CN115184644A - 一种接触式测电装置及其方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种接触式测电装置，包括底座、承载台、安装架、探针和任意波形发生器，安装架和承载台均设置在底座上，安装架上滑动连接有滑动板，探针设置在滑动板的底部，探针与待测元器件接触，探针与任意波形发生器电性连接，安装架上设置有升降装置，安装架上设置有限位装置。工作人员通过升降装置和限位装置对滑动板进行移动，使滑动板上的探针与待测元器件接触，然后通过任意波形发生器判断出待测元器件是否连通，并且还能检测待测元器件的电参数，由于探针与待测元器件的锡球的抵接的关系，对锡球的外观不会损伤，在测电过程中，只需要探针与锡球接触就能测量，省去了焊接导线的工作过程，不损伤焊锡球外观的前提下对元器件检测方便。

Description

一种接触式测电装置及其方法

技术领域

本申请涉及元器件检测的技术领域，尤其是涉及一种接触式测电装置及其方法。

背景技术

无源器件是微波射频器件中重要的一类，在微波技术中占有非常重要的地位。无源器件主要包括电阻，电容，电感，转换器，渐变器，匹配网络，谐振器，滤波器，混频器、芯片和开关等。在不需要外加电源的条件下，就可以显示其特性的电子元件。无源器件一般焊接在焊盘上。

目前，对无源器件的焊点进行检测的方法一般采用手动焊锡测电方法，即把两根导线分别与元器件的焊接进行焊接，导线通过转接头与信号发生器连接进行测电。

针对上述的相关技术，发明人发现存在有以下缺陷：每次检测结束后，需要将导线与元器件的焊点进行分离，导致焊锡位置的焊锡球外观损失、陶瓷电路板损坏。

发明内容

为了在不损伤焊锡球外观的前提下对焊点检测方便，本申请提供一种接触式测电装置及其方法。

本申请提供的一种接触式测电装置及其方法采用如下的技术方案：

一种接触式测电装置，包括底座、承载台、安装架、探针和任意波形发生器，所述安装架和承载台均设置在底座上，所述承载台用于放置待测元器件，所述安装架上沿竖直方向滑动连接有滑动板，所述探针设置在滑动板的底部，所述探针用于与待测元器件的锡球接触，所述探针与任意波形发生器电性连接，所述安装架上设置有用于驱使滑动板沿竖直方向滑动的升降装置，所述安装架上设置有用于限制滑动板进行升降的限位装置。

通过采用上述技术方案，工作人员将待测元器件放置在承载台上，工作人员通过升降装置对滑动板进行移动，使滑动板上的探针与待测元器件接触，然后使用限位装置对滑动板进行固定，使探针与待测元器件接触稳固，启动任意波形发生器，任意波形发生器向待测元器件发出不同的波形信号，通过任意波形发生器外接的示波器的波形显示，可以判断出待测元器件是否连通，并且还能检测待测元器件的电参数，根据检测的电参数是否在合格待测元器件的电参数范围内，检测出待测元器件是否合格，由于探针与待测元器件的锡球的抵接的关系，对锡球的外观不会损伤，在测电过程中，只需要探针与锡球接触就能测量，省去了焊接导线的工作过程，不损伤焊锡球外观的前提下对元器件检测方便，检测效率高。

可选的，所述升降装置包括滑动杆和第一弹簧，所述滑动杆沿竖直方向滑动连接在安装架的顶部，所述滑动杆位于安装架内的一端与滑动板固定连接，所述第一弹簧用于驱使滑动杆向靠近安装架的顶部的方向移动。

通过采用上述技术方案，工作人员使用探针对待测元器件进行测电时，工作人员向靠近底座的方向移动滑动杆，使滑动板上的探针与待测元器件接触，检测结束后，工作人员松开滑动杆，滑动杆在第一弹簧的作用下向远离底座的方向移动，省去了工作人员手动将滑动杆进行复位的工作过程，移动滑动杆方便。

