CN114441414B - 一种堵孔判断方法和样本分析仪 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种堵孔判断方法和样本分析仪,该方法包括:获得对当前样本进行计数检测过程在第一预设时间段内所生成的电压脉冲信号;基于所述电压脉冲信号中粒子流的有效情况、所述电压脉冲信号中电压突变情况、以及对当前样本进行计数检测时的初始电压判断当前时间段是否发生堵孔。通过上述方式,本申请能够有效提升堵孔判断的准确性,降低误判的概率。
Description
技术领域
本申请涉及医疗技术领域,特别是涉及一种堵孔判断方法和样本分析仪。
背景技术
血液细胞分析仪中血细胞计数一般采用电阻抗法,将一定量的血液样本,通过特定试剂处理后,在外部动力作用下从仪器前池经过宝石孔流向后池。但是在检测过程中,由于宝石孔的孔径很小,很容易被血液中的血细胞碎片、血凝块、蛋白质、采样针穿刺试管帽带来的穿刺碎屑等粘附,造成宝石孔堵孔,影响仪器检测功能的可靠性和性能的准确性。而目前现有技术中,对宝石堵孔的判断方法存在误判率较高的问题。
发明内容
本申请主要解决的技术问题是提供一种堵孔判断方法和样本分析仪,能够提升堵孔判断的能力,降低堵孔误判率。
为解决上述技术问题,本申请采用的一个技术方案是:提供一种堵孔判断方法,包括:获得对当前样本进行计数检测过程中在预设时间段内所生成的电压脉冲信号;基于所述电压脉冲信号中粒子流的有效情况、所述电压脉冲信号中电压突变情况、以及对当前样本进行计数检测时的初始电压判断当前时间段内是否发生堵孔。
为解决上述技术问题,本申请采用的另一个技术方案是:提供一种样本分析仪,包括:粒子计数模块,用于对样本的粒子进行计数,产生所述粒子的计数信号;存储模块,用于存储程序数据;控制模块,与所述粒子计数模块和所述存储模块连接,用于执行所述程序数据以实现上述技术方案中的堵孔判断方法。
本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请提出的堵孔判断方法通过获得对样本进行计数检测过程中在预设时间段内所生成的电压脉冲信号,并基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况、电压脉冲信号中电压突变情况、以及对当前样本进行计数检测时的初始低电压判断当前时间段内是否发生堵孔,即本申请中综合多方面的因素来判断是否发生堵孔,可以有效提升堵孔判断的准确性,降低误判的概率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:
图1是本申请堵孔判断方法一实施方式的流程示意图;
图2是基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断是否发生堵孔对应一实施方式的流程示意图;
图3a是未发生堵孔时,白细胞体积直方图对应一示意图;
图3b是发生堵孔时,白细胞体积直方图对应一示意图;
图4是基于电压脉冲信号中电压突变情况判断是否发生堵孔对应一实施方式的流程示意图;
图5是基于电压脉冲信号中电压突变情况是否发生堵孔对应又一实施方式的流程示意图;
图6是基于初始电压和电压脉冲信号中的过程电压判断是否发生堵孔对应一实施方式的流程示意图;
图7是第一散点图对应一示意图;
图8是本申请样本分析仪一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在现有技术中,对宝石孔堵孔的判断方法主要有以下三种:
第一种方法是体积计量法,即在管路中增加液体体积计量传感器,通过规定时间内液体到达位置传感器的情况来判断测量过程中是否发生了堵孔。这种方法由于只通过在体积计量管中的液体体积评估,不能有效判断堵孔发生的时间点是在计数前还是计数过程。
第二种方法是通过计数过程粒子流的稳定性判断是否发生了堵孔,这种方法对计数过程中的堵孔问题有一定的判断能力,但对于计数前就出现微堵且计数过程中粒子流处于稳定状态的这种异常堵孔情况难以判断,即存在误判的情形。
第三种方法是通过预先设定微分电压信号的阈值,以及对宝石孔的电压信号进行特征分析,识别电压信号是否发生突变,在识别到所述电压信号发生突变时,结合突变发生的时刻,检测宝石孔是否发生堵孔,这种方法能在一定程度上识别堵孔的严重程度和堵孔发生的时间点,但存在明显缺陷:一是微分电压信号的阈值设定受样本浓度及是否是异常样本的影响很大,即不同浓度的样本在实际已发生堵孔情况下的电压信号突变特征有差异,此时用微分电压信号的阈值来判定准确性难以评估,二是实际血液细胞样本通过宝石孔产生的电压信号本身就易受溶液电导率、温度、液流以及宝石孔本身物理参数等因素影响,以上缺陷会造成一定的堵孔误判率。
为了解决上述至少部分问题,请参阅图1,图1是本申请堵孔判断方法一实施方式的流程示意图,该方法包括:
S101:获得对当前样本进行计数检测过程中在第一预设时间段内所生成的电压脉冲信号。
具体地,上述步骤S101的具体实施步骤包括:利用特定试剂对血液样本进行处理,并在负压吸引作用下使得处理后的样本通过血液分析仪的宝石孔。该宝石孔的两侧包含正负电极,用于采集第一预设时间段内宝石孔两侧的正负电极之间的电压信号,并记录采集获得的多个电压信号以形成电压脉冲信号。其中,上述第一预设时间段可以是当前样本的完整计数检测过程对应的时间段,也可以是计数检测过程中的某一段时间。通过获取第一预设时间段内所生成的电压脉冲信号有助于通过该电压脉冲信号判断在当前第一预设时间段内的计数过程中是否发生堵孔,且若发生堵孔则可以知晓堵孔发生的时间段。
S102:基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况、电压脉冲信号中电压突变情况、以及对当前样本进行计数检测时的初始电压判断当前时间段内是否发生堵孔。
具体地,上述步骤S102的具体实施过程包括:基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断当前时间段内是否发生堵孔、基于电压脉冲信号中电压突变情况判断当前时间段内时是否发生堵孔、以及基于初始电压和电压脉冲信号中的过程电压判断当前时间段内是否发生堵孔。通过结合多种判断方法有助于提升在第一预设时间段内的计数过程中堵孔判断的准确性。其中,可以根据实际情况结合上述三种判断方法中的至少一种判断方法来判断当前时间段内是否发生堵孔;例如,可以选择上述三种判断方法中任意一种判断方法作为判断当前时间段内是否发生堵孔的依据;或者,可以结合上述三种判断方法中的任意两种判断方法来判断当前时间段内是否发生堵孔,当上述两种判断方法都判定在当前时间段内未发生堵孔时,则给出在当前时间段内未发生堵孔的结论,否则,给出在当前时间段内发生堵孔的结论;又或者,可以结合上述三种判断方法来判断在当前时间段内是否发生堵孔,当三种判断方法都判定在当前时间段内未发生堵孔时,则给出在当前时间段内未发生堵孔的结论;否则,给出在当前时间段内发生堵孔的结论。
具体地,请参阅图2,图2是基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断是否发生堵孔对应一实施方式的流程示意图,该方法包括:
S201:基于电压脉冲信号确定粒子流有效段和粒子流无效段。
具体地,上述步骤S201包括:基于电压脉冲信号获得差分曲线。在一实施方式中,通过对当前样本在第一预设时间段内进行计数检测生成的电压脉冲信号做平滑处理,以生成电压平滑曲线;对该电压平滑曲线做一阶差分处理以获得一阶差分曲线并将该一阶差分曲线作为差分曲线,以助于通过一阶差分曲线确定粒子流有效段或粒子流无效段。可选地,在其他实施方式中,也可以根据实际情况对电压平滑曲线进行二阶差分、或三阶差分等处理,并将处理后得到的二阶差分曲线或三阶差分曲线作为最终的差分曲线。
进一步地,在获得差分曲线之后,步骤S201还包括:从差分曲线中确定出粒子流有效段和粒子流无效段。具体地,可以从差分曲线中获得多个子区域,并获得每个子区域的积分值。其中,每个子区域的起始时刻和终止时刻对应的电压差为0,每个子区域的起始时刻和终止时刻之间的中间时刻对应的电压差大于0或小于0。将子区域的积分值依次进行累加,以获得第一和值,确定第一和值首次大于第三阈值的时刻为初始变化时刻;确定第一和值在第一预设时间段内最后一次大于第三阈值的时刻为终止变化时刻。进一步地,将初始变化时刻至终止变化时刻之间通过宝石孔的粒子流定义为粒子流无效段,其余为粒子流有效段。通过定义粒子流有效段和粒子流无效段有助于执行步骤S202。
S202:基于粒子流有效段和粒子流无效段判断当前时间段内是否发生堵孔。
具体地,上述步骤S202的具体实施过程包括:判断粒子流有效段对应时长范围是否小于粒子流无效段对应时长范围,和/或,判断粒子流有效段对应时长范围与粒子流无效段对应时长范围的第一差值的绝对值是否大于或等于第一阈值,和/或,判断对电压脉冲信号进行平滑处理后获得的电压平滑曲线的终止变化时刻处的电压与初始电压的第二差值是否大于或等于第二阈值。若是,即粒子流有效段对应时长范围小于粒子流无效段对应时长范围,和/或,第一差值的绝对值大于或等于第一阈值,和/或,第二差值大于或等于第二阈值,则判定在第一预设时间段内发生堵孔;否则,判定在第一预设时间段内未发生堵孔。具体地,可以将粒子流有效段对应时长范围小于粒子流无效段对应时长范围作为第一判断条件,将粒子流有效段对应时长范围与粒子流无效段对应时长范围的第一差值的绝对值大于或等于第一阈值作为第二判断条件,将上述终止变化时刻处对的电压与初始电压对的第二差值大于或等于第二阈值作为第三判断条件。进一步地,可以根据实际情况结合上述三种判断条件中的至少一种判断条件来判断当前时间段内是否发生堵孔;例如可以选择上述三种判断条件中的一种判断条件作为判断依据,当该判断条件满足时,给出基于粒子流有效段和粒子流无效段判定当前时间段内发生堵孔的结论;或者,可以选择上述三种判断条件中的两种判断条件作为判断依据,当这两种判断条件满足时,给出基于粒子流有效段和粒子流无效段判定当前时间段内发生堵孔的结论;又或者,当上述三种判断条件都满足时,给出基于粒子流有效段和粒子流无效段判定当前时间段内发生堵孔的结论。其中,第一阈值和第二阈值可以是通过预估获得的,也可以是经过多次实验反推获得的。步骤S202通过对粒子流有效段对应时间以及粒子流无效段对应时间进行处理分析、并结合对终止变化时刻对应的电压进行分析,可以初步判断在计数过程中是否发生堵孔。此外,上述初始电压为测试仪器开机时的电压、或更换稀释液后的电压、或执行排堵操作后的电压;具体地,初始电压可以是上述任一时刻获得的一个电压值,也可以是上述多个时刻获得初始电压的平均值。例如,可以将某一次测试仪器开机时的电压作为初始电压,也可以计算多次测试仪器开机时的电压以及多次更换稀释液后的电压的平均值,并将该平均值作为初始电压。
