CN114813590A - 样本检测方法、样本分析仪及其控制装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了样本检测方法、样本分析仪及其控制装置，该样本检测方法包括：光源模块向样本发射探测光束；传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；处理模块基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；处理模块在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块基于光学检测法对样本进行检测。基于上述方式，可有效提高样本检测效率。

Description

样本检测方法、样本分析仪及其控制装置

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别是涉及样本检测方法、样本分析仪及其控制装置。

背景技术

现有技术中，通常会向患者采集血浆、血清、尿液等样本，并对样本中的特定物质浓度、活性进行检测，以获得相应的检测数据。以对血浆样本进行检测为例，该检测所涉及的检测方法通常包括光学检测法、磁珠法，其中，光学检测法所消耗的成本较低，故通常会采用光学检测法对样本进行检测。

现有技术的缺陷在于，若所采集的样本中含有溶血、乳糜、黄疸等症状所对应的干扰物时，极易导致样本出现颜色上的变化。举例说明，含有乳糜症状所对应干扰物的血浆样本会呈现乳白色，含有黄疸症状所对应干扰物的血浆样本会呈现深黄色或黄绿色，含溶血剂的血浆样本会呈现红色，而正常血浆则为淡黄色，甚至几乎透明，这种样本颜色上的变化极易导致采用光学检测法对样本进行检测时，难以得到正确的分析结果。若出现采用光学检测法对样本检测失败的情况，则需要对样本提供者重新进行样本的采集，以及采用其它检测方法（如磁珠法）对重新采集得到的样本进行检测，使得整个样本采集过程耗时过长，故现有样本检测方法的检测效率较低。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是如何提高样本检测效率。

为了解决上述技术问题，本申请采用的第一个技术方案是：一种样本检测方法样本识别方法，应用于样本识别装置样本分析仪，样本识别装置样本分析仪包括光源模块、传感器模块、处理模块和光学检测模块；样本识别方法样本检测方法包括：光源模块向样本发射探测光束；传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；处理模块基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；处理模块在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块基于光学检测法对样本进行检测。

其中，样本分析仪还包括磁珠检测模块；样本检测方法还包括：处理模块在干扰程度达到预设程度阈值时，控制磁珠检测模块基于磁珠法对样本进行检测。

其中，传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，包括：传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强；处理模块基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，包括：处理模块基于红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

其中，处理模块基于红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，包括：处理模块基于红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，确定样本的颜色；处理模块在样本的颜色达到预设阈值时确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，并在样本的颜色未达到预设阈值时确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值。

其中，传感器模块包括颜色传感器；传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，包括：传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并基于颜色传感器从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强。

其中，颜色传感器包括红色滤光器、绿色滤光器、蓝色滤光器和光强传感器；传感器模块基于颜色传感器从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，包括：传感器模块通过红色滤光器滤出透射光束和/或反射光束中的红色光束，并通过光强传感器获取红色光束的光强；传感器模块通过绿色滤光器滤出透射光束和/或反射光束中的绿色光束，并通过光强传感器获取绿色光束的光强；传感器模块通过蓝色滤光器滤出透射光束和/或反射光束中的蓝色光束，并通过光强传感器获取蓝色光束的光强。

其中，处理模块在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块基于光学检测法对样本进行检测，包括：处理模块在干扰程度未达到预设程度阈值时，重新执行传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，处理模块基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤；处理模块在干扰程度连续未达到预设程度阈值的次数达到预设次数阈值时，控制光学检测模块基于光学检测法对样本进行检测。

其中，样本分析仪还包括磁珠检测模块；样本检测方法还包括：处理模块在干扰程度连续未达到预设程度阈值的次数未达到预设次数阈值时，控制磁珠检测模块基于磁珠法对样本进行检测。

其中，传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，包括：传感器模块接收探测光束经样本透射出的透射光束和反射出的反射光束；处理模块基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，包括：处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；若处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则处理模块判定干扰程度未达到预设程度阈值。

其中，在处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值之后，样本检测方法还包括：若处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则重新执行处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤；若处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则处理模块判定干扰程度达到预设程度阈值。