可选的，所述限位装置包括限位杆、限位座和限位块，所述限位杆沿水平方向滑动连接在安装架内，所述限位座设置在底座上，所述限位块沿水平方向滑动连接在限位座上，所述滑动杆的底部设置有固定块，所述限位块的顶部且远离限位杆的一端设置有第一倾斜面，所述固定块的底部且靠近限位块的边缘设置有第二倾斜面，所述第一倾斜面能与第二倾斜面接触，所述固定块能与限位块的底部接触，所述限位座上设置有用于驱使限位杆向靠近滑动杆的方向移动的第二弹簧。

通过采用上述技术方案，工作人员向下移动滑动杆的过程中，固定块的第二倾斜面与限位块的第一倾斜面相互接触，工作人员继续向下移动滑动杆时，第一倾斜面受力驱使限位块向远离滑动杆的方向移动，然后使固定块的顶部与限位块的底部接触，在第一弹簧的作用下使固定块的顶部与限位块的底部抵紧，限制滑动杆升降，使探针与锡球接触稳固。

可选的，所述承载台上设置有多个卡接座，所述卡接座沿承载台的宽度方向滑动连接在承载台的顶部，所述承载台上转动设置有双向螺杆，沿承载台的宽度方向两端的所述卡接座分别螺纹连接在双向螺杆的两端，两个所述卡接座相互靠近的一端能与待测元器件接触。

通过采用上述技术方案，工作人员通过双向螺杆驱使沿承载台的宽度方向两端的卡接座将待测元器件进行固定，并使待测元器件固定在承载台的正中央，方便工作人员检测不同类型的待测元器件。

可选的，所述探针的顶部设置有滑动块，所述滑动块滑动连接在滑动板内，所述滑动板的顶部设置有压力传感器，所述压力传感器电性连接有显示屏。

通过采用上述技术方案，压力传感器通过滑动块与探针连接，探针滑动，压力传感器检测探针受到的压力并将检测到的压力值传输到显示屏上，工作人员根据显示屏显示的读数进行判断，当显示屏显示的压力值变少并维持在一定读数，说明探针与锡球接触，然后对锡球进行检测，使探针与锡球的接触更加精确。

可选的，所述压力传感器和滑动块之间设置有第三弹簧。

通过采用上述技术方案，第三弹簧缓冲探针与锡球接触的接触力，有效避免探针将锡球损伤，此外，探针在第三弹簧的弹力作用下始终使探针与锡球进行接触，提高探针和锡球之间接触效果，而且，探针在长期时间下出现磨损的情况时，第三弹簧还可以弥补磨损探针的长度，依然使探针与锡球接触，提高接触精度，由于每个锡球的高度不一致，第三弹簧依然能使探针与不同高度的锡球进行接触，提高适用性。

可选的，所述限位座的底部设置有支撑座，所述支撑座上转动设置有第一螺杆，所述限位座与第一螺杆螺纹连接。

通过采用上述技术方案，工作人员驱使第一螺杆转动调节限位座的升降，从而改变固定滑动杆的高度，实现了微调，调节探针与锡球之间的距离，使探针在不损伤锡球外观的前提下对焊点进行检测。

可选的，所述底座上设置有承载座，所述承载台滑动连接在承载座上，所述承载座上设置有用于驱使承载座滑动的第二滑动装置，所述第二滑动装置包括第二螺杆、手柄和指引杆，所述第二螺杆转动设置在承载座上，所述第二螺杆与承载台螺纹连接，所述指引杆固定设置在承载座上，所述承载台滑动连接在指引杆上，所述手柄用于驱使螺杆转动。

通过采用上述技术方案，工作人员通过手柄驱使第二螺杆转动，使承载台在承载座上滑动，调节承载台相对与底座的位置，方便对不同类型的待测元器件或者同类型不同位置的焊点进行测定，提高适用性。

