CN115097282A - 阵列芯片测试方法、***、计算机设备和存储介质 - Google Patents

阵列芯片测试方法、***、计算机设备和存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明适用于计算机技术领域，提供了一种阵列芯片测试方法、***、计算机设备和存储介质，所述方法包括以下步骤：获取阵列芯片的图像信息；提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中；根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果，本发明的有益效果是：通过将待测试的芯片以阵列的形式进行排布，并将其位置标定在坐标系，然后根据预设的运动轨迹去依次对芯片进行测试，并输出测试结果，可一次性完成多个芯片的测试，解决了阵列测试自动化问题，提升了测试效率，降低了成本。

Description

阵列芯片测试方法、***、计算机设备和存储介质
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种阵列芯片测试方法、***、计算机设备和存储介质。
背景技术
芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分。由于芯片结构精细、制造工艺复杂、流程繁琐，不可避免地会在生产过程中留下潜在的缺陷，使制造完成的芯片不能达到标准要求，随时可能因为各种原因而出现故障。因此，为了确保芯片质量，通常会对芯片进行测试(包括电学参数测量和功能测试等多个测试项目)，以便将良品和不良品分开。
随着激光雷达市场需求的增长，阵列芯片的自动测试的实现和效率的提升需求也变得非常迫切，而现有单颗芯片的自动测试方案已经无法满足需求。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种阵列芯片测试方法、***、计算机设备和存储介质，旨在解决背景技术中确定的现有技术存在的技术问题。
本发明实施例是这样实现的，阵列芯片测试方法，包括以下步骤：
获取阵列芯片的图像信息；
提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中；
根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；
控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
作为本发明进一步的方案：所述获取阵列芯片的图像信息的步骤，具体包括：
获取阵列芯片的实时画面信息；
检测所述实时画面信息，并调整相机的焦距，使得所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内；
当所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内时，拍摄所述阵列芯片得到所述阵列芯片的图像信息。
作为本发明再进一步的方案：所述提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中的步骤，具体包括：
识别所述图像信息中包含的每个芯片；
将识别到的每个所述芯片进行标记，得到含有所有芯片标记的图像信息；
将所述图像信息投影至与之匹配的坐标系中，以坐标表示每个芯片的位置信息。
作为本发明再进一步的方案：所述根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹的步骤，具体包括：
获取每个芯片的位置信息；
根据由左及右、由上至下的运动规则确定探针或光纤或承片台的最佳运动轨迹。
作为本发明再进一步的方案：所述控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果的步骤，具体包括：
控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试；
判定对应位置芯片的测试结果，当所述测试结果为Y时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加通过标记，当所述测试结果为N时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加不通过标记；
当所有芯片均完成测试后，保存测试结果。
作为本发明再进一步的方案：所述当所有芯片均完成测试后，保存测试结果的步骤之后，还执行以下步骤：
遍历每个所述测试结果；
判定每个所述测试结果中是否包含有不通过标记；
当所述测试结果中包含有不通过标记时，将对应测试结果以及芯片坐标放入待处理集合中；
向用户输出所述待处理集合。
本发明实施例的另一目的在于提供一种阵列芯片测试***，包括：
图像获取模块，用于获取阵列芯片的图像信息；
位置标记模块，用于提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中；
轨迹规划模块，用于根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；
测试模块，用于控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
本发明实施例的另一目的在于提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行所述阵列芯片测试方法的步骤。
本发明实施例的另一目的在于提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行所述阵列芯片测试方法的步骤。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：通过将待测试的芯片以阵列的形式进行排布，并将其位置标定在坐标系，然后根据预设的运动轨迹去依次对芯片进行测试，并输出测试结果，可一次性完成多个芯片的测试，解决了阵列测试自动化问题，提升了测试效率，降低了成本。
附图说明
图1为一种阵列芯片测试方法的流程图。
图2为获取阵列芯片的图像信息的流程图。
