CN115219872A - 晶闸管电压检测电路及其方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 73
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 5
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
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- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/60—Arrangements for transfer of electric power between AC networks or generators via a high voltage DC link [HVCD]
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Abstract
本申请涉及一种晶闸管电压检测电路及其方法。包括:晶闸管、逻辑电路和脉冲激发电路;逻辑电路分别与晶闸管、脉冲激发电路连接;逻辑电路,用于在预设时间获取晶闸管的电压值,基于电压值向脉冲激发电路发送脉冲触发信号;脉冲激发电路,用于根据脉冲触发信号输出电压脉冲,电压脉冲用于确定晶闸管的耐压性。采用本方案能够获取晶闸管的耐压性。
Description
技术领域
本申请涉及直流输电技术领域,特别是涉及一种晶闸管电压检测电路及其方法。
背景技术
直流输电是指将发电厂发出的交流电,经整流器变换成直流电输送至受电端,再用逆变器将直流电变换成交流电送到受端交流电网的一种输电方式。
在目前使用晶闸管的直流输电工程中,晶闸管的状态在直流输电过程中可分为四个阶段,四个阶段分别为第一阶段、第二阶段、第三阶段和第四阶段。相关技术中,通过在晶闸管处于第二阶段或者第三阶段时对晶闸管进行电压检测,进而确定晶闸管的运行状态。
但是,上述检测方法难以确定晶闸管的耐压性。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种晶闸管电压检测电路及其方法。
第一方面,本申请提供了一种晶闸管电压检测电路,包括晶闸管、逻辑电路和脉冲激发电路;所述逻辑电路分别与所述晶闸管、所述脉冲激发电路连接;
所述逻辑电路,用于获取所述晶闸管的电压值,基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号;
所述脉冲激发电路,用于根据所述脉冲触发信号输出电压脉冲,所述电压脉冲用于确定所述晶闸管的耐压性。
在其中一个实施例中,所述晶闸管检测电路还包括分压电路;所述晶闸管通过所述分压电路与所述逻辑电路连接。
在其中一个实施例中,所述分压电路包括第一电阻和第二电阻;所述第一电阻的第一端与所述晶闸管的阴极连接,所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第一端连接,所述第二电阻的第二端与所述晶闸管的阳极连接,所述逻辑电路的输入端与所述第一电阻和所述第二电阻的公共端连接。
在其中一个实施例中,所述逻辑电路包括:延时单元、测量单元和激发单元;所述测量单元分别与所述延时单元和所述激发单元连接;
所述延时单元,用于在预设时间启动所述测量单元;
所述测量单元,用于在所述分压电路获取所述电压值;
所述激发单元,用于根据所述电压值确定所述脉冲宽度,并根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
在其中一个实施例中,所述激发单元具体用于:
基于所述电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定所述电压值对应的脉冲宽度;所述电压脉冲对应曲线包括电压和脉冲宽度之间的对应关系;
根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
第二方面,本申请还提供了一种晶闸管电路检测方法。所述方法包括:
响应于所述晶闸管处于关断期时,控制所述逻辑电路在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,并基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送所述脉冲触发信号;
控制所述脉冲激发电路,基于所述脉冲触发信号输出所述电压脉冲;
基于所述电压脉冲确定所述晶闸管的耐压性。
在其中一个实施例中,在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,包括:
基于所述分压电路对所述晶闸管的电压进行分压处理;
在所述预设时间通过所述分压电路获取所述晶闸管的电压值。
在其中一个实施例中,所述控制所述逻辑模块获取所述晶闸管的电压值,并基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送所述脉冲触发信号,包括:
根据所述预设时间控制所述逻辑电路启动;
通过所述逻辑电路从所述分压电路中获取所述电压值;
基于所述电压值确定所述脉冲宽度,根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
在其中一个实施例中,所述基于所述电压值确定所述脉冲宽度,根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号,包括:
基于所述电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定所述电压值对应的脉冲宽度;
根据所述脉冲宽度,控制所述逻辑电路向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
第三方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
响应于所述晶闸管处于关断期时,控制所述逻辑电路在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,并基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送所述脉冲触发信号;
控制所述脉冲激发电路,基于所述脉冲触发信号输出所述电压脉冲;
基于所述电压脉冲确定所述晶闸管的耐压性。
第四方面,本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
响应于所述晶闸管处于关断期时,控制所述逻辑电路在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,并基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送所述脉冲触发信号;
控制所述脉冲激发电路,基于所述脉冲触发信号输出所述电压脉冲;
基于所述电压脉冲确定所述晶闸管的耐压性。
本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
通过设置逻辑电路,实现对于晶闸管电压值的获取操作,并为后续确定晶闸管耐压性提供数据基础;通过在预设时间获取晶闸管的电压值,保证了能够获取到晶闸管电压值的最大值,保证电压值能够准确反应晶闸管的耐压性;通过设置脉冲激发电路实现以电压脉冲的形式反应晶闸管的电压值,进而确定所述晶闸管的耐压性。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种晶闸管检测电路的结构框图;
图2为本申请实施例提供的另一种晶闸管检测电路的结构框图;
图3为本申请实施例提供的另一种晶闸管检测电路的结构框图;
图4为本申请实施例提供的另一种晶闸管检测电路的结构框图;
图5为本申请实施例提供的电压脉冲对应曲线图;
图6为本申请实施例提供的一种晶闸管电路检测方法的流程图;
图7为本申请实施例提供的另一种晶闸管电路检测方法的流程图;
图8为本申请实施例提供的另一种晶闸管电路检测方法的流程图;
图9为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方法中的附图标记如下:
晶闸管:110,210,310;逻辑电路:120,220,320,420;脉冲激发电路:130,230,330;分压电路240;第一电阻R1;第二电阻R2;延时单元421;测量单元422;激发单元423。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请提出来一种晶闸管电压检测电路及其方法。本申请通过设置逻辑电路,并在预设时间内获取晶闸管的电压值,并根据电压值确定脉冲触发信号,设置脉冲激发电路,且脉冲激发电路根据脉冲触发信号输出电压脉冲,基于电压脉冲确定晶闸管的耐压性。通过上述操作实现准确获取晶闸管的耐压性。
图1为本申请实施例提供的一种晶闸管检测电路的结构框图,如图1所示,该晶闸管检测电路可以包括晶闸管110、逻辑电路120和脉冲激发电路130;逻辑电路120分别与晶闸管110、脉冲激发电路130连接;
其中,逻辑电路120,用于在预设时间获取晶闸管110的电压值,基于电压值向脉冲激发电路130发送脉冲触发信号。
需要说明的是,晶闸管110的电压值可在一定电压区间内变化,为保证准确的获取晶闸管110的耐压性,需保证测量得到电压值为晶闸管110在关断期的电压最大值,若测量得到的电压值并非为晶闸管110关断期的电压最大值,则导致后续测量得到的耐压性与晶闸管110的真实耐压性之间存在误差。因此,预设时间指的是在晶闸管110处于关断期时,电压值的数值最大的时刻,作为一种示例,可取晶闸管110进入关断期后1.5ms的时间作为预设时间。
在本申请的一些实施例中,获取晶闸管110电压值的方法有很多,例如直接测量法或者间接测量法。可以理解,获取晶闸管110电压值的方法有很多,下面给出两种示例,以描述获取晶闸管110电压值的具体方法:
作为一种示例,通过直接测量法获取晶闸管110的电压值,其中,直接测量法指的是在测量过程中,能从仪器、仪表上直接读出被测参量的波形或数值;具体的,在晶闸管110两侧增设电压表,其中,电压表的负极与晶闸管110的阴极连接,电压表的正极与晶闸管110的阳极连接,通过读取电压表显示的数值从而获取晶闸管110的电压值。
作为一种示例,通过间接测量法获取晶闸管110的电压值,其中,间接测量法指的是先对各间接参数进行直接测量,在将测量得到的间接参数带入公式,通过计算得到待测参数。具体的,在晶闸管110两侧增设电流表和已知电阻值的内置电阻,其中,电流表的阳极与晶闸管110的阳极连接,电流表的阴极与内置电阻的第一端连接,内置电阻的第二端与晶闸管110的阴极连接,通过读取电流表的数值确定电流值,基于电流值和内置电阻的电阻值,利用欧姆定律计算得出晶闸管110的电压值。
需要说明的是,在获取电压值后,可基于电压值与脉冲宽度的对应关系,确定出电压值所对应的脉冲宽度,根据脉冲宽度确定脉冲触发信号,其中,脉冲触发信号可控制脉冲激发电路130发送出对应脉冲宽度的脉冲。