可选的，所述滑动板的底部设置有红外激光器，所述红外激光器的发光端朝向承载台。

通过采用上述技术方案，红外激光器发出的红外线照射在承载台上，工作人员根据红外线在承载台上的位置，方便工作人员对待测元器件进行定位。

一种接触式测电装置的施测量方法，包括以下步骤：

S1：将待测元器件放置在承载台上；

S2：向下移动滑动杆，滑动杆向下移动过程中，第一倾斜面与第二倾斜面接触，然后继续向下移动滑动杆，使固定块的顶部与限位块的底部接触；

S3：探针与待测元器件接触，启动任意波形发生器根据示波器的显示来确认待测元器件是否正常。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

任意波形发生器向待测元器件发出不同的波形信号，通过任意波形发生器外接的示波器的波形显示，可以判断出待测元器件是否连通，并且还能检测待测元器件的电参数，根据检测的电参数是否在合格待测元器件的电参数范围内，检测出待测元器件是否合格，由于探针与待测元器件的锡球的抵接的关系，对锡球的外观不会损伤，在测电过程中，只需要探针与锡球接触就能测量，省去了焊接导线的工作过程，不损伤焊锡球外观的前提下对元器件检测方便，检测效率高；

工作人员向下移动滑动杆的过程中，固定块的第二倾斜面与限位块的第一倾斜面相互接触，工作人员继续向下移动滑动杆时，第一倾斜面受力驱使限位块向远离滑动杆的方向移动，然后使固定块的顶部与限位块的底部接触，在第一弹簧的作用下使固定块的顶部与限位块的底部抵紧，限制滑动杆升降，使探针与锡球接触稳固；

第三弹簧缓冲探针与锡球接触的接触力，有效避免探针将锡球损伤，此外，探针在第三弹簧的弹力作用下始终使探针与锡球进行接触，提高探针和锡球之间接触效果，而且，探针在长期时间下出现磨损的情况时，第三弹簧还可以弥补磨损探针的长度，依然使探针与锡球接触，提高接触精度，由于每个锡球的高度不一致，第三弹簧依然能使探针与不同高度的锡球进行接触，提高适用性。

附图说明

图1是本申请实施例1的接触式测电装置及其方法的整体结构示意图。

图2是本申请实施例1的接触式测电装置及其方法的部分结构示意图（隐藏了安装架的封闭板）。

图3是图2中A部分的放大示意图。

图4是本申请实施例2的接触式测电装置及其方法的部分结构示意图。

图5是图4中B部分放大示意图。

图6是图4中C部分的放大示意图。

附图标记说明：1、底座；2、承载台；3、安装架；4、探针；5、任意波形发生器；6、滑动板；7、升降装置；71、滑动杆；72、第一弹簧；8、限位装置；81、限位杆；82、限位座；83、限位块；831、第一倾斜面；84、固定块；841、第二倾斜面；85、第二弹簧；10、卡接座；11、双向螺杆；12、滑动块；13、压力传感器；14、显示屏；15、第三弹簧；16、第一螺杆；17、支撑座；18、承载座；19、第二滑动装置；191、第二螺杆；192、手柄；193、指引杆；20、红外激光器。

具体实施方式

以下结合附图1-6对本申请作进一步详细说明。

在本申请中，待测元器件为无源元器件，本申请具体的无源元器件包括芯片、电路板和壳体，芯片和电路板均安装在壳体上，芯片通过金线与电路板连接，金线通过锡焊接在电路板上并形成锡球。

实施例1：

参照图1、图2，接触式测电装置包括底座1、承载台2、安装架3、探针4和任意波形发生器5，安装架3和承载台2均安装在底座1上，安装架3上滑动连接有滑动板6，探针4安装在滑动板6的底部，探针4与任意波形发生器5电性连接，安装架3上设置有用于驱使滑动板6沿竖直方向滑动的升降装置7，安装架3上设置有用于限制滑动板6进行升降的限位装置8。

