CN115096218A - 一种扩展式半导体测试平台 - Google Patents
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Abstract
本发明属于测试平台技术领域，特别涉及一种扩展式半导体测试平台，包括安装组件、导向组件、两组第一联动组件和两组第二联动组件；所述安装组件包括第一横板；所述第一横板的顶端对称开设有两组第一安装槽，两组所述第一安装槽的内壁底端均滑动连接有第一壳体。通过导向组件将下落的待检测芯片吸附固定，传动机构驱动第一联动组件，使两组联动组件呈反向带动第一壳体水平移动，便于不同宽度的芯片进行测试，利用若干组挤压块、弹簧和压力传感器的配合使用，使芯片针脚与挤压块接触，达到芯片针脚的检测作用，使测试平台提高了检测兼容性的同时又达到芯片针脚检测的效果。
Description
技术领域
本发明属于测试平台技术领域，特别涉及一种扩展式半导体测试平台。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信***、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，半导体材料是一类具有半导体性能，可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料，芯片是半导体元件产品的统称。
芯片在生产后需要进行测试，现有的检测方式需要人工进行辅助操作，其测试方式是将芯片固定在测试平台上，对芯片的针脚进行测试，由于市面上的芯片规格尺寸各不相同，常规的测试平台无法兼容不同规格的芯片进行测试，给芯片的检测带来了不便。
发明内容
针对上述问题，本发明提供了一种扩展式半导体测试平台，包括安装组件、导向组件、两组第一联动组件和两组第二联动组件；
所述安装组件包括第一横板；所述第一横板的顶端对称开设有两组第一安装槽，两组所述第一安装槽的内壁底端均滑动连接有第一壳体，所述第一壳体的内壁底端固定连接有若干组压力传感器，若干组所述压力传感器的顶端检测端均设置有弹簧，且所述弹簧的顶端均设置有挤压块；
所述第一横板的外壁一端固定连接有传动机构，所述传动机构分别与两组所述第一联动组件和第一壳体传动连接，所述导向组件嵌入安装在安装组件的顶端，两组所述第二联动组件呈对称状滑动连接在安装组件的两端，所述安装组件的底端固定连接有分类盒，且所述分类盒的顶端开口处位于导向组件的两端。
进一步的，所述安装组件还包括两组第一电动推杆；
两组所述第一电动推杆呈对称状嵌入安装在第一横板的内部，且两组所述第一电动推杆的输出端均延伸至第一横板的外部，所述第一横板的顶端对称固定连接有两组第一导向块，两组所述第一导向块的表面均开设有第一导向槽。
进一步的，所述导向组件包括第二壳体；所述第二壳体为敞开式结构，且所述第二壳体的内壁分别滑动连接有下料机构和吸料机构，所述下料机构滑动连接在吸料机构的两侧。
进一步的，所述下料机构包括两组双轴电机；
两组所述双轴电机的输出端均传动连接有主动轮，两组所述主动轮上均套接有皮带，所述主动轮的一端均转动连接有轴承座，两组所述轴承座的底端固定连接有第二横板，所述第二横板的顶端与双轴电机的底端固定连接有支撑杆，所述第二横板的底端与第二电动推杆的输出端传动连接，且所述第二电动推杆的底端与第二壳体的内壁底端固定连接。
进一步的，所述吸料机构包括第三壳体；
所述第三壳体的内壁一端固定连接有横管，所述横管的另一端连通有负压泵，且所述负压泵的底端与第三壳体的内壁底端固定连接，所述横管的顶端呈等距状固定且连通有若干组竖管。
进一步的，若干组所述竖管的顶端均延伸至第三壳体的顶端表面，所述第三壳体的底端两侧与第三电动推杆的输出端传动连接，且所述第三电动推杆的底端与第二壳体的内壁底端固定连接。
进一步的，所述第一联动组件包括第三横板；
所述第三横板的表面开设有第二导向槽，所述第三横板的一端固定连接有第一竖板，所述第三横板的另一端固定连接有第二导向块，所述第二导向块的表面开设有内螺纹孔，且所述内螺纹孔均与第一丝杆螺接，所述第三横板的底端与第一横板的顶端滑动连接。
进一步的，所述第一竖板与第二导向块分别滑动连接在第一横板的外壁两侧，所述第三横板的底端对称设置有四组锁紧销，且四组所述锁紧销均插接在锁紧孔内，若干组所述挤压块垂直于第二导向槽的底端，且若干组所述挤压块由第二导向槽的一端延伸至另一端。
进一步的，所述第二联动组件包括第四横板；