脉冲激发电路130,用于根据脉冲触发信号输出电压脉冲,电压脉冲用于确定晶闸管110的耐压性。
需要说明的是,脉冲激发电路130通过脉冲触发信号确定脉冲宽度,并根据脉冲宽度输出电压脉冲,即电压脉冲的宽度与通过脉冲触发信号确定的脉冲宽度相同。
在本申请的一些实施例中,可根据电压脉冲确定晶闸管的耐压性,具体的,脉冲激发电路连接有VBE(valve base electronics阀基电子电路),VBE取电压脉冲后得出电压脉冲对应的脉冲宽度,根据脉冲宽度与电压值的对应关系,确定出该脉冲宽度对应的电压值,根据电压值与晶闸管耐压性的对应关系,确定出该电压值对应的晶闸管耐压性。需要说明的是,晶闸管耐压性、电压值和脉冲宽度的对应关系为:当晶闸管耐压性下降时,晶闸管的电压值会降低,对应的脉冲宽度会变短;当晶闸管耐压性上升时,晶闸管的电压值会升高,对应的脉冲宽度会变长。
根据本申请实施例的晶闸管检测电路,通过设置逻辑电路,实现对于晶闸管电压值的获取操作,并为后续确定晶闸管耐压性提供数据基础;通过在预设时间获取晶闸管的电压值,保证了能够获取到晶闸管电压值的最大值,保证电压值能够准确反应晶闸管的耐压性;通过设置脉冲激发电路实现以电压脉冲的形式反应晶闸管的电压值,进而确定晶闸管的耐压性。
需要说明的是,为了保证逻辑电路不会因电压值过高而造成损坏,增加逻辑电路的使用寿命,可增设分压电路;可选地,如图2所示,图2为本申请实施例提供的另一种晶闸管检测电路的结构框图,晶闸管检测电路还包括分压电路240;晶闸管210通过分压电路240与逻辑电路220连接。
在本申请的一些实施例中,如图3所示,图3为本申请实施例提供的另一种晶闸管310检测电路的结构框图;分压电路340包括第一电阻和第二电阻;第一电阻的第一端与晶闸管310的阴极连接,第一电阻的第二端与第二电阻的第一端连接,第二电阻的第二端与晶闸管310的阳极连接,逻辑电路320的输入端与第一电阻和第二电阻的公共端连接,通过上述设置,实现对于晶闸管310两端电压值的等比例缩小,保证逻辑电路320可在不损坏自身元件的前提下实现对电压值的准确测量。
具体的,假设第一电阻的电阻值为R1,第二电压的电阻值为R2,若假设晶闸管310的实际电压值U1,分压后逻辑电路320测量出的电压值为U2,通过计算得出U1与U2的对应关系为:U2=U1*R1/(R1+R2);即在测量出电压值U2后,可根据公式U2=U1*R1/(R1+R2),计算得出晶闸管310的实际电压值U1。
根据本申请实施例的晶闸管检测电路,通过设置分压电路,实现对于晶闸管两端电压值的分压处理,保证了输入逻辑电路的电压值不会对逻辑电路的元件造成损坏,保证了逻辑电路测量电压值的准确性,增加了逻辑电路的使用寿命,保证了后续能够顺利、准确的测量出晶闸管的耐压性。
需要说明的是,为保证逻辑电路能够顺利向脉冲激发电路发送脉冲触发信号,则逻辑电路可包含延时单元、测量单元和激发单元,可选地,如图4所示,图4为本申请实施例提供的另一种晶闸管检测电路的结构框图,逻辑电路420包括:延时单元421、测量单元422和激发单元423;测量单元422分别与延时单元421和激发单元423连接;
其中,延时单元421,用于在预设时间启动测量单元422。
需要说明的是,为保证后续测量得到的电压值为晶闸管410的在关断期的最大电压值,则可在预设时间内启动测量单元422,即在测量单元422对晶闸管410的电压值进行检测时,晶闸管410此时的电压值为最大值。
举例说明,假设预设时间为晶闸管410进入关断期后的1.5ms,则延时单元421在晶闸管410进入关断期1.5ms后启动测量单元422,实现获取晶闸管410的电压值。
测量单元422,用于在分压电路440获取电压值。
激发单元423,用于根据电压值确定脉冲宽度,并根据脉冲宽度向脉冲激发电路430发送脉冲触发信号。
在本申请的一些实施例中,激发单元423具体用于:基于电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定电压值对应的脉冲宽度;根据脉冲宽度向脉冲激发电路430发送脉冲触发信号。
其中,如图5所示,电压脉冲对应曲线包括电压和脉冲宽度之间的对应关系;且电压脉冲对应曲线为过零点的正比直线。
根据本申请实施例的晶闸管检测电路,通过设置延时单元实现了对于晶闸管关断期中电压值最高的时刻启动测量单元,保证了测量单元能够准确获取到晶闸管在关断期的最高电压值,通过设置激发单元保证了能够根据电压值确定脉冲宽度,并根据脉冲宽度向脉冲激发电路发送脉冲触发信号,为后续根据电压脉冲确定晶闸管的耐压性提供基础保证。
基于同样的发明构思,本申请实施例还提供了一种用于控制上述所涉及的晶闸管电压检测电路的晶闸管电压检测方法。该方法所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似,故下面所提供的一个或多个晶闸管电压检测方法实施例中的具体限定可以参见上文中对于晶闸管电压检测电路的限定,在此不再赘述。
图6为本申请实施例提供的一种晶闸管电路检测方法的流程图,如图6所示,该晶闸管电路检测方法可包括步骤:
步骤601,响应于晶闸管处于关断期时,控制逻辑电路在预设时间获取晶闸管的电压值,并基于电压值向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
步骤602,控制脉冲激发电路,基于脉冲触发信号输出电压脉冲。
步骤603,基于电压脉冲确定晶闸管的耐压性。