当然,在其他实施例中,上述基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断是否发生堵孔实现过程也可为其他;例如,获取计数检测过程中单位时间内细胞体积直方图。具体地,可以通过对第一预设时间段内所生成的电压脉冲信号进行处理,以获得细胞体积直方图。具体地,响应于脉冲的高低与细胞体积大小成正比,以获取每个细胞的体积,经过计算以获得细胞体积直方图。例如,在本实施方式中通过电压脉冲信号获得白细胞体积直方图。当宝石孔未发生堵孔时,白细胞体积直方图如图3a所示;当宝石孔发生堵孔时,白细胞体积直方图会产生波动,如图3b所示。另外,在其他实施方式中,上述细胞体积直方图也可以为当前样本中其他细胞的体积直方图。通过获取细胞体积直方图可以用于与未发生堵孔情况下对应的通过宝石孔的细胞体积直方图进行对比以助于判断在计数过程中是否发生堵孔。
进一步地,获取有效粒子流在单位时间内的粒子流均值和粒子流方差。具体地,通过上述步骤S201的方式确定粒子流有效段和粒子流无效段,将粒子流有效段对应的电压脉冲信号中的电压脉冲数转换为细胞数量,并获得粒子流有效段在单位时间内通过宝石孔的粒子数,从而计算出有效粒子流在单位时间内的粒子流均值和粒子流方差。其中,单位时间可以根据实际情况设定,也可以获取有效粒子流在单位时间内的其他形态学参数以作为判断是否发生堵孔的依据,在此不作限定。
进一步地,判断粒子流均值是否大于或等于第四阈值、且粒子流方差是否大于或等于第五阈值、以及细胞体积直方图在粒子流无效段对应时间处的数值是否大于第六阈值。若是,即粒子流均值大于或等于第四阈值、且粒子流方差大于或等于第五阈值、以及细胞体积直方图在粒子流无效段对应时间处的数值大于第六阈值,则判定在第一预设时间段内发生堵孔;否则,判定在第一预设时间段内未发生堵孔。其中,判断细胞体积直方图在粒子流无效段对应时间处的数值是否大于第六阈值具体包括:获取粒子流无效段对应的细胞体积直方图,并将该细胞体积直方图中不同体积对应的粒子个数与对应的第六阈值作对比,以判断对应粒子个数是否大于第六阈值。其中,第四阈值为未发生堵孔情况下单位时间通过宝石孔的粒子流均值的范围,第五阈值为未发生堵孔情况下通过宝石孔的粒子流方差范围,第六阈值为未发生堵孔情况下粒子流中不同体积的细胞对应的粒子个数范围;第四阈值、第五阈值以及第六阈值可以是通过预估获得的,也可以是通过多次测试结果反推获得的。通过将上述粒子流均值、粒子流方差以及细胞体积直方图中不同体积细胞对应的个数值与既定阈值相比较,可以提高对堵孔判断的准确性,降低误判的概率。
请参阅图4,图4为基于电压脉冲信号中电压突变情况判断是否发生堵孔对应一实施方式的流程示意图,该方法包括:
S301:基于电压脉冲信号获得差分曲线。
具体地,在一实施方式中,上述步骤S301的具体实施过程包括:通过对当前样本在第一预设时间段内生成的电压脉冲信号做平滑处理,以生成电压平滑曲线;对该电压平滑曲线做一阶差分处理以获得一阶差分曲线并将该一阶差分曲线作为差分曲线,以助于执行步骤S302。可选地,在其他实施例方式中,也可以根据实际情况对电压平滑曲线进行二阶差分或三阶差分等处理,并将处理后得到的二阶差分曲线或三阶差分曲线等作为差分曲线。
S302:从差分曲线中获得子区域,并获得子区域的积分值。
具体地,上述步骤S302的具体实施过程包括:基于步骤S301获得的差分曲线,从该差分曲线中获得一个子区域,并获得该子区域的积分值。其中,该子区域的起始时刻和终止时刻对应的电压差为0,该子区域的起始时刻和终止时刻之间的中间时刻对应的电压差大于0或小于0。另外,在其他实施方式中,响应于差分曲线可以包含多个子区域,步骤S302可以为:从差分曲线中获得多个子区域,并获得每个子区域的积分值。通过获取差分曲线中的子区域,并计算子区域的积分值有助于分析出计数过程中电压突变情况。
