CN114582259A - 阵列测试子电路、测试电路、测试方法及显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明实施例涉及显示面板测试技术领域，公开了一种阵列测试子电路，通过两根测试信号线(第一测试信号线和第二测试信号线)即可控制连接单个测试单元的多个数据线的信号从一个测试端口依次输出，从而实现显示面板内数据线的短路测试。本发明实施例提供的阵列测试子电路、测试电路、测试方法及显示面板，减少了阵列测试子电路中的测试引线数目、降低了排版难度。

Description

阵列测试子电路、测试电路、测试方法及显示面板

技术领域

本发明实施例涉及显示面板测试技术领域，特别涉及一种阵列测试子电路、测试电路、测试方法及显示面板。

背景技术

随着显示技术的迅速发展，显示面板的应用越来越广泛。其中，对显示面板的安全性的要求也越来越高。

显示面板包括显示区域和非显示区域。非显示区域中集中设置有多条走线，走线中包括数据线。在走线密集区域，临近的数据线之间发生短路的可能性很高。一旦数据线之间发生短路，则会对显示面板的显示效果造成不良影响，从而引起显示面板的良率损失。因此，在显示面板出厂之前需利用阵列测试子电路对数据线是否短路进行测试，但目前的阵列测试子电路中测试引线较多，存在空间摆放不足，排版困难的问题。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种阵列测试子电路、测试电路、测试方法及显示面板，减少阵列测试子电路中的测试引线数目、降低排版难度。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种阵列测试子电路，包括第一测试信号线、第二测试信号线、多个测试端口，以及连接所述第一测试信号线、所述第二测试信号线和所述多个测试端口的多个测试单元；每个所述测试单元包括三个切换模块，每个所述切换模块均包括控制端、输入端、第一输出端和第二输出端，其中，所述控制端被配置为第一电平信号时，所述第一输出端输出信号，所述第二输出端不输出信号，所述控制端被配置为第二电平信号时，所述第一输出端不输出信号，所述第二输出端输出信号，所述第一电平信号和所述第二电平信号极性相反；所述三个切换模块包括第一切换模块、第二切换模块和第三切换模块；所述第一切换模块的所述控制端和所述第二切换模块的所述控制端均连接所述第一测试信号线，所述第一切换模块的所述第一输出端和所述第二输出端分别用于连接显示面板的数据线；所述第三切换模块的所述控制端连接所述第二测试信号线，所述第三切换模块的所述第一输出端连接所述第一切换模块的所述输入端，所述第三切换模块的所述第二输出端连接所述第二切换模块的所述输入端；所述第三切换模块的所述输入端连接一个所述测试端口。

另外，每个所述切换模块均包括两个测试开关，每个所述测试开关均包括栅极、第一极和第二极；所述两个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，其中，所述第一测试开关在所述第一电平信号下导通，在所述第二电平信号下不导通；所述第二测试开关在所述第一电平信号下不导通，在所述第二电平信号下导通；所述第一测试开关的所述第一极和所述第二测试开关的所述第一极相连接作为所述输入端；所述第一测试开关的所述栅极和所述第二测试开关的所述栅极作为所述控制端；所述第一测试开关的所述第二端作为所述第一输出端；所述第二测试开关的所述第二端作为所述第二输出端。

另外，所述第一测试开关为N型开关管，所述第二测试开关为P型开关管。

本发明的实施方式还提供了一种测试电路，包括：面板测试子电路，包括面板测试开关单元，所述面板测试开关单元与显示面板的数据线连接，所述面板测试子电路用于根据接收的多个面板测试控制信号，控制所述面板测试开关单元导通或关断，以传输多个面板测试信号；阵列测试子电路，包括第一测试信号线、第二测试信号线、多个测试端口，以及连接所述第一测试信号线、所述第二测试信号线和所述多个测试端口的多个测试单元；每个所述测试单元包括三个切换模块，每个所述切换模块均包括控制端、输入端、第一输出端和第二输出端，其中，所述控制端被配置为第一电平信号时，所述第一输出端输出信号，所述第二输出端不输出信号，所述控制端被配置为第二电平信号时，所述第一输出端不输出信号，所述第二输出端输出信号，所述第一电平信号和所述第二电平信号极性相反；所述三个切换模块包括第一切换模块、第二切换模块和第三切换模块；所述第一切换模块的所述控制端和所述第二切换模块的所述控制端均连接所述第一测试信号线，所述第一切换模块的所述第一输出端和所述第二输出端分别连接所述数据线；所述第三切换模块的所述控制端连接所述第二测试信号线，所述第三切换模块的所述第一输出端连接所述第一切换模块的所述输入端，所述第三切换模块的所述第二输出端连接所述第二切换模块的所述输入端；所述第三切换模块的所述输入端连接一个所述测试端口。