工作人员将待测元器件放置在承载台2上，工作人员通过升降装置7和限位装置将滑动板6上的探针4与待测元器件接触，然后启动任意波形发生器5，任意波形发生器5向待测元器件发出不同的波形信号，通过任意波形发生器5上的波形显示，可以判断出待测元器件是否连通，并且还能检测待测元器件的电参数，由于探针4与待测元器件的锡球的抵接的关系，对锡球的外观不会损伤，在测电过程中，只需要探针4与锡球接触就能测量，省去了焊接导线的工作过程，不损伤焊锡球外观的前提下对焊点检测方便。

底座1采用合金材质制成的板体，底座1上安装有承载座18。承载座18包括沿水平方向间隔的两个承载块，承载台2滑动连接在两个承载块之间。承载座18上设置有用于驱使承载座18滑动的第二滑动装置19，第二滑动装置19包括第二螺杆191、手柄192和指引杆193，第二螺杆191转动安装在两个承载块上，第二螺杆191与承载台2螺纹连接。指引杆193固定安装在两个承载块之间，在本实施例中，指引杆193安装有两根，两根指引杆193安装在第二螺杆191的两侧。承载台2上开设有穿孔，指引杆193滑动连接在穿孔内。手柄192用于驱使螺杆转动，第二螺杆191远离安装架3的一端从承载块伸出并与手柄192同轴固定连接。工作人员通过手柄192驱使第二螺杆191转动，使承载台2在承载座18上滑动，调节承载台2相对与底座1的位置，方便对不同类型的待测元器件或者同类型不同位置的焊点进行测定，提高适用性。

承载台2采用合金材质制成的台子，承载台2用于放置待测元器件，在本实施例中，承载台2的顶部开设有固定槽，待测元器件卡接到承载台2的固定槽内实现对待测元器件的固定。

安装架3安装在底座1上，安装架3采用合金材质制成的壳体，安装架3的底部开口且内部中空，安装架3靠近承载台2的一侧的侧壁开口，安装架3上可拆卸安装有用于封闭安装架3侧壁开口的封闭板。封闭板开设有供滑动板6沿竖直方向滑动的连通孔。

滑动板6采用PEEK材质制成的板体，滑动板6沿竖直方向滑动连接在安装架3内，滑动板6远离安装架3的一端从封闭板的连通孔的开口处伸出并位于承载台2的正上方。

升降装置7包括滑动杆71和第一弹簧72，滑动杆71沿竖直方向滑动连接在安装架3的顶部，滑动杆71采用合金材质制成的圆杆，滑动杆71的顶部同轴固定安装有把手，安装架3的顶部开设有供滑动杆71沿竖直方向滑动的滑动孔，滑动杆71的底部穿过滑动孔并滑动连接在安装架3内。滑动杆71位于安装架3内的一端与滑动板6固定连接。第一弹簧72用于驱使滑动杆71向靠近安装架3的顶部的方向移动，第一弹簧72的一端与滑动板6固定连接、另一端与安装架3的内顶壁固定连接。

工作人员使用探针4对待测元器件进行测电时，工作人员向靠近底座1的方向移动滑动杆71，使滑动板6上的探针4与待测元器件接触，检测结束后，工作人员松开滑动杆71，滑动杆71在第一弹簧72的作用下向远离底座1的方向移动，省去了工作人员手动将滑动杆71进行复位的工作过程，移动滑动杆71方便。

