CN114384092A - 面板检测设备和面板检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供了一种面板检测设备和方法。该检测设备包括：图像采集装置用于采集待检测面板的图像。测距装置用于检测图像采集装置和待检测面板之间的距离，其中在任意时刻，在待检测面板的检测方向上，测距装置在待检测面板上的对应检测点位于图像采集装置的光轴与待检测面板的交叉点的前方。第一驱动机构驱动测距装置和图像采集装置一起沿检测方向同步运动，使图像采集装置沿检测方向采集待检测面板的图像。第二驱动机构基于距离驱动测距装置和图像采集装置一起沿着平行于图像采集装置的光轴的第一方向同步运动，使待检测面板成像于图像采集装置的焦点处。该技术方案能够获得质量更佳的待检测面板的图像，提高了面板检测结果的准确性。

Description

面板检测设备和面板检测方法

技术领域

本发明涉及面板检测技术领域，更具体地涉及一种面板检测设备和一种面板检测方法。

背景技术

玻璃上的芯片技术(Chip On Glass，简称COG)是一种驱动电路芯片直接粘合在玻璃基板上的技术，广泛适用于液晶显示、电致发光技术等各种显示产品。COG制程将驱动电路的导电引脚对准玻璃基板上的电极(bump)，以各向异性导电膜(AnisotropicConductive Film，简称ACF)作为接合(bonding)的介质材料，通过一定时间的高温高压实现驱动电路的导电引脚与玻璃基板上的电极的连接和导通。同理，玻璃上的柔性电路板技术(FPC On Glass，简称FOG)是柔性电路板(FPC)直接绑定在玻璃基板上的技术，制程过程与COG类似。类似地，柔性基板上的芯片技术(Ic on film，简称COF)是将半导体芯片先封装在柔性基板上，而后将封装好的制品上的柔性基板绑定在玻璃基板上的技术，其制程也与COG类似。面板检测技术可以用于对面板的外观、面板接合的效果等进行检测。

检测时通常是首先采集待检测面板的图像，然后通过图像检测面板的质量。由于面板翘曲和吸附不平，可能导致所采集的图像清晰度不够或者拍不到面板中具体粒子的情况。进而，面板检测的准确性必然会有所降低，甚至面板检测无法顺利完成。

发明内容

考虑到上述问题而提出了本发明。根据本发明一个方面，提供了一种面板检测设备，包括：图像采集装置，用于采集待检测面板的图像。测距装置，用于检测图像采集装置和待检测面板之间的距离，其中，在任意时刻，在待检测面板的检测方向上，测距装置在待检测面板上的对应检测点位于图像采集装置的光轴与待检测面板的交叉点的前方。第一驱动机构，用于驱动测距装置和图像采集装置一起沿检测方向同步运动，以使图像采集装置沿检测方向采集待检测面板的图像。第二驱动机构，用于基于距离驱动测距装置和图像采集装置一起沿着平行于图像采集装置的光轴的第一方向同步运动，以使待检测面板成像于图像采集装置的焦点处。

示例性地，面板检测设备中测距装置包括激光发射部和激光接收部，图像采集装置位于激光发射部和激光接收部之间。

示例性地，面板检测设备中激光发射部、图像采集装置、激光接收部沿检测方向依次设置。

示例性地，面板检测设备中测距装置是激光测距传感器。

示例性地，面板检测设备中激光测距传感器是三角激光测距传感器。

示例性地，面板检测设备中还包括：支架，图像采集装置固定在支架上。以及调节机构，调节机构固定在支架上，测距装置设置在调节机构上，调节机构用于沿着垂直于光轴且垂直于检测方向的第二方向调节测距装置的位置，以使测距装置在第二方向上与图像采集装置对齐；并且，调节机构还用于沿着第一方向调节测距装置的位置，以使测距装置处于工作量程范围内。