需要说明的是,若基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断是否发生堵孔时、以及基于电压脉冲信号中电压突变情况判断是否发生堵孔时均利用了同一差分曲线时,则该差分曲线的获得过程仅需执行一次,无需重复获得。
S303:获得所有子区域的积分值的第二和值,并判断第二和值是否大于或等于第七阈值。
具体地,步骤S303的具体实施过程包括:获得上述步骤S302获得的所有子区域的积分值相加以获得第二和值,并判断第二和值是否大于或等于第七阈值。若是,即第二和值大于或等于第七阈值,则判定在第一预设时间段内发生堵孔;否则,判定在第一预设时间段内未发生堵孔。其中,第七阈值为未发生堵孔情况下差分曲线中所有子区域的积分值之和的范围,该第七阈值可以是通过预估获得的,也可以是经过多次实验反推获得的。通过计算差分曲线中所有子区域的积分值的第二和值,并将该第二和值与第七阈值相比有助于分析出在计数过程中电压是否发生突变,以判断在技术过程中是否发生堵孔。
请参阅图5,图5为基于电压脉冲信号中电压突变情况判断是否发生堵孔对应又一实施方式的流程示意图,该方法包括:
S401:对电压脉冲信号进行平滑处理获得电压平滑曲线,并从电压平滑曲线中获得相邻两个时刻对应的最大电压差。
具体地,上述步骤S401的具体实施过程包括:对图1中步骤S101中获得的电压脉冲信号进行平滑处理,以获得电压平滑曲线;计算该电压平滑曲线中相邻两个时刻之间的电压差,并获取所有电压差中的最大电压差。通过计算最大电压差以助于执行步骤S403。
S402:获取电压脉冲信号中最小电压,计算与最小电压之差大于第八阈值的电压所占时间与预设时间段的第一比值。
具体地,上述步骤S402的具体实施过程包括:获取电压脉冲信号中的最小电压,并获取电压脉冲信号中所有超过最小电压第八阈值的电压,计算所有与最小电压之差大于第八阈值的电压所占的时间与第一预设时间段的第一比值。其中,超过最小电压第八阈值的电压被确定为异常电压,该第八阈值可以是通过预估获得的,也可以是经过多次实验反推获得的。通过计算第一比值可以获得在计数过程中异常电压值所占的比例,以助于判断在计数过程中是否发生堵孔。
S403:判断最大电压差是否大于或等于第九阈值、且第一比值是否大于或等于第十阈值。
具体地,上述步骤S403的具体实施过程包括:判断步骤S401中获得的最大电压差是否大于或等于第九阈值、且步骤S402获得第一比值是否大于或等于第十阈值。若是,即最大电压差大于或等于第九阈值、且第一比值大于或等于第十阈值,则判定在第一预设时间段内发生堵孔;否则,判定在第一预设时间段内未发生堵孔。其中,第九阈值为未发生堵孔情况下电压平滑曲线中相邻两个时刻对应的最大电压差的范围,第十阈值为未发生堵孔情况下异常电压所占所有电压的比值的范围,第九阈值和第十阈值可以是通过预估获得的,也可以是经过多次实验反推获得的。将上述获得的最大电压差以及第一比值与未发生堵孔状态下的最大电压差以及第一比值进行对比,可以有效判断出在第一预设时间段内的计数检测过程中宝石孔是否发生堵孔。
请参阅图6,图6是基于初始电压和电压脉冲信号中的过程电压判断是否发生堵孔对应一实施方式的流程示意图,该方法包括:
S501:将电压脉冲信号按照第二预设时间段进行分段处理,并计算每段电压脉冲信号的电压平均值;其中,第二预设时间段小于第一预设时间段。