另外，每个所述切换模块均包括两个测试开关，每个所述测试开关均包括栅极、第一极和第二极；所述两个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，其中，所述第一测试开关在所述第一电平信号下导通，在所述第二电平信号下不导通；所述第二测试开关在所述第一电平信号下不导通，在所述第二电平信号下导通；所述第一测试开关的所述第一极和所述第二测试开关的所述第一极相连接作为所述输入端；所述第一测试开关的所述栅极和所述第二测试开关的所述栅极作为所述控制端；所述第一测试开关的所述第二端作为所述第一输出端；所述第二测试开关的所述第二端作为所述第二输出端。

另外，所述第一测试开关为N型开关管，所述第二测试开关为P型开关管。

本发明的实施方式还提供了一种测试方法，应用于上述测试电路，所述测试方法包括：在一个测试周期内，所述第一测试信号线按第一预设顺序输出由所述第一电平信号和所述第二电平信号形成的第一测试信号、所述第二测试信号线按第二预设顺序输出由所述第一电平信号和所述第二电平信号形成的第二测试信号控制所述测试单元；根据所述面板测试子电路传输的所述多个面板测试信号接收所述测试端口输出的短路判断信号，所述短路判断信号被用于判断所述显示面板内是否存在发生短路的所述数据线。

另外，在一个测试周期内，根据时间顺序所述第一测试信号和所述第二测试信号包括四组电平状态，依次包括：所述第一测试信号为第一电平、所述第二测试信号为第一电平；所述第一测试信号为第二电平、所述第二测试信号为第一电平；所述第一测试信号为第一电平、所述第二测试信号为第二电平；所述第一测试信号为第二电平、所述第二测试信号为第二电平。

另外，在所述根据所述面板测试子电路传输的所述多个面板测试信号接收所述测试端口输出的短路判断信号之后，还包括：判断所述短路判断信号的幅值是否超出预设信号标准幅值范围；若所述短路判断信号超出所述预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线。

本发明的实施方式提供了一种显示面板，包括上述阵列测试子电路，或者，上述测试电路。

本发明实施方式提供了一种阵列测试子电路，由于每个切换模块的控制端被配置为第一电平信号时，第一输出端输出信号，第二输出端不输出信号，每个切换模块的控制端被配置为第二电平信号时，第一输出端不输出信号，第二输出端输出信号，第一电平信号和第二电平信号极性相反。因此，通过将第二测试信号线配置为第一电平信号，此时第三切换模块的第一输出端输出信号；在此状态下将第一测试信号线依次配置为第一电平信号和第二电平信号，此时，第一切换模块的第一输出端和第二输出端依次输出信号，也就是说，测试端口能够依次接收到连接第一切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第一切换模块的第二输出端的数据线的信号。之后，通过将第二测试信号线配置为第二电平信号，此时第三切换模块的第二输出端输出信号；在此状态下将第一测试信号线依次配置为第一电平信号和第二电平信号，此时，第二切换模块的第一输出端和第二输出端依次输出信号，也就是说，测试端口能够依次接收到连接第二切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第二切换模块的第二输出端的数据线的信号。如此，通过两根测试信号线(第一测试信号线和第二测试信号线)即可控制连接单个测试单元的多个数据线的信号从一个测试端口依次输出，从而实现显示面板内数据线的短路测试，减少了阵列测试子电路中测试引线的数目，降低了排版难度。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1是现有阵列测试子电路的结构示意图；