示例性地，面板检测设备中调节机构为位移平台。

示例性地，面板检测设备中第二驱动机构连接至支架，支架在第二驱动机构的驱动下沿第一方向可运动。

示例性地，面板检测设备中还可以包括：沿检测方向延伸的轨道，滑动连接至轨道的载座，其中支架和第二驱动机构均设置在载座上，载座在第一驱动机构的驱动下沿着轨道可运动。

根据本发明的另一个方面，还提供一种面板检测方法包括：利用图像采集装置沿待检测面板的检测方向采集待检测面板的图像；根据图像检测待检测面板。其中，在利用图像采集装置沿待检测面板的检测方向采集待检测面板的图像的过程中，测距装置与图像采集装置一起沿检测方向同步运动并且利用测距装置检测测距装置和待检测面板之间的距离，基于距离驱动测距装置和图像采集装置一起沿着平行于图像采集装置的光轴的第一方向同步运动，以使待检测面板位于图像采集装置的焦点处，其中，在任意时刻，在待检测面板的检测方向上，测距装置在待检测面板上的对应检测点位于图像采集装置的光轴与待检测面板的交叉点的前方。

根据上述技术方案，在面板检测的过程中，基于与图像采集装置同步运动的测距装置的测距结果控制图像采集装置运动，从而使得待检测面板始终位于图像采集装置的焦点处。这样，在一定程度上保证了在待检测面板的整个检测范围内都能够清晰成像。并且，测距装置在待检测面板上的对应点位于图像采集装置在待检测面板上的对应点的前方。测距装置给出了待检测面板的后续变化情况的预知信息，例如翘曲的走向，能够据此更及时地调整图像采集装置的位置。由此，进一步保证了图像的质量。综上，通过该技术方案能够获得质量更佳的待检测面板的图像，提高了面板检测结果的准确性。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1示出了本发明的一个实施例中的面板检测设备的局部示意图；

图2示出了本发明的一个实施例中的面板检测设备的测距装置与图像采集装置的示意图；

图3示出了本发明一个实施例中的面板检测设备的局部示意图；

图4示出了本发明的一个实施例的面板检测方法的示意性流程图。

具体实施方式

为了使得本发明的目的、技术方案和优点更为明显，下面将参照附图详细描述根据本发明的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是本发明的全部实施例，应理解，本发明不受这里描述的示例实施例的限制。基于本发明中描述的本发明实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所有其它实施例都应落入本发明的保护范围之内。

根据本发明一个实施例，提供了一种面板检测设备。可以首先利用面板检测设备上的移动的图像采集装置采集待检测面板的图像，然后通过图像检测面板的质量。

图1示出了本发明的一个实施例的面板检测设备100的局部示意图。如图1所示，该面板检测设备100包括图像采集装置110、测距装置120、第一驱动机构和第二驱动机构130。

面板检测设备100上的图像采集装置110用于采集待检测面板190的图像。可以理解，图像采集装置110可以包含光学镜头，当待检测面板190成像于图像采集装置110的焦点处时，即光学镜头的焦点处，图像采集装置110所获取的图像最清晰。可选地，图像采集装置110还可以包括光源，用于对待拍摄的待检测面板190进行打光，提高成像质量。

测距装置120用于检测图像采集装置110和待检测面板190之间的距离。测距装置120可以在采集待检测面板190图像的过程中，实时检测图像采集装置110和待检测面板190之间的距离。可以理解，在面板检测设备100工作期间，测距装置120可以与图像采集装置110保持固定位置关系。由此，可以根据测距装置120所检测的其自身与待检测面板190之间的距离换算出图像采集装置110与待检测面板190之间的距离。例如，如图1所示，图像采集装置110的视场位于其正上方，即图像采集装置110的光轴方向为竖直方向，即Z轴方向。测距装置120和图像采集装置110二者可以设置于同一水平面上，而待检测面板190设置于图像采集装置110的视场内的另一个水平面上。由此在竖直方向上，测距装置110和图像采集装置120二者与待检测面板190之间的距离相同。测距装置120所检测的距离即可以视为图像采集装置110与待检测面板190之间的距离。替代的，测距装置120和图像采集装置110在竖直方向上存在相对距离△d，而待检测面板190设置于图像采集装置110的视场内的一个水平面上。由此，在竖直方向上，测距装置120与图像采集装置110相比，其与待检测面板190之间的距离更远，二者分别与待检测面板190之间的距离之差为距离△d。进而，可以将测距装置120所检测的距离减去△d，以获得图像采集装置110与待检测面板190之间的距离。