具体地,上述步骤S501的具体实施过程包括:将步骤S101中获得的第一预设时间段内的电压脉冲信号按照第二预设时间段进行分段处理,以获得多段时间跨度相同的电压脉冲信号,并计算每段电压脉冲信号中的电压平均值。其中,可以根据实际情况确定第二预设时间段,在此不作限定。通过将电压脉冲信号按照第二预设时间段分为多个小段,计算出的平均值可以代表对应时间段宝石孔的电压情况,可以减小少量干扰数据带来的影响,降低在对堵孔进行判断时出现误判的概率。
S502:针对每个电压平均值,获得当前电压平均值与初始电压的第三差值,并判断第三差值的绝对值是否大于第十一阈值。
具体地,若第三差值的绝对值大于第十一阈值,则判定在对应第二预设时间段的计数过程中发生堵孔;否则,判定在对应第二预设时间段的计数过程中未发生堵孔。其中,初始电压为测试仪器开机时的电压、或更换稀释液后的电压、或执行排堵操作后的电压;具体地,初始电压可以是上述任一时刻获得的一个电压值,也可以是上述多个时刻获得初始电压的平均值。例如,可以将某一次测试仪器开机时的电压作为初始电压,也可以计算多次测试仪器开机时的电压以及多次更换稀释液后的电压的平均值,并将该平均值作为初始电压。另外,第十一阈值为未发生堵孔情况下上述第三差值的范围,该第十一阈值可以是通过预估获得的,也可以是经过多次实验反推获得的。响应于初始电压为未发生堵孔时的正常电压,且当发生堵孔时宝石孔两侧正负电极之间的电压信号发生变化,将电压平均值与初始电压进行对比可以分析判断出在电压平均值在对应时间段内是否发生堵孔。
本申请提出的堵孔判断方法通过获得对样本进行计数检测过程中在第一预设时间段内所生成的电压脉冲信号,并基于电压脉冲信号中粒子流的有效情况、电压脉冲信号中电压突变情况、以及对当前样本进行计数检测时的初始电压判断当前时间段内是否发生堵孔,即本申请综合多方面的因素来判断是否发生堵孔,可以有效提升堵孔判断的准确性,降低误判的概率。
在另一实施方式中,响应于样本分析仪可以通过阻抗法或光学法对血细胞进行计数,其中,阻抗法是利用样本分析仪的阻抗检测通道对样本进行检测,光学法是利用样本分析仪的光学检测通道对样本进行检测。图1中步骤S102之后还包括:基于阻抗检测通道和光学检测通道间的粒子数差异信息以及阻抗检测通道下获得的粒子体积直方图信息判断在第一预设时间段内是否发生堵孔。若步骤S102判定在第一预设时间段内发生堵孔,且基于阻抗检测通道和光学检测通道间的粒子数差异信息以及阻抗检测通道下获得的粒子体积直方图信息也判定在第一预设时间段内发生堵孔,则得出最终结果:在第一预设时间段内发生堵孔;否则,则得出最终结果:在第一预设时间段内未发生堵孔。
具体地,通过阻抗检测通道和光学检测通道对样本进行检测,以获得阻抗检测通道下的第一粒子数信息和光学检测通道下的第二粒子数信息,并基于第一粒子数信息和第二粒子数信息获得粒子数差异信息。其中,可以通过对第一粒子数信息和第二粒子数信息做差或进行相除以获得粒子数差异信息。进一步地,将阻抗检测通道下获得的电压脉冲信号中电压脉冲数转换为粒子数量,并经过计算处理以获得粒子体积直方图信息。通过阻抗检测通道对样本进行检测以获取粒子体积直方图信息为本领域常见的技术手段,在此不再赘述。
进一步地,基于粒子数差异信息和粒子体积直方图信息构建第一散点图,以及在非堵孔情况下基于阻抗检测通道和光学检测通道之间的粒子数差异信息和阻抗检测通道下的粒子体积直方图信息构建的第二散点图,从第二散点图中获得非堵孔情况下的对照位置区域;判断第一散点图中实际样本位置是否位于对照位置区域外,若是,则判定发生堵孔;否则,判定未发生堵孔。例如,请参阅图7,图7为多个第一散点图的示意图。为便于直观判断每个样本对应的计数过程中是否发生堵孔,在图7中添加直线A。其中,横坐标、纵坐标以及直线A所围设的区域为对照位置区域。判定位于对照位置区域内的样本为大量样本,且计数过程中未发生堵孔;判定位于对照位置区域外的样本为离散样本,且计数过程中发生了堵孔。
