CN114750510A - 一种缺陷标记及自动剔除方法、***、设备、介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种缺陷标记及自动剔除方法、***、设备、介质,其方法包括:获取来自印刷机的初次检查信息;获取来自复卷机的二次检查信息;将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;发送标记指令信息至缺陷标记设备;根据标记指令信息,生成标记信息;发送标记信息至制袋机,控制制袋机标记出包含缺陷品的包装袋;根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;发送剔除指令信息至理袋机,用于控制理袋机将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。本申请具有提高印刷生产线工作效率的效果。
Description
技术领域
本申请涉及标签印刷的技术领域,尤其是涉及一种缺陷标记及自动剔除方法、***、设备、介质。
背景技术
印刷厂内一般包含有不同的印刷品生产线,例如海报印刷品和标签印刷品。对应的生产线需要对应的管理员进行维护和管理,以便于印刷品生产线持续工作。
相关技术中,印刷品生产线包括印刷机、复卷机和制袋机,印刷机用于连续打印出对应的印刷品带,复卷机则对印刷品带进行复卷和缺陷检测,若无缺陷,则由制袋机进行制袋分装。若存在缺陷,则需要管理者或工人对复卷机进行停机,再人工剔除缺陷,才能重启复卷机并由制袋机对剔除缺陷后的印刷品带进行制袋分装。
针对上述中的相关技术,发明人认为:印刷品带一般存在的缺陷不止一处,而剔除缺陷则必须对复卷机等相关设备进行停机,缺陷越多,停机次数也越多,造成了印刷生产线工作效率降低的缺陷。
发明内容
本申请的目的是提供一种缺陷标记及自动剔除方法、***、设备、介质,具有提高印刷生产线工作效率的效果。
第一方面,本申请提供的一种缺陷标记及自动剔除方法采用如下的技术方案:
一种缺陷标记及自动剔除方法,包括:
获取初次检查信息;所述初次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息和数量信息;
获取来自缺陷标记设备的二次检查信息;所述二次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息;所述缺陷标记设备用于安装于生产线内且位于制袋机之前;
将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;
根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;
发送标记指令信息至缺陷标记设备,用于控制缺陷标记设备在印刷品带对应的位置添加标记;
当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋;
当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;
控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
通过采用上述技术方案,服务器获取初次检查信息和二次检查信息,有利于生成检查质量信息供管理者核对检查情况,服务器根据二次检查信息生成的标记指令信息,有利的快速地控制缺陷标记设备对印刷品带进行缺陷标记,取代人工标记,然后控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋,该包装袋对应有序号信息,基于此生成的剔除指令信息发送至理袋机,理袋机则自动分筛出包括缺陷品的包装袋,实现自动标记缺陷和自动剔除缺陷品,无需人工停机,有利于印刷品生产线快速且连续地生成,从而提高了印刷生产线的工作效率。
可选的,所述根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息,包括:
根据缺陷的类型信息,在预设的标记类型库中匹配对应的标记;
根据缺陷的位置信息,生成对应标记的定位信息;
根据匹配到的标记和对应标记的定位信息,生成标记指令信息。
通过采用上述技术方案,预设的标记类型库有利于服务器快速地根据缺陷的类型信息匹配到对应的标记,根据缺陷的位置信息生成的定位信息有利于确实对应标记的应记录点,进而有利于高效准确地生成标志指令信息。
可选的,所述当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋,包括:
当印刷品带被传送至制袋机时,制袋机配备的缺陷标记识别***对印刷品带进行拍摄,并识别印刷品带上的标记;
根据标记的位置,基于制袋机的制袋规格,计算出包含标记的印刷品所在包装袋的序号;