所述第四横板的底端一侧固定连接有第二竖板，所述第二竖板的底端转动连接有导向辊，所述第四横板的表面开设有第三导向槽，所述第三导向槽内贯穿滑动连接有水平仪，所述水平仪的外壁两侧对称固定连接有两组联动块，两组所述联动块上螺接有第二丝杆，所述第二竖板与第一电动推杆的输出端传动连接，所述第四横板滑动连接在第一导向槽内。
进一步的，所述第二丝杆的底端转动连接有轴承，且所述轴承的底端与第四横板的顶端固定连接，所述第四横板的顶端对称固定连接有两组第三竖板，且所述第三竖板的外壁固定连接有第二电机，所述第二电机的输出端与第二丝杆的顶端传动连接，所述第四横板的顶端固定连接有高清摄像头，且所述高清摄像头安装在水平仪的指管一侧。
本发明的有益效果是：
1、通过导向组件将下落的待检测芯片吸附固定，传动机构驱动第一联动组件，使两组联动组件呈反向带动第一壳体水平移动，便于不同宽度的芯片进行测试，利用若干组挤压块、弹簧和压力传感器的配合使用，使芯片针脚与挤压块接触，达到芯片针脚的检测作用，使测试平台提高了检测兼容性的同时又达到芯片针脚检测的效果。
2、通过第一电动推杆带动第二竖板移动，使第四横板滑动连接在第一导向槽内，两侧相互靠近的第四横板水平移动至芯片的顶端，对芯片进行平整度的检测，达到芯片顶面平整地快速检测的效果。
3、通过两组所述第四横板的端部相互靠近后，利用第二电机带动第二丝杆的转动，使两组水平仪垂直下移分别对芯片的顶端两侧进行水平度的精准检测，并通过高清摄像头将每组水平仪检测后的结果拍摄，达到芯片顶面平整度精准检测的效果。
4、通过第二电动推杆输出端推动第二横板纵向移动，使两组所述皮带延伸至第二壳体的顶端，用于对检测后芯片的顶料，通过双轴电机带动两端的主动轮同步转动，使两侧的皮带向两个方向输送芯片，使检测合格的芯片与部合格的芯片分别投入到对应的分类盒内，达到芯片检测后分类存放的效果。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所指出的结构来实现和获得。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明实施例测试平台的结构示意图；
图2示出了本发明实施例安装组件的结构示意图；
图3示出了本发明实施例第一壳体的结构剖视图；
图4示出了本发明实施例导向组件的结构示意图；
图5示出了本发明实施例下料机构的结构示意图；
图6示出了本发明实施例吸料机构的结构示意图；
图7示出了本发明实施例第一联动组件的结构示意图；
图8示出了本发明实施例第二联动组件的结构示意图。
图中：1、安装组件；11、第一横板；12、第一导向块；13、第一导向槽；14、第一电动推杆；15、第一安装槽；16、第一壳体；17、锁紧孔；18、传动机构；19、压力传感器；110、弹簧；111、挤压块；2、导向组件；21、第二壳体；22、下料机构；221、双轴电机；222、主动轮；223、皮带；224、轴承座；225、第二横板；226、支撑杆；227、第二电动推杆；23、吸料机构；231、第三壳体；232、横管；233、竖管；234、第三电动推杆；3、第一联动组件；31、第三横板；32、第二导向槽；33、第一竖板；34、第二导向块；35、内螺纹孔；4、第二联动组件；41、第四横板；42、第二竖板；43、导向辊；44、第三导向槽；45、水平仪；46、联动块；47、第二丝杆；48、轴承；49、第二电机；410、第三竖板；411、高清摄像头；5、分类盒。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地说明，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提出了一种扩展式半导体测试平台，包括安装组件1、导向组件2、两组第一联动组件3和两组第二联动组件4；示例性的，如图1所示。
所述导向组件2嵌入安装在安装组件1的顶端，两组所述第一联动组件3分布在导向组件2的两侧，且两组所述第一联动组件3均滑动连接在安装组件1的顶端，两组所述第二联动组件4呈对称状滑动连接在安装组件1的两端，所述安装组件1的底端固定连接有分类盒5，且所述分类盒5的顶端开口处位于导向组件2的两端。
进一步的，所述分类盒5的内壁底端固定连接有隔离板。
具体的，所述导向组件2将待检测芯片的底端吸附固定，安装组件1对两组第一联动组件3进行间距的调节，使两组第一联动组件3调整至符合待检测芯片的宽度，导向组件2带动待检测芯片下落，使待检测芯片依次落入到两组第一联动组件3和安装组件1内进行芯片针脚的检测操作；
所述安装组件1带动两组第二联动组件4相互靠近，对芯片顶面的平整度进行检测操作；