需要说明的是,图7中的直线A仅仅是示意性的,而实际测试中的对照区域是经过多次实验获得的不规则区域。
在本实施方式中,本申请提出的堵孔判断方法还包括:在判断发生堵孔时,对计数检测过程中的粒子个数进行修正并计算粒子流中不同种类细胞的个数。具体地,响应于未发生堵孔情况下,阻抗检测通道和光学检测通道下获得的粒子数信息的关系,利用光学检测通道下获得的粒子数信息对发生堵孔情况下阻抗检测通道的粒子数信息进行修正,利用修正后的粒子数信息计算不同种类细胞的数量,并将修正后的粒子数信息以及不同种类细胞数量进行显示。通过对粒子数进行修正,可以提升样本计数结果的准确性,并降低出现无效结果的概率。其中,不同种类细胞包括白细胞、红细胞等。
请参阅图8,图8是本申请的样本分析仪的结构示意图。本实施例的样本分析仪包括粒子计数模块20、存储模块30和控制模块40,控制模块40分别与计数模块20和存储模块30连接。
其中,粒子计数模块20用于对样本的粒子进行计数,产生粒子的计数信号;存储模块30用于存储程序数据,控制模块40用于执行存储模块30的程序数据以实现上述实施例所揭示的堵孔判断方法。
在一实施例中,粒子计数模块20可以包括采样模块21、样本准备模块22和检测模块23,其中采样模块21用于吸取定量的血细胞样本,并将吸取的血细胞样本分配至样本准备模块22;样本准备模块22用于对分配的血细胞样本进行稀释、混匀等操作,以得到血细胞待测样本;检测模块23采用阻抗法对血细胞待测样本进行检测,得到粒子的计数信号。
在一实施例中,存储模块30和控制模块40可以合并成存储和计算模块。
在一实施例中,样本分析仪还包括与控制模块40连接的输出模块24,输出模块24用于输出计数结果和/或异常判定结果,且在判断样本分析仪计数异常时输出异常报警和/或异常提示信息。
在一实施例中,样本分析仪可以为血液细胞分析仪。
在本申请所提供的几个实施方式中,应该理解到,所揭露的设备,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
另外,在本申请各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
以上所述仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种堵孔判断方法,其特征在于,包括:
获得对当前样本进行计数检测过程中在第一预设时间段内所生成的电压脉冲信号;
基于所述电压脉冲信号中粒子流的有效情况、所述电压脉冲信号中电压突变情况、以及对当前样本进行计数检测时的初始电压判断当前时间段内是否发生堵孔,包括:
基于所述电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断当前时间段内是否发生堵孔、基于所述电压脉冲信号中所述电压突变情况判断当前时间段内是否发生堵孔、以及基于所述初始电压和所述电压脉冲信号中的过程电压判断当前时间段内是否发生堵孔;