根据所述序号,对所述包装袋生成标签信息,用于作为数码标签。
通过采用上述技术方案,根据标记的位置信息和制袋机的制袋规格,有利于准确地计算出包含标记的印刷品所在包装袋的序号,进而为对应序号的包装袋生成标签信息,从而有利于准确地确定包含缺陷品的包装袋。
可选的,所述获取来自缺陷标记设备的二次检查信息,之后还包括:
记录各类印刷品带每天的二次检查信息;
基于印刷品带的种类,用预设的统计表整理同一种类的印刷品带每天的二次检查信息;所述预设的统计表包括每天中各个时间段内出现的缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息;
当同种印刷品带的生产天数大于预设天数,则基于生产天数的二次检查信息,生成未来一天的预测信息;所述预测信息包括同种印刷品带在未来一天内出现缺陷的类型信息和数量信息。
通过采用上述技术方案,用预设的统计表整理后的二次检查信息有利于进行观察和选用数据,进而便于快速地生成预测信息,预测信息的设置则便于管理者做好提前准备工作,合理调动工作安排,同时保障生产线的正常工作。
可选的,所述当同种印刷品带的生产天数大于预设天数,则基于生产天数的二次检查信息,生成未来一天的预测信息,包括:
将生产天数中同一时间段内出现缺陷的天数除以生产天数,生成时间段缺陷率;
判断时间段缺陷率是否大于预设值,若是,则在未来一天的统计表中为对应时间段添加缺陷标签;
计算生产天数中所述时间段内各种缺陷的出现占比,生成时间段缺陷类型出现率信息;
将时间段缺陷类型出现率信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内;
计算生产天数中所述时间段内各种缺陷的出现次数的平均数,生成时间段缺陷平均出现次数信息;
将时间段缺陷平均出现次数信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内。
通过采用上述技术方案,时间段缺陷率的设置有利于判断未来一天中对应的时间段内是否会出现缺陷,时间段缺陷类型出现率信息的设置则有利于表示不同类型的出现概率,时间段缺陷平均出现次数信息用于预测各种缺陷的出现次数,从而使得未来一天的预测信息更加准确更加详细,更有利于管理者观察和分析。
可选的,所述控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除,之后还包括:
获取生产线中各种设备的外观数据和工作状态数据;
根据外观数据和工作状态数据,建立生产线的BIM模型。
通过采用上述技术方案,生产线的BIM模型供管理者监控,有利于提供更直观更及时的视觉提示信息,从而便于管理者更好地管理生产线,保障生产线快速持续地工作,从而提高工作效率。
可选的,在所述根据外观数据和工作状态数据,建立生产线的BIM模型,之后还包括:
获取厂内全部生产线的BIM模型;
将厂内全部生产线的BIM模型进行拼接融合,生成工厂生产情况的BIM模型。
通过采用上述技术方案,一名管理者即可监控工厂内全部生产线的工作情况,当出现特殊情况时或者需要维护设备时,管理者可及时安排工人前往对应的生产线进行维护,从而进一步节省人力成本的同时提高工作效率。
第二方面,本申请提供的一种缺陷标记及自动剔除***采用如下的技术方案:
一种缺陷标记及自动剔除***,包括:
初次获取模块,用于获取初次检查信息;
二次获取模块,用于获取来自缺陷标记设备的二次检查信息;
第一生成模块,用于将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;
第二生成模块,用于根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;
第一发送模块,用于发送标记指令信息至缺陷标记设备;
标记识别模块,用于当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋;
第三生成模块,用于当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;
分仓剔除模块,用于控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
通过采用上述技术方案,服务器获取初次检查信息和二次检查信息,有利于生成检查质量信息供管理者核对检查情况,服务器根据二次检查信息生成的标记指令信息,有利的快速地控制缺陷标记设备对印刷品带进行缺陷标记,取代人工标记,然后控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出对应的包含缺陷品的包装袋,该包装袋对应有序号信息,基于此生成的剔除指令信息发送至理袋机,理袋机则自动分筛出包括缺陷品的包装袋,实现自动标记缺陷和自动剔除缺陷品,无需人工停机,有利于印刷品生产线快速且连续地生成,从而提高了印刷生产线的工作效率。