根据本申请实施例的晶闸管电路检测方法,通过在预设时间获取晶闸管的电压值,保证了能够获取到晶闸管电压值的最大值,为后续确定晶闸管耐压性提供数据基础,保证电压值能够准确反应晶闸管的耐压性;通过控制脉冲激发电路发送脉冲触发信号,实现以电压脉冲的形式反应晶闸管的电压值,进而确定晶闸管的耐压性,完成对于晶闸管耐压性的检测。
在一种实现方式中,为了保证逻辑电路不会因电压值过高而造成损坏,增加逻辑电路的使用寿命,可增设分压电路,可选地,如图7所示,图7为本申请实施例提供的另一种晶闸管电路检测方法的流程图,该方法包括以下步骤:
步骤701,响应于晶闸管处于关断期时,基于分压电路对晶闸管的电压进行分压处理。
步骤702,在预设时间通过分压电路获取晶闸管的电压值。
步骤703,基于电压值向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
步骤704,控制脉冲激发电路,基于脉冲触发信号输出电压脉冲。
步骤705,基于电压脉冲确定晶闸管的耐压性。
根据本申请实施例的晶闸管电路检测方法,通过设置分压电路,实现对于晶闸管两端电压值的分压处理,保证了输入逻辑电路的电压值不会对逻辑电路的元件造成损坏,保证了逻辑电路测量电压值的准确性,增加了逻辑电路的使用寿命,保证了后续能够顺利、准确的测量出晶闸管的耐压性。
在一种实现方式中,为保证向脉冲激发电路发送脉冲触发信号,可基于电压值确定脉冲宽度,可选地,如图8所示,图8为本申请实施例提供的另一种晶闸管电路检测方法的流程图,该方法包括以下步骤:
步骤801,响应于晶闸管处于关断期时,根据预设时间控制逻辑电路启动。
步骤802,通过逻辑电路从分压电路中获取电压值。
步骤803,基于电压值确定脉冲宽度,根据脉冲宽度向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
在本申请的一些实施例中,基于电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定电压值对应的脉冲宽度;根据脉冲宽度,控制逻辑电路向脉冲激发电路发送脉冲触发信号
步骤804,控制脉冲激发电路,基于脉冲触发信号输出电压脉冲。
步骤805,基于电压脉冲确定晶闸管的耐压性。
根据本申请实施例的晶闸管检测方法,通过在预设时间控制逻辑电路启动,实现了对于晶闸管关断期中电压值最高的时刻获取晶闸管的电压值,保证了能够准确获取到晶闸管在关断期的最高电压值,为后续测量晶闸管的耐压性准确性提供保障,通过电压值确定脉冲宽度,并根据脉冲宽度向脉冲激发电路发送脉冲触发信号,为后续根据电压脉冲确定晶闸管的耐压性提供基础保证,最后通过获取电压脉冲实现了对于晶闸管耐压性的获取。
应该理解的是,虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是服务器,其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括通过***总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作***、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作***和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储晶闸管电路检测数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种晶闸管电路检测方法。
本领域技术人员可以理解,图9中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
响应于晶闸管处于关断期时,控制逻辑电路在预设时间获取晶闸管的电压值,并基于电压值向脉冲激发电路发送脉冲触发信号;
控制脉冲激发电路,基于脉冲触发信号输出电压脉冲;
基于电压脉冲确定晶闸管的耐压性。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
基于分压电路对晶闸管的电压进行分压处理;
在预设时间通过分压电路获取晶闸管的电压值。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
根据预设时间控制逻辑电路启动;
通过逻辑电路从分压电路中获取电压值;
基于电压值确定脉冲宽度,根据脉冲宽度向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
在本申请的一些实施例中,基于电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定电压值对应的脉冲宽度;根据脉冲宽度,控制逻辑电路向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
在一个实施例中,提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
响应于晶闸管处于关断期时,控制逻辑电路在预设时间获取晶闸管的电压值,并基于电压值向脉冲激发电路发送脉冲触发信号;
控制脉冲激发电路,基于脉冲触发信号输出电压脉冲;
基于电压脉冲确定晶闸管的耐压性。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
基于分压电路对晶闸管的电压进行分压处理;
在预设时间通过分压电路获取晶闸管的电压值。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
根据预设时间控制逻辑电路启动;
通过逻辑电路从分压电路中获取电压值;