所述基于所述电压脉冲信号中粒子流有效情况判断当前时间段内是否发生堵孔的步骤,包括:基于所述电压脉冲信号确定粒子流有效段和粒子流无效段;判断所述粒子流有效段对应时间是否小于所述粒子流无效段对应时间,和/或,判断所述粒子流有效段对应时间与所述粒子流无效段对应时间的第一差值的绝对值是否大于或等于第一阈值,和/或,判断对所述电压脉冲信号进行平滑处理后获得的电压平滑曲线的终止变化时刻处的电压与所述初始电压的第二差值是否大于或等于第二阈值;若是,则判定发生堵孔;其中,基于所述电压脉冲信号确定粒子流有效段和粒子流无效段的步骤,包括:基于所述电压脉冲信号获得差分曲线;从所述差分曲线中获得多个子区域,并获得每个所述子区域的积分值;其中,每个所述子区域的起始时刻和终止时刻对应的电压差为0,每个所述子区域的起始时刻和终止时刻之间的中间时刻对应的电压差大于0或小于0;将所述子区域的积分值依次进行累加,以获得第一和值,确定所述第一和值首次大于第三阈值的时刻为初始变化时刻;确定所述第一和值在计数过程中最后一次大于第三阈值的时刻为所述终止变化时刻;将所述初始变化时刻至所述终止变化时刻之间的粒子流定义为粒子流无效段,其余为粒子流有效段;
其中,所述基于所述电压脉冲信号中粒子流的有效情况判断当前时间段内是否发生堵孔的步骤,包括:获取计数检测过程中单位时间内细胞体积直方图;获取有效粒子流在单位时间内的粒子流均值和粒子流方差,判断所述粒子流均值是否大于或等于第四阈值、且所述粒子流方差是否大于或等于第五阈值、以及所述细胞体积直方图在粒子流无效段对应时间处的数值是否大于第六阈值;若是,则判定发生堵孔。
2.根据权利要求1所述的堵孔判断方法,其特征在于,所述基于所述电压脉冲信号中所述电压突变情况判断当前时间段内发生堵孔的步骤,包括:
基于所述电压脉冲信号获得差分曲线;
从所述差分曲线中获得多个子区域,并获得每个所述子区域的积分值;其中,每个所述子区域的起始时刻和终止时刻对应的电压差为0,每个所述子区域的起始时刻和终止时刻之间的中间时刻对应的电压差大于0或小于0;
获得所有所述子区域的积分值的第二和值,并判断所述第二和值是否大于或等于第七阈值;
若是,则判定发生堵孔。
3.根据权利要求1所述的堵孔判断方法,其特征在于,所述基于所述电压脉冲信号中所述电压突变情况判断当前时间段内发生堵孔的步骤,包括:
对所述电压脉冲信号进行平滑处理以获得电压平滑曲线,并从所述电压平滑曲线中获得相邻两个时刻对应的最大电压差;以及,获取所述电压脉冲信号中最小电压,并计算与所述最小电压之差大于第八阈值的电压所占时间与所述第一预设时间段的第一比值;
判断所述最大电压差是否大于或等于第九阈值、且所述第一比值是否大于或等于第十阈值;
若是,则判定发生堵孔。
4.根据权利要求1所述的堵孔判断方法,其特征在于,所述基于所述初始电压和所述电压脉冲信号中的过程电压判断当前时间段内是否发生堵孔的步骤,包括:
将所述电压脉冲信号按照第二预设时间段进行分段处理,并计算每段所述电压脉冲信号的电压平均值;
将所述电压平均值与所述初始电压进行对比分析,以判断所述电压平均值与所述初始电压的第三差值的绝对值是否大于第十一阈值;
若是,则判定发生堵孔。
5.根据权利要求1所述的堵孔判断方法,其特征在于,
所述初始电压为测试仪器开机时电压、或更换稀释液后的电压、或执行排堵操作后的电压。
6.根据权利要求1所述的堵孔判断方法,其特征在于,包括:
在判断发生堵孔时,对所述计数检测过程中的粒子数进行修正并计算粒子流中白细胞的个数。
7.一种样本分析仪,其特征在于,包括:
粒子计数模块,用于对样本的粒子进行计数,产生所述粒子的计数信号;
存储模块,用于存储程序数据;
控制模块,与所述粒子计数模块和所述存储模块连接,用于执行所述程序数据以实现如权利要求1-6中任一项所述的堵孔判断方法。
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