDIC连接。下面将针对图5所示的流程进行详细的阐述，所述异常检测方法具体可以包括以下步骤：

步骤S310：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

在本申请实施例中，步骤S310可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。

步骤S320：获取当前内核数据中的指定数据。

在本申请实施例中，AP在检测到DDIC输出的预设电平信号的情况下，将寄存器数据进行保存时，还可以获取当前内核数据中的指定数据，以便同时将寄存器数据以及该指定数据保存至目标日志文件，以提供更多的用于分析MIPI异常的分析依据。其中，内核数据可以是日志数据中的内核打印的数据，例如，电子设备的操作***为安卓***时，可以为log类型的数据中的kernel log数据；指定数据可以包括DDIC与AP之间交互时所打印的数据。

可选地，指定数据可以包括DDIC与AP之间进行主机和从机的切换时所产生的数据。DDIC与AP之间进行主机和从机的切换，即DDIC与AP由发送方与接收方之间进行切换，例如，当前DDIC为发送方，此时DDIC为主机，相应地，AP此时为接收方，此时AP为从机，进行主机和从机的切换后，则DDIC为从机，AP为主机。

步骤S330：将所述寄存器数据以及所述指定数据保存至所述目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

在本申请实施例中，在检测到DDIC输出的预设电平信号，获取到以上寄存器数据以及获取到以上指定数据后，则可以将寄存器数据以及指定数据保存至目标日志文件。

在一些实施方式中，以上寄存器数据以及指定数据可以作为MIPI异常时的埋点数据。在获取到以上目标日志文件后，还可以将目标日志文件发送至电子设备的厂商服务器，以便厂商服务器依据埋点数据，进行分析，并依据分析结果对设备产品进行相应地改进。

在一些实施方式中，在得到上述目标日志文件后，还可以根据MIPI协议中的数据传输规则，将该目标日志文件转变为逻辑分析仪的图像形式，并将图像进行输出，从而更加有利于分析和观察MIPI的异常情况。例如，转变为的图像中可以包括按照时间的先后顺序进行排列的不同时间点的数据，如此，能够使得用户能够直观地查看和分析MIPI的异常情况。

本申请实施例提供的异常检测方法，通过在DDIC检测到MIPI异常而输出预设电平信号至AP的情况下，将MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，以便用于MIPI异常的分析，由此，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据；另外，保存寄存器数据时，还获取内核数据中的指定数据同时进行保存，由此，能够提供更多的分析MIPI异常的分析依据。

请参阅图6，图6示出了本申请再一个实施例提供的异常检测方法的流程示意图。该异常检测方法应用于上述AP，该AP通过MIPI与DDIC连接。下面将针对图6所示的流程进行详细的阐述，所述异常检测方法具体可以包括以下步骤：

步骤S410：若所述DDIC连接的屏幕由熄屏状态变为亮屏状态，向所述DDIC发送第一配置信息，所述第一配置信息用于指示所述DDIC在检测到所述MIPI异常时输出所述预设电平信号至所述AP。

在本申请实施例中，电子设备可以在亮屏状态下，进行MIPI异常的检测。在开始MIPI的异常检测之前，即DDIC连接的屏幕由熄屏状态变为亮屏状态的情况下，可以对DDIC进行配置，向DDIC发送第一配置信息，以使DDIC能够在检测到MIPI异常的情况下，输出相应的预设电平信号至AP。

在一些实施方式中，第一配置信息中包括预设电平信号的类型，也即向AP反馈检测到MIPI异常的触发方式。预设电平信号的类型可以为高电平信号，也可以为低电平信号，在此不做限定。

步骤S420：向所述DDIC发送第二配置信息，所述第二配置信息用于指示所述DDIC对所述MIPI异常进行检测。

在本申请实施例中，在开始MIPI的异常检测之前，还可以向DDIC发送第二配置信息，以指示DDIC对MIPI异常进行检测。可选地，第二配置信息中包括MIPI出现异常所满足的条件，该条件可以根据显示屏的类型、设备型号等进行设置，以满足不同电子设备的异常检测需求。

需要说明的是，AP发送第一配置信息至DDIC以及发送第二配置信息至DDIC之间的执行顺序可以不做限定，例如，可以先发送第一配置信息至DDIC后，再发送第二配置信息，又例如，也可以同时将第一配置信息以及第二配置信息发送至DDIC。