其中，在处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值之后，样本检测方法还包括：若处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，则处理模块判定干扰程度达到预设程度阈值。

为了解决上述技术问题，本申请采用的第二个技术方案是：一种样本分析仪，包括光源模块、传感器模块、处理模块和光学检测模块；光源模块用于向样本发射探测光束；传感器模块用于接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；处理模块用于基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；处理模块还用于在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块基于光学检测法对样本进行检测。

为了解决上述技术问题，本申请采用的第三个技术方案是：一种样本分析仪的控制装置，包括光源模块、传感器模块、处理模块和光学检测模块；光源模块用于向样本发射探测光束；传感器模块用于接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；处理模块用于基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；处理模块还用于在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块基于光学检测法对样本进行检测。

本申请的有益效果在于：区别于现有技术，本申请的技术方案通过对样本发射探测光束，并基于相应的透射光束和/或反射光束确定样本中高端干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，以及仅在干扰程度未达到预设程度阈值时采用光学检测法对样本进行检测，避免出现采用光学检测法对样本进行检测时失败，而需二次采集样本以进行二次样本检测的情况发生，提高了样本检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请样本分析仪的一实施例的结构示意图；

图2是本申请样本检测方法的一实施例的流程示意图；

图3是光源模块和传感器模块的一实施例的结构示意图；

图4是光源模块和传感器模块的另一实施例的结构示意图；

图5是本申请样本分析仪的另一实施例的结构示意图；

图6是本申请样本检测方法的另一实施例的流程示意图；

图7是本申请样本分析仪的又一实施例的结构示意图；

图8是本申请样本分析仪的控制装置的一实施例的结构示意图；

图9是本申请样本分析仪的再一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本申请作进一步的详细描述。特别指出的是，以下实施例仅用于说明本申请，但不对本申请的范围进行限定。同样的，以下实施例仅为本申请的部分实施例而非全部实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。

本申请的描述中，需要说明书的是，除非另外明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械来能接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间隔相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况连接上述属于在本申请的具体含义。

本申请首先提出一种样本检测方法，该样本检测方法应用于样本分析仪，参见图1和图2，图1是本申请样本分析仪的一实施例的结构示意图，图2是本申请样本检测方法的一实施例的流程示意图。在第一实施例中，如图1所示，样本分析仪10包括光源模块11、传感器模块12、处理模块13和光学检测模块14。

如图2所示，样本检测方法包括：

步骤S11：光源模块11向样本发射探测光束。

其中，光源模块11可包括光源和透镜，透镜设置于光源与盛放样本的样本容器之间。该样本容器为透明材质，例如玻璃试管或塑胶试管，光源模块11控制光源向样本容器发射探测光束，以使探测光束能够经样本容器透射出相应的透射光束和/或经样本容器反射出相应的反射光束。

步骤S12：传感器模块12接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束。

其中，传感器模块12可包括光电传感器，光电传感器设置于透射光束和/或反射光束的光路上，传感器模块12基于光电传感器接收探测光束经样本容器透射出的相应透射光束和/或反射出的反射光束，以将透射光束和/或反射光束转换为电信号，以获取透射光束和/或反射光束中蕴含的光学信息。

步骤S13：处理模块13基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

其中，处理模块13可基于透射光束和/或反射光束中蕴含的光学信息，确定样本容器内的样本中是否存在干扰物，以及干扰物的浓度是否过高，若干扰物的浓度过高而易导致光学检测模块14检测失败，则可判定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，反之，若干扰物的浓度较低而并不足以导致光学检测模块14检测失败，则可判定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值。

因此，该干扰程度可以是指干扰物的浓度，而预设程度阈值可以是指干扰物的浓度阈值。干扰物可以是样本中含有溶血、乳糜、黄疸等症状时存在的特定物质，该特定物质会使样本颜色发生异常的改变。

步骤S14：处理模块13在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块14基于光学检测法对样本进行检测。

其中，在样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值时，可判定光学检测模块14能够基于光学检测法，成功获取样本的检测结果，而不会因干扰物的存在而导致光学检测法检测失败，故此时可控制光学检测模块14基于光学检测法对样本进行检测，检测成功率较高，降低了此后仍需二次采集样本进行二次检测的风险，提高了样本检测的检测效率。