图2是根据本发明实施例阵列测试子电路的结构示意图；

图3是图2所示阵列测试子电路中第一测试信号线和第二测试信号线的波形图；

图4是现有测试电路的结构示意图；

图5是根据本发明实施例测试电路的结构示意图；

图6是根据本发明实施例测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。

如图1所示，现有用于对显示面板的数据线进行短路测试的阵列测试子电路，阵列测试子电路包括：四条阵列测试控制信号线，分别为AT_mux1、AT_mux2、AT_mux3和AT_mux4。阵列测试子电路采用4个TFT开关的循环设计，其中T1、T2、T3、T4为一组循环，T5、T6、T7、T8为一组循环，分别受AT_mux1～4控制，每个TFT开关的第一端连接显示面板的数据线，一组4个TFT开关的第二端共同连接同一个测试端口，例如图1中的D1或D2，实现4个数据线的信号用一个测试端口收集，从而避免了受针卡大小精度影响无法实现数据线与针卡上的测试端一一对应的关系。但从图1中可以看出，上述阵列测试子电路中测试引线数目较多，存在空间摆放不足，排版困难的问题。

针对于此，本实施例中给出了一种阵列测试子电路，如图2所示，包括第一测试信号线、第二测试信号线、多个测试端口，以及连接第一测试信号线、第二测试信号线和多个测试端口的多个测试单元。

每个测试单元包括三个切换模块，每个切换模块均包括控制端、输入端、第一输出端和第二输出端，其中，控制端被配置为第一电平信号时，第一输出端输出信号，第二输出端不输出信号，控制端被配置为第二电平信号时，第一输出端不输出信号，第二输出端输出信号，第一电平信号和第二电平信号极性相反。

三个切换模块包括第一切换模块、第二切换模块和第三切换模块；第一切换模块的控制端和第二切换模块的控制端均连接第一测试信号线，第一切换模块的第一输出端和第二输出端分别用于连接显示面板的数据线；第三切换模块的控制端连接第二测试信号线，第三切换模块的第一输出端连接第一切换模块的输入端，第三切换模块的第二输出端连接第二切换模块的输入端；第三切换模块的输入端连接一个测试端口。

由于每个切换模块的控制端被配置为第一电平信号时，第一输出端输出信号，第二输出端不输出信号，每个切换模块的控制端被配置为第二电平信号时，第一输出端不输出信号，第二输出端输出信号，第一电平信号和第二电平信号极性相反。在测试过程的一个测试周期中，先将第二测试信号线配置为第一电平信号，此时第三切换模块的第一输出端输出信号；在此状态下将第一测试信号线依次配置为第一电平信号和第二电平信号，此时，第一切换模块的第一输出端和第二输出端依次输出信号，也就是说，测试端口能够依次接收到连接第一切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第一切换模块的第二输出端的数据线的信号。之后，通过将第二测试信号线配置为第二电平信号，此时第三切换模块的第二输出端输出信号；在此状态下将第一测试信号线依次配置为第一电平信号和第二电平信号，此时，第二切换模块的第一输出端和第二输出端依次输出信号，也就是说，测试端口能够依次接收到连接第二切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第二切换模块的第二输出端的数据线的信号。

在一个测试周期中，测试端口能够依次接收到连接第一切换模块的第一输出端的数据线的信号、连接第一切换模块的第二输出端的数据线的信号、连接第二切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第二切换模块的第二输出端的数据线的信号。实现4个数据线的信号用一个测试端口收集，从而避免了受针卡大小精度影响无法实现数据线与针卡上的测试端一一对应的关系。且本实施例中通过两根测试信号线(第一测试信号线和第二测试信号线)即可控制连接单个测试单元的4个数据线的信号从一个测试端口依次输出，从而实现显示面板内数据线的短路测试，减少了阵列测试子电路中测试引线的数目，降低了排版难度。

在一个例子中，每个切换模块均包括两个测试开关，每个测试开关均包括栅极、第一极和第二极；两个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，其中，第一测试开关在第一电平信号下导通，在第二电平信号下不导通；第二测试开关在第一电平信号下不导通，在第二电平信号下导通；第一测试开关的第一极和第二测试开关的第一极相连接作为输入端；第一测试开关的栅极和第二测试开关的栅极作为控制端；第一测试开关的第二端作为第一输出端；第二测试开关的第二端作为第二输出端。由于第一电平信号和第二电平信号极性相反，因此，若第一电平信号为正电平，则第二电平信号为负电平；若第一电平信号为负电平，则第二电平信号为正电平。可选地，若测试开关为MOS管，则第一极为漏极，第二极为源极。