基于电压值确定脉冲宽度,根据脉冲宽度向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
在本申请的一些实施例中,基于电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定电压值对应的脉冲宽度;根据脉冲宽度,控制逻辑电路向脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory,MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory,FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory,PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory,DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等,不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等,不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (11)
1.一种晶闸管检测电路,其特征在于,包括晶闸管、逻辑电路和脉冲激发电路;所述逻辑电路分别与所述晶闸管、所述脉冲激发电路连接;
所述逻辑电路,用于在预设时间获取所述晶闸管的电压值,基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号;
所述脉冲激发电路,用于根据所述脉冲触发信号输出电压脉冲,所述电压脉冲用于确定所述晶闸管的耐压性。
2.根据权利要求1所述的晶闸管电压检测电路,其特征在于,所述晶闸管检测电路还包括分压电路;所述晶闸管通过所述分压电路与所述逻辑电路连接。
3.根据权利要求2所述的晶闸管电压检测电路,其特征在于,所述分压电路包括第一电阻和第二电阻;所述第一电阻的第一端与所述晶闸管的阴极连接,所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第一端连接,所述第二电阻的第二端与所述晶闸管的阳极连接,所述逻辑电路的输入端与所述第一电阻和所述第二电阻的公共端连接。
4.根据权利要求2所述的晶闸管电压检测电路,其特征在于,所述逻辑电路包括:延时单元、测量单元和激发单元;所述测量单元分别与所述延时单元和所述激发单元连接;
所述延时单元,用于在所述预设时间启动所述测量单元;
所述测量单元,用于在所述分压电路获取所述电压值;
所述激发单元,用于根据所述电压值确定所述脉冲宽度,并根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
5.根据权利要求4所述的晶闸管电压检测电路,其特征在于,所述激发单元具体用于:
基于所述电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定所述电压值对应的脉冲宽度;所述电压脉冲对应曲线包括电压和脉冲宽度之间的对应关系;
根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
6.一种晶闸管电路检测方法,其特征在于,所述方法用于控制如权利要求1至5中任一项所述的晶闸管电压检测电路,所述方法包括:
响应于所述晶闸管处于关断期时,控制所述逻辑电路在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,并基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送所述脉冲触发信号;
控制所述脉冲激发电路,基于所述脉冲触发信号输出所述电压脉冲;
基于所述电压脉冲确定所述晶闸管的耐压性。
7.根据权利要求6所述的晶闸管电路检测方法,其特征在于,所述控制所述逻辑电路在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,包括:
基于所述分压电路对所述晶闸管的电压进行分压处理;
在所述预设时间通过所述分压电路获取所述晶闸管的电压值。
8.根据权利要求6所述的晶闸管电路检测方法,其特征在于,所述控制所述逻辑电路在所述预设时间获取所述晶闸管的电压值,并基于所述电压值向所述脉冲激发电路发送所述脉冲触发信号,包括:
根据所述预设时间控制所述逻辑电路启动;
通过所述逻辑电路从所述分压电路中获取所述电压值;
基于所述电压值确定所述脉冲宽度,根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
9.根据权利要求8所述的晶闸管电路检测方法,其特征在于,所述基于所述电压值确定所述脉冲宽度,根据所述脉冲宽度向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号,包括:
基于所述电压值和预先设定的电压脉冲对应曲线,确定所述电压值对应的脉冲宽度;
根据所述脉冲宽度,控制所述逻辑电路向所述脉冲激发电路发送脉冲触发信号。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求6至9中任一项所述的方法的步骤。
11.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求6至9中任一项所述的方法的步骤。
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