举例说明，在一应用场景中，参见图3，图3是光源模块和传感器模块的一实施例的结构示意图，如图3所示，光源模块11包括光源111和透镜112，传感器模块12包括光电传感器121，样本置于样本容器15中，透镜112设置于光源111与样本容器之间，光电传感器121设置于上述透射光束的光路上，也即光源111与光电传感器121位于试管的两侧。

在另一应用场景中，参见图4，图4是光源模块和传感器模块的另一实施例的结构示意图，如图4所示，光源模块11包括光源111和透镜112，传感器模块12包括光电传感器121，样本置于样本容器15中，透镜112设置于光源111与样本容器之间，光电传感器121设置于上述反射光束的光路上，也即光源111与光电传感器121位于试管的同一侧。

具体地，光电传感器121可以是颜色传感器，颜色传感器可用于分别接收透射光束和/或反射光束中的红色光束、绿色光束和蓝色光束。

区别于现有技术，本申请的技术方案通过对样本发射探测光束，并基于相应的透射光束和/或反射光束确定样本中高端干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，以及仅在干扰程度未达到预设程度阈值时采用光学检测法对样本进行检测，避免出现采用光学检测法对样本进行检测时失败，而需二次采集样本以进行二次样本检测的情况发生，提高了样本检测效率。

本申请还提出一种样本检测方法，该样本检测方法应用于样本分析仪，参见图5和图6，图5是本申请样本分析仪的另一实施例的结构示意图，图6是本申请样本检测方法的另一实施例的流程示意图。在第二实施例中，如图5所示，样本分析仪10包括光源模块11、传感器模块12、处理模块13、光学检测模块14和磁珠检测模块16。

如图6所示，样本检测方法包括：

步骤S21：光源模块11向样本发射探测光束。

步骤S22：传感器模块12接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束。

步骤S23：处理模块13基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

步骤S24：处理模块13在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块14基于光学检测法对样本进行检测。

步骤S25：处理模块13在干扰程度达到预设程度阈值时，控制磁珠检测模块16基于磁珠法对样本进行检测。

其中，在样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值时，可判定光学检测模块14无法基于光学检测法成功获取样本的检测结果，故此时可控制磁珠检测模块16基于磁珠法对样本进行检测，磁珠法虽然成本较高但不会收到上述干扰物的干扰，能够成功获取样本的检测结果，从而降低了此后仍需二次采集样本进行二次检测的风险，进一步提高了样本检测的检测效率。

需要说明的是，第二实施例中的步骤S21-S24与第一实施例中的步骤S11-S14相对应，此处不再赘述。

步骤S24和步骤S25并无先后顺序限制，在基于步骤S23确定干扰程度未达到预设程度阈值时，执行步骤S24，在基于步骤S23确定干扰程度达到预设程度阈值时，执行步骤S25。

区别于现有技术，本申请的技术方案通过对样本发射探测光束，并基于相应的透射光束和/或反射光束确定样本中高端干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，以及仅在干扰程度未达到预设程度阈值时采用光学检测法对样本进行检测，避免出现采用光学检测法对样本进行检测时失败，而需二次采集样本以进行二次样本检测的情况发生，提高了样本检测效率。

在一实施例中，参见图9，图9是本申请样本分析仪的再一实施例的结构示意图，如图9所示，样本分析仪包括光源模块41、传感器模块42、加样模块43、处理模块（图未示）、反应杯模块44、试剂模块45、样本模块46、采样模块47、光学检测模块48和磁珠检测模块49。

样本模块46用于存储采集到的样本。试剂模块45用于存储待与样本进行反应的试剂。反应杯模块44存放有若干个空的反应杯。加样模块43用于在判断样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值时，暂时存放含有样本的反应杯。试剂模块45用于存储光学检测法或磁珠法所需试剂。

采样模块47用于从反应杯模块44中获取空的反应杯并将其置于加样模块43，从样本模块46处获取样本并将样本置入位于加样模块43中的反应杯内。光源模块41用于向样本发射探测光束。传感器模块42用于接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束。处理模块用于基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