可选地，第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管。N型开关管电子导电，也就是说，N型开关管控制端正电平导通负电平截至；P型开关管空穴导电，也就是说，P型开关管控制端负电平导通正电平截至。

由于第一测试开关在第一电平信号下导通，在第二电平信号下不导通；第二测试开关在第一电平信号下不导通，在第二电平信号下导通。因此，若第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管，则第一电平信号为正电平，第二电平信号为负电平；若第一测试开关为P型开关管，第二测试开关为N型开关管，则第一电平信号为负电平，第二电平信号为正电平。

下面以以第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管为例对阵列测试子电路P2的电路结构进行举例说明：阵列测试子电路P2包括第一测试信号线AT_demux1、第二测试信号线AT_demux2，两个测试单元(第一测试单元100、第二测试单元200)、两个测试端口D1、D2。

第一测试单元100包括N1的漏极和P1的漏极连接形成的第一切换模块，N2的漏极和P2的漏极连接形成的第二切换模块，N3的漏极和P3的漏极连接形成的第三切换模块。

第二测试单元200包括N4和P4的第一极连接形成的第一切换模块，N5和P5的第一极连接形成的第二切换模块，N6和P6的第一极连接形成的第三切换模块。

N1、P1、N2、P2、N4、P4、N5、P5的栅极连接第一测试信号线AT_demux1，N3、P3、N6、P6的栅极连接第二测试信号线AT_demux2。

N3的源极连接N1和P1相连接的漏极，P3的源极连接N2和P2相连接的漏极，N6的源极连接N4和P5相连接的漏极，P6的源极连接N5和P5相连接的漏极。

N1的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，P1的源极与连接绿色子像素的数据线相连，N2的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，P2的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，N4的源极与连接绿色子像素的数据线相连，P4的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，N5的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，P5的源极与连接绿色子像素的数据线相连。

以下结合附图3所示的波形图，以第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管，第一电平信号为正电平，第二电平信号为负电平为例，对阵列测试子电路的第一测试单元100在一个测试周期中的四种工作状态依次进行说明。

值得说明的是，本实施例附图5中仅列举了8条数据线，实际产品中数据线的数量远远比超过8条，本实施例附图仅为举例说明。

(1)第一测试信号线AT_demux1输入为第一电平信号(正电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第一电平信号(正电平信号)。此时，第三切换模块中N3导通，P3关断；第一切换模块中N1导通，P1关断；第二切换模块中N2导通，P2关断，数据线data1接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data1是否短路。

(2)第一测试信号线AT_demux1输入为第二电平信号(负电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第一电平信号(正电平信号)。此时，第三切换模块中N3导通，P3关断；第一切换模块中N1关断，P1导通；第二切换模块中N2关断，P2导通，数据线data2接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data2是否短路。

(3)第一测试信号线AT_demux1输入为第一电平信号(正电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第二电平信号(负电平信号)。此时，第三切换模块中N3关断，P3导通；第一切换模块中N1导通，P1关断；第二切换模块中N2导通，P2关断，数据线data3接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data3是否短路。

(4)第一测试信号线AT_demux1输入为第二电平信号(负电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第二电平信号(负电平信号)。此时，第三切换模块中N3关断，P3导通；第一切换模块中N1关断，P1导通；第二切换模块中N2关断，P2导通，数据线data4接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data4是否短路。

显示面板的测试电路一般包括面板测试子电路即CT测试子电路和阵列测试子电路即AT测试子电路。如图4所示，现有显示面板的测试电路中包括如图1所示的面板测试子电路P1，因此，现有测试引线数目较多，存在空间摆放不足，排版困难的问题。

针对于此，本实施例中还给出了一种显示面板的测试电路，如图5所示，包括面板测试子电路P1和如图2所示的阵列测试子电路P2，图4所示的现有测试电路中面板测试子电路P1的具体结构、与本实施例中如图5所示的测试电路中面板测试子电路P1的结构相同。由于本实施例中测试电路中阵列测试子电路P2相比于现有阵列测试子电路P2来说，测试引线的数目较少，因此，本实施例中的显示面板排版难度降低。

本实施例中面板测试子电路P1包括多个面板测试开关单元。面板测试开关单元与显示面板的数据线连接。面板测试开关单元具体可以为开关器件，比如薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)等，在此并不限定。面板测试子电路P1用于根据接收的多个面板测试控制信号，控制面板测试开关单元导通或关断，以传输多个面板测试信号。