第三方面,本申请提供的一种电子设备采用如下的技术方案:
一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如上述任一种所述的一种缺陷标记及自动剔除方法的计算机程序。
第四方面,本申请提供的一种计算机存储介质采用如下的技术方案:
一种计算机存储介质,包括存储有能够被处理器加载并执行如上述任一种所述的一种缺陷标记及自动剔除方法的计算机程序。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1. 服务器获取初次检查信息和二次检查信息,有利于生成检查质量信息供管理者核对检查情况,服务器根据二次检查信息生成的标记指令信息,有利的快速地控制缺陷标记设备对印刷品带进行缺陷标记,取代人工标记,然后控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋,该包装袋对应有序号信息,基于此生成的剔除指令信息发送至理袋机,理袋机则自动分筛出包括缺陷品的包装袋,实现自动标记缺陷和自动剔除缺陷品,无需人工停机,有利于印刷品生产线快速且连续地生成,从而提高了印刷生产线的工作效率;
2.时间段缺陷率的设置有利于判断未来一天中对应的时间段内是否会出现缺陷,时间段缺陷类型出现率信息的设置则有利于表示不同类型的出现概率,时间段缺陷平均出现次数信息用于预测各种缺陷的出现次数,从而使得未来一天的预测信息更加准确更加详细,更有利于管理者观察和分析;
3.生产线的BIM模型供管理者监控,有利于提供更直观更及时的视觉提示信息,从而便于管理者更好地管理生产线,保障生产线快速持续地工作,从而提高工作效率,一名管理者即可监控工厂内全部生产线的工作情况,当出现特殊情况时或者需要维护设备时,管理者可及时安排工人前往对应的生产线进行维护,从而进一步节省人力成本的同时提高工作效率。
附图说明
图1是本申请实施例中一种缺陷标记及自动剔除方法的方法流程图;
图2是本申请实施例中一种缺陷标记及自动剔除***的模块连接示意图;
图3是本申请实施例中一种电子设备的连接结构示意图。
具体实施方式
印刷品生产线包括印刷、复合、分切和检品等工序,一般地,利用印刷机连续打印出对应的印刷品带,然后依次完成后续的每个工序,最后由制袋机进行制袋分装。相关技术中,生成过程中若发现印刷品带存在缺陷,则需要管理者或工人对复卷机进行停机,再人工剔除缺陷,才能重新启动相关设备并由制袋机对剔除缺陷后的印刷品带进行制袋分装。印刷品带一般存在的缺陷不止一处,且经过不同的工序时均存在新增缺陷的风险,而剔除缺陷则必须对相关设备进行停机,缺陷越多,停机次数也越多,造成了印刷生产线工作效率降低的缺陷。也由于工厂内同时装配有若干条生产线,若每次出现缺陷均需要人工剔除,也会增加用人成本。而且在一般情况下,缺陷出现的概率也较高,人工检错剔除的方式也容易出现遗漏,降低了成品质量。在上述应用背景下,本申请提供一种缺陷标记及自动剔除方法、***、设备、介质,以解决上述问题。
以下结合附图1-附图3,对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开的一种缺陷标记及自动剔除方法。
一种缺陷标记及自动剔除方法,参照图1,包括:
S1,获取初次检查信息。
初次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息和数量信息。
具体的,初次检查为印刷品带经过缺陷标记设备前的第一次检查。本实施例中以印刷机处的检查为例作为举例,印刷机将检测出的初次检查信息发送至服务器。在印刷期间,印刷机上安装的检测***会对印刷品带进行初次检测。需要知道的是,检测***一般包括光学成像***、图像处理***、电气控制和配套***等,所以能检查出印刷品带的缺陷的类型信息和数量信息,进而作为初次检查信息发送至服务器。
其中,光学成像***使用万能光源和背光源,且配合高分辨率彩色线扫描相机,有利于适配各种材质的印刷品上的多种缺陷,而且***性能稳定、抗背景干扰性能好。有利于高亮、高动态范围成像,有效检测暗场和明场的各类缺陷,更加精准和可靠。
S2,获取来自缺陷标记设备的二次检查信息。
二次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息。缺陷标记设备安装于生产线内且位于制袋机之前,且缺陷标记设备可安装于生产线内的每个工序中,例如:印刷、复合、分切和检品等工序。在实际生产中,工人可根据实际情况进行选择性安装,此处不作限定。本申请实施例中,以印刷工序为例,将缺陷标记设备安装于复卷机之后作为例子进行说明。
具体的,二次检查信息为缺陷标记设备之前的第二次检查。本实施例中以复卷机处的检查为例作为举例,复卷机将检测出的二次检查信息发送至服务器。需要知道的是,复卷机的检测***也包括光学成像***、图像处理***、电气控制和配套***等。