处理模块用于在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块48基于光学检测法对样本进行检测。处理模块还用于在干扰程度达到预设程度阈值时，控制磁珠检测模块49基于光学检测法对样本进行检测。

本申请还提出一种样本检测方法，该样本检测方法应用于样本分析仪，在第三实施例中，该样本分析仪与图1所示样本分析仪相对应，该样本检测方法与图2所示样本检测方法相对应，此处不再赘述。

在一实施例中，步骤S12具体可包括：传感器模块12接收探测光束经样本透射出的透射光束反射出的反射光束，并从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强。

步骤S13具体可包括：处理模块13基于红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

具体地，传感器模块12内用于接收光束的光电传感器为颜色传感器。

传感器模块12接收探测光束从样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，具体可包括：传感器模块12接收探测光束从样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并基于颜色传感器从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强。

可选地，处理模块13基于红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，具体可包括：

处理模块13基于红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，确定样本的颜色。

处理模块13在样本的颜色达到预设阈值时确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，并在样本的颜色未达到预设阈值时确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值。

具体地，通过获取得到透射光束和/或反射光束中的红色光束的光强、透射光束和/或反射光束中的绿色光束的光强和透射光束和/或反射光束中的蓝色光束的光强，并基于预设合成算法和三种颜色光束的光强，确定样本的颜色，进而可基于样本的颜色，确定该颜色是否在颜色阈值范围内，若在则可确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，若不在则可确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值。

进一步地，颜色传感器包括红色滤光器、绿色滤光器、蓝色滤光器和光强传感器。

传感器模块12基于颜色传感器从透射光束和/或反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，具体可包括：

传感器模块12通过红色滤光器滤出透射光束和/或反射光束中的红色光束，并通过光强传感器获取红色光束的光强。传感器模块12通过绿色滤光器滤出透射光束和/或反射光束中的绿色光束，并通过光强传感器获取绿色光束的光强。传感器模块12通过蓝色滤光器滤出透射光束和/或反射光束中的蓝色光束，并通过光强传感器获取蓝色光束的光强。

需要说明的是，颜色传感器可以是一种把硅光电二极管与电流频率转换器集成在一CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体）电路，并设置有红绿蓝三色滤光器的器件，可在选择使用不同颜色的滤光器时，使得该颜色传感器只接收相应颜色的光束，以转化为电信号。

在一实施例中，步骤S14具体可包括：

处理模块13在干扰程度未达到预设程度阈值时，重新执行步骤S12和步骤S13。处理模块13在干扰程度连续未达到预设程度阈值的次数达到预设次数阈值时，控制光学检测模块14基于光学检测法对样本进行检测。

具体地，为避免样本中的干扰物出现移动至探测光束的光路以外的地方，而导致基于步骤S13得到的确定结果认为样本中干扰程度不足的情况发生，在干扰程度未达到预设程度阈值时，可重复执行步骤S12及步骤S13，并在每一次检测到干扰程度未达到预设程度阈值时再一次重复执行步骤S12及步骤S13。若连续若干次数均检测到干扰程度未达到预设程度阈值，且该若干次数达到预设次数阈值，则可控制干扰程度未达到预设程度阈值。

基于上述方式，可进一步提高光学检测方法的成功率，提高样本检测方法的效率。

此外，处理模块13在干扰程度未达到预设程度阈值时，重新执行步骤S12和步骤S13，具体可包括：处理模块13在干扰程度未达到预设程度阈值时，等待预设时长并重新执行步骤S12和步骤S13。

基于上述方式，可在样本中的物质充分运动过后，再进行干扰程度的检测，以提高检测到样本中可能存在的干扰物的概率，提高样本检测方法的可靠性。

可选地，如图5所示，样本分析仪10还包括磁珠检测模块16。

样本检测方法还包括：

处理模块13在干扰程度连续未达到预设程度阈值的次数未达到预设次数阈值时，控制磁珠检测模块16基于磁珠法对样本进行检测。

具体地，举例说明，若连续三次检测到干扰程度未达到预设程度阈值，而在连续执行步骤S12和步骤S13的总次数达到四次时，检测到干扰程度达到预设程度阈值，假设预设次数阈值为4次或4次以上，则可认为干扰程度连续未达到预设程度阈值的次数未达到预设次数阈值，此时可控制磁珠检测模块16基于磁珠法对样本进行检测。