参照图2、图3，限位装置8包括限位杆81、限位座82和限位块83，安装架3的侧壁上开设有供限位杆81沿水平方向滑动的连接孔，限位杆81的一端穿过连接孔并沿水平方向滑动连接在安装架3内。限位座82安装在底座1上，限位座82的顶部安装有轨道，限位块83沿水平方向滑动连接在限位座82的轨道上。滑动杆71的底部安装有固定座，滑动板6固定安装在固定座上。固定座靠近限位杆81的侧壁上安装有固定块84，固定块84的底部且靠近限位块83的边缘设置有第二倾斜面841。限位块83的顶部且远离限位杆81的一端设置有第一倾斜面831，第一倾斜面831能与第二倾斜面841接触。固定块84能与限位块83的底部接触，限位座82上设置有用于驱使限位杆81向靠近滑动杆71的方向移动的第二弹簧85，限位座82的顶部安装有连接块，第二弹簧85的一端与连接块固定连接、另一端与限位块83固定连接。

工作人员向下移动滑动杆71的过程中，固定块84的第二倾斜面841与限位块83的第一倾斜面831相互接触，工作人员继续向下移动滑动杆71时，第一倾斜面831受力驱使限位块83向远离滑动杆71的方向移动，然后使固定块84的顶部与限位块83的底部接触，在第一弹簧72的作用下使固定块84的顶部与限位块83的底部抵紧，限制滑动杆71升降，使探针4与锡球接触稳固。

在升降装置7和限位装置的配合下，工作人员将探针4与待测元器件的锡球接触进行测电时，工作人员只需要向下移动滑动杆71，在第一弹簧72的作用下，使限位块83的底部与固定块84的顶部抵紧，从而使探针4与待测元器件的锡球接触；检测完成后，工作人员将限位杆81向远离滑动杆71的方向移动，使限位块83的底部与固定块84的顶部解除接触，在第一弹簧72的作用下，滑动杆71向上移动，使探针4与待测元器件的锡球分离，将滑动板6进行复位，检测待测元器件方便。

本实施例中，探针4安装有两个，两个探针4分别能与电路板上的两个锡球接触。任意波形发生器5用于在广泛的信号范围内产生电波形。常见的波形输出类型包括正弦波、方波、斜波或三角波、脉冲波、心脏模式波、高斯脉冲波以及任意波。在本实施例中，任意波形发生器5外接有示波器，工作人员通过任意波形发生器5发出不同的波形信号测出待测元器件的半波电压和波形斜率这两种电参数，通过任意波形发生器5外接的示波器的波形显示，可以判断出待测元器件是否连通，并且还能检测待测元器件的电参数，根据检测的电参数是否在合格待测元器件的电参数范围内，检测出待测元器件是否合格；由于探针4与待测元器件的锡球的抵接的关系，对锡球的外观不会损伤，在测电过程中，只需要探针4与锡球接触就能测量，省去了焊接导线的工作过程，不损伤焊锡球外观的前提下对焊点检测方便，并且对同一批次的待测元器件的检测效率高。

实施例2：

参照图4，本申请实施例2与实施例1的不同之处在于，承载台2上安装有用于固定待测元器件的卡接座10、滑动板6上安装有用于检测探针4压力的压力传感器13。

参照图4、图5，承载台2上安装有多个卡接座10，在本实施例中，卡接座10安装有四个，两两为一组，两组卡接座10沿承载台2的宽度方向安装在承载台2的两侧。承载台2的顶部开设有供卡接座10滑动的滑槽，滑槽内转动安装有双向螺杆11，其中两个相对设置的两个卡接座10分别螺纹连接在双向螺杆11的两端，另外位于同一侧的卡接座10与双向螺杆11连接的卡接座10通过连接杆进行固定。两个卡接座10相互靠近的一端能与待测元器件接触。工作人员通过双向螺杆11驱使沿承载台2的宽度方向两端的卡接座10将待测元器件进行固定，并使待测元器件固定在承载台2的正中央，方便工作人员检测不同类型的待测元器件。

参照图4、图6，探针4的顶部安装有滑动块12，滑动板6的顶部开设有滑孔，滑动块12的底部穿过滑孔并滑动连接在滑动板6内，滑动板6的顶部安装有固定架，压力传感器13安装在固定架上，压力传感器13电性连接有显示屏14，显示屏14安装在安装架3的顶部。压力传感器13采用HYLF-010压力控制仪，压力传感器13和滑动块12之间安装有第三弹簧15。