第一驱动机构(未示出)用于驱动测距装置120和图像采集装置110一起沿待检测面板190的检测方向同步运动，以使图像采集装置110沿检测方向采集待检测面板的图像。如图1所示，当进行待检测面板190的图像采集时，第一驱动机构驱动测距装置120和图像采集装置110一起沿X轴正向匀速连续运动，并且在运动过程中，采集待检测面板190的不同部分的图像数据，以生成面板的图像。在图1中，X轴正向即为待检测面板190的检测方向。

第二驱动机构130用于基于测距装置120所检测的距离驱动测距装置120和图像采集装置110一起沿着平行于图像采集装置110的光轴的第一方向同步运动，以使待检测面板190成像于图像采集装置110成像的焦点处。在图1中，第二驱动机构130驱动图像采集装置110和测距装置120沿着Z轴方向运动。通过第二驱动机构130的驱动，可以改变图像采集装置110的物距，以使得待检测面板190始终成像于图像采集装置110的焦点处。第二驱动机构130可以驱动图像采集装置110和测距装置120一起同步运动，由此保证测距装置120始终能够准确检测图像采集装置110与待检测面板190之间的距离。

可以理解，上述第一驱动机构和第二驱动机构130可以包括电机等运动部件，以实现其驱动功能。示例性地，面板检测设备100可以包括控制器。第一驱动机构和第二驱动机构130可以在控制器的控制下，执行上述操作。替代地，第一驱动机构和第二驱动机构130自身即可各自包括控制器，以在各自的控制器的控制下，执行上述操作。

在面板检测设备100工作的任意时刻，在待检测面板190的检测方向上，测距装置120在待检测面板190上的对应检测点位于图像采集装置110的光轴与待检测面板190的交叉点的前方。可以理解，在面板检测过程中，图像采集装置110和测距装置120一起沿待检测面板190的检测方向运动。测距装置120一般是针对待检测面板190的某一位置点进行距离检测，可以称该位置点为检测点。例如测距装置可以发送测距信号至待检测面板190，并根据自待检测面板190返回的信号确定待检测面板190与图像采集装置110之间的距离。测距信号所抵达的待检测面板190上的位置点即为检测点。图像采集装置110采集待检测面板190的图像时，其光轴(光束的中心线)与待检测面板190相交，从而形成图像采集装置110的光轴与待检测面板190的交叉点。在该实施例中，待检测面板190上的、测距装置120所针对的检测点始终位于图像采集装置110的光轴与待检测面板190的交叉点的前方。随着图像采集的进行，对于待检测面板190上的同一个位置点，测距装置120先进行测距，图像采集装置110再进行图像采集。也就是说，对于待检测面板190上的同一个位置，测距装置120的测距时刻早于图像采集装置110的图像采集时刻。

根据上述技术方案，在面板检测的过程中，基于与图像采集装置110同步运动的测距装置120的测距结果控制图像采集装置110运动，从而使得待检测面板190始终位于图像采集装置110的焦点处。这样，在一定程度上保证了在待检测面板190的整个检测范围内都能够清晰成像。并且，测距装置120在待检测面板190上的对应点位于图像采集装置110在待检测面板190上的对应点的前方。测距装置120给出了待检测面板190的后续变化情况的预知信息，例如翘曲的走向，能够据此更及时地调整图像采集装置110的位置。由此，进一步保证了图像的质量。综上，通过该技术方案能够获得质量更佳的待检测面板190的图像，提高了面板检测结果的准确性。

示例性地，图2示出了本发明的一个实施例中的面板检测设备100的测距装置120与图像采集装置110的示意图。

在图2所示实施例中，测距装置120是激光测距传感器。激光测距传感器主要利用激光的高方向性、高单色性和高亮度等特点可实现无接触远距离测量。由于待检测面板190是近似平直的，激光的直线性能较好，在平整的待检测面板190上进行测量，有较高的精确性。此外，激光测距传感器操作简便，速度快；并且激光测距的亮度高，对环境的要求较低。由此，保证了待检测面板190的成像清晰度。进而保证了面板检测设备100的面板检测的速度、准确性，并且提高了面板检测设备100对环境的适应能力。