其中,检测***应用了检测软件,检测软件的界面包括印刷品带实时检查图像窗口、已发现的缺陷展示窗口和缺陷信息数据统计窗口等。
对于不同的印刷品带类型,需要在工作设备工作前先通过检测软件进行建模。建模方式包括自动建模和手动建模。自动建模是对于各个印刷位置质量要求一致的产品,工人或管理者输入版周长,即可完成一键建模。手动建模则适用于不同区域要求不同检测精度的产品。手动建模过程中,软件选取印刷品带中的单一张印刷品进行提取信息,然后复制为适配印刷品带的大版型中,进而节约建模时间。
对不同缺陷的种类,软件也提供缺陷分计处理设置,可设置的内容包括缺陷名称、缺陷单位、轻微情况参数、一般情况参数和严重情况参数。例如:要检测的缺陷是黑点,则设置缺陷名称为黑点,缺陷单位为面积,轻微情况参数为0.01mm2-3.00mm2,一般情况参数为3.01mm2-4.00mm2,严重情况参数为大于4.00mm2。需要注意的是,本申请对印刷品带进行缺陷标记的缺陷种类可以是但不限于印刷缺陷、异物、蚊虫、复合表面缺陷等。
对于检测完成的每一卷印刷品带,软件基于二次检查信息以及缺陷的图像,生成同一批次的缺陷记录报告,有利于管理员后续浏览或分析。
S3,将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息。
具体的,对比二次检查信息和初次检查信息中的缺陷的类型信息和数量信息,若信息不一致,则生成表示检查质量为差的检查质量信息,把二次检查信息作为最终检查结果。若信息一致,则生成表示检查质量为好的检查质量信息。
其中,检查质量信息和二次检查信息均通过显示屏显示,以便于管理者查阅。
S4,根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息。
具体的,根据缺陷的类型信息,在预设的标记类型库中匹配对应的标记;根据缺陷的位置信息,生成对应标记的定位信息;根据匹配到的标记和对应标记的定位信息,生成标记指令信息。
其中,服务器根据二次检查信息中各个缺陷的类型信息,逐一匹配对应标记,预设的标记类型库为预先设置好缺陷类型信息与对应标记的关系。预设的标记类型库的标记可以是但不限于:矩形框、圆圈和三角形。
对应标记的定位信息的确认步骤为:读取二次检查信息内缺陷的位置信息;将缺陷的位置信息的参数格式转换为缺陷标记设备适配的参数格式。缺陷的位置信息的表现形式可以是但不限于:印刷品带的分联序号和米数。印刷品带包括有工艺边,工艺边在后续制袋步骤时会被切除,工艺边上记录有印刷品带的当前米数和分联序号。
S5,发送标记指令信息至缺陷标记设备。
用于控制缺陷标记设备在印刷品带对应的位置添加标记。
具体的,缺陷标记设备根据标记指令信息进行对应标记动作。需要注意的是,缺陷标记设备可以是但不限于喷码装置和激光标记装置。本申请实施例中采用喷码装置,以便于丰富标记的类型和色彩。
S6,当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋。
具体的,当印刷品带被传送至制袋机时,制袋机配备的缺陷标记识别***对印刷品带进行拍摄,并识别印刷品带上的标记;根据标记的位置,基于制袋机的制袋规格,计算出包含标记的印刷品所在包装袋的序号;根据所述序号,对所述包装袋生成标签信息,用于作为数码标签。
S7,当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息。
S8,控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
具体的,理袋机预先与制袋机连接,当服务器发送剔除指令信息至理袋机,理袋机则根据剔除指令信息,把对应的包装袋从全部包装袋中剔除出来,分开传输。
本申请公开的一种缺陷标记及自动剔除方法的另一实施形式为:
在获取来自缺陷标记设备的二次检查信息,之后还包括:
S21,记录各类印刷品带每天的二次检查信息。
S22,基于印刷品带的种类,用预设的统计表整理同一种类的印刷品带每天的二次检查信息。
具体的,预设的统计表包括每天中各个时间段内出现的缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息。
S23,当同种印刷品带的生产天数大于预设天数,则基于生产天数的二次检查信息,生成未来一天的预测信息。
预测信息包括同种印刷品带在未来一天内出现缺陷的类型信息和数量信息。预设天数可以是但不限于30天、60天和120天。