基于上述方式，可在样本中干扰程度过高时，采用磁珠法对样本进行检测，以避免采用光学检测法检测样本失败而需要二次样本采集、检测的情况发生，提高了样本检测的效率。

在一实施例中，步骤S12具体可包括：传感器模块12接收探测光束经样本透射出的透射光束和反射出的反射光束。

步骤S13具体可包括：处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则处理模块13判定干扰程度未达到预设程度阈值。

具体地，可使传感器模块12分别接收探测光束经过样本透射出的透射光束，和探测光束经样本反射出的反射光束，并使得与传感器模块12连接的处理模块13根据接收到的透射光束和反射光束综合判断样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

在处理模块13基于透射光束进行数据处理得到的判断结果，和基于反射光束进行数据处理得到的判断结果，均为样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值时，可直接确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值。

基于上述方式，可在处理模块13基于透射光束和反射光束进行数据处理后均得到样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值的判断结果后，才最终确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，进而可基于最终确定的判断结果，确定后续的执行步骤，采用合适的检测方法对样本进行检测（例如前文实施例中提到的，处理模块13在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块14基于光学检测法对样本进行检测），提高了样本检测的准确率。

可选地，在处理模块基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值之后，步骤S13具体还可包括：

若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则重新执行处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤。

若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则处理模块13判定干扰程度达到预设程度阈值。

具体地，在处理模块13基于透射光束进行数据处理得到的判断结果，和基于反射光束进行数据处理得到的判断结果中，若存在一个判断结果为样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，而另一个判断结果为样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则暂时不作判断结果的最终确定，而是控制处理模块13重新执行基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤，以使得处理模块13重新基于接收到的透射光束和反射光束进行样本中的干扰物的干扰程度的判断。

接着，若在处理模块13第二次执行上述基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤后，在处理模块13基于透射光束和反射光束所得到的两个判断结果中，仍然存在一个判断结果为样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，而另一个判断结果为样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则最终确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，进而可基于最终确定的判断结果，确定后续的执行步骤，采用合适的检测方法对样本进行检测（例如前文实施例中提到的，在处理模块13在干扰程度达到预设程度阈值时，控制磁珠检测模块16基于磁珠法对样本进行检测），提高了样本检测的准确率。

进一步地，若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则重新执行处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤，具体可包括：

若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则：

改变光源模块11与样本之间的相对位置，之后，重新执行处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤。

具体地，样本可被盛放在透明容器中，例如盛放在试管中。

改变光源模块11与样本之间的相对位置，具体可以是通过移动光源模块11，以改变光源模块11对样本发射探测光束时，探测光束照射样本的方向和角度，或者，可以是通过转动试管，以改变光源模块11对样本发射探测光束时，探测光束照射样本的方向和角度。

此外，还可以使得试管相对于光源模块11进行倾斜，也即改变探测光束照射向试管壁的角度，以使后续通过探测光束产生与第一次发射探测光束时不同的透射光束和反射光束。

可通过改变光源模块11与样本之间的相对位置，再重新执行上述判断干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤，使得光源模块11所发出的探测光束能够以不同方向和角度重新照射样本，并产生新的透射光束和新的反射光束，进而基于新的透射光束和新的反射光束进行上述判断，若在此情况下，仍基于新的透射光束或新的反射光束判定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，则样本中的该干扰程度达到预设程度阈值的可能性较大，此时可最终确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值。

基于上述方式，得到的最终确定的样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值的确定结果较为准确，可进一步确保样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值时，不再采用光学检测模块14基于光学检测法对样本进行检测，降低了检测错误的风险，提高了样本检测的准确率。

可选地，在处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值之后，步骤S13具体还可包括：

若处理模块13基于透射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且处理模块13基于反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，则处理模块13判定干扰程度达到预设程度阈值。