示例性地，激光测距传感器可以是三角激光测距传感器。三角激光测距传感器是具有高速、高精度性能的测距装置。三角激光测距传感器通过一束激光以一定的入射角度照射待检测面板190。激光在待检测面板190的表面发生反射和散射。在另一个角度，利用透镜对反射激光汇聚成像，光斑成像在感光耦合组件(CCD)位置传感器上。当待检测面板沿激光方向，即上述第一方向，发生移动时，位置传感器上的光斑将产生移动。光斑的位移大小对应待检测面板190的移动距离。基于此，可以基于光斑位移距离计算待检测面板190的移动距离。由此，三角激光测距传感器非常适用于待检测面板190与图像采集装置110之间的高精度，短距离的测量。这确保了图像采集装置110所采集图像的清晰度以及面板检测设备100的检测结果准确度。

示例性地，如图2所示，测距装置120可以包括激光发射部121和激光接收部122。激光发射部121发射激光至待检测面板190的位置点P3处，该过程示出为箭头3-1。待检测面板190的位置点P3反射所到达的激光至激光接收部122，该过程示出为箭头3-2。图像采集装置110位于激光发射部121和激光接收部122之间。来自待检测面板190的光线进入图像采集装置110，该过程示出为箭头2-1。如图2所示，图像采集装置110的光轴与待检测面板的交叉点为位置点P2。在待检测面板190的检测方向上，即X轴正向上，检测点P3位于交叉点P2的前方。

可以理解，测距装置120的检测点通常位于激光发射部121和激光接收部122之间的线段的垂直平分线上。在上述技术方案中，图像采集装置110位于激光发射部121和激光接收部122之间。由此，图像采集装置110的光轴将与前述垂直平分线距离较近。进而，前述测距装置120的检测点与图像采集装置110的光轴与待检测面板190的交叉点之间的距离也会相对较近。由此，在测距装置120针对检测点测距后片刻，根据测距结果调整了位置的图像采集装置110即对检测点所在区域进行成像，保证了图像采集装置110的成像质量。

再次参考图2，面板检测设备100中的激光发射部121、图像采集装置110和激光接收部122沿前述检测方向依次设置。如前所述，检测方向在图2中示出为X轴正向。

激光发射部121、图像采集装置110和激光接收部122的上述设置方式简单易实现，而且可以保证对于待检测面板上的同一个位置点，测距装置120针对该位置点进行的测距操作早于图像采集装置110针对该位置点周围区域进行的图像采集操作。

示例性地，面板检测设备100还可以包括支架140以及调节机构150。图3示出了根据本发明一个实施例的面板检测设备100的局部示意图。如图3所示，图像采集装置110固定在支架上。调节机构150也固定在支架140上。测距装置120设置在调节机构150上。

调节机构150可以用于沿着垂直于图像采集装置110的光轴且垂直于检测方向的第二方向调节测距装置120的位置。在图3所示实施例中，检测方向即X轴正向，图像采集装置110的光轴的延伸方向即Z轴方向，第二方向即Y轴方向。通过第二方向上的调节，可以使测距装置120在第二方向上与图像采集装置110对齐。这样，测距装置120所检测的检测点的位置能够作为调整图像采集装置110与待检测面板190之间的距离的准确依据。避免了待检测装置190在第二方向上的曲度对于所采集的图像的清晰度的负面影响。

调节机构150还可以用于沿着平行于光轴的第一方向，即Z轴方向，调节测距装置120的位置，以使测距装置120处于工作量程范围内。可以理解，测距装置120具有一定的工作量程范围。在该工作量程范围内，其能够获得准确的距离数据；否则，所获数据可能不够准确甚至难以获得任何数据。可以根据经验预期待检测面板190的形变的程度，例如待检测面板190的局部突变和翘曲等。可以通过调节机构150，使得待检测面板190即使发生了上述形变，其与图像采集装置110之间的距离始终在测距装置120的工作量程范围内。由此，测距装置120可以准确地检测到待检测面板190的任意形变位置点与图像采集装置110之间的距离，从而据此驱动图像采集装置110到合适的位置并采集更清晰的额图像。

示例性地，在开始检测待检测面板190之前，例如面板检测设备100安装调试时，可以首先在支架140上固定安装图像采集装置110，使图像采集装置110位于处于能够清晰拍摄待检测面板190的位置，例如距离待检测面板190距离10mm。然后将调节机构150也规定安装到支架140上，并且将测距装置固定在调节机构150上。利用调节机构150对测距装置120的所在位置进行调节。如前所述，可以在第一方向和第二方向上调节测距装置的位置，以为后续面板检测做好准备。