面板测试控制信号可由面板测试控制信号端生成，通过面板测试控制信号线传输。面板测试信号可由面板测试信号端生成，通过面板测试信号线传输。具体地，面板测试控制信号的数目可为多个，面板测试信号的数目可为多个。对应地，面板测试控制信号端的数目可为多个，面板测试信号控制线的数目可为多条。面板测试信号端的数目可为多个，面板测试信号线的数目可为多条。在此并不限定面板测试控制信号和面板测试信号的数目。

下面以具体的电路结构为例对本实施例中面板测试子电路P1进行说明，面板测试子电路P1中面板测试控制信号线有三条，分别为D_SW1、D_SW2和D_SW3。面板测试信号线有三条，分别为D_R、D_B和D_G。面板测试开关单元具体包括K1至K13。阵列测试开关单元包括T1至T8。为了便于对应说明，这里将信号线与该信号线生成的信号用同一标号表示，如面板测试控制信号线D_SW1生成的面板测试控制信号也用D_SW1表示。

面板测试开关单元K1、K4、K6、K9、K11的控制端与面板测试控制信号线D_SW1连接，面板测试开关单元K2、K5、K7、K10、K12的控制端与面板测试控制信号线D_SW2连接，面板测试开关单元K3、K8、K13的控制端与面板测试控制信号线D_SW3连接。

面板测试开关单元K1、K4、K6、K9、K11的第一端与面板测试信号线D_R连接，面板测试开关单元K2、K5、K7、K10、K12的第一端与面板测试信号线D_B连接，面板测试开关单元K3、K8、K13的第一端与面板测试信号线D_G连接。

面板测试开关单元K1的第二端连接蓝色子像素，K2的第二端连接红色子像素，K3的第二端连接绿色子像素，K4的第二端连接红色子像素，K5的第二端连接蓝色子像素，K6的第二端连接蓝色子像素，K7的第二端连接红色子像素，K8的第二端连接绿色子像素，K9的第二端连接红色子像素，K10的第二端连接蓝色子像素，K11的第二端连接蓝色子像素，K12的第二端连接红色子像素，K13的第二端连接绿色子像素。

需要说明别的是，由于本实施例中面板测试子电路P1与现有测试电路中面板测试子电路P1的电路结构相同，因此，本实施例中对面板测试子电路P1的工作原理不再进行赘述。

本实施例中阵列测试子电路包括包括第一测试信号线、第二测试信号线、多个测试端口，以及连接第一测试信号线、第二测试信号线和多个测试端口的多个测试单元。

每个测试单元包括三个切换模块，每个切换模块均包括控制端、输入端、第一输出端和第二输出端，其中，控制端被配置为第一电平信号时，第一输出端输出信号，第二输出端不输出信号，控制端被配置为第二电平信号时，第一输出端不输出信号，第二输出端输出信号，第一电平信号和第二电平信号极性相反。

三个切换模块包括第一切换模块、第二切换模块和第三切换模块；第一切换模块的控制端和第二切换模块的控制端均连接第一测试信号线，第一切换模块的第一输出端和第二输出端分别连接数据线；第三切换模块的控制端连接第二测试信号线，第三切换模块的第一输出端连接第一切换模块的输入端，第三切换模块的第二输出端连接第二切换模块的输入端；第三切换模块的输入端连接一个测试端口。

由于每个切换模块的控制端被配置为第一电平信号时，第一输出端输出信号，第二输出端不输出信号，每个切换模块的控制端被配置为第二电平信号时，第一输出端不输出信号，第二输出端输出信号，第一电平信号和第二电平信号极性相反。在测试过程的一个测试周期中，先将第二测试信号线配置为第一电平信号，此时第三切换模块的第一输出端输出信号；在此状态下将第一测试信号线依次配置为第一电平信号和第二电平信号，此时，第一切换模块的第一输出端和第二输出端依次输出信号，也就是说，测试端口能够依次接收到连接第一切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第一切换模块的第二输出端的数据线的信号。之后，通过将第二测试信号线配置为第二电平信号，此时第三切换模块的第二输出端输出信号；在此状态下将第一测试信号线依次配置为第一电平信号和第二电平信号，此时，第二切换模块的第一输出端和第二输出端依次输出信号，也就是说，测试端口能够依次接收到连接第二切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第二切换模块的第二输出端的数据线的信号。