可以理解地，发送第一配置信息以及第二配置信息对DDIC进行配置，可以理解为显示的初始化参数，也就是说，屏幕开始显示时，对MIPI异常检测的相关参数进行配置，以使得DDIC能够检测MIPI异常，并在检测到MIPI异常时向AP输出预设电平信号。

步骤S430：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

步骤S440：将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

在本申请实施例中，步骤S430至步骤S440可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。

本申请实施例提供的异常检测方法，通过DDIC连接的屏幕由熄屏状态变为亮屏状态的情况下，发送第一配置信息以及第二配置信息对DDIC进行配置，以使得DDIC能够检测MIPI异常，并在检测到MIPI异常时向AP输出预设电平信号，从而在DDIC输出预设电平信号至AP的情况下，将MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，以便用于MIPI异常的分析，由此，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据。

下面再通过图7对前述实施例涉及的异常检测方法进行介绍。

如图7所示，电子设备在开机后，由熄屏状态变为亮屏状态，开始显示画面；然后配置DDIC对MIPI异常进行检测，以及MIPI异常时向AP输出预设电平信号；在检测MIPI异常的过程中，转储MIPI寄存器数据后，判断DDIC是否输出预设电平信号至异常指示引脚；若是，则保持转储的寄存器数据以及内核数据中的指定数据；若否，则不保持转储的寄存器数据，并在计时的时长达到预设时长的情况下，清除转储的寄存器数据，并返回步骤：转储MIPI寄存器数据。如此循环，可以实现对MIPI异常的整个检测过程中，对MIPI异常的实时检测以及对MIPI异常时的相关数据进行保存。

请参阅图8，图8示出了本申请又另一个实施例提供的异常检测方法的流程示意图。该异常检测方法应用于上述DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接。下面将针对图8所示的流程进行详细的阐述，所述异常检测方法具体可以包括以下步骤：

步骤S510：对所述MIPI的异常进行检测。

在本申请实施例中，在检测MIPI异常的过程中，DDIC可以对MIPI的异常进行检测。其中，DDIC可以根据预先配置的异常检测的配置信息，对MIPI的异常进行检测。该配置信息可以包括MIPI出现异常所满足的条件，该条件可以根据显示屏的类型、设备型号等进行设置，以满足不同电子设备的异常检测需求。可选地，DDIC中配置有MIPI异常的标志位，例如MIPI err flag，在检测到MIPI异常时，该标志位被触发，进而向AP输出预设电平信号。

在一些实施方式中，DDIC在开始检测MIPI的异常之前，还可以接收相应地配置信息，以便在DDIC检测到MIPI异常时，知晓输出何种类型的电平信号。例如，该配置信息中包括的预设电平信号的类型为高电平信号，则DDIC被配置为检测到MIPI异常时，输出高电平信号。

步骤S520：在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，所述AP用于响应于所述预设电平信号，将所述MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

在本申请实施例中，DDIC在检测到MIPI异常时，则可以输出预设电平信号至AP，

本申请实施例提供的异常检测方法，通过DDIC对MIPI异常进行检测，DDIC在检测到MIPI异常的情况下，向AP输出预设电平信号，而AP在检测到DDIC输出预设电平信号的情况下，将MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，以便用于MIPI异常的分析，由此，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据。

请参阅图9，其示出了本申请实施例提供的一种异常检测装置400的结构框图。该异常检测装置400应用于AP，所述AP通过MIPI与DDIC连接。该异常检测装置400包括：异常响应模块410以及数据保存模块420。其中，所述异常响应模块420用于响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据；所述数据保存模块430用于将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

在一些实施方式中，所述MIPI包括异常指示管脚，异常响应模块410可以具体用于：响应于检测到所述DDIC输出至所述异常指示管脚的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据。

在一些实施方式中，异常响应模块410可以具体用于：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，从所述MIPI对应的寄存器中获取所述寄存器数据。

在一些实施方式中，该异常检测装置400还可以包括数据转储模块。数据转储模块可以用于在所述响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据之前，将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置。该方式下，异常响应模块410可以具体用于：响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述目标存储位置中的所述寄存器数据。

在一种可能的实施方式中，该异常检测装置400还可以包括数据清除模块。数据清除模块用于在所述将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置之后，若在预设时长内未检测到所述DDIC输入的预设电平信号，将所述目标存储位置中的所述寄存器数据进行清除。