通过上述技术方案，在开始检测待检测面板190之前，用户可以利用调节机构150在第二方向上调节测距装置120的位置，以使测距装置120和图像采集单元110对齐。由此，避免了测距装置120采集一个位置点的位置数据，根据该位置数据调整了图像采集单元110的位置，然而图像采集单元110却在稍后采集了另一位置点附近的区域的图像。这保证了测距装置120所检测的距离能够精准地为调整图像采集装置110的位置提供依据，进而保证了成像质量和面板检测质量。而不是其采集一个位置点的在检测待检测面板时，图像采集单元110所采集的区域。用户利用调节结构150在第一方向上调节测距装置120的位置，减少了在图像采集过程中由于待检测面板190上的翘曲和凹坑等造成测距装置120测距不准确，避免了其进而导致的图像清晰度降低，无法顺利完成检测。总之，双向调节机构150的存在保证了图像采集装置110的成像质量和面板检测设备100的面板检测质量。

示例性地，调节机构150可以包括固定在支架140上的第一调节导轨和与第一调节导轨滑动连接的第一调节滑块。调节机构150还可以包括固定在第一调节滑块上的第二调节导轨和与第二调节导轨滑动连接的第二调节滑块。第一调节导轨和第二调节导轨中的一个沿第二方向延伸且另一个沿第一方向延伸。测距装置120可以固定在第二调节滑块上。可以理解，通过调整第一调节滑块在第一调节导轨上的位置和第二调节滑块在第二调节导轨上的位置，可以方便快捷地在第一方向和第二方向调整测距装置120的位置。

优选地，面板检测设备100中的调节机构可以是位移平台。位移平台的移动精度高，甚至可以达到微米级。利用位移平台来调节测距装置120的位置，调整准确度高、方便操作而且成本较低。由此，保证了面板检测设备的检测精度和成本控制。

示例性地，面板检测设备100中，第二驱动机构130连接至支架140，支架140在第二驱动机构130的驱动下沿第一方向可运动。再次参考图3，第二驱动机构130连接支架140。由于图像采集装置110固定在支架140上，测距装置120经由调节机构固定在支架140上，所以，第二驱动机构130驱动支架140沿第一方向运动，则支架140可以带动图像采集装置110和测距装置120一起沿第一方向运动。上述方案在保证了图像采集时所获图像的清晰度的同时，结构简单，生产成本低，方便用户使用。

示例性地，再次参考图1，面板检测设备100中还可以包括：轨道160和载座170。轨道160沿检测方向延伸。载座170滑动连接至轨道160，其中，支架140和第二驱动机构130均设置在载座170上，载座170在第一驱动机构的驱动下沿着轨道160可运动。可以理解，载座170由第一驱动机构带动沿轨道160运动，以经由支架带动图像采集装置110连续采集待检测面板190的各个部分的图像。该技术方案在保证待检测面板的检测精度的同时，安装方便，便于维护，给用户使用带来了方便。

根据本发明的另一个方面，提供了一种面板检测方法，图4示出了根据本发明的一个实施例的面板检测方法的示意性流程图。该面板检测方法可以利用上述面板检测设备100实现。如图4所示，面板检测方法可以包括以下步骤。

步骤S410，利用图像采集装置沿待检测面板的检测方向采集待检测面板的图像。在利用图像采集装置沿待检测面板的检测方向采集待检测面板的图像的过程中，测距装置与图像采集装置一起沿检测方向同步运动并且利用测距装置检测测距装置和待检测面板之间的距离，基于距离驱动测距装置和图像采集装置一起沿着平行于图像采集装置的光轴的第一方向同步运动，以使待检测面板位于图像采集装置的焦点处。在任意时刻，在待检测面板的检测方向上，测距装置在待检测面板上的对应检测点位于图像采集装置的光轴与待检测面板的交叉点的前方。

步骤S420，根据图像检测待检测面板。基于图像，可以检测待检测面板的外观是否符合标准，面板中导电粒子的数量、分布以及是否存在异物等情况。由此，可以确定待检测面板的质量是否合格。