在一个测试周期中，测试端口能够依次接收到连接第一切换模块的第一输出端的数据线的信号、连接第一切换模块的第二输出端的数据线的信号、连接第二切换模块的第一输出端的数据线的信号、和连接第二切换模块的第二输出端的数据线的信号。实现4个数据线的信号用一个测试端口收集，从而避免了受针卡大小精度影响无法实现数据线与针卡上的测试端一一对应的关系。且本实施例中通过两根测试信号线(第一测试信号线和第二测试信号线)即可控制连接单个测试单元的4个数据线的信号从一个测试端口依次输出，从而实现显示面板内数据线的短路测试，减少了阵列测试子电路中测试引线的数目，降低了排版难度。

在一个例子中，每个切换模块均包括两个测试开关，每个测试开关均包括栅极、第一极和第二极；两个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，其中，第一测试开关在第一电平信号下导通，在第二电平信号下不导通；第二测试开关在第一电平信号下不导通，在第二电平信号下导通；第一测试开关的第一极和第二测试开关的第一极相连接作为输入端；第一测试开关的栅极和第二测试开关的栅极作为控制端；第一测试开关的第二端作为第一输出端；第二测试开关的第二端作为第二输出端。由于第一电平信号和第二电平信号极性相反，因此，若第一电平信号为正电平，则第二电平信号为负电平；若第一电平信号为负电平，则第二电平信号为正电平。可选地，若测试开关为MOS管，则第一极为漏极，第二极为源极。

可选地，第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管。N型开关管电子导电，也就是说，N型开关管控制端正电平导通负电平截至；P型开关管空穴导电，也就是说，P型开关管控制端负电平导通正电平截至。

由于第一测试开关在第一电平信号下导通，在第二电平信号下不导通；第二测试开关在第一电平信号下不导通，在第二电平信号下导通。因此，若第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管，则第一电平信号为正电平，第二电平信号为负电平；若第一测试开关为P型开关管，第二测试开关为N型开关管，则第一电平信号为负电平，第二电平信号为正电平。

下面以以第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管为例对阵列测试子电路P2的电路结构进行举例说明：阵列测试子电路P2包括第一测试信号线AT_demux1、第二测试信号线AT_demux2，两个测试单元(第一测试单元100、第二测试单元200)、两个测试端口D1、D2。

第一测试单元100包括N1的漏极和P1的漏极连接形成的第一切换模块，N2的漏极和P2的漏极连接形成的第二切换模块，N3的漏极和P3的漏极连接形成的第三切换模块。

第二测试单元200包括N4和P4的第一极连接形成的第一切换模块，N5和P5的第一极连接形成的第二切换模块，N6和P6的第一极连接形成的第三切换模块。

N1、P1、N2、P2、N4、P4、N5、P5的栅极连接第一测试信号线AT_demux1，N3、P3、N6、P6的栅极连接第二测试信号线AT_demux2。

N3的源极连接N1和P1相连接的漏极，P3的源极连接N2和P2相连接的漏极，N6的源极连接N4和P5相连接的漏极，P6的源极连接N5和P5相连接的漏极。

N1的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，P1的源极与连接绿色子像素的数据线相连，N2的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，P2的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，N4的源极与连接绿色子像素的数据线相连，P4的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，N5的源极与连接蓝色子像素和红色子像素的数据线相连，P5的源极与连接绿色子像素的数据线相连。

值得说明的是，本实施例附图5中仅列举了8条数据线，实际产品中数据线的数量远远比超过8条，本实施例附图仅为举例说明。

以下结合附图3所示的波形图，以第一测试开关为N型开关管，第二测试开关为P型开关管，第一电平信号为正电平，第二电平信号为负电平为例，对阵列测试子电路的第一测试单元100在一个测试周期中的四种工作状态依次进行说明。

(1)第一测试信号线AT_demux1输入为第一电平信号(正电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第一电平信号(正电平信号)。此时，第三切换模块中N3导通，P3关断；第一切换模块中N1导通，P1关断；第二切换模块中N2导通，P2关断，数据线data1接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data1是否短路。