所述导向组件2向上顶起检测后的芯片，并向一侧输送检测后的芯片，使检测后的合格芯片或者不合格芯片分别进入到分类盒5内。
所述安装组件1包括第一横板11和两组第一电动推杆14；示例性的，如图2和图3所示。
所述第一横板11的顶端对称固定连接有两组第一导向块12，两组所述第一导向块12的表面均开设有第一导向槽13，两组所述第一电动推杆14呈对称状嵌入安装在第一横板11的内部，且两组所述第一电动推杆14的输出端均延伸至第一横板11的外部，所述第一横板11的顶端对称开设有两组第一安装槽15，两组所述第一安装槽15的内壁底端均滑动连接有第一壳体16，所述第一壳体16的顶端拐角处对称开设有四组锁紧孔17，所述第一横板11的外壁一端固定连接有传动机构18；
所述传动机构18包括第一电机，所述第一电机的输出端传动连接有第一丝杆，且所述第一丝杆的另一端延伸至第一横板11的外壁另一端；
所述第一壳体16的内壁底端固定连接有若干组压力传感器19，且若干组所述压力传感器19由第一壳体16的一端水平安装至另一端，若干组所述压力传感器19的顶端检测端均设置有弹簧110，且所述弹簧110的顶端均设置有挤压块111。
具体的，所述第一壳体16顶端开设的锁紧孔17用于与第一联动组件3锁紧的作用，传动机构18利用内部第一电机带动第一丝杆转动，使螺接在第一丝杆上的两组第一联动组件3呈反向移动调节，用于第一联动组件3与第一壳体16的同步调节；
所述第一电动推杆14用于推动第二联动组件4进行滑动调节的作用；
所述挤压块111与下落的芯片接触后推动弹簧110，使挤压块111底端对应的压力传感器19传递信号。
所述导向组件2包括第二壳体21；示例性的，如图4所示。
所述第二壳体21为敞开式结构，且所述第二壳体21的内壁分别滑动连接有下料机构22和吸料机构23，所述下料机构22滑动连接在吸料机构23的两侧。
所述下料机构22包括两组双轴电机221；示例性的，如图5所示。
两组所述双轴电机221的输出端均传动连接有主动轮222，两组所述主动轮222上均套接有皮带223，所述主动轮222的一端均转动连接有轴承座224，两组所述轴承座224的底端固定连接有第二横板225，所述第二横板225的顶端与双轴电机221的底端固定连接有支撑杆226，所述第二横板225的底端与第二电动推杆227的输出端传动连接，且所述第二电动推杆227的底端与第二壳体21的内壁底端固定连接。
具体的，所述第二电动推杆227输出端推动第二横板225纵向移动，使两组所述皮带223延伸至第二壳体21的顶端，用于对检测后芯片的顶料；
所述双轴电机221带动两端的主动轮222同步转动，使两侧的皮带223向两个方向输送芯片，使检测合格的芯片与部合格的芯片分别投入到对应的分类盒5内，达到芯片检测后分类存放的效果。
所述吸料机构23包括第三壳体231；示例性的，如图6所示。
所述第三壳体231的内壁一端固定连接有横管232，所述横管232的另一端连通有负压泵，且所述负压泵的底端与第三壳体231的内壁底端固定连接，所述横管232的顶端呈等距状固定且连通有若干组竖管233，若干组所述竖管233的顶端均延伸至第三壳体231的顶端表面，所述第三壳体231的底端两侧与第三电动推杆234的输出端传动连接，且所述第三电动推杆234的底端与第二壳体21的内壁底端固定连接。
具体的，所述第三电动推杆234的输出端向上推动第三壳体231，使若干组竖管233的端口处与芯片的底部接触，利用负压泵的持续工作使竖管233的端部口处形成负压，用于若干组竖管233吸附芯片底部。
所述第一联动组件3包括第三横板31；示例性的，如图7所示。
所述第三横板31的表面开设有第二导向槽32，所述第三横板31的一端固定连接有第一竖板33，所述第三横板31的另一端固定连接有第二导向块34，所述第二导向块34的表面开设有内螺纹孔35，且所述内螺纹孔35均与第一丝杆螺接，所述第三横板31的底端与第一横板11的顶端滑动连接，所述第一竖板33与第二导向块34分别滑动连接在第一横板11的外壁两侧，所述第三横板31的底端对称设置有四组锁紧销，且四组所述锁紧销均插接在锁紧孔17内，若干组所述挤压块111垂直于第二导向槽32的底端，且若干组所述挤压块111由第二导向槽32的一端延伸至另一端。
具体的，所述传动机构18带动两组第二导向块34螺接传动，使第三横板31带动第一壳体16同步移动。
所述第二联动组件4包括第四横板41；示例性的，如图8所示。