本领域普通技术人员通过阅读上述有关面板检测设备的相关描述，可以理解上述面板检测方法的具体实现方案和有益技术效果，为了简洁，在此不再赘述。

尽管这里已经参考附图描述了示例实施例，应理解上述示例实施例仅仅是示例性的，并且不意图将本发明的范围限制于此。本领域普通技术人员可以在其中进行各种改变和修改，而不偏离本发明的范围和精神。所有这些改变和修改意在被包括在所附权利要求所要求的本发明的范围之内。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同自动对焦装置来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和自动对焦装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个设备，或一些特征可以忽略，或不执行。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的自动对焦装置、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该本发明的自动对焦装置解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如相应的权利要求书所反映的那样，其发明点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域的技术人员可以理解，除了特征之间相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何自动对焦装置或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的面板检测设备中的一些模块的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的自动对焦装置的一部分或者全部的装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式或对具体实施方式的说明，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种面板检测设备，其特征在于，包括：

图像采集装置，用于采集待检测面板的图像；

测距装置，用于检测所述图像采集装置和所述待检测面板之间的距离，其中，在任意时刻，在所述待检测面板的检测方向上，所述测距装置在所述待检测面板上的对应检测点位于所述图像采集装置的光轴与所述待检测面板的交叉点的前方；

第一驱动机构，用于驱动所述测距装置和所述图像采集装置一起沿所述检测方向同步运动，以使所述图像采集装置沿所述检测方向采集所述待检测面板的图像；

第二驱动机构，用于基于所述距离驱动所述测距装置和所述图像采集装置一起沿着平行于所述图像采集装置的光轴的第一方向同步运动，以使所述待检测面板成像于所述图像采集装置的焦点处。

2.如权利要求1所述的面板检测设备，其中，所述测距装置包括激光发射部和激光接收部，所述图像采集装置位于所述激光发射部和所述激光接收部之间。

3.如权利要求2所述的面板检测设备，其中，所述激光发射部、所述图像采集装置、所述激光接收部沿所述检测方向依次设置。

4.如权利要求1所述的面板检测设备，其中，所述测距装置是激光测距传感器。

5.如权利要求4所述的面板检测设备，其中，所述激光测距传感器是三角激光测距传感器。

6.如权利要求1至5任一项所述的面板检测设备，其中，还包括：

支架，所述图像采集装置固定在所述支架上；以及

调节机构，所述调节机构固定在所述支架上，所述测距装置设置在所述调节机构上，所述调节机构用于沿着垂直于所述光轴且垂直于所述检测方向的第二方向调节所述测距装置的位置，以使所述测距装置在所述第二方向上与所述图像采集装置对齐；并且，所述调节机构还用于沿着所述第一方向调节所述测距装置的位置，以使所述测距装置处于工作量程范围内。

7.如权利要求6所述的面板检测设备，其中，所述调节机构为位移平台。

8.如权利要求6所述的面板检测设备，其中，所述第二驱动机构连接至所述支架，所述支架在所述第二驱动机构的驱动下沿所述第一方向可运动。

9.如权利要求8所述的面板检测设备，其中，还包括：

沿所述检测方向延伸的轨道；

滑动连接至所述轨道的载座，

其中，所述支架和所述第二驱动机构均设置在所述载座上，所述载座在所述第一驱动机构的驱动下沿着所述轨道可运动。

10.一种面板检测方法，其特征在于，包括：

利用图像采集装置沿待检测面板的检测方向采集待检测面板的图像；

根据所述图像检测所述待检测面板检测方法面板；

其中，在所述利用图像采集装置沿待检测面板的检测方向采集待检测面板的图像的过程中，测距装置与所述图像采集装置一起沿所述检测方向同步运动并且利用测距装置检测所述测距装置和待检测面板之间的距离，基于所述距离驱动所述测距装置和所述图像采集装置一起沿着平行于所述图像采集装置的光轴的第一方向同步运动，以使所述待检测面板位于所述图像采集装置的焦点处，其中，在任意时刻，在所述待检测面板的检测方向上，所述测距装置在所述待检测面板上的对应检测点位于所述图像采集装置的光轴与所述待检测面板的交叉点的前方。

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