具体地，在处理模块13基于透射光束进行数据处理得到的判断结果，和基于反射光束进行数据处理得到的判断结果，均为样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值时，可直接确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值。

基于上述方式，可在处理模块13基于透射光束和反射光束进行数据处理后均得到样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值的判断结果后，才最终确定样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，进而可基于最终确定的判断结果，确定后续的执行步骤，采用合适的检测方法对样本进行检测（例如前文实施例中提到的，在处理模块13在干扰程度达到预设程度阈值时，控制磁珠检测模块16基于磁珠法对样本进行检测），提高了样本检测的准确率。

区别于现有技术，本申请的技术方案通过对样本发射探测光束，并基于相应的透射光束和/或反射光束确定样本中高端干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，以及仅在干扰程度未达到预设程度阈值时采用光学检测法对样本进行检测，避免出现采用光学检测法对样本进行检测时失败，而需二次采集样本以进行二次样本检测的情况发生，提高了样本检测效率。

本申请还提出一种样本分析仪，参见图7，图7是本申请样本分析仪的又一实施例的结构示意图，样本分析仪20包括光源模块21、传感器模块22、处理模块23和光学检测模块24。

光源模块21用于向样本发射探测光束。

传感器模块22用于接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束。

处理模块23用于基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

处理模块23还用于在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块24基于光学检测法对样本进行检测。

区别于现有技术，本申请的技术方案通过对样本发射探测光束，并基于相应的透射光束和/或反射光束确定样本中高端干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，以及仅在干扰程度未达到预设程度阈值时采用光学检测法对样本进行检测，避免出现采用光学检测法对样本进行检测时失败，而需二次采集样本以进行二次样本检测的情况发生，提高了样本检测效率。

本申请还提出一种样本分析仪的控制装置，参见图8，图8是本申请样本分析仪的控制装置的一实施例的结构示意图，控制装置30包括光源模块31、传感器模块32、处理模块33和光学检测模块34。

光源模块31用于向样本发射探测光束。

传感器模块32用于接收探测光束经样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束。

处理模块33用于基于透射光束和/或反射光束确定样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

处理模块33还用于在干扰程度未达到预设程度阈值时，控制光学检测模块34基于光学检测法对样本进行检测。

区别于现有技术，本申请的技术方案通过对样本发射探测光束，并基于相应的透射光束和/或反射光束确定样本中高端干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，以及仅在干扰程度未达到预设程度阈值时采用光学检测法对样本进行检测，避免出现采用光学检测法对样本进行检测时失败，而需二次采集样本以进行二次样本检测的情况发生，提高了样本检测效率。

在本申请的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行***、装置或设备(可以是个人计算机，服务器，网络设备或其他可以从指令执行***、装置或设备取指令并执行指令的***)使用，或结合这些指令执行***、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行***、装置或设备或结合这些指令执行***、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器( RAM )，只读存储器(ROM )，可擦除可编辑只读存储器( EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器( CDROM )。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (13)

1.一种样本检测方法，其特征在于，应用于样本分析仪，所述样本分析仪包括光源模块、传感器模块、处理模块和光学检测模块；

所述样本检测方法包括：

所述光源模块向样本发射探测光束；

所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；

所述处理模块基于所述透射光束和/或所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；

所述处理模块在所述干扰程度未达到所述预设程度阈值时，控制所述光学检测模块基于光学检测法对所述样本进行检测。

2.根据权利要求1所述的样本检测方法，其特征在于，所述样本分析仪还包括磁珠检测模块；

所述样本检测方法还包括：

所述处理模块在所述干扰程度达到所述预设程度阈值时，控制所述磁珠检测模块基于磁珠法对所述样本进行检测。

3.根据权利要求1或2所述的样本检测方法，其特征在于，所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，包括：

所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并从所述透射光束和/或所述反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强；

所述处理模块基于所述透射光束和/或所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，包括：

所述处理模块基于所述红色光束的光强、所述绿色光束的光强和所述蓝色光束的光强，确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值。

4.根据权利要求3所述的样本检测方法，其特征在于，所述处理模块基于所述红色光束的光强、所述绿色光束的光强和所述蓝色光束的光强，确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，包括：