具体的,将生产天数中同一时间段内出现缺陷的天数除以生产天数,生成时间段缺陷率;判断时间段缺陷率是否大于预设值,若是,则在未来一天的统计表中为对应时间段添加缺陷标签;计算生产天数中时间段内各种缺陷的出现占比,生成时间段缺陷类型出现率信息;将时间段缺陷类型出现率信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内;计算生产天数中时间段内各种缺陷的出现次数的平均数,生成时间段缺陷平均出现次数信息;将时间段缺陷平均出现次数信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内。
例如:预设天数是30天,预设值为50%,第一个时间段的时间段缺陷率为60%,则在未来一天的统计表对应时间段的单元格内添加缺陷标签,表示该时间段内会出现缺陷。若前30天内,该时间段内出现的缺陷A(占比40%)和缺陷B(60%),则将陷A(占比40%)和缺陷B(60%)填入对应时间段的单元格内。若基于该时间段,缺陷A在前30天内每天平均出现次数为3,缺陷B在前30天内每天平均出现次数为10,则将缺陷A平均出现次数3和缺陷B平均出现次数10填入未来一天的统计表对应时间段的单元格内。
在控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除,之后还包括:
S81,获取生产线中各种设备的外观数据和工作状态数据。
S82,根据外观数据和工作状态数据,建立生产线的BIM模型。
具体的,持续获取外观数据和工作状态数据,定期更新BIM模型,使得BIM模型较为准确。
其中,将外观数据和工作状态数据录入revit软件中,建立生产线的BIM模型。通过显示屏对BIM模型进行展示。
S83,获取厂内全部生产线的BIM模型。
S84,将厂内全部生产线的BIM模型进行拼接融合,生成工厂生产情况的BIM模型。
具体的,拼接融合的作用在于使得同一个BIM模型文件中存在厂内全部生产线的模型数据。
参照图2,本申请还公开一种缺陷标记及自动剔除***。
一种缺陷标记及自动剔除***,包括:
初次获取模块200,用于获取初次检查信息;
二次获取模块210,用于获取来自缺陷标记设备的二次检查信息;
第一生成模块220,用于将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;
第二生成模块230,用于根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;
第一发送模块240,用于发送标记指令信息至缺陷标记设备;
标记识别模块250,用于当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋;
第三生成模块260,用于当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;
分仓剔除模块270,用于控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
具体的,一种缺陷标记及自动剔除***包括服务器,初次获取模块、二次获取模块、第一生成模块、第二生成模块、第三生成模块、第一发送模块、标记识别模块和分仓剔除模块集成于服务器中。
参照图3,本申请还公开一种电子设备。一种电子设备300,包括存储器310和处理器320,存储器310上存储有能够被处理器320加载并执行如上述任一种缺陷标记及自动剔除方法的计算机程序。当该计算机程序被处理器320执行时,执行以下步骤:
获取初次检查信息;所述初次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息和数量信息;
获取来自缺陷标记设备的二次检查信息;所述二次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息;所述缺陷标记设备用于安装于生产线内且位于制袋机之前;
将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;
根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;
发送标记指令信息至缺陷标记设备,用于控制缺陷标记设备在印刷品带对应的位置添加标记;
当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋;
当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;
控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
可选的,本申请的实施例中,当计算机程序被处理器320运行时,执行以下步骤:根据缺陷的类型信息,在预设的标记类型库中匹配对应的标记;
根据缺陷的位置信息,生成对应标记的定位信息;
根据匹配到的标记和对应标记的定位信息,生成标记指令信息。
可选的,本申请的实施例中,当计算机程序被处理器320运行时,执行以下步骤:当印刷品带被传送至制袋机时,制袋机配备的缺陷标记识别***对印刷品带进行拍摄,并识别印刷品带上的标记;