所述第四横板41的底端一侧固定连接有第二竖板42，所述第二竖板42的底端转动连接有导向辊43，所述第四横板41的表面开设有第三导向槽44，所述第三导向槽44内贯穿滑动连接有水平仪45，所述水平仪45的外壁两侧对称固定连接有两组联动块46，两组所述联动块46上螺接有第二丝杆47，所述第二丝杆47的底端转动连接有轴承48，且所述轴承48的底端与第四横板41的顶端固定连接，所述第四横板41的顶端对称固定连接有两组第三竖板410，且所述第三竖板410的外壁固定连接有第二电机49，所述第二电机49的输出端与第二丝杆47的顶端传动连接，所述第四横板41的顶端固定连接有高清摄像头411，且所述高清摄像头411安装在水平仪45的指管一侧。
进一步的，所述第二竖板42与第一电动推杆14的输出端传动连接。
进一步的，所述第二竖板42的一侧外壁固定连接PLC控制器，且所述PLC控制器分别与第一电动推杆14、第二电动推杆227、第三电动推杆234、压力传感器19、双轴电机221、高清摄像头411、第一电机和第二电机49电性连接。
具体的，所述第一电动推杆14带动第二竖板42移动，使第四横板41滑动连接在第一导向槽13内，两侧相互靠近的第四横板41水平移动至芯片的顶端，对芯片进行平整度的检测；
两组所述第四横板41的端部相互靠近后，利用第二电机49带动第二丝杆47的转动，使两组水平仪45垂直下移分别对芯片的顶端两侧进行水平度的精准检测，并通过高清摄像头411将每组水平仪45检测后的结果拍摄。
利用本发明实施例提出的一种扩展式半导体测试平台，其工作原理如下：
首先通过机械手将待测试的芯片吸附固定后转运到第二壳体21的顶端，使芯片的底部水平放置在第三壳体231的顶端，并通过第三电动推杆234的输出端向上推动第三壳体231，使若干组竖管233的端口处与芯片的底部接触，利用负压泵的持续工作使竖管233的端部口处形成负压，用于若干组竖管233同时吸附一个待测试芯片的底部；
通过传动机构18带动两组第二导向块34螺接传动，使第三横板31带动第一壳体16同步移动，将第二导向槽32调节至适合芯片针脚宽度的距离；
通过第三电动推杆234的下移，使芯片的针脚贯穿第二导向槽32并落入到挤压块111上，符合标准的芯片针脚挤压弹簧110，对应位置的压力传感器19接收到感应信号并传递给PLC控制器；
PLC控制器分析后判断检测芯片的针脚是否符合标准，若不符合标准停止负压泵的供电，第二电动推杆227向上移动，使皮带223与芯片底端接触，并在双轴电机221的转动作用下驱动皮带223输出传递，将不符合标准的芯片传递到分类盒5的内部一侧；
PLC控制器分析后判断检测芯片的针脚符合标准的，PLC控制器控制第一电动推杆14进行回缩，使两组第四横板41相互靠近，对芯片的顶面平整度进行快速检测；
通过第二电机49带动第二丝杆47的转动，使两组水平仪45垂直下移分别对芯片的顶端两侧进行水平度的精准检测，并通过高清摄像头411将每组水平仪45检测后的结果拍摄；
通过两组第一电动推杆14的回缩，使两组第二竖板42与第一横板11的两端贴合，用于测试平台在使用完毕后的折叠收纳，节省了测试平台的占地空间，并将分类盒5由第一横板11的底端分离后，可方便对分类后的芯片进行取料。
尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：包括安装组件(1)、导向组件(2)、两组第一联动组件(3)和两组第二联动组件(4)；
所述安装组件(1)包括第一横板(11)；所述第一横板(11)的顶端对称开设有两组第一安装槽(15)，两组所述第一安装槽(15)的内壁底端均滑动连接有第一壳体(16)，所述第一壳体(16)的内壁底端固定连接有若干组压力传感器(19)，若干组所述压力传感器(19)的顶端检测端均设置有弹簧(110)，且所述弹簧(110)的顶端均设置有挤压块(111)；
所述第一横板(11)的外壁一端固定连接有传动机构(18)，所述传动机构(18)分别与两组所述第一联动组件(3)和第一壳体(16)传动连接，所述导向组件(2)嵌入安装在安装组件(1)的顶端，两组所述第二联动组件(4)呈对称状滑动连接在安装组件(1)的两端，所述安装组件(1)的底端固定连接有分类盒(5)，且所述分类盒(5)的顶端开口处位于导向组件(2)的两端。
2.根据权利要求1所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述安装组件(1)还包括两组第一电动推杆(14)；
两组所述第一电动推杆(14)呈对称状嵌入安装在第一横板(11)的内部，且两组所述第一电动推杆(14)的输出端均延伸至第一横板(11)的外部，所述第一横板(11)的顶端对称固定连接有两组第一导向块(12)，两组所述第一导向块(12)的表面均开设有第一导向槽(13)。