(2)第一测试信号线AT_demux1输入为第二电平信号(负电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第一电平信号(正电平信号)。此时，第三切换模块中N3导通，P3关断；第一切换模块中N1关断，P1导通；第二切换模块中N2关断，P2导通，数据线data2接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data2是否短路。

(3)第一测试信号线AT_demux1输入为第一电平信号(正电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第二电平信号(负电平信号)。此时，第三切换模块中N3关断，P3导通；第一切换模块中N1导通，P1关断；第二切换模块中N2导通，P2关断，数据线data3接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data3是否短路。

(4)第一测试信号线AT_demux1输入为第二电平信号(负电平信号)、第二测试信号线AT_demux2输入第二电平信号(负电平信号)。此时，第三切换模块中N3关断，P3导通；第一切换模块中N1关断，P1导通；第二切换模块中N2关断，P2导通，数据线data4接入测试端口D1，可根据测试端口D1的信号判断数据线data4是否短路。

本发明实施例还提供了一种测试方法，应用于上述测试电路，测试方法如图6所示，包括以下内容。

步骤S11：在一个测试周期内，第一测试信号线按第一预设顺序输出由第一电平信号和第二电平信号形成的第一测试信号、第二测试信号线按第二预设顺序输出由第一电平信号和第二电平信号形成的第二测试信号控制测试单元。

具体地说，一个测试周期内，根据时间顺序第一测试信号和第二测试信号包括四组电平状态，依次包括：第一测试信号为第一电平、第二测试信号为第一电平；第一测试信号为第二电平、第二测试信号为第一电平；第一测试信号为第一电平、第二测试信号为第二电平；第一测试信号为第二电平、第二测试信号为第二电平。其中，第一测试信号和第二测试信号的极性相反，例如：第一测试信号为正电平，则第二测试信号为负电平；或者，第二测试信号为正电平，则第一测试信号为负电平。

步骤S12：根据面板测试子电路传输的多个面板测试信号接收测试端口输出的短路判断信号，短路判断信号被用于判断显示面板内是否存在发生短路的数据线。

具体地说，当通过通过第一测试信号线和第二测试信号的测试信号，从而将连接不同颜色子像素的数据线的信号接入测试端口，此时，面板测试子电路为接入测试端口的该种颜色子像素的数据线提供面板测试信号。如果连接该种颜色子像素的数据线未被短路，则测试端输出的短路判断信号为面板测试信号；如果连接该种颜色子像素的数据线被短路，则测试端输出的短路判断信号不是面板测试信号。

可选地，在根据面板测试子电路传输的多个面板测试信号接收测试端口输出的短路判断信号之后，还包括：判断短路判断信号的幅值是否超出预设信号标准幅值范围；若短路判断信号超出预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线。这里的预设信号标准幅值范围根据当前面板测试信号确定。

本发明实施例还提供了一种显示面板，包括上述阵列测试子电路或测试电路。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。

Claims (10)

1.一种阵列测试子电路，其特征在于，包括第一测试信号线、第二测试信号线、多个测试端口，以及连接所述第一测试信号线、所述第二测试信号线和所述多个测试端口的多个测试单元；

每个所述测试单元包括三个切换模块，每个所述切换模块均包括控制端、输入端、第一输出端和第二输出端，其中，所述控制端被配置为第一电平信号时，所述第一输出端输出信号，所述第二输出端不输出信号，所述控制端被配置为第二电平信号时，所述第一输出端不输出信号，所述第二输出端输出信号，所述第一电平信号和所述第二电平信号极性相反；

所述三个切换模块包括第一切换模块、第二切换模块和第三切换模块；所述第一切换模块的所述控制端和所述第二切换模块的所述控制端均连接所述第一测试信号线，所述第一切换模块的所述第一输出端和所述第二输出端分别用于连接显示面板的数据线；所述第三切换模块的所述控制端连接所述第二测试信号线，所述第三切换模块的所述第一输出端连接所述第一切换模块的所述输入端，所述第三切换模块的所述第二输出端连接所述第二切换模块的所述输入端；所述第三切换模块的所述输入端连接一个所述测试端口。