压力传感器13通过滑动块12与探针4连接，探针4滑动，压力传感器13检测探针4受到的压力并将检测到的压力值传输到显示屏14上，工作人员根据显示屏14显示的读数进行判断，当显示屏14显示的压力值变少并维持在一定读数，说明探针4与锡球接触，然后对锡球进行检测，使探针4与锡球的接触更加精确。第三弹簧15缓冲探针4与锡球接触的接触力，有效避免探针4将锡球损伤，此外，探针4在第三弹簧15的弹力作用下始终使探针4与锡球进行接触，提高探针4和锡球之间接触效果，而且，探针4在长期时间下出现磨损的情况时，第三弹簧15还可以弥补磨损探针4的长度，依然使探针4与锡球接触，提高接触精度，由于每个锡球的高度不一致，第三弹簧15依然能使探针4与不同高度的锡球进行接触，提高适用性。

限位座82的底部安装有支撑座17，支撑座17安装在底座1上，支撑座17上转动安装有第一螺杆16，限位座82上开设有螺纹孔，第一螺杆16与限位座82的螺纹孔螺纹连接，第一螺杆16从限位座82伸出的一端同轴固定安装有把手。在支撑座17上安装有限制杆，限位座82上开设有限制孔，限制杆滑动连接在限制孔内，对支撑座17沿竖直方向滑动进行限制。

工作人员驱使第一螺杆16转动调节限位座82的升降，从而改变固定滑动杆71的高度，由于每个锡球的高度不一定均相同，通过第一螺杆16实现了对滑动板6的高度微调，调节探针4与锡球之间的距离，使探针4在不损伤锡球外观的前提下对焊点进行检测，并且，在探针4磨损下，可以转动第一螺杆16，使探针4与锡球接触，有效保障探针4与锡球的接触稳定性。

滑动板6的底部安装有红外激光器20，红外激光器20安装有四个，四个红外激光器20呈正方形排布，红外激光器20的发光端朝向承载台2。红外激光器20发出的红外线照射在承载台2上，工作人员根据红外线在承载台2上的位置，方便工作人员对待测元器件进行定位。

工作人员对不同批次的首个待测元器件进行检测时，先将待测元器件通过卡接座10将待测元器件固定在支撑台上，根据红外激光器20发出的红外线与待测元器件的位置转动手柄192，使承载台2上的待测元器件的锡球位于四个红外激光器20红外线的正中央，然后移动滑动杆71使固定块84与限位块83抵接，然后根据压力传感器13的读数转动第一螺杆16，使压力传感器13的读数小于第三弹簧15、滑动块12和探针4的重力值，此时代表探针4与锡球接触，然后针对同批次的待测元器件进行测量时，只需要移动滑动杆71使限位块83与固定块84抵紧，然后观察压力传感器13的读数，即可观察出探针4与锡球是否接触，在第三弹簧15、第一螺杆16的协同作用下保持在不破坏锡球外表的情况下实现探针4与锡球接触稳固，有效保障对待测元器件电参数检测过程中的稳定性。

本申请还公开了一种接触式测电装置的施测量方法，包括以下步骤：

S1：将待测元器件放置在承载台2上；

S2：向下移动滑动杆71，滑动杆71向下移动过程中，第一倾斜面831与第二倾斜面841接触，然后继续向下移动滑动杆71，使固定块84的顶部与限位块83的底部接触；