所述处理模块基于所述红色光束的光强、所述绿色光束的光强和所述蓝色光束的光强，确定所述样本的颜色；

所述处理模块在所述样本的颜色达到预设阈值时确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到所述预设程度阈值，并在所述样本的颜色未达到所述预设阈值时确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值。

5.根据权利要求3所述的样本检测方法，其特征在于，所述传感器模块包括颜色传感器；

所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并从所述透射光束和/或所述反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，包括：

所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，并基于所述颜色传感器从所述透射光束和/或所述反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强。

6.根据权利要求5所述的样本检测方法，其特征在于，所述颜色传感器包括红色滤光器、绿色滤光器、蓝色滤光器和光强传感器；

所述传感器模块基于所述颜色传感器从所述透射光束和/或所述反射光束中获取相应的红色光束的光强、绿色光束的光强和蓝色光束的光强，包括：

所述传感器模块通过所述红色滤光器滤出所述透射光束和/或所述反射光束中的红色光束，并通过所述光强传感器获取所述红色光束的光强；

所述传感器模块通过所述绿色滤光器滤出所述透射光束和/或所述反射光束中的绿色光束，并通过所述光强传感器获取所述绿色光束的光强；

所述传感器模块通过所述蓝色滤光器滤出所述透射光束和/或所述反射光束中的蓝色光束，并通过所述光强传感器获取所述蓝色光束的光强。

7.根据权利要求1或2所述的样本检测方法，其特征在于，所述处理模块在所述干扰程度未达到所述预设程度阈值时，控制所述光学检测模块基于光学检测法对所述样本进行检测，包括：

所述处理模块在所述干扰程度未达到所述预设程度阈值时，重新执行所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，所述处理模块基于所述透射光束和/或所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤；

所述处理模块在所述干扰程度连续未达到所述预设程度阈值的次数达到预设次数阈值时，控制所述光学检测模块基于光学检测法对所述样本进行检测。

8.根据权利要求7所述的样本检测方法，其特征在于，所述样本分析仪还包括磁珠检测模块；

所述样本检测方法还包括：

所述处理模块在所述干扰程度连续未达到所述预设程度阈值的次数未达到预设次数阈值时，控制所述磁珠检测模块基于磁珠法对所述样本进行检测。

9.根据权利要求1或2所述的样本检测方法，其特征在于，所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束，包括：

所述传感器模块接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和反射出的反射光束；

所述处理模块基于所述透射光束和/或所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，包括：

所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；

若所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则所述处理模块判定所述干扰程度未达到所述预设程度阈值。

10.根据权利要求9所述的样本检测方法，其特征在于，在所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值之后，所述样本检测方法还包括：

若所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则重新执行所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值的步骤；

若所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，且所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，或者，若所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度未达到预设程度阈值，则所述处理模块判定所述干扰程度达到所述预设程度阈值。

11.根据权利要求9所述的样本检测方法，其特征在于，在所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值，所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值之后，所述样本检测方法还包括：

若所述处理模块基于所述透射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，且所述处理模块基于所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度达到预设程度阈值，则所述处理模块判定所述干扰程度达到所述预设程度阈值。

12.一种样本分析仪，其特征在于，包括光源模块、传感器模块、处理模块和光学检测模块；

所述光源模块用于向样本发射探测光束；

所述传感器模块用于接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；

所述处理模块用于基于所述透射光束和/或所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；

所述处理模块还用于在所述干扰程度未达到所述预设程度阈值时，控制所述光学检测模块基于光学检测法对所述样本进行检测。

13.一种样本分析仪的控制装置，其特征在于，包括光源模块、传感器模块、处理模块和光学检测模块；

所述光源模块用于向样本发射探测光束；

所述传感器模块用于接收所述探测光束经所述样本透射出的透射光束和/或反射出的反射光束；

所述处理模块用于基于所述透射光束和/或所述反射光束确定所述样本中的干扰物的干扰程度是否达到预设程度阈值；

所述处理模块还用于在所述干扰程度未达到所述预设程度阈值时，控制所述光学检测模块基于光学检测法对所述样本进行检测。

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