2.根据权利要求1所述的阵列测试子电路，其特征在于，每个所述切换模块均包括两个测试开关，每个所述测试开关均包括栅极、第一极和第二极；所述两个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，其中，所述第一测试开关在所述第一电平信号下导通，在所述第二电平信号下不导通；所述第二测试开关在所述第一电平信号下不导通，在所述第二电平信号下导通；

所述第一测试开关的所述第一极和所述第二测试开关的所述第一极相连接作为所述输入端；所述第一测试开关的所述栅极和所述第二测试开关的所述栅极作为所述控制端；所述第一测试开关的所述第二端作为所述第一输出端；所述第二测试开关的所述第二端作为所述第二输出端。

3.根据权利要求1或2所述的阵列测试子电路，其特征在于，所述第一测试开关为N型开关管，所述第二测试开关为P型开关管。

4.一种测试电路，其特征在于，包括：

面板测试子电路，包括面板测试开关单元，所述面板测试开关单元与显示面板的数据线连接，所述面板测试子电路用于根据接收的多个面板测试控制信号，控制所述面板测试开关单元导通或关断，以传输多个面板测试信号；

阵列测试子电路，包括第一测试信号线、第二测试信号线、多个测试端口，以及连接所述第一测试信号线、所述第二测试信号线和所述多个测试端口的多个测试单元；

每个所述测试单元包括三个切换模块，每个所述切换模块均包括控制端、输入端、第一输出端和第二输出端，其中，所述控制端被配置为第一电平信号时，所述第一输出端输出信号，所述第二输出端不输出信号，所述控制端被配置为第二电平信号时，所述第一输出端不输出信号，所述第二输出端输出信号，所述第一电平信号和所述第二电平信号极性相反；

所述三个切换模块包括第一切换模块、第二切换模块和第三切换模块；所述第一切换模块的所述控制端和所述第二切换模块的所述控制端均连接所述第一测试信号线，所述第一切换模块的所述第一输出端和所述第二输出端分别连接所述数据线；所述第三切换模块的所述控制端连接所述第二测试信号线，所述第三切换模块的所述第一输出端连接所述第一切换模块的所述输入端，所述第三切换模块的所述第二输出端连接所述第二切换模块的所述输入端；所述第三切换模块的所述输入端连接一个所述测试端口。

5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，每个所述切换模块均包括两个测试开关，每个所述测试开关均包括栅极、第一极和第二极；所述两个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，其中，所述第一测试开关在所述第一电平信号下导通，在所述第二电平信号下不导通；所述第二测试开关在所述第一电平信号下不导通，在所述第二电平信号下导通；

所述第一测试开关的所述第一极和所述第二测试开关的所述第一极相连接作为所述输入端；所述第一测试开关的所述栅极和所述第二测试开关的所述栅极作为所述控制端；所述第一测试开关的所述第二端作为所述第一输出端；所述第二测试开关的所述第二端作为所述第二输出端。

6.根据权利要求4或5所述的测试电路，其特征在于，所述第一测试开关为N型开关管，所述第二测试开关为P型开关管。

7.一种测试方法，其特征在于，应用于如权利要求4至6中任一项所述的测试电路，所述测试方法包括：

在一个测试周期内，所述第一测试信号线按第一预设顺序输出由所述第一电平信号和所述第二电平信号形成的第一测试信号、所述第二测试信号线按第二预设顺序输出由所述第一电平信号和所述第二电平信号形成的第二测试信号控制所述测试单元；

根据所述面板测试子电路传输的所述多个面板测试信号接收所述测试端口输出的短路判断信号，所述短路判断信号被用于判断所述显示面板内是否存在发生短路的所述数据线。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在一个测试周期内，根据时间顺序所述第一测试信号和所述第二测试信号包括四组电平状态，依次包括：

所述第一测试信号为第一电平、所述第二测试信号为第一电平；

所述第一测试信号为第二电平、所述第二测试信号为第一电平；

所述第一测试信号为第一电平、所述第二测试信号为第二电平；

所述第一测试信号为第二电平、所述第二测试信号为第二电平。

9.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在所述根据所述面板测试子电路传输的所述多个面板测试信号接收所述测试端口输出的短路判断信号之后，还包括：

判断所述短路判断信号的幅值是否超出预设信号标准幅值范围；

若所述短路判断信号超出所述预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线。

10.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至3中任一项所述的阵列测试子电路，或者，如权利要求4至6中任一项所述的测试电路。

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