根据标记的位置,基于制袋机的制袋规格,计算出包含标记的印刷品所在包装袋的序号;
根据所述序号,对所述包装袋生成标签信息,用于作为数码标签。
可选的,本申请的实施例中,当计算机程序被处理器320运行时,执行以下步骤:记录各类印刷品带每天的二次检查信息;
基于印刷品带的种类,用预设的统计表整理同一种类的印刷品带每天的二次检查信息;所述预设的统计表包括每天中各个时间段内出现的缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息;
当同种印刷品带的生产天数大于预设天数,则基于生产天数的二次检查信息,生成未来一天的预测信息;所述预测信息包括同种印刷品带在未来一天内出现缺陷的类型信息和数量信息。
可选的,本申请的实施例中,当计算机程序被处理器320运行时,执行以下步骤:将生产天数中同一时间段内出现缺陷的天数除以生产天数,生成时间段缺陷率;
判断时间段缺陷率是否大于预设值,若是,则在未来一天的统计表中为对应时间段添加缺陷标签;
计算生产天数中所述时间段内各种缺陷的出现占比,生成时间段缺陷类型出现率信息;
将时间段缺陷类型出现率信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内;
计算生产天数中所述时间段内各种缺陷的出现次数的平均数,生成时间段缺陷平均出现次数信息;
将时间段缺陷平均出现次数信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内。
可选的,本申请的实施例中,当计算机程序被处理器320运行时,执行以下步骤:获取生产线中各种设备的外观数据和工作状态数据;
根据外观数据和工作状态数据,建立生产线的BIM模型。
可选的,本申请的实施例中,当计算机程序被处理器320运行时,执行以下步骤:获取厂内全部生产线的BIM模型;
将厂内全部生产线的BIM模型进行拼接融合,生成工厂生产情况的BIM模型。
本申请实施例还公开一种计算机可读存储介质,存储有能够被处理器加载并执行的计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述任一种缺陷标记及自动剔除方法的步骤,且能达到相同的效果。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink) DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
本申请中的处理器可以包括一个或者多个处理核心。处理器通过运行或执行存储在存储器内的指令、程序、代码集或指令集,调用存储在存储器内的数据,执行本申请的各种功能和处理数据。处理器可以为特定用途集成电路(Application Specific IntegratedCircuit,ASIC)、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、数字信号处理装置(Digital Signal Processing Device,DSPD)、可编程逻辑装置(Programmable LogicDevice,PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)、中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、控制器、微控制器和微处理器中的至少一种。可以理解地,对于不同的设备,用于实现上述处理器功能的电子器件还可以为其它,本申请实施例不作具体限定。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,包括:
获取初次检查信息;所述初次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息和数量信息;
获取来自缺陷标记设备的二次检查信息;所述二次检查信息包括印刷品带的全部缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息;所述缺陷标记设备用于安装于生产线内且位于制袋机之前;
将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;
根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;
发送标记指令信息至缺陷标记设备,用于控制缺陷标记设备在印刷品带对应的位置添加标记;
当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋;
当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;