S3：探针与待测元器件接触，启动任意波形发生器根据示波器的显示来确认待测元器件是否正常。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种接触式测电装置，其特征在于：包括底座（1）、承载台（2）、安装架（3）、探针（4）和任意波形发生器（5），所述安装架（3）和承载台（2）均设置在底座（1）上，所述承载台（2）用于放置待测元器件，所述安装架（3）上沿竖直方向滑动连接有滑动板（6），所述探针（4）设置在滑动板（6）的底部，所述探针（4）用于与待测元器件的锡球接触，所述探针（4）与任意波形发生器（5）电性连接，所述安装架（3）上设置有用于驱使滑动板（6）沿竖直方向滑动的升降装置（7），所述安装架（3）上设置有用于限制滑动板（6）进行升降的限位装置（8）。

2.根据权利要求1所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述升降装置（7）包括滑动杆（71）和第一弹簧（72），所述滑动杆（71）沿竖直方向滑动连接在安装架（3）的顶部，所述滑动杆（71）位于安装架（3）内的一端与滑动板（6）固定连接，所述第一弹簧（72）用于驱使滑动杆（71）向靠近安装架（3）的顶部的方向移动。

3.根据权利要求2所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述限位装置（8）包括限位杆（81）、限位座（82）和限位块（83），所述限位杆（81）沿水平方向滑动连接在安装架（3）内，所述限位座（82）设置在底座（1）上，所述限位块（83）沿水平方向滑动连接在限位座（82）上，所述滑动杆（71）的底部设置有固定块（84），所述限位块（83）的顶部且远离限位杆（81）的一端设置有第一倾斜面（831），所述固定块（84）的底部且靠近限位块（83）的边缘设置有第二倾斜面（841），所述第一倾斜面（831）能与第二倾斜面（841）接触，所述固定块（84）能与限位块（83）的底部接触，所述限位座（82）上设置有用于驱使限位杆（81）向靠近滑动杆（71）的方向移动的第二弹簧（85）。

4.根据权利要求1所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述承载台（2）上设置有多个卡接座（10），所述卡接座（10）沿承载台（2）的宽度方向滑动连接在承载台（2）的顶部，所述承载台（2）上转动设置有双向螺杆（11），沿承载台（2）的宽度方向两端的所述卡接座（10）分别螺纹连接在双向螺杆（11）的两端，两个所述卡接座（10）相互靠近的一端能与待测元器件接触。

5.根据权利要求3所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述探针（4）的顶部设置有滑动块（12），所述滑动块（12）滑动连接在滑动板（6）内，所述滑动板（6）的顶部设置有压力传感器（13），所述压力传感器（13）电性连接有显示屏（14）。

6.根据权利要求5所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述压力传感器（13）和滑动块（12）之间设置有第三弹簧（15）。

7.根据权利要求3或6所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述限位座（82）的底部设置有支撑座（17），所述支撑座（17）上转动设置有第一螺杆（16），所述限位座（82）与第一螺杆（16）螺纹连接。

8.根据权利要求1所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述底座（1）上设置有承载座（18），所述承载台（2）滑动连接在承载座（18）上，所述承载座（18）上设置有用于驱使承载座（18）滑动的第二滑动装置（19），所述第二滑动装置（19）包括第二螺杆（191）、手柄（192）和指引杆（193），所述第二螺杆（191）转动设置在承载座（18）上，所述第二螺杆（191）与承载台（2）螺纹连接，所述指引杆（193）固定设置在承载座（18）上，所述承载台（2）滑动连接在指引杆（193）上，所述手柄（192）用于驱使螺杆转动。

9.根据权利要求8所述的一种接触式测电装置，其特征在于：所述滑动板（6）的底部设置有红外激光器（20），所述红外激光器（20）的发光端朝向承载台（2）。

10.一种用于权利要求1-3任意一项所述的一种接触式测电装置的施测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：将待测元器件放置在承载台（2）上；

S2：向下移动滑动杆（71），滑动杆（71）向下移动过程中，第一倾斜面（831）与第二倾斜面（841）接触，然后继续向下移动滑动杆（71），使固定块（84）的顶部与限位块（83）的底部接触；

S3：探针（4）与待测元器件接触，启动任意波形发生器（5）根据示波器的显示来确认待测元器件是否正常。

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