在一种可能的实施方式中，若在预设时长内未检测到所述DDIC输入的预设电平信号，数据转储模块还用于再次执行所述将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置。

在一些实施方式中，该异常检测装置400还可以包括数据获取模块。数据获取模块用于获取当前内核数据中的指定数据。数据保存模块420可以具体用于：将所述寄存器数据以及所述指定数据保存至所述目标日志文件。

在一些实施方式中，该异常检测装置400还可以包括第一配置模块。第一配置模块用于在所述将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置之前，若所述DDIC连接的屏幕由熄屏状态变为亮屏状态，向所述DDIC发送第一配置信息，所述第一配置信息用于指示所述DDIC在检测到所述MIPI异常时输出所述预设电平信号至所述AP。

在一种可能的实施方式中，该异常检测装置400还可以包括第二配置模块。第二配置模块用于向所述DDIC发送第二配置信息，所述第二配置信息用于指示所述DDIC对所述MIPI异常进行检测。

请参阅图10，其示出了本申请实施例提供的一种异常检测装置500的结构框图。该异常检测装置500应用于DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接。该异常检测装置500包括：状态检测模块510以及信号输出模块520。其中，所述状态检测模块510用于对所述MIPI的异常进行检测；所述信号输出模块520用于在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，所述AP用于响应于所述预设电平信号，将所述MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

在一些实施方式中，所述MIPI包括异常指示管脚。所述信号输出模块520可以具体用于：在检测到所述MIPI异常时，向所述异常指示管脚输出目标指示信号。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，模块相互之间的耦合可以是电性，机械或其它形式的耦合。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

本申请实施例还提供了一种应用处理器AP，所述AP通过MIPI与DDIC连接，所述AP用于实现上述方法实施例提供的异常检测方法。

此外，本申请实施例还提供了一种显示驱动芯片DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述DDIC用于实现上述方法实施例提供的异常检测方法。

综上所述，本申请提供的方案，AP通过响应于检测到DDIC输出的预设电平信号，获取MIPI对应的寄存器数据，该预设电平信号由DDIC检测到MIPI异常时输出至AP，寄存器数据包括AP与DDIC之间通过MIPI传输的数据，将寄存器数据保存至目标日志文件，目标日志文件用于MIPI异常的分析。由此，可以实现不依赖外部设备的情况下，电子设备对MIPI的异常的自主检测，并实时地保存用于分析MIPI异常的相关数据。

请参考图11，其示出了本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图。该电子设备100可以是智能手机、平板电脑、智能手表、电子书等能够运行应用程序的电子设备。本申请中的电子设备100可以包括一个或多个如下部件：处理器110、存储器120、显示屏130以及一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序可以被存储在存储器120中并被配置为由一个或多个处理器110执行，一个或多个应用程序配置用于执行如前述方法实施例所描述的方法。

处理器110可以包括一个或者多个处理核。处理器110利用各种接口和线路连接整个电子设备100内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器120内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器120内的数据，执行电子设备100的各种功能和处理数据。可选地，处理器110可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable LogicArray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器110可集成中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作***、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器110中，单独通过一块通信芯片进行实现。处理器110可以包括上述实施例中的AP。

存储器120可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。存储器120可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器120可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作***的指令、用于实现至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现下述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储电子设备100在使用中所创建的数据(比如电话本、音视频数据、聊天记录数据)等。

显示屏130是用于进行图像显示的显示组件，通常设置在电子设备100的前面板。显示屏130可被设计成为折叠屏、滑卷屏等，本实施例对此不加以限定。

本申请实施例中，显示屏130包括显示驱动芯片(DDIC)131和显示面板132。其中，显示面板132为OLED显示屏，其可以是低温多晶硅(Low Temperature Poly-Silicon，LTPS)AMOLED显示屏或低温多晶氧化物(Low Temperature Polycrystalline Oxide，LTPO)AMOLED显示屏。

显示驱动芯片131用于驱动显示面板132进行图像显示。此外，显示驱动芯片131与处理器110之间通过MIPI相连，用于接收处理器110下发的图像数据和指令，以及向处理器110发送指令。

在一种可能的实现方式中，该显示屏130还具有触控功能，通过触控功能，用户可以使用手指、触摸笔等任何适合的物体在显示屏130上进行触控操作。

除此之外，本领域技术人员可以理解，上述附图所示出的电子设备100的结构并不构成对电子设备100的限定，终端可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。比如，电子设备100中还包括麦克风、扬声器、射频电路、输入单元、传感器、音频电路、无线保真(Wireless Fidelity，WiFi)模块、电源、蓝牙模块等部件，在此不再赘述。