控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
2.根据权利要求1所述的一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,所述根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息,包括:
根据缺陷的类型信息,在预设的标记类型库中匹配对应的标记;
根据缺陷的位置信息,生成对应标记的定位信息;
根据匹配到的标记和对应标记的定位信息,生成标记指令信息。
3.根据权利要求1所述的一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,所述当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋,包括:
当印刷品带被传送至制袋机时,制袋机配备的缺陷标记识别***对印刷品带进行拍摄,并识别印刷品带上的标记;
根据标记的位置,基于制袋机的制袋规格,计算出包含标记的印刷品所在包装袋的序号;
根据所述序号,对所述包装袋生成标签信息,用于作为数码标签。
4.根据权利要求1所述的一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,所述获取来自缺陷标记设备的二次检查信息,之后还包括:
记录各类印刷品带每天的二次检查信息;
基于印刷品带的种类,用预设的统计表整理同一种类的印刷品带每天的二次检查信息;所述预设的统计表包括每天中各个时间段内出现的缺陷的类型信息、数量信息、图像信息和位置信息;
当同种印刷品带的生产天数大于预设天数,则基于生产天数的二次检查信息,生成未来一天的预测信息;所述预测信息包括同种印刷品带在未来一天内出现缺陷的类型信息和数量信息。
5.根据权利要求4所述的一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,所述当同种印刷品带的生产天数大于预设天数,则基于生产天数的二次检查信息,生成未来一天的预测信息,包括:
将生产天数中同一时间段内出现缺陷的天数除以生产天数,生成时间段缺陷率;
判断时间段缺陷率是否大于预设值,若是,则在未来一天的统计表中为对应时间段添加缺陷标签;
计算生产天数中所述时间段内各种缺陷的出现占比,生成时间段缺陷类型出现率信息;
将时间段缺陷类型出现率信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内;
计算生产天数中所述时间段内各种缺陷的出现次数的平均数,生成时间段缺陷平均出现次数信息;
将时间段缺陷平均出现次数信息添加至未来一天的统计表中对应的时间段内。
6.根据权利要求1所述的一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,所述控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除,之后还包括:
获取生产线中各种设备的外观数据和工作状态数据;
根据外观数据和工作状态数据,建立生产线的BIM模型。
7.根据权利要求6所述的一种缺陷标记及自动剔除方法,其特征在于,在所述根据外观数据和工作状态数据,建立生产线的BIM模型,之后还包括:
获取厂内全部生产线的BIM模型;
将厂内全部生产线的BIM模型进行拼接融合,生成工厂生产情况的BIM模型。
8.一种缺陷标记及自动剔除***,其特征在于,包括:
初次获取模块,用于获取初次检查信息;
二次获取模块,用于获取来自缺陷标记设备的二次检查信息;
第一生成模块,用于将二次检查信息与初次检查信息进行比对,生成用于供管理者查阅的检查质量信息;
第二生成模块,用于根据二次检查信息,生成用于控制缺陷标记设备工作的标记指令信息;
第一发送模块,用于发送标记指令信息至缺陷标记设备;
标记识别模块,用于当印刷品带被传送至制袋机,则控制制袋机配备的缺陷标记识别***识别出包含缺陷品的包装袋;
第三生成模块,用于当包装袋传送至理袋机,则根据包含缺陷品的包装袋的序号信息,生成剔除指令信息;
分仓剔除模块,用于控制理袋机根据剔除指令信息将包含缺陷品的包装袋进行分仓剔除。
9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1-7任一项所述的一种缺陷标记及自动剔除方法的计算机程序。
10.一种计算机存储介质,其特征在于,包括存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1-7任一种所述的一种缺陷标记及自动剔除方法的计算机程序。
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