图3为提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中的流程图。
图4为根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹的流程图。
图5为控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果的流程图。
图6为当所有芯片均完成测试后保存测试结果的流程图。
图7为一种阵列芯片测试***的流程图。
图8为一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述。
如图1所示，为本发明一个实施例提供的一种阵列芯片测试方法的流程图，包括以下步骤：
S100，获取阵列芯片的图像信息。
本发明实施例中所述的阵列芯片，是指将待测试的芯片以阵列的形式进行排布，然后对其进行集中依次测试，来提升测试效果的一种手段，在实际应用时，可以通过工业CCD相机等方式来获取阵列芯片的图像信息，本实施例在此不进行具体的限定。
S200，提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中。
S300，根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹。
S400，控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
本发明实施例中，通过将待测试的芯片以阵列的形式进行排布，并将其位置标定在坐标系，然后根据预设的运动轨迹去依次对芯片进行测试，并输出测试结果，可一次性完成多个芯片的测试，解决了阵列测试自动化问题，提升了测试效率，降低了成本。
如图2所示，作为本发明一个优选的实施例，所述获取阵列芯片的图像信息的步骤，具体包括：
S101，获取阵列芯片的实时画面信息。
S102，检测所述实时画面信息，并调整相机的焦距，使得所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内。
S103，当所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内时，拍摄所述阵列芯片得到所述阵列芯片的图像信息。
本发明实施例中，可以通过工业CCD相机来获取阵列芯片的实时画面信息，并检测所述实时画面信息，此处的目的在于判定画面信息是否居中、阵列芯片是否能铺满整个画面等，然后通过调整相机的焦距、或者相机的位置等方式，来保证阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内。
有必要说明的是，阵列芯片最好能铺满整个画面，这样在后续的识别处理中，能避免背景或者其他问题对识别处理造成的不利影响。当所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内时，拍摄所述阵列芯片得到所述阵列芯片的图像信息。
如图3所示，作为本发明另一个优选的实施例，所述提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中的步骤，具体包括：
S201，识别所述图像信息中包含的每个芯片。
S202，将识别到的每个所述芯片进行标记，得到含有所有芯片标记的图像信息。
S203，将所述图像信息投影至与之匹配的坐标系中，以坐标表示每个芯片的位置信息。
本发明实施例中，可以通过芯片表面特有的引脚或者芯片表面上的生产标识信息等来实现对芯片的识别，识别到芯片之后，会对识别到的每个芯片进行标记，这样图像信息中就包含有多个芯片标记，然后将图像信息投影至与之匹配的坐标系中，坐标系的原点位置可以与图像信息的某个角对应，这样图像信息中每个芯片标记就会对应得到一个唯一的坐标，进而可以坐标表示每个芯片的位置信息。
如图4所示，作为本发明另一个优选的实施例，所述根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹的步骤，具体包括：
S301，获取每个芯片的位置信息。
S302，根据由左及右、由上至下的运动规则确定探针或光纤或承片台的最佳运动轨迹。
本发明实施例中，在以坐标表示每个芯片的位置信息后，每个芯片的位置相当于是探针或光纤或承片台必须要停留或者经过的位置，基于此，可以生成探针或光纤或承片台的最佳运动轨迹，来实现对其运动轨迹上所有芯片完成测试。
如图5所示，作为本发明另一个优选的实施例，所述控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果的步骤，具体包括：
S401，控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试。
S402，判定对应位置芯片的测试结果，当所述测试结果为Y时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加通过标记，当所述测试结果为N时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加不通过标记。
S403，当所有芯片均完成测试后，保存测试结果。
本发明实施例主要是对待测试芯片进行依次或者逐一的测试，此处的Y即表示测试通过或测试正常，N即表示测试不通过或测试不正常，在实际应用时，如果碰到两个芯片之间有间隔或者说空了一个位置，那么探针或光纤或承片台经过此位置时则直接跳过或不做停留测试，因为该位置是空的，所以该位置并不会有芯片坐标，因此不会对测试结果的保存或者坐标标记造成影响。
如图6所示，作为本发明另一个优选的实施例，所述当所有芯片均完成测试后，保存测试结果的步骤之后，还执行以下步骤：
S4031，遍历每个所述测试结果。
S4032，判定每个所述测试结果中是否包含有不通过标记。
S4033，当所述测试结果中包含有不通过标记时，将对应测试结果以及芯片坐标放入待处理集合中。
S4034，向用户输出所述待处理集合。
本发明实施例中，遍历每个所述测试结果的目的在于，能对所有测试结果进行判定，避免遗漏，而当所述测试结果中包含有不通过标记时，将对应测试结果以及芯片坐标放入待处理集合中，此处的待处理集合是需要发送给用户的，以便于用户对测试不通过的芯片进行进一步的处理分析，本发明实施例在实际应用时，能在输出测试结果的同时或者相近时间，同步发送含有不通过标记的待处理集合，方便用户进行进一步的处理。