请参考图12，其示出了本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质的结构框图。该计算机可读介质800中存储有程序代码，所述程序代码可被处理器调用执行上述方法实施例中所描述的方法。

计算机可读存储介质800可以是诸如闪存、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)、EPROM、硬盘或者ROM之类的电子存储器。可选地，计算机可读存储介质800包括非易失性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。计算机可读存储介质800具有执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码810的存储空间。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。程序代码810可以例如以适当形式进行压缩。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不驱使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (17)

1.一种异常检测方法，其特征在于，应用于应用处理器AP，所述AP通过移动产业处理器接口MIPI与显示驱动芯片DDIC连接，所述方法包括：

响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据；

将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述MIPI包括异常指示管脚，所述响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，包括：

响应于检测到所述DDIC输出至所述异常指示管脚的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，包括：

响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，从所述MIPI对应的寄存器中获取所述寄存器数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据之前，所述方法还包括：

将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置；

所述响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，包括：

响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述目标存储位置中的所述寄存器数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置之后，所述方法还包括：

若在预设时长内未检测到所述DDIC输入的预设电平信号，将所述目标存储位置中的所述寄存器数据进行清除。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，若在预设时长内未检测到所述DDIC输入的预设电平信号，所述方法还包括：

返回所述将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置的步骤。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述寄存器数据保存至目标日志文件之前，所述方法还包括：

获取当前内核数据中的指定数据；

所述将所述寄存器数据保存至目标日志文件，包括：

将所述寄存器数据以及所述指定数据保存至所述目标日志文件。

8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，在所述将当前所述MIPI对应的寄存器中的寄存器数据转储至目标存储位置之前，所述方法还包括：

若所述DDIC连接的屏幕由熄屏状态变为亮屏状态，向所述DDIC发送第一配置信息，所述第一配置信息用于指示所述DDIC在检测到所述MIPI异常时输出所述预设电平信号至所述AP。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

向所述DDIC发送第二配置信息，所述第二配置信息用于指示所述DDIC对所述MIPI异常进行检测。

10.一种异常检测方法，其特征在于，应用于DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述方法包括：

对所述MIPI的异常进行检测；

在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，所述AP用于响应于所述预设电平信号，将所述MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述MIPI包括异常指示管脚，所述在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，包括：

在检测到所述MIPI异常时，向所述异常指示管脚输出目标指示信号。

12.一种异常检测装置，其特征在于，应用于AP，所述AP通过MIPI与DDIC连接，所述装置包括：异常响应模块以及数据保存模块，其中，

所述异常响应模块用于响应于检测到所述DDIC输出的预设电平信号，获取所述MIPI对应的寄存器数据，所述预设电平信号由所述DDIC检测到所述MIPI异常时输出至所述AP，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据；

所述数据保存模块用于将所述寄存器数据保存至目标日志文件，所述目标日志文件用于所述MIPI异常的分析。

13.一种异常检测装置，其特征在于，应用于DDIC，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述装置包括状态检测模块以及信号输出模块，其中，

所述状态检测模块用于对所述MIPI的异常进行检测；

所述信号输出模块用于在检测到所述MIPI异常时，输出预设电平信号至所述AP，所述AP用于响应于所述预设电平信号，将所述MIPI对应的寄存器数据保存至目标日志文件，所述寄存器数据包括所述AP与所述DDIC之间通过所述MIPI传输的数据。

14.一种应用处理器AP，其特征在于，所述AP通过MIPI与DDIC连接，所述AP用于实现如权利要求1-9任一项所述的方法。

15.一种显示驱动芯片DDIC，其特征在于，所述DDIC通过MIPI与AP连接，所述DDIC用于实现如权利要求10-11任一项所述的方法。

16.一种电子设备，其特征在于，包括AP以及DDIC，所述AP通过MIPI与所述DDIC连接，所述AP用于实现如权利要求1-9任一项所述的方法，所述DDIC用于实现如权利要求10-11任一项所述的方法。

17.一种计算机可读取存储介质，其特征在于，所述计算机可读取存储介质中存储有程序代码，所述程序代码可被处理器调用执行如权利要求1-11任一项所述的方法。

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