3.根据权利要求1所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述导向组件(2)包括第二壳体(21)；所述第二壳体(21)为敞开式结构，且所述第二壳体(21)的内壁分别滑动连接有下料机构(22)和吸料机构(23)，所述下料机构(22)滑动连接在吸料机构(23)的两侧。
4.根据权利要求3所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述下料机构(22)包括两组双轴电机(221)；
两组所述双轴电机(221)的输出端均传动连接有主动轮(222)，两组所述主动轮(222)上均套接有皮带(223)，所述主动轮(222)的一端均转动连接有轴承座(224)，两组所述轴承座(224)的底端固定连接有第二横板(225)，所述第二横板(225)的顶端与双轴电机(221)的底端固定连接有支撑杆(226)，所述第二横板(225)的底端与第二电动推杆(227)的输出端传动连接，且所述第二电动推杆(227)的底端与第二壳体(21)的内壁底端固定连接。
5.根据权利要求3所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述吸料机构(23)包括第三壳体(231)；
所述第三壳体(231)的内壁一端固定连接有横管(232)，所述横管(232)的另一端连通有负压泵，且所述负压泵的底端与第三壳体(231)的内壁底端固定连接，所述横管(232)的顶端呈等距状固定且连通有若干组竖管(233)。
6.根据权利要求5所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：若干组所述竖管(233)的顶端均延伸至第三壳体(231)的顶端表面，所述第三壳体(231)的底端两侧与第三电动推杆(234)的输出端传动连接，且所述第三电动推杆(234)的底端与第二壳体(21)的内壁底端固定连接。
7.根据权利要求1所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述第一联动组件(3)包括第三横板(31)；
所述第三横板(31)的表面开设有第二导向槽(32)，所述第三横板(31)的一端固定连接有第一竖板(33)，所述第三横板(31)的另一端固定连接有第二导向块(34)，所述第二导向块(34)的表面开设有内螺纹孔(35)，且所述内螺纹孔(35)均与第一丝杆螺接，所述第三横板(31)的底端与第一横板(11)的顶端滑动连接。
8.根据权利要求7所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述第一竖板(33)与第二导向块(34)分别滑动连接在第一横板(11)的外壁两侧，所述第三横板(31)的底端对称设置有四组锁紧销，且四组所述锁紧销均插接在锁紧孔(17)内，若干组所述挤压块(111)垂直于第二导向槽(32)的底端，且若干组所述挤压块(111)由第二导向槽(32)的一端延伸至另一端。
9.根据权利要求1所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述第二联动组件(4)包括第四横板(41)；
所述第四横板(41)的底端一侧固定连接有第二竖板(42)，所述第二竖板(42)的底端转动连接有导向辊(43)，所述第四横板(41)的表面开设有第三导向槽(44)，所述第三导向槽(44)内贯穿滑动连接有水平仪(45)，所述水平仪(45)的外壁两侧对称固定连接有两组联动块(46)，两组所述联动块(46)上螺接有第二丝杆(47)，所述第二竖板(42)与第一电动推杆(14)的输出端传动连接，所述第四横板(41)滑动连接在第一导向槽(13)内。
10.根据权利要求9所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述第二丝杆(47)的底端转动连接有轴承(48)，且所述轴承(48)的底端与第四横板(41)的顶端固定连接，所述第四横板(41)的顶端对称固定连接有两组第三竖板(410)，且所述第三竖板(410)的外壁固定连接有第二电机(49)，所述第二电机(49)的输出端与第二丝杆(47)的顶端传动连接，所述第四横板(41)的顶端固定连接有高清摄像头(411)，且所述高清摄像头(411)安装在水平仪(45)的指管一侧。
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