如图7所示，本发明实施例还提供了一种阵列芯片测试***，包括：
图像获取模块100，用于获取阵列芯片的图像信息；
位置标记模块200，用于提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中；
轨迹规划模块300，用于根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；
测试模块400，用于控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
本发明实施例中，通过将待测试的芯片以阵列的形式进行排布，并将其位置标定在坐标系，然后根据预设的运动轨迹去依次对芯片进行测试，并输出测试结果，可一次性完成多个芯片的测试，解决了阵列测试自动化问题，提升了测试效率，降低了成本。
如图8所示，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行：
S100，获取阵列芯片的图像信息。
S200，提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中。
S300，根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹。
S400，控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行：
S100，获取阵列芯片的图像信息。
S200，提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中。
S300，根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹。
S400，控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
应该理解的是，虽然本发明各实施例的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，各实施例中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
本领域技术人员在考虑说明书及实施例处的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (9)

1.阵列芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取阵列芯片的图像信息；
提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中；
根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；
控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
2.根据权利要求1所述的阵列芯片测试方法，其特征在于，所述获取阵列芯片的图像信息的步骤，具体包括：
获取阵列芯片的实时画面信息；
检测所述实时画面信息，并调整相机的焦距，使得所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内；
当所述阵列芯片中的每个所述芯片单元均处于实时画面信息内时，拍摄所述阵列芯片得到所述阵列芯片的图像信息。
3.根据权利要求1所述的阵列芯片测试方法，其特征在于，所述提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中的步骤，具体包括：
识别所述图像信息中包含的每个芯片；
将识别到的每个所述芯片进行标记，得到含有所有芯片标记的图像信息；
将所述图像信息投影至与之匹配的坐标系中，以坐标表示每个芯片的位置信息。
4.根据权利要求1所述的阵列芯片测试方法，其特征在于，所述根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹的步骤，具体包括：
获取每个芯片的位置信息；
根据由左及右、由上至下的运动规则确定探针或光纤或承片台的最佳运动轨迹。
5.根据权利要求1所述的阵列芯片测试方法，其特征在于，所述控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果的步骤，具体包括：
控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试；
判定对应位置芯片的测试结果，当所述测试结果为Y时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加通过标记，当所述测试结果为N时，为用于表征对应芯片位置的坐标添加不通过标记；
当所有芯片均完成测试后，保存测试结果。
6.根据权利要求5所述的阵列芯片测试方法，其特征在于，所述当所有芯片均完成测试后，保存测试结果的步骤之后，还执行以下步骤：
遍历每个所述测试结果；
判定每个所述测试结果中是否包含有不通过标记；
当所述测试结果中包含有不通过标记时，将对应测试结果以及芯片坐标放入待处理集合中；
向用户输出所述待处理集合。
7.阵列芯片测试***，其特征在于，包括：
图像获取模块，用于获取阵列芯片的图像信息；
位置标记模块，用于提取所述图像信息中包含的芯片信息，并将所述芯片信息按照位置信息标记在坐标系中；
轨迹规划模块，用于根据在坐标系中芯片的位置信息规划探针或光纤或承片台的运动轨迹；
测试模块，用于控制所述探针或光纤或承片台依次对设定运动轨迹上的芯片进行测试，并输出测试结果。
8.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至6中任一项权利要求所述阵列芯片测试方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至6中任一项权利要求所述阵列芯片测试方法的步骤。
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